JPH02172142A - Shadow mask structure - Google Patents

Shadow mask structure

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JPH02172142A
JPH02172142A JP32711188A JP32711188A JPH02172142A JP H02172142 A JPH02172142 A JP H02172142A JP 32711188 A JP32711188 A JP 32711188A JP 32711188 A JP32711188 A JP 32711188A JP H02172142 A JPH02172142 A JP H02172142A
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shadow mask
masks
flat
mask
welding
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JP32711188A
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Mutsumi Hattori
睦 服部
Riichi Iwamoto
岩本 利一
Kazuhiko Matsumoto
松元 一彦
Masato Hanajima
真人 花島
Masaharu Moriyasu
雅治 森安
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PURPOSE:To lower dislocation of apertures by putting an aperture on another one, welding a pore having part and a pore-free part of a mask in a prescribed condition, and then press-molding into a prescribed shape. CONSTITUTION:Flat masks 21, 22 are so mounted on a positioning jig 27 that positioning pins 28 formed in the jig are inserted into positioning holes 25. The masks 21, 22 are pushed by a pressure jig 29 so as not to have a gap between the masks and to be pinched, and a laser with a beam diameter limited by a laser welding head is radiated to form a welded point 50 and weld. Welding is carried out successively so as to form two circular welded point groups A, B in a pore having part 23 and one circular welded point group C in a pore-free part 24 and to weld the masks 21, 22. The welded masks 21, 22 are formed into a shadow mask through press-molding process.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

(RM 、Lの利用分野) この発明は、シャドウマスク式カラー陰極線管のシャド
ウマスク構体に関する。 (従来の技術) シャドウマスク式カラーP3極線管(以下。 r CRTJという)は、第7v4に示すように漏斗状
のファンネル(1)と、ファンネル(1)の開放端に封
着されたパネル(2) と、パネル(2)の内面に形成
された蛍光面(3)と、パネル(2)の側壁に設けられ
た複数個のビン(4)と、蛍光面(3) に対向配設さ
れて、ビン(4)に支持されたシャドウマスク構体(5
)とを具備している。 シャドウマスク横体(5)は、電子ビーム(6A)、 
+6Bl 、 (6C)を選択的に通過させる多数のア
パーチャ(13)が形成された有孔部(23)およびこ
の(1孔部の周縁につづ(無孔部(24)がパネル(2
)の内面形状とほぼ等しい球面に形成され、さらに無孔
部(24)の周縁につづいてスカート部(8)が形成さ
れたシャドウマスク(7)と、このスカート部(8)が
全周にわたって、所定の間隔で溶接同定されたフレーム
(9)と、このフレーム(9)に溶接され、カラー受像
管の動作中に生ずるシャドウマスク(7)の熱膨張を補
IFするためのバイメタル(1o)と、このバイメタル
(10)に溶接され、ビン(4)に係合してシャドウマ
スク(7)をパネル(2)に相対向する位置に保持する
スプリング(11)とで構成されている。 このように構成されたシャドウマスク構体(5)を有す
’:l Cl? i’は、電r銃(+2A)、(120
)、<12c) 、j:f) 19.出すレタ電f−ヒ
ー ム(6A) 、 (6B) 、 (6C)が、シャ
ドウマスク(月のアバ−デー?’(+3)を通過して蛍
光面(3)に形成している赤、緑、1!?蛍光体に射突
して発光させるが、通常、シャドウマスク(7)のアパ
ーチャ(13)の総面積はシャドウマスク(7)の表面
積の15%〜25%ていどであり、電子ビームのほとん
どはシャドウマスク(7)に衝突して、シャドウマスク
(7)を加熱する。例えば21インチCRTのシャドウ
マスク構体(5)の温度を、高圧電圧28Kv、ビーム
電流1mAの条件下で測定した結果は第8図に示すよう
な温度上界特性を示した。すなわちシャドウマスク(7
)のイi孔部の中心部分の温度は、特性曲線(14)に
示すように最初の5分間での温度−L t?、が苫しく
、30分間で約40℃に温度が、h !tL/て飽和し
た。他方、熱容)7tの大きいフレーム(5)は特性曲
線(15)に示すように徐々に温度り界し、約−時間で
飽和状態となった。シャドウマスク(7)はこの様な温
度上界によって熱膨張し、第9図および第10図に示す
ように、動作開始前の実線で示す(7)の位置から17
C)の位置に変位する。このため、アパーチャ(13)
を通過した電子ビーム(6A) 、 (6B) 、 (
6C)の蛍光面(3)−■二のQ−を突点が距離Tだけ
フェース面の中心方向に移動し、隣接する他の色の蛍光
体を発光させて色ずれが生じる。この色ずれ現象は画面
全域にわたって現れる。この移動1jtTを、パネルの
対角軸方向内面の半径が1350mmである21インチ
CR′「で測定したところ、パネル(2)のフェース面
の中心点から左右に150mm離れた長軸上(以下、E
x軸」という)で最も顕著に現れ、0.05〜0.08
mm移動した。 ついで、フレーム(9)の4度り界が飽和状態に近くな
ると、フレーム(9)は、熱膨張により第10図に小ず
(9^)の位置まで変゛位する。このためフレーム(9
)に接合されているシャドウマスク(7) は(7B)
の位置に変位する。その結果、アパーチャ(13)を通
過して蛍光面に射突する電r・ビームの位置は、中心点
がら外側方向に距aSだけ移動し、CRTの動作初期に
現れる色ずれ現象とは、逆の方向の色ずれが発生する。 この後者の色ずれ現象は、CRTが連続して動作をすれ
ば、引き続き現れる現象である。バイメタル(+01 
(第7図図示)はこの色ずれを補正するためのもので、
フレーム(9)の温度上界にともなって9−4 Aし、
シャドウマスク(7)をパネル(2)に近付けるように
、フレーム(9)を第9図に示す(’18)の位置に変
位させ、これにともなって、シャドウマスク(7)を第
9図および第10図に示す(7B)の位置に移行させて
電rビームの射突点が所定の蛍光体をQ−を突するよう
にして後者の色ずれを補正している。 しかし、従来のシャドウマスク構体(5) では。 局部的に輝度の高い画面が映出される場合には、バイメ
タル(1G)の温度上昇が殆ど期待できないため1局部
的なシャドウマスクの熱変形による色ずれを補正するこ
とができなかった。 この問題点を解決するには、テレビジョン学会誌(+9
77、第31巻第6号P46〜52)[シャドウマスク
の局部ドーミング現象に関する理論検討」に示されてい
るように、シャドウマスク(7)の板厚を厚くする手段
が有効的であることが理論的に立証されている。しかし
ながら、シャドウマスク(7)のアパーチャ(13)は
、例えば特公昭51−9264号公報に示されているエ
ツチング法で製作されるのが一般的である。この製作方
法によれば、板厚tと、アパーチャ(13)の大きさS
Wとの間には次式 %式% の関係があり、厚い板に所望の小さなアパーチャ(13
)を形成することは不可能である。CRTの解像度な向
−1ニさせるには5アパーチヤ(13)のピッチを小さ
くすることが必要となるが、これは、アパーチャ(13
)の大きさを小さくすることを意味し、このためにはシ
ャドウマスク(7)の板厚を薄くする必要がある。この
ように、熱変形による色ずれを防ぐためにシャドウマス
ク(7)の板厚を厚くすることと、解像度を高めるため
にアパーチャ(13)の大きさを小さくすることとは矛
盾した関係にある。 この問題点を解消するために、例えば、特開昭57−1
38746号公報に示されているシャドウマスクの製作
方法で作成した板厚の薄い複数枚のシャドウマスクを用
いる方法が考えられた。 このシャドウマスクの製造方法は、第11図(a) 、
 (b)に示すように、2枚の薄い2枚のフラットマス
ク(21)、 (22)の有孔部(23)の周囲の無孔
部(24)を適当な間隔で点溶接(50)または、シー
ム溶接(51)L、た後、所定の形状にプレス成形する
前に、プレス成形時に生じる2枚のシャドウマスク間の
滑り、および伸びのバラツキによるアパーチャ(13)
の位置ずれを防止するため、第12図(blに示すよう
に、例えば、ポリアミド系レジン(16)等でアパーチ
ャ(13)を埋め、熱風乾燥およびキユアリングして十
分な強度を得た後、第12図(C)に示すようにプレス
成形し、その後、充填したレジン(16)を化学的手段
で除去した第12図(d)に示すシャドウマスク(7)
をそのまま用いようとするものである。 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、この方法で製作したシャドウマスク(7)は、
2枚の薄板(21)、 (22)の間に浸透して硬化し
たレジンを完全に除去することは困難で、この残留レジ
ンがc r?−rの動作中に加熱されて徐々に不純ガス
を管内に放出し、CRTの寿命を短くしたり、組立中に
与えられる振動およびテレビジョンセットのスピーカー
の振動等によって残留レジンが管内に脱落し、電子銃部
に付着してスパークを発生してCRTを損傷するおそれ
がある。 また、このシャドウマスクは、2枚の薄板を重ね合わせ
ているため、プレス成形後、残留歪のためにもどり現象
が生じ、アパーチャ(13)の位置合せが大きくずれる
という問題点もあるので、実用できるもものではなかっ
た。 この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、複数枚のフラットマスクを接合して成形し
たシャドウマスクであって、アパーチャの位置ずれの小
さいシャドウマスクを備えたシャドウマスク構体を得る
ことを目的とするものである。
(Field of Application of RM, L) This invention relates to a shadow mask structure for a shadow mask type color cathode ray tube. (Prior Art) A shadow mask type color P3 pole ray tube (hereinafter referred to as rCRTJ) has a funnel-shaped funnel (1) and a panel sealed to the open end of the funnel (1), as shown in Section 7v4. (2), a fluorescent screen (3) formed on the inner surface of the panel (2), a plurality of bins (4) provided on the side wall of the panel (2), and a fluorescent screen (3) arranged opposite to each other. shadow mask structure (5) supported on the bin (4).
). The shadow mask horizontal body (5) includes an electron beam (6A),
A perforated part (23) in which a large number of apertures (13) are formed for selectively passing +6Bl, (6C), and a non-perforated part (24) connected to the periphery of this (1 hole part) are connected to the panel (2).
) is formed into a spherical surface that is almost the same as the inner surface shape of , a frame (9) welded at predetermined intervals, and a bimetal (1o) welded to this frame (9) to compensate for thermal expansion of the shadow mask (7) that occurs during operation of the color picture tube. and a spring (11) which is welded to this bimetal (10) and engages with the pin (4) to hold the shadow mask (7) in a position facing the panel (2). ':lCl?' having the shadow mask structure (5) configured in this way. i' is electric gun (+2A), (120
), <12c), j:f) 19. The emitted letter beams (6A), (6B), and (6C) pass through the shadow mask (Moon's Birthday?' (+3)) and form red and green lights on the fluorescent screen (3). , 1!? The electrons collide with the phosphor to emit light. Usually, the total area of the apertures (13) of the shadow mask (7) is about 15% to 25% of the surface area of the shadow mask (7), and the electrons Most of the beam collides with the shadow mask (7) and heats the shadow mask (7).For example, the temperature of the shadow mask structure (5) of a 21-inch CRT is measured under the conditions of a high voltage of 28 Kv and a beam current of 1 mA. The results showed the temperature upper limit characteristics as shown in Figure 8. In other words, the shadow mask (7
) is the temperature at the center of the hole i during the first 5 minutes, as shown in characteristic curve (14) - L t? , the temperature rose to about 40℃ in 30 minutes, h! tL/ was saturated. On the other hand, the frame (5) with a large heat capacity of 7 t gradually reached its temperature limit as shown in the characteristic curve (15) and reached a saturated state in about - hours. The shadow mask (7) thermally expands due to this temperature upper limit, and as shown in FIGS.
Displaced to position C). For this reason, the aperture (13)
The electron beams (6A), (6B), (
The protruding point of the phosphor screen (3)--2 of 6C) moves toward the center of the face surface by a distance T, causing adjacent phosphors of other colors to emit light, causing color shift. This color shift phenomenon appears over the entire screen. When this movement 1jtT was measured on a 21-inch CR' in which the radius of the inner surface in the diagonal axis direction of the panel is 1350 mm, it was found that it was on the long axis (hereinafter referred to as E
0.05 to 0.08
Moved mm. Then, when the 4-degree field of the frame (9) approaches the saturation state, the frame (9) is displaced to the position of a small point (9^) in FIG. 10 due to thermal expansion. For this reason, the frame (9
) is the shadow mask (7) joined to (7B)
Displaced to the position. As a result, the position of the electric r beam that passes through the aperture (13) and impinges on the phosphor screen moves outward from the center point by a distance aS, which is opposite to the color shift phenomenon that appears at the beginning of CRT operation. Color shift occurs in the direction of . This latter color shift phenomenon continues to occur if the CRT continues to operate. Bimetal (+01
(Illustrated in Figure 7) is for correcting this color shift.
9-4 A due to the upper limit of the temperature of the frame (9),
In order to bring the shadow mask (7) closer to the panel (2), the frame (9) is displaced to the position ('18) shown in FIG. The latter color shift is corrected by shifting to the position (7B) shown in FIG. 10 so that the impact point of the electric r beam hits a predetermined phosphor Q-. However, in the conventional shadow mask structure (5). When a locally high-brightness screen is projected, it is difficult to expect a temperature rise in the bimetal (1G), so it has not been possible to correct color shift due to local thermal deformation of the shadow mask. To solve this problem, the Journal of the Television Society (+9
77, Vol. 31, No. 6, P46-52) [Theoretical Study on Local Doming Phenomenon of Shadow Masks], it has been shown that increasing the thickness of the shadow mask (7) is effective. Theoretically proven. However, the aperture (13) of the shadow mask (7) is generally manufactured by the etching method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 51-9264. According to this manufacturing method, the plate thickness t and the size S of the aperture (13)
There is a relationship between W and the following formula % formula %.
) is impossible to form. In order to improve the resolution of CRT, it is necessary to reduce the pitch of the 5 apertures (13);
), and for this purpose, it is necessary to reduce the thickness of the shadow mask (7). In this way, there is a contradictory relationship between increasing the thickness of the shadow mask (7) to prevent color shift due to thermal deformation and decreasing the size of the aperture (13) to increase resolution. In order to solve this problem, for example, JP-A-57-1
A method using a plurality of thin shadow masks produced by the shadow mask production method disclosed in Japanese Patent No. 38746 has been considered. The method for manufacturing this shadow mask is shown in FIG. 11(a),
As shown in (b), the non-porous part (24) around the perforated part (23) of two thin flat masks (21) and (22) is spot-welded (50) at appropriate intervals. Or, after seam welding (51) L, before press forming into a predetermined shape, aperture (13) due to slippage between the two shadow masks that occurs during press forming and variation in elongation.
As shown in Fig. 12 (bl), the aperture (13) is filled with, for example, polyamide resin (16), dried with hot air and cured to obtain sufficient strength. The shadow mask (7) shown in FIG. 12(d) was press-molded as shown in FIG. 12(C), and the filled resin (16) was then removed by chemical means.
It is intended to be used as is. [Problem to be solved by the invention] However, the shadow mask (7) produced by this method has
It is difficult to completely remove the hardened resin that has penetrated between the two thin plates (21) and (22), and this residual resin is cr? -r is heated during operation and gradually releases impure gas into the tube, shortening the lifespan of the CRT, and residual resin may fall into the tube due to vibrations during assembly and the vibrations of television set speakers. , there is a risk that the particles may adhere to the electron gun and generate sparks, damaging the CRT. In addition, since this shadow mask is made of two thin plates stacked on top of each other, after press molding, residual strain causes a rebound phenomenon, resulting in a large misalignment of the aperture (13). It wasn't something I could do. This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and is a shadow mask formed by joining a plurality of flat masks, which has a shadow mask with a small aperture misalignment. The purpose is to obtain a structure.

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この発明に係るシャドウマスク構体は、複数枚の薄いフ
ラットマスクを、各アパーチャの位置を合わせて密着さ
せた状態の下で有孔部の領域内を少なくとも二重に環状
の溶接点列を形成して接合し、さらに当該有孔部の外周
の無孔部内を適当な間隔でもって溶接して接合したのち
プレス成形によって球面部およびスカート部を成形した
シャドウマスクを備えた点を特徴とする。 〔作用〕 この発明におけるシャドウマスクは、薄い板厚のフラッ
トマスクを複数枚接合しているので熱変形による色ずれ
を防止するのに必要な十分な厚さに形成することができ
る。 また、各フラットマスクは薄いので、所望の解像度を得
るのに必要な大きさのアパーチャを形成することができ
る。 さらに、プレス成形前に、有孔部領域内を少なくとも二
重の環状の溶接点列を形成して接合するとともに無孔部
領域内を適当な間隔で溶接して接合したのちプレス成形
しているので、各アパーチャの位置ずれを極めて小さく
することができる。 〔発明の実施例〕 以F、この発明の一実施例を説明する。 第1図はこの実施例のプレス成形前の接合されたフラッ
トマスクの平面図、第2図はこのフラットマスクをプレ
ス成形したシャドウマスクを示す図、第3図ないし第6
図は第1図のフラットマスクの接合工程を説明するため
の図である。以下、21インチCRTを例に説明する。 まず、フラットマスクの構成について説明する。 第5図はこの実施例の接合されたフラットマスクの一部
拡大断面図で、第1図の向って左側X軸−Lの溶接点列
への部分を示しており、(21)は蛍光面側のフラット
マスク、(22)は電子銃側のフラットマスクで、板厚
はt+ =0.25mm、L20.20mmであり、化
学的エツチング法によって形成されたアパーチャ(13
a) 、 (13b)のピッチ1)は0.65mm、断
面形状は電r銃側の最も狭い部分の幅Swが150mm
、この中心点にq−(だ小線Qからの各寸法はb lf
3 w +は160μm、8w2は120 u m 、
Owlは160μm、01□は120 ALm 、  
Owsは250 μm 、  Ommは170μmで、
フラットマスク(211,+221の接合時のずれによ
る電子ビーム通過面積のばらつきを無くするため、アパ
ーチャ(13a)の幅を、アパーチャ++3bl より
広い幅に形成している。(23)はアパチャが形成され
ている有孔部で、この21インチCR”rでは中心点0
からX軸上の端部までの寸法はl 95mm、中心点O
からY軸上の端部までの・r法は155mmである。(
24)はプ!に孔部、 (25)は位置決め孔で、この
例では3ケ所に設けている。 つぎに、フラットマスクの接合工程について説明する6 第3図に示すように、フラットマスク (21>、 122)は、位置合せ治具(27)に植立
てられた位置合せビン(28)に位置決め孔(25)が
挿入されて載1ηされ、第4図に示すように、押え治具
(29)で4 K g / c m ”で押圧してフラ
ットマスク(211゜(z2)の間に隙間がないように
挟持し、レーザ溶接ヘッド(30)で例えば0.6〜0
.8ジユール/パルス、パルス幅10m5ec程度のY
AGレーザを0.1〜0.15mm程度のビーム径に絞
って照射し、第6図に示すような溶接点(50)を形成
させて溶接する。この溶接点の大きさは、第5図に示す
ように、表面の直径1− 、が約0.3mm、溶接部分
の直径L48が約0.1mm、フラットマスク(22)
の溶は込み深さし、が0.1mm程度であった。 このようにして順次溶接して第1図に示すように、有孔
部(23)の領域内を2つの環状の溶接点列A、Bおよ
び無孔部(24)の領域内を1つの環状の溶接点列Cを
形成して2枚のフラットマスク+211. (22)を
接合する。このうち、環状の溶接点列への位置は、有孔
部(23)の中心点(Cr?Tに装着したときの管軸と
一致する)からX軸−トの寸法は130mm、Y軸上の
・r法はI 05mm、溶接ピッチ1)は10mmであ
り、溶接点列[1の位置は、X軸りの寸法は175mm
、Y軸トの・r法は140mm、溶接ピッチPはl O
mmであり、溶接点列Cの位置は、X軸およびY軸]二
の寸法はそれぞれイT孔部(23)の外周から5mmで
、溶接ピッチ[)はI Ommである。 この接合]r程を終えて隙間なく接合されたフラットマ
スク(211,+221は1通常のプレス成形工程を経
て第2図に示すシャドウマスク(7)に成形される。 このようにしてtiIられたシャドウマスク(7)の2
つのアパーチャ(13a) 、 (13b)の位置ずれ
徹を測定した結果、その最大の位置は有孔部(23)の
四隅のX= 190mm、Y= 150mmの位置で、
その大きさは10μmで、十分に実用できる値であった
。 つぎに、各溶接点列A、B、Cの溶接ピッチPを5mm
、20mmとしてアパーチャ(13a) 。 (+3b)の最大位置ずれ量を測定した結果は、下表の
ようであった。 この結果から、溶接点ピッチは20mmより小さい15
mm以下とすることが望ましい。 なお、上記実施例では、有孔部(23)の領域内を、2
10に現状の溶接点列A、13で接合し、無孔部(24
)の領域内を一部の環状の溶接点列Cで接合した例を示
したが、それぞれこの実施例に1または複数の環状の溶
接点列を加えてもよく、さらに適宜各部を点溶接しても
よい。 また、41記実施例では、最も内側の環状の溶接点列へ
の位inを、中心点Oから外線までの寸法の約2/3の
位置としたが、史に内側としてもよく、中心点0からI
/3より外側の有孔孔領域内であれば有効であった。 また、上記実施例では無孔部領域に形成した溶接点列C
の溶接ピッチPを、有孔部類域に形成した溶接点列へ、
Bと同じピッチとしたが、必ずしも同一ピッチとする必
要はなく、適当な間隔でもって接合してもよい。 つぎにJこの発明に到達するまでに行った実験例を、比
較例として説明する。 (比較例1) 第1図に示す環状の溶接点列Cのみを施して接合したフ
ラットパネル(21)、 +22)をプレス成形して得
たシャドウマスク(7)のアパーチャの位置ずれ最大量
△pは有孔部(23)の四隅で、その値は150μmで
あった。 この結果から、接合された2枚のフラットマスクをプレ
ス成形したときに生じるアパーチャの位置ずれは、2枚
のフラットマスクの中立線の長さの差のみで決定される
ものではなく、2枚のフラットマスクのおljいのブリ
ッジ幅等で決定される機械的強変度によっても、大きく
変わることを意味している。 (比較例2) 第1図に示した環状の溶接点列Cに加えて5溶接点ピッ
チが5mmの環状の溶接点列へを施して接合したフラッ
トパネル(21)、 (22)をプレス成形して得たシ
ャドウマスク(7)のアパーチャの最大位置ずれ贋△p
は、比較例1と同様に有孔部(23)の四隅で生じ、そ
の値は55μmで実用できるものではなかった。 この発明は以上の比較例のばか多数の実験試作を経て完
成に到ったものである。 なお、上記実施例では、2枚のフラットパネルを接合し
てプレス成形する側を説明したが、3枚以上の薄いフラ
ットパネルを接合した構成としてもよく、アパーチャの
大きさを更に小さくできるので、解像度の向りと、耐熱
特性の向−Lとを図ることができる。 [発明の効果] 以上のように、この発明によれば、アパーチャの位置を
合わせて虫ね合わせた複数枚のフラットマスクを密着さ
せて有孔孔領域内で少なくとも二重に環状の溶接点列Δ
、Bを形成して接合するともに、無孔部領域内を適当な
間隔でもって溶接して接合し、しかる後1球面部および
スカート部をプレス成形によって形成したシャドウマス
クを備えたシャドウマスク構体であるから、所望の板厚
で耐熱特性がよくかつ各アパーチャの位置ずれが小さ(
、解像度のよいシャドウマスク構体が得られる効果があ
る。
In the shadow mask structure according to the present invention, a plurality of thin flat masks are brought into close contact with each other with their apertures aligned to form at least a double annular array of welding points within the perforated area. A shadow mask is provided in which the spherical surface part and the skirt part are formed by press molding after welding and joining the non-porous part on the outer periphery of the perforated part at an appropriate interval. [Function] Since the shadow mask of the present invention is made by joining together a plurality of thin flat masks, it can be formed to have a thickness sufficient to prevent color shift due to thermal deformation. Also, since each flat mask is thin, an aperture of the size necessary to obtain the desired resolution can be formed. Furthermore, before press forming, at least double annular welding point arrays are formed and joined in the perforated area, and the non-perforated area is welded and joined at appropriate intervals before press forming. Therefore, the positional deviation of each aperture can be made extremely small. [Embodiment of the Invention] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a plan view of the joined flat mask before press molding of this embodiment, FIG. 2 is a diagram showing a shadow mask formed by press molding this flat mask, and FIGS. 3 to 6
This figure is a diagram for explaining the bonding process of the flat mask shown in FIG. 1. Hereinafter, a 21-inch CRT will be explained as an example. First, the configuration of the flat mask will be explained. FIG. 5 is a partially enlarged cross-sectional view of the joined flat mask of this embodiment, showing the part to the welding point row on the left side X-axis -L when facing the direction of FIG. The flat mask on the side (22) is the flat mask on the electron gun side, the plate thickness is t+ = 0.25 mm, L20.20 mm, and the aperture (13) formed by chemical etching method is used.
The pitch 1) of a) and (13b) is 0.65 mm, and the cross-sectional shape has a width Sw of the narrowest part on the electric gun side of 150 mm.
, each dimension from the small line Q is b lf
3w+ is 160μm, 8w2 is 120um,
Owl is 160 μm, 01□ is 120 ALm,
Ows is 250 μm, Omm is 170 μm,
In order to eliminate variations in the electron beam passing area due to misalignment during bonding of the flat masks (211, +221), the width of the aperture (13a) is made wider than the aperture ++3bl. In this 21 inch CR”r, the center point is 0.
The dimension from to the end on the X axis is l 95mm, center point O
The distance from the end on the Y axis is 155 mm. (
24) Hapu! Hole portions (25) are positioning holes, which are provided at three locations in this example. Next, we will explain the flat mask bonding process.6 As shown in Figure 3, the flat mask (21>, 122) is positioned in the alignment bin (28) planted in the alignment jig (27). The hole (25) is inserted and placed 1η, and as shown in Fig. 4, a gap is created between the flat mask (211° (z2)) by pressing with a presser jig (29) at 4 kg/cm”. For example, 0.6 to 0
.. Y of 8 joules/pulse, pulse width of about 10m5ec
The AG laser is irradiated with a beam diameter of about 0.1 to 0.15 mm to form a welding point (50) as shown in FIG. 6 for welding. As shown in Figure 5, the size of this welding point is that the surface diameter 1- is approximately 0.3 mm, the diameter L48 of the welded portion is approximately 0.1 mm, and the flat mask (22)
The penetration depth of the melt was approximately 0.1 mm. By sequentially welding in this way, as shown in FIG. 2 flat masks +211. (22) is joined. Among these, the position to the annular welding point row is 130 mm from the center point of the perforated part (23) (which coincides with the tube axis when attached to Cr?T), and 130 mm on the Y axis. The r method is I 05 mm, the welding pitch 1) is 10 mm, and the welding point row [1] position is 175 mm along the X axis.
, Y-axis t・r method is 140 mm, welding pitch P is l O
The position of the welding point row C is 5 mm from the outer periphery of the T-hole (23), and the welding pitch [) is 10 mm. After this bonding process, the flat masks (211, +221) that were bonded without any gaps are formed into a shadow mask (7) shown in Fig. 2 through a normal press molding process. Shadow mask (7) 2
As a result of measuring the positional deviation of the two apertures (13a) and (13b), the maximum position was at the four corners of the perforated part (23) at X = 190 mm and Y = 150 mm.
The size was 10 μm, which was a value that could be used for practical purposes. Next, set the welding pitch P of each welding point row A, B, and C to 5 mm.
, aperture (13a) as 20mm. The results of measuring the maximum positional deviation amount of (+3b) were as shown in the table below. From this result, welding point pitch is smaller than 20mm.
It is desirable that the thickness be less than mm. In addition, in the above embodiment, the inside of the perforated part (23) is
10 is joined with the current welding point row A, 13, and the non-porous part (24
) is shown as an example in which the area is joined by some annular welding point rows C, but one or more annular welding point rows may be added to each of these examples, and each part may be spot welded as appropriate. You can. In addition, in Example 41, the position in of the innermost annular welding point row was set to about 2/3 of the dimension from the center point O to the outside line, but it may also be placed inside, and the center point 0 to I
It was effective within the perforated hole area outside of /3. In addition, in the above embodiment, the welding point array C formed in the non-porous region
to the welding point array formed in the perforated area,
Although the pitch is the same as B, it does not necessarily have to be the same pitch, and may be joined at an appropriate interval. Next, examples of experiments conducted to arrive at this invention will be described as comparative examples. (Comparative Example 1) Maximum amount of aperture deviation △ of a shadow mask (7) obtained by press-molding flat panels (21), +22) joined by applying only the annular welding point array C shown in Fig. 1 p is the four corners of the perforated portion (23), and its value was 150 μm. From this result, it is clear that the aperture misalignment that occurs when two joined flat masks are press-molded is determined not only by the difference in the length of the neutral line between the two flat masks, but also by the difference in the length of the neutral line between the two flat masks. This means that it varies greatly depending on the mechanical strength determined by the width of the bridge of the flat mask, etc. (Comparative Example 2) In addition to the annular welding point row C shown in Fig. 1, the flat panels (21) and (22) are press-formed by applying and joining an annular welding point row with a pitch of 5 welding points of 5 mm. The maximum positional deviation of the aperture of the shadow mask (7) obtained by
Similar to Comparative Example 1, these were generated at the four corners of the perforated portion (23), and the value was 55 μm, which was not practical. This invention was completed through a large number of experimental prototypes of the above-mentioned comparative examples. In addition, in the above embodiment, the side in which two flat panels are bonded and press-formed is explained, but a structure in which three or more thin flat panels are bonded may also be used, and the size of the aperture can be further reduced. It is possible to improve the resolution and the heat resistance characteristics. [Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a plurality of flat masks whose apertures are aligned and aligned are brought into close contact with each other to form at least a double annular array of welding points within the perforated area. Δ
, B are formed and joined, and the non-porous region is welded and joined at appropriate intervals, and then the first spherical part and the skirt part are formed by press molding. Because of this, the desired plate thickness has good heat resistance and the positional deviation of each aperture is small (
This has the effect of providing a shadow mask structure with good resolution.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例のプレス成形前の接合され
たフラットマスクの平面図、第2図はこの実施例のシャ
ドウマスクのアパーチャの位置ずれを示す図、第3図な
いし第6図はこの実施例における接合工程の説明図、第
7図は従来のシャドウマスク構体を備えたC r< ’
l’の一部破断斜視図、第8図はこの従来例のシャドウ
マスク構体の温度上界特性図、第9図および第10図は
この従来例において発生する色ずれを説明するための一
部拡大断面図、第11図および第12図は特開昭57−
138746号公報に示されているシャドウマスク成形
方法の説明図である。 (5)・・・シャドウマスク構体、(7)・・・シャド
ウマスク、(+3a) 、 (13b) ・・・アパー
チャ、(21)、(22) −、−フラットマスク、(
23)・・・合孔部、(24)・・・無孔部、(25)
・・・位置決め孔、(30)−・・溶接点、Δ、n、c
・・・環状の溶接点列、0・・・有孔部の中心点、1)
・・・溶接ピッチ。 なお、各図中、同一符号は同一 または相当部分を示す
FIG. 1 is a plan view of a joined flat mask before press molding according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the positional deviation of the aperture of the shadow mask of this embodiment, and FIGS. 3 to 6 is an explanatory diagram of the bonding process in this embodiment, and FIG. 7 is an explanatory diagram of the bonding process in this embodiment.
FIG. 8 is a temperature upper limit characteristic diagram of the shadow mask structure of this conventional example, and FIGS. 9 and 10 are parts for explaining color shift that occurs in this conventional example. The enlarged cross-sectional view, FIGS.
FIG. 2 is an explanatory diagram of a shadow mask forming method disclosed in Japanese Patent No. 138746. (5)...Shadow mask structure, (7)...Shadow mask, (+3a), (13b)...Aperture, (21), (22) -, -Flat mask, (
23)...Joining hole part, (24)...No hole part, (25)
...Positioning hole, (30)--Welding point, Δ, n, c
... Annular welding point array, 0 ... Center point of perforated part, 1)
...Welding pitch. In each figure, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)パネルの内面の蛍光面に対向して配設されるシャ
ドウマスクと、このシャドウマスクの外周面を固定保持
するフレームと、このフレームに固定されて動作時に生
ずるシャドウマスクの熱膨張を補正するための熱補正機
構とを有するシャドウマスク構体であつて、上記シャド
ウマスクが、それぞれアパーチャが形成されている複数
枚のフラットマスクをアパーチャの位置を合わせて重ね
合わせ密着させた状態のもとで当該フラットマスクの有
孔部の領域内を少なくとも二重の環状の溶接点列を形成
するように溶接し、さらに上記無孔部の領域内を有孔部
の外周に沿つて適当な間隔でもつて接合したのち、所定
の形状にプレス成形してなるシャドウマスクを備えたこ
とを特徴とするシャドウマスク構体。
(1) A shadow mask placed opposite the phosphor screen on the inner surface of the panel, a frame that holds the outer peripheral surface of this shadow mask fixed, and a shadow mask that is fixed to this frame to compensate for thermal expansion that occurs during operation. A shadow mask structure having a thermal correction mechanism for the purpose of The area of the perforated part of the flat mask is welded to form at least a double ring-shaped welding point array, and the area of the non-perforated part is further welded at appropriate intervals along the outer periphery of the perforated part. A shadow mask structure comprising a shadow mask which is press-molded into a predetermined shape after being bonded.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003136446A (en) * 2001-10-30 2003-05-14 Honda Motor Co Ltd Control method and control system of robot

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