JPH0216713A - 電解コンデンサ用電極材料とその製造方法 - Google Patents
電解コンデンサ用電極材料とその製造方法Info
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- JPH0216713A JPH0216713A JP16647088A JP16647088A JPH0216713A JP H0216713 A JPH0216713 A JP H0216713A JP 16647088 A JP16647088 A JP 16647088A JP 16647088 A JP16647088 A JP 16647088A JP H0216713 A JPH0216713 A JP H0216713A
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Landscapes
- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電解コンデンサ用電極材料に関し、詳しくは
、表面にAl1−Ti?J[含酸化皮膜層を有する電解
コンデンサ用^l電極材料とその製造方法に関するもの
である。
、表面にAl1−Ti?J[含酸化皮膜層を有する電解
コンデンサ用^l電極材料とその製造方法に関するもの
である。
(従来の技術)
電解コンデンサは、電極材料にA I! % T r
s Ta、Nbなどの金属を使用し、この上に化成処理
により誘電体となるこれら金属の酸化皮膜を作り、これ
に対掻を設けてなるものである。そして、電解コンデン
サに求められる特性は、■漏洩電流(LC)が小さいこ
と、■耐電圧が大きいこと、■静電容量が大きいこと、
■損失係数(tanδ)が小さいこと、■周波数特性が
優れていること、■これらの劣化が少ないこと(耐久性
に優れること)、等である。
s Ta、Nbなどの金属を使用し、この上に化成処理
により誘電体となるこれら金属の酸化皮膜を作り、これ
に対掻を設けてなるものである。そして、電解コンデン
サに求められる特性は、■漏洩電流(LC)が小さいこ
と、■耐電圧が大きいこと、■静電容量が大きいこと、
■損失係数(tanδ)が小さいこと、■周波数特性が
優れていること、■これらの劣化が少ないこと(耐久性
に優れること)、等である。
上記特性を現在実用化されて電極材料のAlとTaとで
みた場合、Taの方が全てにおいて優れている。なお、
Ti、 Nbの電極は価格が高いこと、漏洩電流が大き
い等の特性の不安定さから実用化されていない。
みた場合、Taの方が全てにおいて優れている。なお、
Ti、 Nbの電極は価格が高いこと、漏洩電流が大き
い等の特性の不安定さから実用化されていない。
Taは上記のように特性上は優れているが著しく高価な
金属であるので、安価なAlt解コンデンサの特性をT
a並みにまで向上させることが望まれている。^2電解
コンデンサの能力を高めるには、エツチングにより電極
表面積を大きくして有動電極表面を増すか、誘電体とな
るAl酸化皮膜を薄くする方法が有効である。電解コン
デンサの能力は静電容量で決まり、静電容量の大きなも
の程、電解コンデンサの能力は大きい、静電容量は誘電
率と電極の面積に比例し、電極間の距離に反比例する。
金属であるので、安価なAlt解コンデンサの特性をT
a並みにまで向上させることが望まれている。^2電解
コンデンサの能力を高めるには、エツチングにより電極
表面積を大きくして有動電極表面を増すか、誘電体とな
るAl酸化皮膜を薄くする方法が有効である。電解コン
デンサの能力は静電容量で決まり、静電容量の大きなも
の程、電解コンデンサの能力は大きい、静電容量は誘電
率と電極の面積に比例し、電極間の距離に反比例する。
Alの酸化物は誘電率8と低いが、エツチングにより有
効電極表面を増してやることや、Al酸化皮膜を薄くし
て電極間の距離を短くしてやることは静電容量を大きく
するのには有効な方法である。高耐電圧のA!#化皮膜
にとってはこのような手段を講じるのに好都合であるが
、その効果には限りがある。
効電極表面を増してやることや、Al酸化皮膜を薄くし
て電極間の距離を短くしてやることは静電容量を大きく
するのには有効な方法である。高耐電圧のA!#化皮膜
にとってはこのような手段を講じるのに好都合であるが
、その効果には限りがある。
他方、Al電解コンデンサの能力を高める手段に、高誘
電率を有するTiの酸化物を利用する方法がある。これ
は、高耐電圧のAl酸化皮膜に誘電率66と高いTiの
酸化皮膜の特性を付与して酸化皮膜の誘電率を高める方
法である6その方法に素材のAlに3〜20w t%の
Tiを合金化し、化成処理によって電極表面にAj!
−Ti複合酸化皮膜を形成させてやる方法がある。この
方法によればより太きな静電容量が得られるとされてい
るが、IP、−Ti合金は靭性に乏しい金属間化合物を
形成しやすいことから基体の薄帯(箔)を製造すること
が容易ではない。
電率を有するTiの酸化物を利用する方法がある。これ
は、高耐電圧のAl酸化皮膜に誘電率66と高いTiの
酸化皮膜の特性を付与して酸化皮膜の誘電率を高める方
法である6その方法に素材のAlに3〜20w t%の
Tiを合金化し、化成処理によって電極表面にAj!
−Ti複合酸化皮膜を形成させてやる方法がある。この
方法によればより太きな静電容量が得られるとされてい
るが、IP、−Ti合金は靭性に乏しい金属間化合物を
形成しやすいことから基体の薄帯(箔)を製造すること
が容易ではない。
一方、このような問題を解消するものとして、AIV、
−Ti合金の薄帯を超急冷法を用いて製造する方法が提
案されている。この方法によれば靭性に優れたIP!−
Ti合金の薄帯を作ることができるとされているが、超
急冷法で必要な厚みの薄帯を作ることば必ずしも容易で
はない。さらには、これら方法では漏洩電流が過度に大
きくならない程度に、^12.−Ti複合酸化皮膜中の
Ti酸化物を多くした方が大きな静電容量が得られるが
、そのためにはAl−Ti合金のTi含有量を多くして
やる必要がある。Ti含有量が多くなれば八〇 −Ti
合金の靭性が低下するので薄帯の製造が一層困難となる
。
−Ti合金の薄帯を超急冷法を用いて製造する方法が提
案されている。この方法によれば靭性に優れたIP!−
Ti合金の薄帯を作ることができるとされているが、超
急冷法で必要な厚みの薄帯を作ることば必ずしも容易で
はない。さらには、これら方法では漏洩電流が過度に大
きくならない程度に、^12.−Ti複合酸化皮膜中の
Ti酸化物を多くした方が大きな静電容量が得られるが
、そのためにはAl−Ti合金のTi含有量を多くして
やる必要がある。Ti含有量が多くなれば八〇 −Ti
合金の靭性が低下するので薄帯の製造が一層困難となる
。
(発明が解決しようとする課題)
本発明の課題は、大きな静電容量と高い信顧性(酸化皮
膜の安定性)を有し、且つTa電解コンデンサよりも安
価な、表面にAI −Ti?ffi合酸化皮膜層を存す
るAl電解コンデンサ用電極材料を提供することにある
。
膜の安定性)を有し、且つTa電解コンデンサよりも安
価な、表面にAI −Ti?ffi合酸化皮膜層を存す
るAl電解コンデンサ用電極材料を提供することにある
。
更にもう一つの課題は、このような電解コンデンサ用電
極材料を容易に製造することができる方法を提供するこ
とにある。
極材料を容易に製造することができる方法を提供するこ
とにある。
(課題を解決するための手段)
上記のように電解コンデンサ用電極材料としては、Al
は安価であるので汎用されているが、誘電体となるAI
!、酸化皮膜の誘電率が低いという欠点がある。この欠
点を解消する方法にA2の酸化皮膜に高誘電率のTrの
酸化物の特性を付与してやる方法があるが、基体のAl
−Ti合金の機械的特性に問題があるので、薄帯とす
るのが難しい、しかし、Tiの酸化物は誘電率が大きい
のでAl電解コンデンサの能力を高めるには有効である
。そこで、本発明者らもTiの酸化物を利用するのが得
策であるとの考えに基づき、従来とは異なる方法でA!
電掻の能力を高める方法について鋭意検討を行った結果
、下記の知見を得た。
は安価であるので汎用されているが、誘電体となるAI
!、酸化皮膜の誘電率が低いという欠点がある。この欠
点を解消する方法にA2の酸化皮膜に高誘電率のTrの
酸化物の特性を付与してやる方法があるが、基体のAl
−Ti合金の機械的特性に問題があるので、薄帯とす
るのが難しい、しかし、Tiの酸化物は誘電率が大きい
のでAl電解コンデンサの能力を高めるには有効である
。そこで、本発明者らもTiの酸化物を利用するのが得
策であるとの考えに基づき、従来とは異なる方法でA!
電掻の能力を高める方法について鋭意検討を行った結果
、下記の知見を得た。
即ち、基体となるAffiにTiを合金化してAZ−T
i複合酸化皮膜を得るのではなく、基体には機微的性質
に優れるAl箔を用い、この上にめっきによりAl −
Ti合金の薄膜を形成した複合材とすれば、基体の箔が
作り易くなる。そしてこの複合材を化成処理してやれば
誘電率の大きいAN −Ti?jt合酸化皮膜酸化皮膜
ることができる。基体のA2は加工性に優れて箔に形成
しやすいだけでなく、エツチング処理によって十分な深
さのエッチピットを形成することができるのである。
i複合酸化皮膜を得るのではなく、基体には機微的性質
に優れるAl箔を用い、この上にめっきによりAl −
Ti合金の薄膜を形成した複合材とすれば、基体の箔が
作り易くなる。そしてこの複合材を化成処理してやれば
誘電率の大きいAN −Ti?jt合酸化皮膜酸化皮膜
ることができる。基体のA2は加工性に優れて箔に形成
しやすいだけでなく、エツチング処理によって十分な深
さのエッチピットを形成することができるのである。
本発明は、上記知見により成されたものであって、その
要旨は、下記の(i)、(ii )および(iii )
にある。
要旨は、下記の(i)、(ii )および(iii )
にある。
(i)l/!箔の表面に、少なくともIp、−Ti複合
酸化皮膜層を有する電解コンデンサ用電極材料。
酸化皮膜層を有する電解コンデンサ用電極材料。
(ii )^を箔の表面をエツチングした後、その表面
にめっきによりTi含有量が1〜50wt%のAl −
Ti合金皮膜を形成し、次いで化成処理を施すことを特
徴とする電解コンデンサ用電極材料の製造方法。
にめっきによりTi含有量が1〜50wt%のAl −
Ti合金皮膜を形成し、次いで化成処理を施すことを特
徴とする電解コンデンサ用電極材料の製造方法。
(市)へl箔の表面に、めっきによりTi含有量が1〜
50wL%のA1−Ti合金皮膜を形成した後、皮膜表
面をエツチングし、次いで化成処理を施すことを特徴と
する電解コンデンサ用電極材料の製造方法。
50wL%のA1−Ti合金皮膜を形成した後、皮膜表
面をエツチングし、次いで化成処理を施すことを特徴と
する電解コンデンサ用電極材料の製造方法。
本願第1の発明乃至第3の発明において、Al箔とは、
工業的線AffiおよびAlが90wt%以上で、合計
で10%未満のMn、 Si、 CuSFe、 Mg、
Cr、 Znの群から選ばれた1種以上の金属および
0.3 wt%以下の不純物を含むものを意味する。
工業的線AffiおよびAlが90wt%以上で、合計
で10%未満のMn、 Si、 CuSFe、 Mg、
Cr、 Znの群から選ばれた1種以上の金属および
0.3 wt%以下の不純物を含むものを意味する。
このようなへl箔であれば、箔の製造が容易であるとと
もにエツチング処理においてエッチピットが形成され難
いというようなことはない。
もにエツチング処理においてエッチピットが形成され難
いというようなことはない。
(作用)
以下、本発明の電解コンデンサ用電極材料とその製造方
法について詳細に説明する。
法について詳細に説明する。
まず、本願第1発明の電極材料について説明する。
本発明の電極材料は、Al箔の表面に、少なくともAj
!−Ti複合酸化皮膜層を有することを特徴とするもの
である。
!−Ti複合酸化皮膜層を有することを特徴とするもの
である。
基体金属に、A2を用いる理由は、箔が作り易く、表面
積を大きくするためのエツチング処理が容易であり、し
かも↑aなどと比べてはるかに安価であるからである。
積を大きくするためのエツチング処理が容易であり、し
かも↑aなどと比べてはるかに安価であるからである。
誘導体となるAl−Ti?1合酸化皮酸化皮膜本発明で
はAl箔の表面にめっきによりAI! −Ti合金皮膜
を形成し、その後化成処理により皮膜を酸化させて形成
する。めっきはエツチング処理の前或いは後のいずれで
もよい。
はAl箔の表面にめっきによりAI! −Ti合金皮膜
を形成し、その後化成処理により皮膜を酸化させて形成
する。めっきはエツチング処理の前或いは後のいずれで
もよい。
このめっきにおいて、一般に欠陥の全くないめっき皮膜
を施すことは不可能であるが、本発明の電極材料では基
体にAffi箔を使用しているので、めっき欠陥部では
Alが自ら酸化皮膜を形成することができる。基体とし
て例えばFeのような金属を使用したものでは、電解液
中で化成処理を行えばめっき欠陥部からFeが溶出して
不動態化が不十分になる。
を施すことは不可能であるが、本発明の電極材料では基
体にAffi箔を使用しているので、めっき欠陥部では
Alが自ら酸化皮膜を形成することができる。基体とし
て例えばFeのような金属を使用したものでは、電解液
中で化成処理を行えばめっき欠陥部からFeが溶出して
不動態化が不十分になる。
本発明の電極材料において、基体のAl箔の表面に存在
するのはAl−Ti複合酸化皮膜層のみとは限らない、
また、基体表面も粗面と平面のものとがある。
するのはAl−Ti複合酸化皮膜層のみとは限らない、
また、基体表面も粗面と平面のものとがある。
第1図は、本発明の電極材料の表面層を模式的に示した
ものである。(a)〜(C)は基体(1)の表面が粗面
、(d)〜(f)は基体(1)の表面が平面である場合
、および(樽はこれらの混合を示している。(a)およ
び(d)はAj!−Ti合金皮膜層(2)を化成処理に
よって酸化させるに際し、^ff1−Ti複合酸化皮膜
層(3)を薄く形成し、基体(1)表面からAl−Ti
合金皮膜層(2)、AI!、−Ti複合酸化皮膜層(3
)の順に重なった二層構造としたものである。(ロ)お
よび(e)は、Aj! −Ti合金皮膜層を残存させず
にAffi−Ti複合酸化皮膜層(3)の−層のみとし
たもの、(C)および(f)は、基体(1)表面から順
にA2酸酸化度膜層(4)、AJ! −Ti複合酸化皮
膜層(3)の二層構造としたものである。
ものである。(a)〜(C)は基体(1)の表面が粗面
、(d)〜(f)は基体(1)の表面が平面である場合
、および(樽はこれらの混合を示している。(a)およ
び(d)はAj!−Ti合金皮膜層(2)を化成処理に
よって酸化させるに際し、^ff1−Ti複合酸化皮膜
層(3)を薄く形成し、基体(1)表面からAl−Ti
合金皮膜層(2)、AI!、−Ti複合酸化皮膜層(3
)の順に重なった二層構造としたものである。(ロ)お
よび(e)は、Aj! −Ti合金皮膜層を残存させず
にAffi−Ti複合酸化皮膜層(3)の−層のみとし
たもの、(C)および(f)は、基体(1)表面から順
にA2酸酸化度膜層(4)、AJ! −Ti複合酸化皮
膜層(3)の二層構造としたものである。
また、(80はこれらの混合で、基体(1)内部にA2
酸化皮膜層(4)を有し、表面にはAl−Ti合金皮膜
層(2)とAj!−Ti複合酸化皮膜N(3)を有する
ものである。
酸化皮膜層(4)を有し、表面にはAl−Ti合金皮膜
層(2)とAj!−Ti複合酸化皮膜N(3)を有する
ものである。
Al−Ti複合酸化皮膜層の厚みは、通常0.1乃至1
μ腸程度であるが、酸化皮膜層を薄くすれば大きな静電
容量を得ることができるが耐電圧が低下する。一方、厚
くすると前記と逆の傾向となる。
μ腸程度であるが、酸化皮膜層を薄くすれば大きな静電
容量を得ることができるが耐電圧が低下する。一方、厚
くすると前記と逆の傾向となる。
従って、どのような構成の皮膜層とするかは使用目的に
応じて適宜選定すればよい。
応じて適宜選定すればよい。
Al−Ti複合酸化皮膜層は、Ti酸化物の多いものほ
ど大きな誘電率が得られるが、Ti酸化物の欠点である
漏洩電流も大きくなる。また少ないものは効果が小さい
、従って、好ましいTi酸化物の量は皮膜全体量に対し
て1〜5Qw t%程度である。
ど大きな誘電率が得られるが、Ti酸化物の欠点である
漏洩電流も大きくなる。また少ないものは効果が小さい
、従って、好ましいTi酸化物の量は皮膜全体量に対し
て1〜5Qw t%程度である。
次に、本願第2発明および第3発明の電極材料の製造方
法について述べる。
法について述べる。
第2図(a)は、本願第2発明の電極材料の製造方法を
示す概略工程図である。
示す概略工程図である。
Al箔は、素材のAlを溶解精錬−鍛造一熱間圧延一冷
間圧延からなる公知の製造プロセスで製造することがで
きる。A2はAffi−Ti合金よりも加工性がよいの
で、超2.冷法のような特殊な方法を採らなくとも、上
記のようなプロセスによって容易に箔とすることができ
る。
間圧延からなる公知の製造プロセスで製造することがで
きる。A2はAffi−Ti合金よりも加工性がよいの
で、超2.冷法のような特殊な方法を採らなくとも、上
記のようなプロセスによって容易に箔とすることができ
る。
エツチング工程では箔表面を電解エツチングして表面積
を大きくする。エツチング浴は、塩酸、食塩、塩安、モ
ノクロ酢酸などの塩化物水溶液が主として用いられ、電
源波形は直流、交流、交互使用或いは重畳などがある。
を大きくする。エツチング浴は、塩酸、食塩、塩安、モ
ノクロ酢酸などの塩化物水溶液が主として用いられ、電
源波形は直流、交流、交互使用或いは重畳などがある。
このようなエツチング浴、電源波形で電解エツチングで
行えば、十分な深さのエッチピットを形成することがで
きる。従ってAffi箔の表面積は一段と大きくなる。
行えば、十分な深さのエッチピットを形成することがで
きる。従ってAffi箔の表面積は一段と大きくなる。
次いで、めっき工程に入りエツチング後の箔表面にTi
含有量が1〜50w t%のAl−Ti合金皮膜を形成
する。Ti含有量が1wt%未満では、次の化成処理で
得られるAN −Ti複合酸化皮膜層が誘電率の小さな
ものとなり、50wt%を超えると漏洩電流の大きなも
のとなる。
含有量が1〜50w t%のAl−Ti合金皮膜を形成
する。Ti含有量が1wt%未満では、次の化成処理で
得られるAN −Ti複合酸化皮膜層が誘電率の小さな
ものとなり、50wt%を超えると漏洩電流の大きなも
のとなる。
めっきは蒸着、スパッタリング、電気めっき等のいずれ
の方法で行うてもよいが、大切なことは第3図(a)に
示すように全表面にわたって均一な皮膜層(5)を形成
させることである。第3図℃)のように凸部(6)のみ
に皮膜N(5)が形成されエッチピット部(7)には皮
膜がないものは好ましくない、電気めっきはつき回り性
がよいので(a)のようにすることができるが、蒸着や
スパッタリングではつき回り性が悪いので[有])のよ
うになりやすい、従って、本願第2発明のようにエツチ
ング後のAl箔の表面にへ1−Ti合金めっきを施す場
合は、電気めっき方法で行うのがよい、この場合、Al
もTiもイオン化傾向が大きい金属であり、水溶液のめ
っき浴から電析させることは不可能であるので、電気め
っきは有機溶媒や溶融塩を用いた非水溶媒浴から行うの
がよい。
の方法で行うてもよいが、大切なことは第3図(a)に
示すように全表面にわたって均一な皮膜層(5)を形成
させることである。第3図℃)のように凸部(6)のみ
に皮膜N(5)が形成されエッチピット部(7)には皮
膜がないものは好ましくない、電気めっきはつき回り性
がよいので(a)のようにすることができるが、蒸着や
スパッタリングではつき回り性が悪いので[有])のよ
うになりやすい、従って、本願第2発明のようにエツチ
ング後のAl箔の表面にへ1−Ti合金めっきを施す場
合は、電気めっき方法で行うのがよい、この場合、Al
もTiもイオン化傾向が大きい金属であり、水溶液のめ
っき浴から電析させることは不可能であるので、電気め
っきは有機溶媒や溶融塩を用いた非水溶媒浴から行うの
がよい。
Aj!−Ti合金皮膜の厚みは、特に限定を要しないが
、薄すぎると静電容量増加の効果が小さく、過度に厚す
ぎると基体のエッチピットの穴を塞いでしまい、結果的
に表面積が減少して静電容量を小さくしてしまうことに
なるので、0.05〜5μ霧程度とするのが好ましい、
なお、皮膜厚さは第3図(a)にLで示した厚みのこと
である。
、薄すぎると静電容量増加の効果が小さく、過度に厚す
ぎると基体のエッチピットの穴を塞いでしまい、結果的
に表面積が減少して静電容量を小さくしてしまうことに
なるので、0.05〜5μ霧程度とするのが好ましい、
なお、皮膜厚さは第3図(a)にLで示した厚みのこと
である。
めっき工程後は化成処理工程に送り、前記のAN−Ti
合金皮膜層を酸化させて誘電体となるAl−Ti複合酸
化皮膜層を形成する。このとき目的に応じて化成処理の
条件を変えることによって、一部AI!、−Ti合金皮
19IJ+1を残して^1−Ti複合酸化皮膜層を形成
したもの(第1図(a)) 、全てをAffi−Ti複
合酸化皮膜層にしたもの(同(b))、および基体Al
まで酸化皮膜層にしたもの(同(C)) 、とすること
ができる。
合金皮膜層を酸化させて誘電体となるAl−Ti複合酸
化皮膜層を形成する。このとき目的に応じて化成処理の
条件を変えることによって、一部AI!、−Ti合金皮
19IJ+1を残して^1−Ti複合酸化皮膜層を形成
したもの(第1図(a)) 、全てをAffi−Ti複
合酸化皮膜層にしたもの(同(b))、および基体Al
まで酸化皮膜層にしたもの(同(C)) 、とすること
ができる。
その後は、必要に応じて漏洩電流を小さくするための熱
処理や修復化成処理(再処理)を施す。
処理や修復化成処理(再処理)を施す。
第2図℃)は、本願第3発明の電極材料の製造方法を示
す概略工程図である。
す概略工程図である。
この製造方法が前記第2図(a)の製造方法と違う点は
、めっき工程の後にエツチング工程があることである。
、めっき工程の後にエツチング工程があることである。
この製造方法では表面が平らなAl箔に対して、Ti含
有量が1〜50wt%のAl −Ti合金皮膜層を形成
するので、めっきのつき回り性については問題がない、
従って、めっきは蒸着、スパッタリング、電気めっき等
のいずれの方法ででも行うことができる。
有量が1〜50wt%のAl −Ti合金皮膜層を形成
するので、めっきのつき回り性については問題がない、
従って、めっきは蒸着、スパッタリング、電気めっき等
のいずれの方法ででも行うことができる。
次いで、エツチング工程でこの八〇 −Ti合金皮膜層
の表面をエツチングして表面積を太き(する。
の表面をエツチングして表面積を太き(する。
このとき、皮膜層はエツチングにより減厚するので、前
のめっき工程では八〇 −Ti合金を厚目にめっきして
おく必要がある。薄すぎると必要とする厚みのAI!、
−Ti複合酸化皮膜層が得られなくなるので、5〃−以
上の皮膜層となるようにめっきするのが好ましい、但し
、必要以上に厚くしすぎると生産性が低下したり、大電
流でめっきしなければならな(なるので、その皮wAr
!Lの上限は20μ易程度が望ましい。
のめっき工程では八〇 −Ti合金を厚目にめっきして
おく必要がある。薄すぎると必要とする厚みのAI!、
−Ti複合酸化皮膜層が得られなくなるので、5〃−以
上の皮膜層となるようにめっきするのが好ましい、但し
、必要以上に厚くしすぎると生産性が低下したり、大電
流でめっきしなければならな(なるので、その皮wAr
!Lの上限は20μ易程度が望ましい。
この製造方法の場合は^j! −Ti合金皮膜層をエツ
チングするが、エツチングは下記のような条件で行うこ
とができる。
チングするが、エツチングは下記のような条件で行うこ
とができる。
■浴組成:
八1cl、: 5o〜100g/f
HCj!:5〜10%
HgSO4:0.1〜1%
NaCl 2 : 10〜20g/ j!■:浴温
:50〜90°C ■:電流密度:10〜30^/dva”その後は、前記
と同じように化成処理を施し、次いで必要に応じて熱処
理および再処理を施す。
:50〜90°C ■:電流密度:10〜30^/dva”その後は、前記
と同じように化成処理を施し、次いで必要に応じて熱処
理および再処理を施す。
化成処理工程では、目的によって化成処理の条件を変え
て八l −Ti複合酸化皮膜層の厚みを調整し、第1図
(d)〜(粉に示すようにAl4−Ti合金皮膜層を残
してAl4−Ti複合酸化皮膜層を形成したもの(同図
(d))、lN−Ti複合酸化皮膜層のみのもの(同図
(e))、Al−Ti複合酸化皮膜層とAffi酸化皮
膜層の二層よりなるもの(同図(f))およびへ2酸化
皮欣層とへ〇−Ti複合酸化皮膜層の混合からなるもの
(同図(匂)、とすることができる。
て八l −Ti複合酸化皮膜層の厚みを調整し、第1図
(d)〜(粉に示すようにAl4−Ti合金皮膜層を残
してAl4−Ti複合酸化皮膜層を形成したもの(同図
(d))、lN−Ti複合酸化皮膜層のみのもの(同図
(e))、Al−Ti複合酸化皮膜層とAffi酸化皮
膜層の二層よりなるもの(同図(f))およびへ2酸化
皮欣層とへ〇−Ti複合酸化皮膜層の混合からなるもの
(同図(匂)、とすることができる。
以下、本発明を実施例により更に説明する。
(実施例)
溶解精錬−鍛造一熱間圧延一冷間圧延の通常のプロセス
で第1表に示す組成のAl箔を製造し、これから0.2
+am厚X 20fi+s幅X 50+n+長さの大き
さの試験片を切り出して、下記に示す(A)および(B
)の製造工程で電極材料を作製した。
で第1表に示す組成のAl箔を製造し、これから0.2
+am厚X 20fi+s幅X 50+n+長さの大き
さの試験片を切り出して、下記に示す(A)および(B
)の製造工程で電極材料を作製した。
(A):(箔〕−〔前処理〕−〔電解エツチング処理〕
−〔へ1−Ti合金めっき処理〕−〔定電流化成処理〕
=〔定電圧化成処理〕−〔熱処理〕−〔再処理〕。
−〔へ1−Ti合金めっき処理〕−〔定電流化成処理〕
=〔定電圧化成処理〕−〔熱処理〕−〔再処理〕。
(B):(箔〕−〔前処理) −(Al4−Ti合金め
っき処理)−〔電解エツチング処理]−〔定電流化成処
理〕−〔定電圧化成処理〕−〔熱処理〕−〔再処理〕。
っき処理)−〔電解エツチング処理]−〔定電流化成処
理〕−〔定電圧化成処理〕−〔熱処理〕−〔再処理〕。
各工程での処理条件は次の通りである。
50°C1IONのNa0tl中に30秒浸漬処理後、
水洗。
水洗。
次いで、5%IIC/!中に60秒間浸漬処理を行う。
〔電解エツチング処理]
処理液に、85℃の20wt%NaClを用い、0.3
/c’s”の電流密度で3分間アノードエツチングを行
う。
/c’s”の電流密度で3分間アノードエツチングを行
う。
[Affi−Ti合金めっき処理]
めっき浴として、AlC1x NaClt−KCl溶
融塩(モル比、62:20:18)にTiCj!3を1
〜50g/ It添加したものを使用し、浴温:200
°C1電流密度=5A/dad”とし、浴をスターラー
で撹拌しつつ行う。
融塩(モル比、62:20:18)にTiCj!3を1
〜50g/ It添加したものを使用し、浴温:200
°C1電流密度=5A/dad”とし、浴をスターラー
で撹拌しつつ行う。
皮WX厚および皮11!&ll成は第2表に示すとおり
である。
である。
処理液として、50°Cで1.4g/j!のリン酸二水
素アンモンを使用し、スターラー攪拌を実施する。
素アンモンを使用し、スターラー攪拌を実施する。
10■A/cm”の電流密度でアノード処理を行い、極
間電圧が70νに到達するまで通電を行う。
間電圧が70νに到達するまで通電を行う。
同上処理液中で70Vの定電圧で20分間アノード処理
を行う。
を行う。
300℃の加熱温度で10分間大気中加熱を行う。
処理液として、50℃で1.4g#!のリン酸二水素ア
ンモンを使用し、70Vの定電圧で5分間アノード処理
を行う。
ンモンを使用し、70Vの定電圧で5分間アノード処理
を行う。
このようにして得られた電極材料に対して、漏洩電流、
静電容量および耐電圧を評価した。その結果を第2表に
示す。
静電容量および耐電圧を評価した。その結果を第2表に
示す。
なお、漏洩電流は再処理後、同処理液中で電極材料に5
0Vの電圧を印加し、5分後の電流値を測定した。静電
容量は、アジピン酸アンモンを150g/l添加した3
0°Cの浴中で測定した。耐電圧は50°C15%硫酸
中で0.1mA/Cm”の電流密度で通電し、5分後の
電圧を測定した。耐電圧は、硫酸中で測定しているので
同時にこの試験で耐酸性を評価することができる。
0Vの電圧を印加し、5分後の電流値を測定した。静電
容量は、アジピン酸アンモンを150g/l添加した3
0°Cの浴中で測定した。耐電圧は50°C15%硫酸
中で0.1mA/Cm”の電流密度で通電し、5分後の
電圧を測定した。耐電圧は、硫酸中で測定しているので
同時にこの試験で耐酸性を評価することができる。
(以下、余白)
実施例の結果からも明らかな如く、本発明の電極材料は
Al箔の表面にfl−TiJji合酸化皮膜酸化皮膜層
ものであるから、静電容量に優れ、且つ信転性も高い。
Al箔の表面にfl−TiJji合酸化皮膜酸化皮膜層
ものであるから、静電容量に優れ、且つ信転性も高い。
また、その製造方法は基体金属に加工性に優れた八Nを
用い、これにAn −Ti合金をめっきし、化成処理に
よりAj! −Ti複合酸化皮膜を形成するという方法
であるから、基体のへ!箔は超急冷法のような特殊な方
法を用いなくとも通常の方法で容易に製造することがで
きる。
用い、これにAn −Ti合金をめっきし、化成処理に
よりAj! −Ti複合酸化皮膜を形成するという方法
であるから、基体のへ!箔は超急冷法のような特殊な方
法を用いなくとも通常の方法で容易に製造することがで
きる。
第1図は、本発明の電極材料の表面層を模式的に示した
図、 第2図は、本発明の電極材料の製造方法を示す概略工程
図、 第3図は、エツチング後の基体表面に形成されたAl−
Ti合金のめっき皮膜を示すものであって、(a)は好
ましい皮膜例、(b)は好ましくない皮膜例を示す図、
である。 (1)・・・基体 (2)・・・AQ −Ti合金層 ・^ρ−Ti複合酸化皮膜層 ・へl酸化皮膜層 ・めっき層 ・凸部 ・エッチビット部
図、 第2図は、本発明の電極材料の製造方法を示す概略工程
図、 第3図は、エツチング後の基体表面に形成されたAl−
Ti合金のめっき皮膜を示すものであって、(a)は好
ましい皮膜例、(b)は好ましくない皮膜例を示す図、
である。 (1)・・・基体 (2)・・・AQ −Ti合金層 ・^ρ−Ti複合酸化皮膜層 ・へl酸化皮膜層 ・めっき層 ・凸部 ・エッチビット部
Claims (3)
- (1)Al箔の表面に、少なくともAl−Ti複合酸化
皮膜層を有する電解コンデンサ用電極材料。 - (2)Al箔の表面をエッチングした後、その表面にめ
っきによりTi含有量が1〜50wt%のAl−Ti合
金皮膜を形成し、次いで化成処理を施すことを特徴とす
る電解コンデンサ用電極材料の製造方法。 - (3)Al箔の表面に、めっきによりTi含有量が1〜
50wt%のAl−Ti合金皮膜を形成した後、皮膜表
面をエッチングし、次いで化成処理を施すことを特徴と
する電解コンデンサ用電極材料の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16647088A JPH0216713A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 電解コンデンサ用電極材料とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16647088A JPH0216713A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 電解コンデンサ用電極材料とその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0216713A true JPH0216713A (ja) | 1990-01-19 |
Family
ID=15831992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16647088A Pending JPH0216713A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | 電解コンデンサ用電極材料とその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0216713A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998031026A1 (de) * | 1997-01-08 | 1998-07-16 | Muenz Wolf Dieter | Kondensator |
JP2011096872A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Panasonic Corp | 電極箔とその製造方法およびこの電極箔を用いたコンデンサ |
WO2011118308A1 (ja) * | 2010-03-26 | 2011-09-29 | 三洋電機株式会社 | コンデンサ素子、コンデンサ内蔵基板、素子シート、及びこれらの製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55145335A (en) * | 1979-04-28 | 1980-11-12 | Nichicon Capacitor Ltd | Method of fabricating electrode foil for electrolytic condenser |
JPS59167009A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | 昭和アルミニウム株式会社 | 電解コンデンサ用電極材料の製造方法 |
-
1988
- 1988-07-04 JP JP16647088A patent/JPH0216713A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55145335A (en) * | 1979-04-28 | 1980-11-12 | Nichicon Capacitor Ltd | Method of fabricating electrode foil for electrolytic condenser |
JPS59167009A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | 昭和アルミニウム株式会社 | 電解コンデンサ用電極材料の製造方法 |
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WO1998031026A1 (de) * | 1997-01-08 | 1998-07-16 | Muenz Wolf Dieter | Kondensator |
JP2011096872A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Panasonic Corp | 電極箔とその製造方法およびこの電極箔を用いたコンデンサ |
WO2011118308A1 (ja) * | 2010-03-26 | 2011-09-29 | 三洋電機株式会社 | コンデンサ素子、コンデンサ内蔵基板、素子シート、及びこれらの製造方法 |
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