JPH0218516A - Beam scan type recording device - Google Patents

Beam scan type recording device

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Publication number
JPH0218516A
JPH0218516A JP63167982A JP16798288A JPH0218516A JP H0218516 A JPH0218516 A JP H0218516A JP 63167982 A JP63167982 A JP 63167982A JP 16798288 A JP16798288 A JP 16798288A JP H0218516 A JPH0218516 A JP H0218516A
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JP
Japan
Prior art keywords
delay
clock
dot
characteristic data
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP63167982A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Monno
孝史 門野
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP63167982A priority Critical patent/JPH0218516A/en
Priority to US07/342,819 priority patent/US5115328A/en
Publication of JPH0218516A publication Critical patent/JPH0218516A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To enable dot position control with high accuracy than a clock period while performing digital control based upon a clock by using an ftheta characteristic storage means which store plural groups of ftheta characteristic data consisting of clock number data and delay stage quantity data. CONSTITUTION:The ROM 51 is used which stores plural groups of ftheta characteristic data differing in the largest number of delay stage while grouping ftheta characteristic data whose clock number data indicating the scanning positions of a laser beam close to respective dot positions on the scanning lines on a photosensitive body and delay stage number data stored in order in addresses corresponding to the respective dot positions. Groups of ftheta characteristic data corresponding to delay elements 61-64 of a delay means among plural groups of ftheta characteristic data stored in the ROM 51 are set with a DIP switch 60 to select the best groups of ftheta characteristic data. Consequently, the difference between the scanning position (laser beam projection position) and a correct dot position can be reduced and the ftheta characteristics are improved.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、レーザプリンタ等のビーム走査型記録装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a beam scanning recording device such as a laser printer.

(従来の技術) ビーム走査型記録装置においては、画像の各ラインごと
に画像情報に応じて断続的に発光させたレーザビーlえ
て感光体を露光し、電子写真プロセスによりペーパーに
画像を記録する。レーザビームで感光体を走査するため
、ポリゴンミラーなどの回転する光偏向器か用いられる
。レーザビーム、は、たとえばポリゴンミラーの回転に
伴い、感光体上に1本のラインを記録する。感光体はこ
のライン方向と垂直の方向に回転する。感光体の回転に
伴い画像の各ラインが感光体」−に記録され画像全体が
記録されていく。
(Prior Art) In a beam scanning type recording device, a photoreceptor is exposed to a laser beam that is emitted intermittently according to image information for each line of an image, and an image is recorded on paper by an electrophotographic process. A rotating optical deflector such as a polygon mirror is used to scan the photoreceptor with a laser beam. The laser beam records one line on the photoreceptor as a polygon mirror rotates, for example. The photoreceptor rotates in a direction perpendicular to this line direction. As the photoreceptor rotates, each line of the image is recorded on the photoreceptor, and the entire image is recorded.

ところで、光偏向器から感光体までの距離は、感光体上
の走査ライン」二の位置(たとえば、中央と両端)によ
り異なり、レーザビーl、の感光体」二の走査速度は一
定ではない。そこで、従来(J、レーザビームの各走査
位置の間隔を一定にするため、fOレンズを用いてレー
ザビームの方向を補正してい)こ。
Incidentally, the distance from the optical deflector to the photoreceptor varies depending on the position of the scanning line on the photoreceptor (for example, the center and both ends), and the scanning speed of the photoreceptor of the laser beam is not constant. Therefore, conventionally (J, in order to make the interval between each scanning position of the laser beam constant, the direction of the laser beam is corrected using an fO lens).

(発明が解決しようとする課M) 本出願人が別に開示した特許出願においては、fθ特性
を記憶したメモリを用い、メモリから読み出した時間間
隔(クロック数)でデジタル回路を用いてレーザダイオ
ードを発光するタイミンクを与える。これによりfOレ
ンズを用いずに温度特性よく感光体上の走査位置を制御
できる3、本発明に係るビーム走査型記録装置は、画像
情報に応じて発光されるレーザビームを光偏向器で感光
体上に走査して記録するビーム走査型記録装置において
、感光体上の走査線」−のドツト位置について各ドツト
位置に近いレーザビームの走査位置を与えるクロック数
データと遅延段数データとを各ドツト位置に対応するア
ドレスに順次記憶してなるfθ特性データを1組とし、
最大遅延段数の異なる複数組のfθ特性データを記憶す
るfθ特性記憶手段と、基準クロックを発生ずるクロッ
ク回路と、rθ特性記憶手段から送られたクロック数だ
け基準クロックをカウントするとドツトクロックを発生
ずるカウンタ手段と、基準クロックの周期より短い遅延
時間を生じる遅延素子を、少くとも遅延時間の総和り月
周期にほぼ等しくなる程度の数だけ直列に接続してなり
、上記のカウンタ手段から送られるドツトクロックを遅
延段数データの数の遅延素子を直列に通して出力する遅
延手段と、fθ特性記憶手段に記憶された複数組のrθ
特性データの組のうち、遅延手段の遅延素子の遅延とこ
ろで、メモリに記憶される時間間隔により定まる発光タ
イミンクに応したレーザビームの投射位置、つまり実際
のドツト位置とポリゴンミラーの回転数およびプリンタ
のドツト密度(たとえIf 300 dpi)て定まる
正しいドツト位置とは通常致せず、クロックを基準とし
て制御するかぎり両者の差をクロック周期に相当する程
度以下に制御することはできない。
(Problem M to be solved by the invention) In a patent application separately disclosed by the present applicant, a memory storing fθ characteristics is used, and a digital circuit is used to operate a laser diode at a time interval (number of clocks) read from the memory. Gives a timing to emit light. This makes it possible to control the scanning position on the photoreceptor with good temperature characteristics without using an fO lens. In a beam scanning type recording device that records by scanning upward, clock number data and delay stage number data that give the scanning position of the laser beam close to each dot position for the dot position of the scanning line "-" on the photoreceptor are stored at each dot position. One set of fθ characteristic data is stored sequentially at addresses corresponding to
fθ characteristic storage means for storing a plurality of sets of fθ characteristic data having different maximum delay stages; a clock circuit for generating a reference clock; and a dot clock when the reference clock is counted by the number of clocks sent from the rθ characteristic storage means. A counter means and delay elements producing a delay time shorter than the cycle of the reference clock are connected in series, at least in such a number that the sum of the delay times is approximately equal to the monthly cycle, and the dots sent from the counter means are connected in series. A delay means for serially outputting a clock through delay elements of the number of delay stages, and a plurality of sets of rθ stored in an fθ characteristic storage means.
Among the set of characteristic data, the delay of the delay element of the delay means determines the projection position of the laser beam corresponding to the light emission timing determined by the time interval stored in the memory, that is, the actual dot position, the rotation speed of the polygon mirror, and the printer's rotation speed. The correct dot position determined by the dot density (for example, if 300 dpi) is usually not the same, and as long as control is performed using the clock as a reference, the difference between the two cannot be controlled to be less than the degree equivalent to the clock cycle.

かかる意味で、両者の差を小さくするには、クロックの
周期を短くリ−ればよいか、T ’II” Lを用いた
デンタル回路の周波数の限界は、高速のものでち50−
75 Ml−12程度であり、たとえば20M1(zの
基準クロックを用いていた場合に比へると約1/3程度
改着てきるだ(:lである。
In this sense, in order to reduce the difference between the two, it is best to shorten the clock cycle.
For example, if a reference clock of 20 M1 (z) is used, it is about 1/3 (:l).

本発明の目的は、クロックを基準としたデジタル制御を
行いっつら、クロック周期よりも更に高い精度て実際の
ドツト位置を制御することかできる高精度のrθ特性回
路を有ずろレーザビーム走査型記録装置を提供すること
である。
An object of the present invention is to provide a laser beam scanning type recording apparatus that has a highly accurate rθ characteristic circuit that can control the actual dot position with higher precision than the clock cycle while performing digital control based on the clock. The purpose is to provide equipment.

(課題を解決上るための手段) 特性に対応する組を指定する遅延範囲指定手段と、カウ
ンタ手段が発生ずるドツトクロyりによりrθ特性記憶
手段のアドレスを順次更新するアドレス指定手段とを備
えたことを特徴とする。
(Means for Solving the Problem) A delay range specifying means for specifying a set corresponding to a characteristic, and an address specifying means for sequentially updating the address of the rθ characteristic storage means by dot blacks generated by the counter means. It is characterized by

(作 用) fO特性記憶手段に(J、クロック数データと遅延段数
データとからなるfO特性データを複数組記憶しておき
、遅延手段では、レーザダイオードの発光のタイミング
を与えるfθ特性回路の基準クロック周期より短い遅延
時間をもつ遅延素子を複数個直列に接続することによっ
て、異なるタイミンクの複数のクロック信号を発生させ
る。遅延素子の遅延特性は、ある範囲内で変化している
ことがある。そこで、遅延範囲指定手段により、実際に
使用している遅延素子の遅延特性に適したrθ特性デー
タの組を指定する。指定された組のfθ特性データのう
ち、クロック数データは、感光体」二の走査線上のドツ
ト位置に近いレーザビームの走査位置を与えるように定
められている。カウンタ手段でこのクロック数をカウン
トして画像りロックを発生させ、遅延手段に送る。遅延
手段ては、遅延段数データに応じて、実際のドツト位置
と正しいドツト位置との差がさらに小さくなるように画
像クロックを遅延させ、発光タイミンクを精度よく制御
する。
(Function) A plurality of sets of fO characteristic data consisting of clock number data and delay stage number data are stored in the fO characteristic storage means (J), and the delay means stores the standard of the fθ characteristic circuit that provides the timing of light emission of the laser diode. Multiple clock signals with different timings are generated by connecting multiple delay elements in series with delay times shorter than the clock period.The delay characteristics of the delay elements may vary within a certain range. Therefore, the delay range specifying means specifies a set of rθ characteristic data suitable for the delay characteristics of the delay element actually used. Among the specified set of fθ characteristic data, the clock number data is It is determined to give a scanning position of the laser beam close to the dot position on the second scanning line.The counter means counts this number of clocks to generate an image lock and sends it to the delay means.The delay means According to the delay stage number data, the image clock is delayed so that the difference between the actual dot position and the correct dot position is further reduced, and the light emission timing is precisely controlled.

(実施例) 以下、添付の図面を参照して本発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

(a)  レーザプリンタ定番系 第2図は、本発明に係るレーザプリンタの走査系の概略
を示す図である。
(a) Standard Laser Printer System FIG. 2 is a diagram schematically showing a scanning system of a laser printer according to the present invention.

レーザヘッド(1)内の半導体レーザ(la)から出射
されるレーザビーム(2)は、コリメータレン、ズ(3
)によって平行光にされ、高速回転するポリゴンミラー
(4)のある反射面(4a)で反射される。
A laser beam (2) emitted from a semiconductor laser (la) in a laser head (1) is transmitted through a collimator lens (3).
), the light is made into parallel light and reflected by a reflective surface (4a) of a polygon mirror (4) that rotates at high speed.

回転式光偏向器の一例であるこのポリゴンミラー(4)
の回転に伴い、平行光となって入射するレーザビーム(
2)に対する各反射面(4a)の傾きが変化する。これ
により、反射後のレーザビーム(2)は、その進行方向
が偏向されて感光体トラム(5)ホトセンサ(6)を設
+Jである。このホトセンサ(6)は、ポリゴンミラー
(4)で反射された後のレーザビーム(2)によって1
走査線の走査の初めに走査されたときに光電流を出力す
る。この光電流は、波形整形回路(11)によって整形
され、同期信号[S OS ](a)としてイメージコ
ントロール回路(12)に入力される。
This polygon mirror (4) is an example of a rotating optical deflector.
As the laser beam rotates, the incident laser beam becomes parallel light (
The inclination of each reflective surface (4a) with respect to 2) changes. As a result, the traveling direction of the reflected laser beam (2) is deflected, and the photosensitive tram (5) and the photosensor (6) are connected to each other. This photosensor (6) is illuminated by the laser beam (2) after being reflected by the polygon mirror (4).
It outputs a photocurrent when scanned at the beginning of a scanning line. This photocurrent is shaped by a waveform shaping circuit (11) and input as a synchronization signal [S OS ] (a) to an image control circuit (12).

この同期信号[S OS ](a)を受けて、イメージ
コントロール回路(12)においては、内蔵のタイマに
より計時される一定時間後、即ち、走査されるレーザビ
ーム(2)がホトセンサ(6)の位置から感光体ドラム
(5)上の記録開始位置に到達するのに相当する時間後
に、ギヤラクタジェネレータ(+3)にデータ要求信号
(b)を送り、画像データ(c)を受は取る。そして画
像情報(d)の出力が開始される。そして、レーザ駆動
回路(14)は、この画像情報(d)を受け、それに基
づいた半導体レーザ(la)への励起電流(e)の出力
を開始する。
In response to this synchronization signal [SOS] (a), the image control circuit (12) controls the scanning laser beam (2) after a certain period of time measured by the built-in timer, that is, the scanned laser beam (2) reaches the photosensor (6). After a time corresponding to reaching the recording start position on the photosensitive drum (5), a data request signal (b) is sent to the gearactor generator (+3), and image data (c) is received. Then, output of the image information (d) is started. Then, the laser drive circuit (14) receives this image information (d) and starts outputting an excitation current (e) to the semiconductor laser (la) based on the image information (d).

この同期信号[808](a)は、感光体ドラム(5)
の回転方向、即ち、副走査方向に関して、繰り返の長手
方向に向かって破線(7)のように走査される(この方
向が主走査方向である)。この反射後のレーザビーム(
2)は、表面が一様に帯電された回転する感光体トラム
(5)上に結像され、その強度に応して結像位置の帯電
電位を減衰させる。
This synchronization signal [808] (a) is transmitted to the photoreceptor drum (5).
With respect to the rotating direction, that is, the sub-scanning direction, scanning is performed in the longitudinal direction of repetition as shown by the broken line (7) (this direction is the main scanning direction). This reflected laser beam (
In 2), an image is formed on a rotating photoreceptor tram (5) whose surface is uniformly charged, and the charged potential at the imaging position is attenuated in accordance with the intensity of the image.

方、筒状の感光体である感光体ドラム(5)は、ポリゴ
ンミラー(4)の回転に同期して一定速度で回転ケるよ
うに構成されている(この回転方向が副走査方向である
)。
On the other hand, the photoconductor drum (5), which is a cylindrical photoconductor, is configured to rotate at a constant speed in synchronization with the rotation of the polygon mirror (4) (this direction of rotation is the sub-scanning direction). ).

そして、この感光体ドラム(5)の回転に伴って前述の
レーザビーム(2)の走査が繰り返されることによって
、感光体ドラム(5)上に画像情報に応じた静電潜像が
形成されるのである。
Then, as the photoreceptor drum (5) rotates, the scanning of the laser beam (2) described above is repeated, thereby forming an electrostatic latent image on the photoreceptor drum (5) according to the image information. It is.

その後、図示は省略するが、着色顔料であるト廿−をこ
の静電潜像に選択付着させて現像する。
Thereafter, although not shown in the drawings, a colored pigment, ie, a pigment, is selectively attached to this electrostatic latent image and developed.

そして、出力用紙をトナー付着面に密着させて紙面上に
トナーを転写する。さらに、加熱によってこのトナーを
融解して出力用紙に定着させ、出力画像を得る。
Then, the output paper is brought into close contact with the toner adhesion surface to transfer the toner onto the paper surface. Furthermore, this toner is melted and fixed on the output paper by heating to obtain an output image.

また、感光体ドラム(5)よりも走査上手側に、される
レーザビーム(2)の走査により形成される静電潜像の
開始位置を揃え、記録のジッタの発生を回避するための
ものである。
In addition, the start position of the electrostatic latent image formed by the scanning of the laser beam (2) is aligned on the upper scanning side of the photoreceptor drum (5) to avoid occurrence of recording jitter. be.

一方、レーザヘッド(1)内にはレーザ駆動回路(14
)からの励起電流(e)によって前記レーザビーム(2
)と同時に半導体レーザ(la)から後方に発振される
レーザビーム(2)を受けるホトダイオード(Ib)が
設けられている。このホトダイオード(1b)からの出
力信号(f)は、レーザ駆動回路(14)に入力される
。そして、このホトダイオード(1b)からの出力信号
(f)を用いて、半導体レーJ’(la)から前方へ発
振されるレーザビーム(2)のパワーが、半導体レーザ
(la)の温度の変動等に拘らず常に一定になるように
、半導体レーザ(Ia)への励起電流(e)を制御する
ように構成しである。このレーザパワーのサンプリング
は、イメージコン)・ロール回路(12)からのザンプ
ルホールト信号(g)によって行なわれる。
On the other hand, inside the laser head (1) is a laser drive circuit (14).
) by the excitation current (e) from the laser beam (2
) At the same time, a photodiode (Ib) is provided which receives a laser beam (2) oscillated backward from a semiconductor laser (la). The output signal (f) from this photodiode (1b) is input to the laser drive circuit (14). Using the output signal (f) from this photodiode (1b), the power of the laser beam (2) oscillated forward from the semiconductor laser J' (la) is adjusted to compensate for changes in the temperature of the semiconductor laser (la). The configuration is such that the excitation current (e) to the semiconductor laser (Ia) is controlled so that it is always constant regardless of the current. Sampling of this laser power is performed by a sample halt signal (g) from the image controller/roll circuit (12).

(b)  fo特性データ 本実施例では、fθ補正を電気的に処理する。(b) fo characteristic data In this embodiment, fθ correction is processed electrically.

後に説明する第1図は、レーザ駆動回路(I4)の部で
あるfθ特性補正回路を示す。この回路においては、R
OM(51)にあらかじめ記憶しておいたfθ特性デー
タに基きレーザダイオード(Ia)の駆動タイミングを
発生ずる。
FIG. 1, which will be explained later, shows an fθ characteristic correction circuit that is a part of the laser drive circuit (I4). In this circuit, R
The driving timing of the laser diode (Ia) is generated based on the fθ characteristic data stored in advance in the OM (51).

ROM(51)に記憶するfθ特性データについて次に
説明する。
The fθ characteristic data stored in the ROM (51) will be explained next.

いま、感光体上の走査線の中央を通るときを基準として
時刻tを表わし、中央を基準としてレーザビームの走査
位置ρをあられすと、第3図に示すように、レーザビー
ムの走査位置はρ−Ltan(wt)の位置にある。こ
こに、ポリゴンミラー(4)の角速度をw/2としくす
なわちレーザビームの角速度をWとし)、ポリゴンミラ
ーの反射面(4a)のビーム入射位置から感光体(5)
の主走査方向中央位置までの光路長をLとする。ここで
、ポリゴンミラー(4)の回転数を5000rpm、光
路長■7を300mm、基準クロックを20MI(zと
すると、角速度宥と中央からTクロック後の走査位置Q
は、次の通りである。
Now, if time t is expressed with reference to the time when the scanning line passes through the center of the photoreceptor, and the scanning position ρ of the laser beam is expressed with the center as reference, then the scanning position of the laser beam is as shown in Fig. 3. It is located at the position ρ-Ltan(wt). Here, the angular velocity of the polygon mirror (4) is set to w/2, that is, the angular velocity of the laser beam is set to W), and from the beam incidence position of the reflective surface (4a) of the polygon mirror to the photoreceptor (5).
Let L be the optical path length to the center position in the main scanning direction. Here, the rotation speed of the polygon mirror (4) is 5000 rpm, the optical path length 7 is 300 mm, and the reference clock is 20 MI (z).
is as follows.

第1表 (1= 300 X jan(wt) w= 2 X 2πX 5000 rpm/ 6 G 
sec/ 20 MH7X T5 236XIO−5T いま、プリンタのドツト密度を300dpi とすると
、ドツト間隔は25.4/300mm=84.7μmで
ある。したかって、走査線中央付近でのドツト位置(N
=o、I、2.−)とTクロック後の走査位置は、第4
図に示すようになる。ここで、本実施例では、fO特性
を与えるクロック数Tは、ドツト位置を越えない最大の
整数、ずなわち、847XN≧300Lan(5,23
6XlO−5T)の範囲で最大の整数’r(=0.5.
t (1,16,)の間隔のクロック数T’ (= 5
 、5 、6、−、)としてr(OM(51)に記憶さ
れる。なお、第1表は、各クロックTに対応する走査位
置(レーザビームの投射位置)ρを示す。また、第2表
は、クロックT、このときの中央からの距離ρ、および
トソト位置との差ΔQを示す。
Table 1 (1= 300 X jan(wt) w= 2 X 2πX 5000 rpm/ 6 G
sec/20 MH7X T5 236XIO-5T Now, assuming that the dot density of the printer is 300 dpi, the dot interval is 25.4/300 mm=84.7 μm. Therefore, the dot position near the center of the scanning line (N
=o, I, 2. -) and the scanning position after T clocks is the fourth
The result will be as shown in the figure. Here, in this embodiment, the number of clocks T giving the fO characteristic is the maximum integer that does not exceed the dot position, that is, 847XN≧300Lan (5, 23
6XlO-5T), the largest integer 'r (=0.5.
The number of clocks T' (= 5
. The table shows the clock T, the distance ρ from the center at this time, and the difference ΔQ from the tosoto position.

以下金白 本実施例では、第5図に遅延回路の原理的な構成を示す
ように、基準クロック信号に対してたとえば4段の遅延
素子(61〜64)を直列に接続した遅延手段を設けて
各段からクロック信号φI〜φ4を取り出す。いま、基
準クロックを20MHz(周期50ns)とし、各遅延
素子の遅延時間を1゜nsとすると、第6図に示すよう
に、実質的に5倍のクロック信号が得られる。
In the following Kinpaku example, as shown in FIG. 5 which shows the basic structure of the delay circuit, a delay means is provided in which, for example, four stages of delay elements (61 to 64) are connected in series with respect to the reference clock signal. Clock signals φI to φ4 are taken out from each stage. Now, if the reference clock is 20 MHz (period: 50 ns) and the delay time of each delay element is 1° ns, a clock signal that is substantially five times as large as that shown in FIG. 6 can be obtained.

したがって、N番目のドツト位置を越えない最大のクロ
ック数データT(N)と遅延段数データL(N)を指定
すると、Q−300tan(wX CT +t/ 5)
)となる。第3表は、各ドツト位置でのデータT(N)
T’(N)、 t(N)と差ΔQを示す。ここに、T’
(N)は、各走査位置間の間隔を表すクロック数である
Therefore, if you specify the maximum clock number data T(N) and delay stage number data L(N) that do not exceed the Nth dot position, Q-300tan(wX CT +t/5)
). Table 3 shows the data T(N) at each dot position.
T'(N), t(N) and the difference ΔQ are shown. Here, T'
(N) is the number of clocks representing the interval between each scanning position.

差△ρは最大で遅延時間程度すなわち約36%以下にな
る。こうして、走査位置(レーザビーム投射位置)と正
しいドツト位置との差Δρを約115に小さくでき、f
θ特性が大幅に改善される。
The difference Δρ is at most about the delay time, that is, about 36% or less. In this way, the difference Δρ between the scanning position (laser beam projection position) and the correct dot position can be reduced to about 115, and f
The θ characteristics are significantly improved.

遅延素子としては、たとえば安価な高速0MO8素子7
4 HCOOを用いる。ICの伝播遅延時第3表 性は、一般に製造ロット、動作温度、動作電圧等により
ばらつくが、同じパンケージ内の素子を用いると、一般
にある程度特性をそろえることができる。そこで、同一
パッケージ内の遅延素子を用いる。
As a delay element, for example, an inexpensive high-speed 0MO8 element 7 is used.
4 Using HCOO. The propagation delay characteristics of an IC generally vary depending on the manufacturing lot, operating temperature, operating voltage, etc., but if elements in the same package are used, the characteristics can generally be made uniform to some extent. Therefore, delay elements within the same package are used.

以下余白 第4表 rθ特性データ (T’ 第4表は、基準クロックを5分割した場合にROM(5
1)に記憶させるべきクロック数データ(T”l)と遅
延段数データtとからなるfθ特性データを示す。fθ
特性データは、後で説明する理由で、アドレス80 (
l Hから格納される。クロック数データ(T’ −1
)は第5ピツトから第3ヒツトまでの3ビツトに、遅延
段数データtは第2ビツトから第0ビツトまでの3ビツ
トに格納される。
Table 4 below shows rθ characteristic data (T').
1) shows fθ characteristic data consisting of clock number data (T”l) and delay stage number data t to be stored. fθ
The characteristic data is stored at address 80 (
l Stored from H. Clock number data (T' -1
) is stored in the 3 bits from the 5th pit to the 3rd hit, and the delay stage number data t is stored in the 3 bits from the 2nd bit to the 0th bit.

クロック数(T”−1)は、第1図の回路構成ではドツ
トクロックカウンタ(57)に設定したデータより1つ
多く数えるため、第3表のデータより1つ少ない。また
、クロック数データ(T’−1)に対応する遅延段数t
は、第1図の回路構成では、データ入力のタイミングを
考慮して次のアドレスに書かれる。
The number of clocks (T''-1) is one more than the data set in the dot clock counter (57) in the circuit configuration shown in FIG. 1, so it is one less than the data in Table 3. The number of delay stages t corresponding to T'-1)
In the circuit configuration shown in FIG. 1, is written to the next address in consideration of data input timing.

遅延回路の発生するドツトクロック信号の時間精度を決
定するのは、遅延素子の遅延特性である。
What determines the time accuracy of the dot clock signal generated by the delay circuit is the delay characteristic of the delay element.

例えば、遅延素子として安価なTTL−ICを用いた場
合、その遅延時間には大きなばらつきがある。例えば、
74 L S 24.4. (3−ステート出力憶する
ROM(5])には、各分割数に対応したデータを格納
しておく。
For example, when an inexpensive TTL-IC is used as a delay element, there are large variations in the delay time. for example,
74 L S 24.4. (3-state output storage ROM (5)) stores data corresponding to each division number.

たとえば、第7図に示す例では、ROM(51)に3分
割用、4分割用、5分割用、6分割用の4組のfθ特性
データを順次格納しておく。そして、第1図に示すよう
に、遅延素子の遅延時間にあった分割数をアドレスのう
ちの上位2ビツト(A10とA11)をDIPスイッチ
(60)で設定することにより、最適なrθ特性データ
の組を選択できる。本実施例では、第7図に示すように
、3分割データ、4分割データ、5分割データ、6分割
データは、それぞれ、アドレスO1400H1800H
,C0OHから格納し、下位10ビツト(A9〜AO)
がROMアドレスカウンタ(55)で指定される。
For example, in the example shown in FIG. 7, four sets of fθ characteristic data for three divisions, four divisions, five divisions, and six divisions are sequentially stored in the ROM (51). Then, as shown in Figure 1, by setting the upper two bits (A10 and A11) of the address to the number of divisions that match the delay time of the delay element using the DIP switch (60), the optimum rθ characteristic data can be obtained. You can select a set of In this embodiment, as shown in FIG.
, stored from C0OH, lower 10 bits (A9 to AO)
is designated by the ROM address counter (55).

なお、本実施例では、クロック数と遅延段数はドツト位
置を越えない最大の値としたか、画像の性質に応じて適
当な方式で定めればよい。たとえば、変形実施例ではN
ドツト目のドツト位置に最も近い位置となるクロック数
T(N)、すなわち、バッファ)では、Lレベル→Hレ
ベルおよびI(レベル−Lレベルの伝達遅延時間は、所
定の条件の下でいずれも最大で18ns、典型的には1
2nsとなっていて、その上、最小時間は規定されてい
ない。
In this embodiment, the number of clocks and the number of delay stages may be set to the maximum value that does not exceed the dot position, or may be determined by an appropriate method depending on the nature of the image. For example, in a variant embodiment N
At the clock number T(N) at the position closest to the dot position, that is, the buffer), the transmission delay time of L level → H level and I (level − L level) are both 18ns max, typically 1
2 ns, and no minimum time is specified.

たとえば、遅延素子の遅延時間をl0nsとして計算し
たデータを用いた場合、実際の遅延時間が10nsであ
れば最良の精度か得られる。しかし、実際の遅延時間が
7nsと短い場合や13nsと長い場合は、ドツト位置
との差△ρが、最良の場合の2倍程度に大きくなってし
まう。計算した遅延時間と実際の遅延時間との間に差が
あるほど、ドツト位置との差ΔQが大きくなる。
For example, when data calculated using the delay time of a delay element as 10 ns is used, the best accuracy can be obtained if the actual delay time is 10 ns. However, if the actual delay time is as short as 7 ns or as long as 13 ns, the difference Δρ from the dot position will be approximately twice as large as in the best case. The greater the difference between the calculated delay time and the actual delay time, the greater the difference ΔQ from the dot position.

したかって、実際に使用する遅延素子の遅延時間に合わ
せた遅延段数のデータを用いる必要かある。
Therefore, it is necessary to use data on the number of delay stages that matches the delay time of the delay element actually used.

そこで、本実施例では、基準クロックを分割する数(遅
延範囲)を複数種類設定できるようにし、その中より実
際の遅延素子の遅延時間に最もマツチングのよい数を設
定する。rθ特性データを記ドラ1−位置との差Δρ−
Nx25.4/300−300XwXT(N)の絶対値
1Δg1が最小になるTを求める。第6表は、遅延時間
り月3nsの遅延素子からなる遅延回路を用いたときの
データ、すなわち、基準クロックを実質的に4分割した
ときのクロック数データT゛と遅延段数データ(1)を
示す。
Therefore, in this embodiment, a plurality of types of the number of divisions (delay range) of the reference clock can be set, and the number that best matches the delay time of the actual delay element is set among them. The rθ characteristic data is written as the difference Δρ− from the driver 1 position.
Find T at which the absolute value 1Δg1 of Nx25.4/300-300XwXT(N) is minimized. Table 6 shows the data when using a delay circuit consisting of a delay element with a delay time of 3 ns, that is, the clock number data T' and the delay stage number data (1) when the reference clock is substantially divided into four. show.

この方式では、ドツト位置との差へρは、ドツト位置よ
り中央に近いか離れているかに対応して正と負の値をと
ることになる。そして、得られたクロック間隔T”の値
をROM(51)に記憶する。
In this method, the difference ρ from the dot position takes a positive or negative value depending on whether it is closer to or farther from the center than the dot position. Then, the obtained value of the clock interval T'' is stored in the ROM (51).

以下余白 第5表 第6表 第5図に示したようにl0nsの遅延時間を有する遅延
素子を用いて実質的に5倍の周波数のクロックとしたと
き、第6表に示すように、中央からN番目のドツト位置
に最も近い中央位置からのクロック数’r(N)とNド
ツト目の遅延段数L(N)が計算される。このとき、ド
ツト位置との差へρは、Nx25.4/300−300
xtan(wx(T(N)+(10150)t(N))
)となる。)ヘット位置との誤差は、±19%程度の範
囲内になる。
The following margins are shown in Table 5, Table 6, and Figure 5. When a delay element with a delay time of 10 ns is used to create a clock with substantially 5 times the frequency, as shown in Table 6, from the center The number of clocks 'r(N) from the central position closest to the Nth dot position and the number of delay stages L(N) for the Nth dot are calculated. At this time, the difference ρ from the dot position is Nx25.4/300-300
xtan(wx(T(N)+(10150)t(N))
). ) The error with the head position is within the range of about ±19%.

以下余白 また、第7表と第8表は、それぞれ、遅延時間が7ns
と13118の遅延素子からなる遅延回路を用いたとき
のクロック数’r(N)と遅延段数t(N)を示す。こ
れらの場合、クロック周波数(Jlそれぞれ、実質的に
7倍と4倍になり、トソ)・位置との誤差Δgは、±1
3%程度と±24%程度の範囲内である。なお、遅延回
路を構成するために必要な遅延素子の数は、それぞれ、
7個と4個となる。
Margin below Also, Tables 7 and 8 each have a delay time of 7 ns.
The number of clocks 'r(N) and the number of delay stages t(N) when using a delay circuit consisting of 13118 delay elements are shown. In these cases, the error Δg between the clock frequency (Jl is effectively 7 times and 4 times, respectively) and position is ±1
It is within the range of about 3% and ±24%. Note that the number of delay elements required to configure the delay circuit is as follows:
There will be 7 pieces and 4 pieces.

また、以」二の例では、遅延素子は遅延時間が基準クロ
ックの周期の整数分の1になるように選択した。しかし
、必ずしも整数分の1になっていなくても(たとえば、
1/45となっていても)、fθ特性は改善できる。
Furthermore, in the second example, the delay elements were selected so that the delay time was one integer fraction of the period of the reference clock. However, even if it is not necessarily a fraction of an integer (for example,
Even if it is 1/45), the fθ characteristics can be improved.

以下余白 第7表 (c)  fθ特性補正回路 以下では、第7図のデータを格納したROM(51)を
用いたfθ特性補正について説明する。
Table 7 (c) fθ characteristic correction circuit Below, fθ characteristic correction using the ROM (51) storing the data shown in FIG. 7 will be explained.

第1図に示すfθ特性補正回路において、第1フリツプ
フロツプ(52)と第2フリツプフロツプ(53)とか
らなる回路は、イメージコントロール回路(12)を介
して送られてくる同期信号[SO8](a)を基にして
、LSTRT信号を発生させる。
In the fθ characteristic correction circuit shown in FIG. ), the LSTRT signal is generated.

すなわち、第1フリツプフロツプ(52)は、同期信号
[SOS ](a)をクロック信号として受信すると直
ちに高レベルにセットされる。そして、第2フリツプフ
ロツプ(53)は、第1フリツプフロツプ(52)の出
力信号をクロック回路(54)からのクロック信号[C
L K]に同期して出力する。この出力信号は、第1フ
リップフロップ回路(52)をクリアする信号となると
ともに、上記LSTRT信号となる。したがって、LS
TRT信号は、クロック信号[CLK]の1周期の間に
出力される。
That is, the first flip-flop (52) is set to a high level immediately upon receiving the synchronization signal [SOS] (a) as a clock signal. The second flip-flop (53) converts the output signal of the first flip-flop (52) into a clock signal [C
Output in synchronization with LK]. This output signal serves as a signal for clearing the first flip-flop circuit (52) and also serves as the LSTRT signal. Therefore, L.S.
The TRT signal is output during one period of the clock signal [CLK].

ROMアドレスカウンタ(55)は、ROM(51)の
アドレスを与えるROMアドレス信号A9〜A第8表 0を発生する。一方、DIFスイッチ(60)は、たと
えば、AI 1=“0”、Al0−“ビと設定されてい
る。したがって、4分割の場合のfθ特性データ(第4
表)が選択されていることになる。上記のLSTRT信
号は、ORゲート(56)を介してROMアドレスカウ
ンタ(55)をクリアする。
The ROM address counter (55) generates ROM address signals A9-A Table 8 which give the address of the ROM (51). On the other hand, the DIF switch (60) is set to, for example, AI1="0" and Al0-"BI. Therefore, fθ characteristic data in the case of four divisions (fourth
table) is selected. The above LSTRT signal clears the ROM address counter (55) via the OR gate (56).

したがって、ROM(51)のアドレスA9〜AOは、
SO8同期信号に同期して“0”に戻ることになる。な
お、頁の先頭のラインの場合は、印字に先立ちRESE
T信号がORゲート56を介して入力され、ROMアド
アドレス−AOは“0”になっている。
Therefore, addresses A9 to AO of ROM (51) are
It returns to "0" in synchronization with the SO8 synchronization signal. In addition, in the case of the first line of the page, press RESE before printing.
The T signal is input through the OR gate 56, and the ROM address -AO is "0".

このとき、ROM(51)はアドレス“800H”のク
ロック数データT’−1をドツトクロックカウンタ(5
7)に出力する。同時に、上記のLSTRT信号が、O
Rゲート(58)を介してドツトクロックカウンタ(5
7)のLOAD端子に送られ、このクロック数データT
′−1がドツトクロックカウンタ(57)に初期値とし
てプリセットされる。
At this time, the ROM (51) transfers the clock number data T'-1 at the address "800H" to the dot clock counter (51).
7). At the same time, the above LSTRT signal is
Dot clock counter (5) via R gate (58)
7) is sent to the LOAD terminal, and this clock number data T
'-1 is preset in the dot clock counter (57) as an initial value.

この値は;クロック回路(54)からのクロック信号を
受信するごとに1つ減算される。カウント値が°゛0″
°に達すると、リンプルクロック出力信号[RC]が発
生される。このリップルクロック信号[RC]は、例え
ば、クロック信号[CL Klの周期(50ns )に
等しいパルス幅で出力され、計4段の遅延素子(61〜
64)を直列接続してなる遅延回路に送られる。
This value is subtracted by one each time a clock signal is received from the clock circuit (54). Count value is °゛0″
When the temperature is reached, a ripple clock output signal [RC] is generated. This ripple clock signal [RC] is output with a pulse width equal to the period (50 ns) of the clock signal [CL Kl, for example, and is output through a total of four stages of delay elements (61 to 61).
64) connected in series.

このリップルクロック信号[RC]は、同時に、ROM
アドレスカウンタ(55)にクロック信号として送られ
、ROMアドレスを1つ増加させ801H”とする。こ
のリップルクロック信号[RC]は、さらに、ORゲー
ト(58)を介してドツトクロックカウンタ(57)の
LOAD端子に送られる。これにより、ROM(51)
のアドレス“801 H”のクロック数データ(T’−
1)がドツトクロックカウンタ(57)にプリセットさ
れる。以下、同様に、ドツトクロックカウンタ(57)
にプリセットされたクロック数だけクロック信号[CL
K’]を受信するごとにリップルクロック信号[RC]
が発生される。
This ripple clock signal [RC] is simultaneously applied to the ROM
The ripple clock signal [RC] is sent as a clock signal to the address counter (55), and the ROM address is incremented by one to 801H''. is sent to the LOAD terminal.This causes the ROM (51)
Clock number data (T'-
1) is preset in the dot clock counter (57). Similarly, the dot clock counter (57)
The clock signal [CL
Ripple clock signal [RC]
is generated.

うして、ORゲート(70)の出力するドツトクロック
信号の立上りは、信号φ0(RC)の立」ニリに同期し
、ドツトクロック信号の立下りは、信号φ0または選択
された遅延クロック信号(φl〜φ4のいずれか)の立
下りに同期することになる。そして、このドツトクロッ
ク信号の立下りが、レーザダイオード(1a)の発光の
タイミングを与える。
Thus, the rising edge of the dot clock signal output from the OR gate (70) is synchronized with the rising edge of the signal φ0 (RC), and the falling edge of the dot clock signal is synchronized with the rising edge of the signal φ0 or the selected delayed clock signal (φl). to φ4). The fall of this dot clock signal provides the timing for the laser diode (1a) to emit light.

したがって、遅延素子(61〜64)の特性がそろうと
、第3表に示したごときわずかな誤差を除いて、正しい
fθ特性を得ることができるようになる。
Therefore, when the characteristics of the delay elements (61 to 64) are aligned, correct fθ characteristics can be obtained except for slight errors as shown in Table 3.

なお、実際の遅延時間は、さらに個々のANDゲート(
65〜69)の伝播遅延時間のバラツキによって影響さ
れるので、好ましくは、同一パンケーノ内のANDゲー
トを用いて遅延時間のばらつきを少なくする。
Note that the actual delay time is further determined by the individual AND gates (
65 to 69), therefore, it is preferable to reduce the variation in delay time by using AND gates within the same pankeno.

第8図は、感光体ドラム(5)の中央を走査した時点か
らのタイミングヂャートを示す。ROMアドレスカウン
タ(55)の出力するアドレスは、説明の便宜」二、中
央を8001−I”としている。ドラ遅延回路は、4段
の遅延素子(61〜64)を直列に接続してなり、リッ
プルクロック信号[RC](φ0ともいう)に加え、4
段の遅延クロック信号φl〜φ4が発生される。これら
のりップルクロック信号φOと遅延クロック信号φl〜
φ4は、それぞれ、対応するANDゲート(65〜69
)の万人ツノとされ、各ANDゲートが開かれたときに
5つの入力端子を有するORゲー1−(70)に送られ
る。信号φ0は、ANDゲート(65)を介して格にO
Rケート(70)へ出力されている。一方、ROM(5
1)の遅延段数データtは、デコーダ・ラッチ回路(7
1)に送られ、リップルクロック信号[RC]の立下り
より若干遅れたタイミングでラッチされろ。そして遅延
段数を表わす4個の信号(IEN、2EN、3EN、4
.EN)にデコードされて、対応する遅延段数回のAN
Dゲー1−(66〜69)の他方の入力端子に送られる
。したがって、遅延段数を表わす信号(] EN、2E
N、3EN、4EN)により選択された八NI)ケート
のみが遅延クロック信号φ1〜φ4をORケート(70
)に送る。こドクロックカウンタ(57)がリップルク
ロツタ信号[RC]を出力すると、ROMアドレスカウ
ンタ(55)のカウント値が°゛0″であった場合は、
カウント値が“ビに増加し、ROM(51)にROMア
ドレス信号信号−9〜AOて送られる。したがって、R
OM(51)は、アドレス“8011(”のクロック数
データ(T’−1)として4°°をドツトクロックカウ
ンタ(57)に送る。そして、次に出力されるリップル
クロック信号[RC]の立下りで、このクロック数”4
”がドツトクロックカウンタ(57)に設定される。ド
ツトクロックカウンタ(57)は、クロック信号[CL
K]によりダウンカウントされ、カウント値が“°0°
゛になるとりップルクロック信号[RC]が出力される
。そして、リップルクロック信号[RC]の立下りでR
OMアドレスカウンタ(55)のカウント値が“2”と
なり、ROM(51)はアドレス“’8021ゼの遅延
段数tである3”をデコーダ・ラッチ回路(71)に出
力し、デコーダ・ラッチ回路(71)はこのデータをラ
ンチし、デコート信号3ENを有効にする。したがって
、リップルクロック信号[RC]と信号φ3の論理和が
ドツトクロックとしてORゲート(70)から出力され
る。すなわち、ドツトクロックの立下りは、信号φ3の
立下りに一致する。このドツトクロックは、第3表に示
した誤差を持つfθ特性を示す。
FIG. 8 shows a timing diagram from the time when the center of the photosensitive drum (5) is scanned. For convenience of explanation, the address output by the ROM address counter (55) is set to 8001-I in the center. In addition to the ripple clock signal [RC] (also called φ0), 4
Stage delayed clock signals φl-φ4 are generated. These ripple clock signal φO and delayed clock signal φl~
φ4 is the corresponding AND gate (65 to 69
), and when each AND gate is opened, it is sent to an OR game 1-(70) having five input terminals. The signal φ0 is output to O via an AND gate (65).
It is output to the R-gate (70). On the other hand, ROM(5
The delay stage number data t in 1) is determined by the decoder/latch circuit (7
1) and latched at a timing slightly delayed from the falling edge of the ripple clock signal [RC]. Then, four signals (IEN, 2EN, 3EN, 4
.. EN) and the AN of the corresponding number of delay stages.
It is sent to the other input terminal of D game 1-(66-69). Therefore, the signal representing the number of delay stages (] EN, 2E
Only the eight NI) gates selected by N, 3EN, 4EN) OR the delayed clock signals φ1 to φ4 (70
). When the clock counter (57) outputs the ripple clock signal [RC], if the count value of the ROM address counter (55) is °'0',
The count value increases to "B" and is sent to the ROM (51) using the ROM address signals -9 to AO.
The OM (51) sends 4° to the dot clock counter (57) as the clock number data (T'-1) of the address "8011(".Then, the rising edge of the ripple clock signal [RC] to be output next is On the downhill, this clock number "4"
” is set in the dot clock counter (57).The dot clock counter (57) receives the clock signal [CL
K] is counted down, and the count value becomes “°0°
A triple clock signal [RC] is output. Then, at the falling edge of the ripple clock signal [RC], R
The count value of the OM address counter (55) becomes "2", and the ROM (51) outputs the address "3, which is the number of delay stages t of '8021ZE" to the decoder/latch circuit (71), and the decoder/latch circuit ( 71) launches this data and enables the decode signal 3EN. Therefore, the logical sum of the ripple clock signal [RC] and the signal φ3 is output from the OR gate (70) as a dot clock. That is, the falling edge of the dot clock coincides with the falling edge of the signal φ3. This dot clock exhibits fθ characteristics with errors shown in Table 3.

なお、以上では、中央からの走査について述べたが、ス
キャン開始から中央までの動作も同様に行われる。
Note that although the above description has been about scanning from the center, the operation from the start of scanning to the center is performed in the same way.

レーザ駆動回路(14)は、レーザビーム(2)が感光
体(5)のイメージエリア内にあるとき、内部のfθ特
性補正回路から送られるドツトクロックに同期してキャ
ラクタジェネレータ(I3)から受信した画像情報(d
)に対応してレーザダイオード(la)の駆動のタイミ
ング信号(e)を出力する。
When the laser beam (2) is within the image area of the photoreceptor (5), the laser drive circuit (14) receives the dot clock from the character generator (I3) in synchronization with the dot clock sent from the internal fθ characteristic correction circuit. Image information (d
), outputs a timing signal (e) for driving the laser diode (la).

(発明の効果) 精度の良い高価な、遅延素子を使用することなく、ある
程度特性にバラつきのある安価なTTLIC等を遅延素
子として使用しても、複数組のfθ特性データのうち適
当な組を指定してfθ特性についである程度の時間精度
は、確保できる。
(Effect of the invention) Even if an inexpensive TTLIC or the like with some variation in characteristics is used as a delay element without using an expensive and accurate delay element, it is possible to select an appropriate set of fθ characteristic data from among multiple sets of fθ characteristic data. By specifying the fθ characteristic, a certain degree of time accuracy can be ensured.

61〜64・・・遅延素子、 φO〜φ4・・・クロック信号。61-64...delay element, φO to φ4...Clock signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)画像情報に応じて発光されるレーザビームを光偏
向器で感光体上に走査して記録するビーム走査型記録装
置において、 感光体上の走査線上のドット位置について各ドット位置
に近いレーザビームの走査位置を与えるクロック数デー
タと遅延段数データとを各ドット位置に対応するアドレ
スに順次記憶してなるfθ特性データを1組とし、最大
遅延段数の異なる複数組のfθ特性データを記憶するf
θ特性記憶手段と、基準クロックを発生するクロック回
路と、 fθ特性記憶手段から送られたクロック数だけ基準クロ
ックをカウントするとドットクロックを発生するカウン
タ手段と、 基準クロックの周期より短い遅延時間を生じる遅延素子
を、少くとも遅延時間の総和が1周期にほぼ等しくなる
程度の数だけ直列に接続してなり、上記のカウンタ手段
から送られるドットクロックを遅延段数データの数の遅
延素子を直列に通して出力する遅延手段と、fθ特性記
憶手段に記憶された複数組のfθ特性データの組のうち
、遅延手段の遅延素子の遅延特性に対応する組を指定す
る遅延範囲指定手段と、カウンタ手段が発生するドット
クロックによりfθ特性記憶手段のアドレスを順次更新
するアドレス指定手段とを備えたことを特徴とするビー
ム走査型記録装置。
(1) In a beam scanning recording device that scans and records a laser beam emitted according to image information onto a photoconductor using an optical deflector, a laser beam close to each dot position on a scanning line on the photoconductor is used. One set of fθ characteristic data is obtained by sequentially storing clock number data giving the beam scanning position and delay stage number data in addresses corresponding to each dot position, and multiple sets of fθ characteristic data having different maximum delay stage numbers are stored. f
θ characteristic storage means, a clock circuit that generates a reference clock, a counter means that generates a dot clock when the reference clock is counted by the number of clocks sent from the fθ characteristic storage means, and a delay time shorter than the period of the reference clock is generated. A number of delay elements are connected in series such that at least the sum of the delay times is approximately equal to one cycle, and the dot clock sent from the counter means is passed through the delay elements of the number of delay stages in series. a delay means for outputting fθ characteristic data, a delay range specifying means for specifying a set corresponding to the delay characteristic of the delay element of the delay means among the plurality of sets of fθ characteristic data stored in the fθ characteristic storage means, and a counter means. 1. A beam scanning type recording apparatus comprising: address designating means for sequentially updating the address of the fθ characteristic storage means based on a generated dot clock.
JP63167982A 1988-04-25 1988-07-06 Beam scan type recording device Pending JPH0218516A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011227250A (en) * 2010-04-19 2011-11-10 Pioneer Electronic Corp Image display device
EP2552093A1 (en) * 2011-07-28 2013-01-30 Kyocera Document Solutions Inc. Image forming apparatus and method for adjusting rational phase difference of rotating polygon mirror

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