JPH02183175A - Testing apparatus of printed circuit board - Google Patents
Testing apparatus of printed circuit boardInfo
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- JPH02183175A JPH02183175A JP1001316A JP131689A JPH02183175A JP H02183175 A JPH02183175 A JP H02183175A JP 1001316 A JP1001316 A JP 1001316A JP 131689 A JP131689 A JP 131689A JP H02183175 A JPH02183175 A JP H02183175A
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プリント基板の検査装置に係り、特に、未実
装のプリント基板の配線パターンの検査に好適なプリン
ト基板検査装置に関するもので６る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a printed circuit board inspection device, and particularly to a printed circuit board inspection device suitable for inspecting wiring patterns of unmounted printed circuit boards. .
未実装のプリント基板の検査装置として、たとえば、特
開昭５９−１６８３７５号に示されるような検査装置が
ある。そして、このような検査装置では、プリント基板
上に散在する検査点へプローブを移動させるため、特開
昭５８−３１７９９号等に示されるよりなＸ−Ｙ移動機
構を用いている。As an example of an inspection apparatus for unmounted printed circuit boards, there is an inspection apparatus as disclosed in Japanese Patent Application Laid-open No. 168375/1983. In such an inspection apparatus, in order to move the probes to inspection points scattered on the printed circuit board, an XY moving mechanism as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-31799 and the like is used.
そして、一方のプローブをプリント基板の検査点に当て
ることにより、検査点に接続嘔れた配線パターンとテー
ブルの導電板との間の静電容量を測定し、両方のプロー
ブを配線パターン両端の検査点に当て、配線パターンの
電気抵抗を測定し、プリント基板に形成された配線パタ
ーンの良否の検査を行なっている。Then, by applying one probe to the test point on the printed circuit board, the capacitance between the wiring pattern connected to the test point and the conductive plate on the table is measured, and both probes are used to test both ends of the wiring pattern. The electrical resistance of the wiring pattern is measured by applying a dot to the wiring pattern, and the quality of the wiring pattern formed on the printed circuit board is inspected.
このような検査装置では、検査装置のテーブル上にプリ
ント基板管固定する場合、プリント基板の周囲を粘着テ
ープで止めている。In such an inspection device, when a printed circuit board tube is fixed on a table of the inspection device, the periphery of the printed circuit board is fixed with adhesive tape.
一方、プリント基板には、反りやうねりがあるために、
粘着テープで周囲管止めただけでは検査面をテーブルに
密着させることかで色ない。On the other hand, printed circuit boards have warps and undulations, so
Simply fixing the surrounding tube with adhesive tape is not enough to ensure that the inspection surface is in close contact with the table.
この丸め、検査点に接触するグローブの接触圧を高くし
て、プローブでプリント基板をテーブルに押付けている
ようにしているため、検査点にグローブの打痕などの傷
を付けることがあった。Due to this rounding, the contact pressure of the glove that comes into contact with the inspection point is increased so that the printed circuit board is pressed against the table by the probe, which may cause scratches such as dents from the glove on the inspection point.
本発明の目的は、プリント基板に傷を付けることなく、
確実に検査することができるようにしたプリント基板検
査装置を提供するにある。The purpose of the present invention is to avoid damaging printed circuit boards.
To provide a printed circuit board inspection device which enables reliable inspection.
上記の目的を達成するため、本発明においては９、プリ
ント基板と接するプローブの両側に、弾性体で形成され
た押え部材を設けた。In order to achieve the above object, in the present invention (9), presser members made of an elastic body are provided on both sides of the probe in contact with the printed circuit board.
そして、プローブがプリント基板に接触する前に押え部
材がプリント基板を押え、プリント基板をテーブルに密
着させることにより、グローブの接触圧を小さくするこ
とができる。The pressing member presses the printed circuit board before the probe comes into contact with the printed circuit board and brings the printed circuit board into close contact with the table, thereby making it possible to reduce the contact pressure of the glove.
したがって、プリントｓ板の検査点の圧痕をなくすこと
ができる。Therefore, it is possible to eliminate impressions at inspection points on the printed S board.
以下、本発明の一実施例を第１図に基づいて説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
同図において、１はプリント基板検査装置のキャリア。In the figure, 1 is a carrier of a printed circuit board inspection device.
２は板ばねで、一端がキャリア１の下端に固定されてい
る。３はプローブホルダで、板はね２の自由端に固定さ
れている。４はプローブでプローブホルダ３に支持され
ている。５は押えばねで、プローブホルダ３の両端面に
固定されている。６は緩衝材で、押えばね５の一端に固
定されている。７はアームで、キャリア１の上端に固定
されている。８はベルクランクで、アーム７に回動可能
に支持されている。９はリンクスプリングで、プローブ
ホルダ３とベルクランク８ｔ−結合している。１０はブ
ラケットで、キャリア１の中央部に固定されている。１
１はソレノイドで、ブラケット１０に揺動可能に支持さ
れ、かつその可動子がベールクランク８の一端に回動可
能に接続されている。Reference numeral 2 denotes a leaf spring, one end of which is fixed to the lower end of the carrier 1. Reference numeral 3 denotes a probe holder, which is fixed to the free end of the plate spring 2. A probe 4 is supported by the probe holder 3. Denoted at 5 are pressing springs fixed to both end surfaces of the probe holder 3. Reference numeral 6 denotes a cushioning material, which is fixed to one end of the pressing spring 5. An arm 7 is fixed to the upper end of the carrier 1. A bell crank 8 is rotatably supported by the arm 7. 9 is a link spring, which is connected to the probe holder 3 and the bell crank 8t. A bracket 10 is fixed to the center of the carrier 1. 1
Reference numeral 1 denotes a solenoid, which is swingably supported by the bracket 10, and whose movable element is rotatably connected to one end of the bail crank 8.
このような構成で、キャリア１の移動によシ、プローブ
４ｔ−所定の位置へ位置決めしたのち、ソレノイド１１
を作動させる。すると、ベルクランク８が回動し、リン
クスプリング９を介してプローブホルダ３を押して、板
ばね２ｔたわませながらプローブホルダ３を押し下げる
。With this configuration, when the carrier 1 is moved, the probe 4t is positioned at a predetermined position, and then the solenoid 11 is
Activate. Then, the bell crank 8 rotates, pushes the probe holder 3 through the link spring 9, and pushes the probe holder 3 down while bending the leaf spring 2t.
すると、まず、押えばね５に取付けられた緩衝材６がプ
リント基板に当接し、プリント基板をテーブルに１押付
ける。そして、押えはね５のばね力で、プリント基板を
テーブルに密着させる。Then, first, the cushioning material 6 attached to the pressing spring 5 comes into contact with the printed circuit board and presses the printed circuit board against the table. Then, the printed circuit board is brought into close contact with the table by the spring force of the presser spring 5.
この状態で、さらにプローブホルダ３が下降すると、プ
ローブ４がプリント基板上の検査点に接触する。In this state, when the probe holder 3 is further lowered, the probe 4 comes into contact with the inspection point on the printed circuit board.
したがって、プローブ４でプリント基板を押える必要は
ないので、プローブ４の検査点への接触圧を小さくする
ことかで急る。 ゛また、プリント基
板の反ｂｅによる浮上シによって発生する測定不良をな
くすことができる。Therefore, there is no need to press the printed circuit board with the probe 4, so the contact pressure of the probe 4 to the inspection point can be reduced.゛Furthermore, it is possible to eliminate measurement defects caused by floating due to the deflection of the printed circuit board.
発明の効果〕
以上述べた如く、本発明によれば、プローブの接触圧を
小さくできるので、プリント基板の検査点の打痕の発生
をなくすことができる。まえ、プリント基板の浮上シに
よる測定不良をなくすことができるなどの効果がある。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since the contact pressure of the probe can be reduced, it is possible to eliminate the occurrence of dents at inspection points on the printed circuit board. First, there are effects such as being able to eliminate measurement errors caused by floating parts of the printed circuit board.
第１図は、本発明によるプリント基板検査装置の要部を
示す斜視図である。
１・・・キャリア、 ３・・・プローブホルダ、・・
・押えばね、 １１・・・ソレノイド。FIG. 1 is a perspective view showing the main parts of a printed circuit board inspection apparatus according to the present invention. 1...Carrier, 3...Probe holder,...
・If you press it, 11...Solenoid.
Claims (1)
持されたプローブを、プリント基板に形成された配線パ
ターンの検査点に接触させて、配線パターンの検査を行
なうプリント基板検査装置において、前記キャリアに、
移動可能に支持されたプローブホルダと、このプローブ
ホルダを移動させる駆動手段とを設け、前記プローブホ
ルダに、プローブの両側に位置し、かつ先端がプローブ
の先端より下方に突出するように弾性体で形成された押
え部材を設けたことを特徴とするプリント基板検査装置
。1. In a printed circuit board inspection apparatus that inspects a wiring pattern by bringing a probe supported by a carrier that moves in a plane parallel to the printed circuit board into contact with an inspection point of the wiring pattern formed on the printed circuit board, the carrier To,
A movably supported probe holder and a driving means for moving the probe holder are provided, and the probe holder is provided with an elastic body that is located on both sides of the probe and whose tip protrudes below the tip of the probe. A printed circuit board inspection device comprising a presser member having a shape.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1001316A JPH02183175A (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Testing apparatus of printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1001316A JPH02183175A (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Testing apparatus of printed circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02183175A true JPH02183175A (en) | 1990-07-17 |
Family
ID=11498094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1001316A Pending JPH02183175A (en) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Testing apparatus of printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02183175A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115184650A (en) * | 2022-09-14 | 2022-10-14 | 江苏玄博智能标识科技有限公司 | Multi-functional intelligent sign control detection device |
-
1989
- 1989-01-09 JP JP1001316A patent/JPH02183175A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115184650A (en) * | 2022-09-14 | 2022-10-14 | 江苏玄博智能标识科技有限公司 | Multi-functional intelligent sign control detection device |
| CN115184650B (en) * | 2022-09-14 | 2022-12-02 | 江苏玄博智能标识科技有限公司 | Multi-functional intelligent sign control detection device |
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