JPH0217459A - 回路素子測定装置 - Google Patents
回路素子測定装置Info
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- JPH0217459A JPH0217459A JP16706188A JP16706188A JPH0217459A JP H0217459 A JPH0217459 A JP H0217459A JP 16706188 A JP16706188 A JP 16706188A JP 16706188 A JP16706188 A JP 16706188A JP H0217459 A JPH0217459 A JP H0217459A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 102220013433 rs35141404 Human genes 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
装置の改良に関する。
(従来技術とその問題点)
回路素子の高精度測定を行う要求は近年増々高まってい
る。このような測定を行う装置として、横河ヒユーレッ
ト・パソカードG菊が市販する4274A、4275
AマルチフリケンシLCRメーターがあり、それ等は四
端子対測定を行っている。
る。このような測定を行う装置として、横河ヒユーレッ
ト・パソカードG菊が市販する4274A、4275
AマルチフリケンシLCRメーターがあり、それ等は四
端子対測定を行っている。
第4図は、従来技術の四端子対測定を行う回路素子測定
装置の概略回路図である。
装置の概略回路図である。
四端子対を構成する4本の線路、CLI 、 ct、2
、CLt 、CL、により被測定回路素子ZXを測定器
を構成する信号源SS、電圧計VM、電流計静、零検出
増幅器Aに接続する。
、CLt 、CL、により被測定回路素子ZXを測定器
を構成する信号源SS、電圧計VM、電流計静、零検出
増幅器Aに接続する。
被測定回路素子ZXを以下において素子ZXと呼称し、
そのインピーダンス値をもzXで表わす。
そのインピーダンス値をもzXで表わす。
線路CL+ 、CLz 、CLt 、CL4はそれに限
定するものではないが同軸ケーブルとするのが一般的で
あり、それらの外被の素子ZX側端末gII、g2□、
g31.g4.は互い体接続され基準電位にある。線路
CL、 、 CL2の中心m体の素子ZX側端末113
.121は素子ZXの一方の端子に接続される。線路C
L3、CL、の中心導体の素子ZX側端末13いI!4
1は素子Zxの他方の端子に接R5の直接回路が接続さ
れる。
定するものではないが同軸ケーブルとするのが一般的で
あり、それらの外被の素子ZX側端末gII、g2□、
g31.g4.は互い体接続され基準電位にある。線路
CL、 、 CL2の中心m体の素子ZX側端末113
.121は素子ZXの一方の端子に接続される。線路C
L3、CL、の中心導体の素子ZX側端末13いI!4
1は素子Zxの他方の端子に接R5の直接回路が接続さ
れる。
端末12□、g2□間には電圧計VMが接続される。
端末13□、g3□はそれぞれ零検出増幅器への反転入
力端子と非反転入力端子に接続される。
力端子と非反転入力端子に接続される。
零検出増幅器Aの反転入力端子と出力端子間には帰還抵
抗しか接続される。その出力は狭帯源VCCの出力電流
(複素電流)を制御する。
抗しか接続される。その出力は狭帯源VCCの出力電流
(複素電流)を制御する。
NBΔは入力信号を複素検波し、検波出力を出力するが
、前掲4274A、4275 Aに用いるものと同様で
ある。端末!、2、g4□間には抵抗R6と電流計及び
電圧制御電流計VCCの直列回路が並列外被の素子ZX
と反対側(測定器側)端末は、それぞれ端末”12、g
+□、12Z□、g2□、l、2、g3□、147、g
4□である。
、前掲4274A、4275 Aに用いるものと同様で
ある。端末!、2、g4□間には抵抗R6と電流計及び
電圧制御電流計VCCの直列回路が並列外被の素子ZX
と反対側(測定器側)端末は、それぞれ端末”12、g
+□、12Z□、g2□、l、2、g3□、147、g
4□である。
端末β、2、g+□間には信号源SSと信号源抵抗実質
的に零、即ちI!、□を流れる電流が実質的に零となる
ように、自動制御される。その結果、素子ZXに印加さ
れる電圧vXが電圧計v、4の指示として得られる。さ
らに素子ZXを流れる電流IXは電流計静の指示として
得られる。電圧計VM、電流計静は信号SSの検出力を
基準として複素電圧又は複素電流を測定するから、へは
複素値で下式に従って求められる。
的に零、即ちI!、□を流れる電流が実質的に零となる
ように、自動制御される。その結果、素子ZXに印加さ
れる電圧vXが電圧計v、4の指示として得られる。さ
らに素子ZXを流れる電流IXは電流計静の指示として
得られる。電圧計VM、電流計静は信号SSの検出力を
基準として複素電圧又は複素電流を測定するから、へは
複素値で下式に従って求められる。
Zx−Vx / lx
複素電圧、電流の測定法については周知であり、測定器
全体の動作とともに、例えば前掲4274 A、427
5Aに開示されている。校正は、被測定素子を短絡、開
放(さらに既知の第3インピーダンスを用いることもあ
る)で置換えて周知の方法で行われる。
全体の動作とともに、例えば前掲4274 A、427
5Aに開示されている。校正は、被測定素子を短絡、開
放(さらに既知の第3インピーダンスを用いることもあ
る)で置換えて周知の方法で行われる。
以上詳述した回路素子測定装置は、低周波においては非
常に良好に動作するが、信号周波数が高くなるに従い、
以下に述べる問題点が明ららかになってくる。まず前提
を述べ、問題点を次に述べる。
常に良好に動作するが、信号周波数が高くなるに従い、
以下に述べる問題点が明ららかになってくる。まず前提
を述べ、問題点を次に述べる。
まず、第2図を参照して、線路CL(特性インγ
ビーダンスZ。、線路長l、伝搬定数/)の伝達特性は
下式で与えられる。
下式で与えられる。
屯と
端末β+ g+間のA圧をV。、端子β7.82間
の電圧をv2とし、受信端の終端インピーダンスをZ2
とすると、 I (式1 )−Vz − Z。
の電圧をv2とし、受信端の終端インピーダンスをZ2
とすると、 I (式1 )−Vz − Z。
cosh r (1+5inh r (I又端末lI、
g+から線路CI、側をみたインピーダンスはそれを2
.とすると、 cosh TR+−5inh r 12Z。
g+から線路CI、側をみたインピーダンスはそれを2
.とすると、 cosh TR+−5inh r 12Z。
Zo Zz
第4図の線路のCt、Zにおいて、電圧計VMの指示電
圧vI□は、上記V2’の式から22−■とおき、端子
10、g8間電圧V11から、V12= V++/co
sh T + l−1となる。但し、N1、T1 は
線路CL、の線路長と伝搬定数である。
圧vI□は、上記V2’の式から22−■とおき、端子
10、g8間電圧V11から、V12= V++/co
sh T + l−1となる。但し、N1、T1 は
線路CL、の線路長と伝搬定数である。
又、上記ZIに相当するインピーダンスZ、1はCL、
において、 2g1= Zo coshγ、 !!、/5in)
IT+ L+となる。
において、 2g1= Zo coshγ、 !!、/5in)
IT+ L+となる。
線路が無損失であればTIは純虚数となり、又無損失に
近ければ、β1が管内波長の1/4のとき(線路は共振
し)vl。は非常に大きくなり、又ZilはOに近くな
る。従って、第4図の回路は不安定不精確になる。時に
はZilが非常に小さくなり、素子zXに電圧が印加さ
れなくなる。同様の考察により、線路CL3において線
路長が、CL3の管内波長の174になると、線路CL
3に流れ込む電流は非常に小さくなり、NBAを含む帰
還回路のループゲインは極端に小さくなる。従って第4
図の回路の動作は不安定となり、正確な測定が困難にな
る。
近ければ、β1が管内波長の1/4のとき(線路は共振
し)vl。は非常に大きくなり、又ZilはOに近くな
る。従って、第4図の回路は不安定不精確になる。時に
はZilが非常に小さくなり、素子zXに電圧が印加さ
れなくなる。同様の考察により、線路CL3において線
路長が、CL3の管内波長の174になると、線路CL
3に流れ込む電流は非常に小さくなり、NBAを含む帰
還回路のループゲインは極端に小さくなる。従って第4
図の回路の動作は不安定となり、正確な測定が困難にな
る。
(発明の目的)
本発明の目的は、四端子対測定を行う際に被測定素子を
接続するのに用いるそれぞれの線路をそれぞれの特性イ
ンピーダンス等で終端することにより、広域帯に渉り安
定で精確な測定が可能な回路素子測定装置を提供するこ
とである。
接続するのに用いるそれぞれの線路をそれぞれの特性イ
ンピーダンス等で終端することにより、広域帯に渉り安
定で精確な測定が可能な回路素子測定装置を提供するこ
とである。
(発明の概要)
本発明の一実施例では、被測定素子を接続するための線
路をそれぞれの特性インピーダンスでP O+j4する
ようにし、線路の共振による影響を排除あるいは軽減し
て、広域帯かつ高117度四端子対測定を可能にしてい
る。また、低周波における精度を高く保つため、高周波
においてのみ漸近的に上記終端がなされるようにもでき
る。
路をそれぞれの特性インピーダンスでP O+j4する
ようにし、線路の共振による影響を排除あるいは軽減し
て、広域帯かつ高117度四端子対測定を可能にしてい
る。また、低周波における精度を高く保つため、高周波
においてのみ漸近的に上記終端がなされるようにもでき
る。
(発明の実例)
第1図は本発明の実施例の回路素子測定装置である。本
装置の目的は第4図の装置と同じであり、第4図におけ
ると同様の機能及び性能を有する部分には同一の参照番
号を付しである。
装置の目的は第4図の装置と同じであり、第4図におけ
ると同様の機能及び性能を有する部分には同一の参照番
号を付しである。
第1図において、抵抗R+、Rz、R3、R4をそれぞ
れ線路CL+ 、CL2 、C1,l 、CL−の特性
インピーダンスに等しく選ぶ。
れ線路CL+ 、CL2 、C1,l 、CL−の特性
インピーダンスに等しく選ぶ。
このようにすれば、各線路の伝達関数(出力/入力)と
、入力インピーダンスは、(式1)、(式2)に対応し
て、次式のようになる。簡単のため(式1)、(弐2)
によって説明する。
、入力インピーダンスは、(式1)、(式2)に対応し
て、次式のようになる。簡単のため(式1)、(弐2)
によって説明する。
第2図において、
(弐3 ) −v、 −
cosb r l +5inhγ β−v、本I→
e−i (弐4 )−’ Z+ −Z。
e−i (弐4 )−’ Z+ −Z。
従って、線路CLの1貝失が小さければ、v2はν、を
位相シフトしたものとなり、振幅は同一に保たれる。
位相シフトしたものとなり、振幅は同一に保たれる。
従って回路は位相シフトのみが周波数により変化するの
で、NBAの位相補償を周知技術により行えば、NBA
を含む負帰還ループの安定性が保たれる。従って広域帯
に渉って精確な測定を行うことができる。
で、NBAの位相補償を周知技術により行えば、NBA
を含む負帰還ループの安定性が保たれる。従って広域帯
に渉って精確な測定を行うことができる。
素子zXの変化による位相シフトは±18.4゜の範囲
であり、周波数による位相シフトの補償のみ考慮すれば
よい。
であり、周波数による位相シフトの補償のみ考慮すれば
よい。
次に第1図の回路を改良した実施例を第3図に示す。ま
ず第1図の回路を点検する。従来(第4図に示すように
)線路Ct、Zの中心導体には電流が流れず、該中心導
体と素子への接触抵抗による誤差は生じなかった。しか
し、第1図の回路では電流が流れ、素子ZXに印加され
る電圧が低周波でもわずかの誤差をもって測定されるよ
うになる。同様に、線路CL4の中心m体の端末”41
と素子2.の端子との接触抵抗も素子ZXを流れる電流
を測定する電流計への指示に影響する。従って、第1図
の回路は安定性が増し、高周波における精度は向上した
が、低周波における精度に改善すべき点をf了している
。
ず第1図の回路を点検する。従来(第4図に示すように
)線路Ct、Zの中心導体には電流が流れず、該中心導
体と素子への接触抵抗による誤差は生じなかった。しか
し、第1図の回路では電流が流れ、素子ZXに印加され
る電圧が低周波でもわずかの誤差をもって測定されるよ
うになる。同様に、線路CL4の中心m体の端末”41
と素子2.の端子との接触抵抗も素子ZXを流れる電流
を測定する電流計への指示に影響する。従って、第1図
の回路は安定性が増し、高周波における精度は向上した
が、低周波における精度に改善すべき点をf了している
。
第3図において、端末11□、81□間には抵抗R1゜
とインダクタL、。の直列回路を、端末12□、g2□
間には抵抗R2とコンデンサCooの直列回路を、端末
β4□、g4□間には抵抗I?a とコンデンサC4゜
の直列回路を挿入する。また端末13□と零検出増幅器
の反転端子間には抵抗R3゜とインダクタし、。の直列
回路を抵抗R3と並列に挿入する。各素子の参照記号で
ぞれらの値も表わし、以下のようにその値を定める。こ
こにR+o−Rz、L Io / Cz o = Rz
” とし、1/(2πC2゜Rz )の値は高周波の
安定性を欠かない程路において、線路長が2mのときで
も3 M Ilz位である。このようにすれば、素子Z
Xに印加される電圧は信号周波数によらず略一定に保た
れる。その理由はRIGとり、。の直列回路とR2とC
ooの直列回路の並列接続が定抵抗回路となるからであ
る。線路CL、とCLzを同一仕様のものに選べばさら
に良い結果が得られる。その場合はR8゜−R2−1ン
、となる。
とインダクタL、。の直列回路を、端末12□、g2□
間には抵抗R2とコンデンサCooの直列回路を、端末
β4□、g4□間には抵抗I?a とコンデンサC4゜
の直列回路を挿入する。また端末13□と零検出増幅器
の反転端子間には抵抗R3゜とインダクタし、。の直列
回路を抵抗R3と並列に挿入する。各素子の参照記号で
ぞれらの値も表わし、以下のようにその値を定める。こ
こにR+o−Rz、L Io / Cz o = Rz
” とし、1/(2πC2゜Rz )の値は高周波の
安定性を欠かない程路において、線路長が2mのときで
も3 M Ilz位である。このようにすれば、素子Z
Xに印加される電圧は信号周波数によらず略一定に保た
れる。その理由はRIGとり、。の直列回路とR2とC
ooの直列回路の並列接続が定抵抗回路となるからであ
る。線路CL、とCLzを同一仕様のものに選べばさら
に良い結果が得られる。その場合はR8゜−R2−1ン
、となる。
また、R30=R4、L 3o / C40−R4”と
し2πC40R<の大きさは、2πC2゜R2と同様に
選択される。R3゜とり、。の直列回路を図示と異なり
、端末13□、g、2間に挿入するようにするようにし
てもよい。図示の方法は高・インピーダンスの素子ZX
を測定する場合、信号対雑音比の劣化が少く有利な面が
ある。
し2πC40R<の大きさは、2πC2゜R2と同様に
選択される。R3゜とり、。の直列回路を図示と異なり
、端末13□、g、2間に挿入するようにするようにし
てもよい。図示の方法は高・インピーダンスの素子ZX
を測定する場合、信号対雑音比の劣化が少く有利な面が
ある。
上記の選定により、NBAを含む制御ループの安定性を
損なうことなく低周波の精度が向上する。その理由<R
3゜とL3oの直列回路とR4と04゜の直列回路の並
列接続が常に定抵抗となるからである。線路CL、とC
L4を同一仕様のものとすることはさらに良い結果を与
える。また全ての線路を同一仕様とすれば至便であるこ
とは言うまでもない。従って第3図の回路は、低周波に
おける・動作でも精度劣化が少く、かつ高周波において
も安定性が損われない回路素子at++定装置が得られ
る。
損なうことなく低周波の精度が向上する。その理由<R
3゜とL3oの直列回路とR4と04゜の直列回路の並
列接続が常に定抵抗となるからである。線路CL、とC
L4を同一仕様のものとすることはさらに良い結果を与
える。また全ての線路を同一仕様とすれば至便であるこ
とは言うまでもない。従って第3図の回路は、低周波に
おける・動作でも精度劣化が少く、かつ高周波において
も安定性が損われない回路素子at++定装置が得られ
る。
第5図の(al、(illは、第1図あるいは第3図の
対応部分を置き換えるための概略回路である。
対応部分を置き換えるための概略回路である。
第5図においてA51 は高人力インピーダンス反転増
幅2′:iで、NO八を含み、端末13□、g3□11
)1の電圧を実質的に零にできる/増幅度を有する。
幅2′:iで、NO八を含み、端末13□、g3□11
)1の電圧を実質的に零にできる/増幅度を有する。
(発明の効果)
上述のように、本発明の実施により、低周波における精
度劣化を最小にしつつ、高周波における安定性と精度を
向上することができる。従って、測定器と被測定素子間
の距2tが大きくとも広帯域にわたる測定が可能である
。
度劣化を最小にしつつ、高周波における安定性と精度を
向上することができる。従って、測定器と被測定素子間
の距2tが大きくとも広帯域にわたる測定が可能である
。
第1図は本発明の一実施例の回路素子測定装置ξの概略
回路図、第2図は線路の伝達特性を説明するための回路
図、第3図は第1図の回路素子at!f定装置を改良し
た装置の概略回路図、第4図は従来技術の回路素子測定
装置の概略回路図、第5図は第1図及び第3図の装置の
一部を置換して本発明のさらに他の実施例の回路素子測
定装置を得るための回路の概略回路図である。 ZX:被測定回路素子 CL+ 、、CLz 、CL:l 、CL4:線路SS
M(測定用)信号源 闘; (複素)電圧計 NBA :狭帯域増幅/位相補償増幅器VCC:電圧制
御電流源 A門: <rA素)電流計 A:零検出増幅器
回路図、第2図は線路の伝達特性を説明するための回路
図、第3図は第1図の回路素子at!f定装置を改良し
た装置の概略回路図、第4図は従来技術の回路素子測定
装置の概略回路図、第5図は第1図及び第3図の装置の
一部を置換して本発明のさらに他の実施例の回路素子測
定装置を得るための回路の概略回路図である。 ZX:被測定回路素子 CL+ 、、CLz 、CL:l 、CL4:線路SS
M(測定用)信号源 闘; (複素)電圧計 NBA :狭帯域増幅/位相補償増幅器VCC:電圧制
御電流源 A門: <rA素)電流計 A:零検出増幅器
Claims (2)
- (1)被測定素子の一方の端子に印加電圧を与えるため
に該一方の端子と信号源を結ぶ第1の線路と、前記印加
電圧を測定するため前記一方の端子と電圧計を接続する
ための第2の線路と、前記被測定素子の他方の端子の電
圧を検出するために該他方の端子と零検出増幅器を結ぶ
第3の線路と、前記零検出増幅器の出力に応じて前記被
測定素子を流れる電流を吸引して前記他方の端子の電圧
を零にするための電圧制御電流源を前記他方の端子に接
続するための第4の線路とを有し、前記第1、第2、第
3、第4の線路のそれぞれが、それぞれの測定器側端で
それぞれの特性インピーダンスに等しい終端素子を有し
、四端子対測定を行うための回路素子測定装置。 - (2)前記第2、第4の線路の前記終端素子を、低周波
側でより高インピーダンスで、高周波側で前記それぞれ
の特性インピーダンスに等しくなる第1の可変素子で置
き換え、前記第1、第3の線路の前記測定器側端に、そ
れぞれ前記第2、第4の線路の前記可変素子と定抵抗回
路を成す第2の可変素子を付加した請求項1記載の回路
素子測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16706188A JP2698615B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 回路素子測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16706188A JP2698615B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 回路素子測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0217459A true JPH0217459A (ja) | 1990-01-22 |
JP2698615B2 JP2698615B2 (ja) | 1998-01-19 |
Family
ID=15842675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16706188A Expired - Fee Related JP2698615B2 (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 回路素子測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2698615B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0443835A2 (en) * | 1990-02-21 | 1991-08-28 | Hewlett-Packard Company | Circuit element measuring apparatus and method |
EP0444816A2 (en) * | 1990-02-27 | 1991-09-04 | Hewlett-Packard Company | Circuit element measuring method and apparatus |
US5216373A (en) * | 1990-02-21 | 1993-06-01 | Hewlett-Packard Company | Circuit element measuring apparatus and method for measuring a parameter of a DUT including a compensation network having an admittance characteristic |
JP2001281280A (ja) * | 2000-03-31 | 2001-10-10 | Hioki Ee Corp | 四端子法によるインピーダンス測定方法 |
JP2011257340A (ja) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2013019742A (ja) * | 2011-07-11 | 2013-01-31 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2016085087A (ja) * | 2014-10-24 | 2016-05-19 | 日置電機株式会社 | 回路素子測定装置における配線ケーブル長の判別方法 |
JP2020063944A (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP16706188A patent/JP2698615B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2698615B2 (ja) | 1998-01-19 |
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