JPH02164721A - カルコゲナイド合金の分晶抑制方法 - Google Patents

カルコゲナイド合金の分晶抑制方法

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JPH02164721A
JPH02164721A JP1270187A JP27018789A JPH02164721A JP H02164721 A JPH02164721 A JP H02164721A JP 1270187 A JP1270187 A JP 1270187A JP 27018789 A JP27018789 A JP 27018789A JP H02164721 A JPH02164721 A JP H02164721A
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tellurium
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Santokh S Badesha
サントク エス バーデシャ
Paul Cherin
ポール チェリン
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ハーヴィー ジェイ ヒューイット
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 光旦叫ユ景 本発明はカルコゲナイド合金の調製方法およびカルコゲ
ナイド合金の分界抑制方法に関する。さらに詳細には、
本発明は真空蒸着中のカルコゲナイド合金の骨品の制御
方法に関する。1つの実施態様においては、本発明は原
料合金のような使用する原料物質に三方晶セレンを加え
それによって、例えば、得られる生成物全体に亘ってカ
ルコゲンの均質な分布を有する所望のカルコゲナイド合
金を得ることを特徴とするカルコゲナイド合金の骨品の
制御抑制方法に関する。本発明の方法により得られる生
成物は静電複写像形成複写法を包含する電子写真像形成
システムにおける光導電体として使用することができる
従来及土 カルコゲンおよびカルコゲナイド合金、並びにその電子
写真法における用途は周知である。一般的に、これらの
光導電体は公知の真空蒸着法、フラッシュ蒸着法および
化学蒸着法によって製造する。これらの方法はある場合
において欠点を有する、即ち、例えば、真空蒸着カルコ
ゲナイド合金においては、得られた生成物はその均質性
において制御可能な再現性を通常有してなく、その結果
、その電子写真電気特性に悪影響を及ぼす。真空蒸着の
原料合金において用いられる各元素は通常異なる蒸気圧
を有し、そのような元素は真空蒸着工程において分離し
望ましくない不均質性即ち骨品を生ずる傾向を有する。
また、真空蒸着法においては、高セレン含有量を有する
成分は最初に蒸発しがちでありかくしてその後は蒸着に
利用できない。従って、最終感光体はそのトップ表面に
おいてセレン含有量が少なく、これが感光体の電気特性
に悪影響を与え、また主として総収量の低下即ち収量ロ
スの結果として感光体製造コストを著しく増大させる。
本発明方法においては、これらおよび他の欠点が回避さ
れる。
真空蒸着工程におけるカルコゲナイド合金の骨品は蒸着
光導電体中の例えばテルルおよび/またはひ素の望まし
くない濃度勾配を与える。従って、真空蒸着薄膜の化学
量論的に不均質性(骨品)が生ずる。骨品は2成分、3
成分および他の多成分合金の固相および液相分子種の部
分蒸発圧の差異の結果として生ずる。カルコゲナイド系
合金製造における重要な点は原料合金蒸着中のテ゛ルル
および/またはひ素のような合金成分の骨品を制御する
ことにある。さらに詳細には、テルルおよび/またはひ
素の分界制御は得られる感光体のトップ表面でのテルル
および/またはひ素濃度が静電複写感度、電荷受容性、
暗放電、コピー品質、感光体摩耗性、製造コストおよび
耐結晶化性に影響するので特に重要である。例えば、単
一層低ひ素セレン合金感光体においては、骨品によって
生じたトップ表面でのひ素濃厚化は蒸着膜の重大なりチ
キュレーション(ちりめんじわ現象)をも生じ得る。さ
らに、単一層テルルセレン合金感光体においても、骨品
によるトップ表面でのテルル?Ma化は不当な感度上昇
、貧弱な電荷受容性および暗放電の上昇を生じ得る。ま
た、低ひ素合金を輸送層として含ませることのできる2
層または多層感光体においても、上層との界面でのひ素
濃厚化は残留サイクルアップ問題をもたらし得る。さら
にまた、テルル合金を発生層として含ませることのでき
る2層または多層感光体においては、電荷発生層の上部
表面でのテルル?rjL厚化は同様な不当な感度上昇、
貧弱な電荷アクセプタンス、および暗放電の上昇を生じ
得る。
従って、セレン合金感光体のようなカルコゲナイド合金
感光体の作製における問題は、得られる膜組成が原料合
金のような原料成分と等価でなくそれ故に蒸着膜または
層が1つの表面から他の表面に向って均一な組成を有し
ない骨品即ち1つの成分の優先蒸発である。例えば、約
10〜約60重量%のテルルを含有するセレンテルル合
金においては、テルル濃度は真空蒸着層のトップ表面で
高く、底部で撓めて低い(即ち、殆んど零となる)。
この問題は、例えば、Se  Tez Se  45%
 5e−As −Te、 Se−八5−Te−C1およ
びこれらの混合物等においてみられる。
11坏υ1的 本発明の1つの目的はカルコゲナイド合金の製造方法を
提供することである。
本発明のもう1つの目的は骨品を最小にしたカルコゲナ
イド合金の製造方法を提供することである。
本発明のさらにもう1つの目的は骨品を実質的に回避し
たセレン合金の製造方法を提供することである。
本発明のさらにもう1つの目的は無定形または結晶性セ
レンを蒸発前にセレン−ひ素のようなカルコゲナイド合
金原料物質に加え、それによって、この新しい種が低部
分蒸発圧を有するので、セレン−ひ素のような原料合金
表面上に三方晶セレンを化学的に結合させ蒸着中のセレ
ン成分のMLMを防止する方法を提供することである。
光尻■吉産 本発明の上記および他の目的はカルコゲナイド合金の製
造方法およびカルコゲナイド合金の分晶制御方法を提供
することによって達成される。さらに詳細には、本発明
はカルコゲナイド合金を調製し、該合金に三方晶セレン
のような結晶性または無定形セレンを添加し、しかる後
、得られた成分を蒸発させて前述したような改良された
特性を有する光導電体を形成させることを含む方法に関
する。本発明の1つの特定の実施態様においては、セレ
ンひ素合金を包含するセレン含有合金のようなカルコゲ
ナイド合金を提供し;該合金に三方晶セレンを、例えば
、約0.1〜約10重量%好ましくは約2〜約5重景%
の量で混合し;得られた各成分を約250〜約350℃
の温度に加熱することによって蒸発させ;支持基体上に
低減させた分界の所望カルコゲナイド合金を蒸着させる
ことを含む方法が提供される。本発明のもう1つの特定
の実施態様は約95〜約60重量%のセレンを含有する
セレンテルル合金を調製し、該合金に三方晶セレンを約
0.1〜約10重量%好ましくは約2〜約5重量%の量
で混合し、得られた成分を約300〜約400℃の温度
に加熱することによって蒸発させ、支持基体上に低減さ
せた分界、即ち、感光体全体を通じて殆んど実質的に均
質な状態で合金生成物中に各元素の分布を有する所望カ
ルコゲナイド合金を蒸着させることを含む方法に関する
本発明の1つの特定の実施態様においては、本発明方法
は真空コーター中に収容させたボートに約98重量%の
セレンと2重量%のひ素を含有するセレンひ素合金球の
約50gを加えることを含む。次いで、約1名の三方晶
セレン粉末を塔壁ロートにより上記合金球表面上にふり
かけた。
10−5トールの真空で350℃で蒸発させたのち、セ
レン−ひ素合金(98/2)の約55ミクロン厚の薄膜
を得た。生成合金膜のEMPAによる表面分析はトップ
0.1ミクロン表面でのひ素含有量が1.5%平均であ
ることを示した。三方晶セレンを用いないで上記方法を
繰返したときは約9〜約23.5重量%のトップ表面ひ
素含有量を有するセレンひ素を得た。EMPAはまたひ
素の化学量論的分布が三方晶セレンを加えた場合の蒸着
膜生成物全体を通じて均質であるのに対し、三方晶セレ
ンを用いない場合の対照においては得られた高分晶化合
金膜が膜上部から底部に向ってのひ素含有量勾配の存在
を有することを示した。
本発明方法の蒸着カルコゲナイド合金生成物用に用いる
通常約150ミル(3,81mm)までの好ましくは約
75〜約100ミル(約1.9〜約2.54mm)の厚
さを有する基体は不透明または実質的に透明であり得、
所望の機械的性質を有する多くの適当な材料を含み得る
。基体全体が電導性表面を含み得るかあるいは電導性表
面は基体上の単なるコーティングであり得る。種々の適
当な導電性材料も基体として使用し得る。典型的な導電
性材料には、例えば、アルミニウム、チタン、ニッケル
、クロム、黄銅、ステンレススチール、銅、亜鉛、銀、
錫等がある。基体上の任意成分としての導電性層は光導
電性部材の所望する用途により厚さ的に変化し得る。従
って、この導電性層は約50オングストローム〜約5.
000オングストロームの厚さを有し得る。−船釣には
、基体は有機および無機材料を包含する任意の通常の材
料であり得る。さらに、基体の例にはポリエステル、ポ
リカーボネート、ポリアミド、ポリウレタン等を包含す
る本目的において公知の絶縁性非導電性材料がある。コ
ーティングしたあるいはコーティングなしの基体は可撓
質または硬質であり得、例えば、プレート、円筒状ドラ
ム、スクロール、エンドレス可撓性ベルト等の任意の多
くの形状を有し得る。
支持基体の外表面は酸化アルミニウム、酸化ニッケル、
酸化チタン等の金属酸化物を含むのが好ましい。使用す
る1つの固定型基体は前述のような適当な有効厚さの厚
アルミニウムシート、ドラムおよびマイラー(Myla
r)のような可撓性ベルト等を含む(米国特許第4.2
65,990号参照、該米国特許の記載は参考として本
明細書に引用する)。
ある場合には、基体と合金生成物のようなその上に塗布
される層との間の中間接着層が接着性改良のために所望
され得る。好ましいのは、これらの層は約0.1〜約5
μmの乾燥厚を有する。接着層の例にはポリエステル、
ポリビニルブチラール、ポリビニルピロリドン、ポリカ
ーボネート、ポリウレタン、ポリメチルメタクリレート
およびこれらの混合物等のフィルム形成性ポリマーがあ
る。
2成分、3成分、4成分合金等を包含する任意の適当な
光導電性カルコゲナイド合金を原料合金として用いて真
空蒸着光導電性層を形成することができる。好ましい合
金にはハロゲンドーパントを含むまたは含まないセレン
のテルル、ひ素、またはテルル及びひ素との合金がある
。セレンの光導電性合金の例にはセレン−テルル、セレ
ン−ひ素、セレン−ひ素−テルル、セレン−テルル−塩
素、セレン−ひ素−塩素、セレン−テルル−ひ素−塩素
の各合金等がある。一般的には、セレンテルル合金は約
5〜約40重量%のテルルおよび合金の総重量基準で約
70重量ρpmまでの塩素と約140重量ppmまでの
沃素からなる群から選ばれたハロゲンとを含み、残りが
セレンであり得る。
セレン−ひ素合金は、例えば、約0.01〜約40重量
%のひ素および合金の総重量基準で約200重量ppm
までの塩素と約1 、000重!ippmまでの沃素か
らなる群より選ばれたハロゲンとを含み、残りがセレン
であり得る。セレン−テルル−ひ素合金は約5〜約40
重量%のテルル、約0.1〜約5重量%のひ素、および
合金の総重量基準で約200重ffippmまでの塩素
と約1,000重ffippmまでの沃素からなる群か
ら選ばれたハロゲンとを含み、残りがセレンであり得る
。本明細書で用いるような“セレンの合金”および“セ
レン合金”なる用語はハロゲンドーピング合金およびハ
ロゲンでドーピングしてない合金を包含するものとする
この光導電性カルコゲナイド合金層の厚さは一般に約0
.1〜約400ミクロンである。他の厚さも本発明の目
的が達成される限り使用できる。
原料合金の蒸発前に原料合金と混合させる、例えば、約
0.1〜約10重量%好ましくは約1.0〜約6重量%
の量で存在する添加剤の具体的な例には無定形または結
晶性セレンがある。セレンの適当な形状には、例えば、
三方晶、六方晶および単斜晶セレンがある。また、上記
以外の量の添加剤も本発明の目的が達成される限り使用
できる。
セレン−テルルおよびセレン−テルル−ひ素合金光導電
性層は電荷輸送層と組合せた電荷発生層として多用され
る。電荷輸送層は支持基体と電荷発生セレン合金光導電
性層との間に通常位置させる。一般には、セレン−テル
ル合金光生成層は合金の化学量論量基準で約40〜約9
5重量%のセレンと約5〜約60重量%のテルルを含み
得る。
セレン−テルル合金はまた約40重量%以下のセレンの
結晶化を最小にするためのひ素および約1.000重量
%以下のハロゲンのような他の成分も含み得る。1つの
より好ましい実施態様においては、光道電性電荷発生セ
レン合金層は約5〜約25重量%のテルル、約0.1〜
約4重世%のひ素、および約100重ffippmまで
の塩素と約300重ffippmまでの沃素となる群よ
り選ばれたハロゲンとを含み、残りがセレンである。一
般的には、蒸着層内で均質組成を一様に達成すること、
即ち、合金原料を有意の骨品なしに蒸発させることが望
ましい。トップ表面でのテルルの増大量(即ち、通常高
いテルルまたはひ素置が初期原料合金に比較したとき最
終合金中に存在する)は過度の感光体感光度および高暗
減衰、並びに、それに対応して例えば望ましくない地肌
濃度を伴うようなコピー品質の低下をもたらす。例えば
、約4重世%以上のある用途におけるひ素の増大量は高
暗減衰の原因となり得、サイクル操作安定性上の問題お
よび感光体表面のりチキュレーションをもたらす。
任意の適当なセレン合金輸送層を前述の多層型像形成部
材において使用し得る。これらの層の例には純粋セレン
、セレン−ひ素合金、セレン−ひ素−ハロゲン合金、セ
レン−ハロゲン等がある。
一般に、約10〜約200重ffippmのハロゲンが
ハロゲンドーピングセレン電荷輸送層中に存在する。ひ
素を含まないハロゲンドーピング輸送層を用いる場合に
は、ハロゲン含有量は約10重量ppm以下にすべきで
ある。ひ素を含まないハロゲンドーピングセレン電荷輸
送厚層中で高量のハロゲンを含有させることは過度の暗
減衰をもたらし得る。ひ素を含まないハロゲンドーピン
グセレン電荷輸送層中に高量のハロゲンを含有する像形
成部材は、例えば、米国特許第3,635,705号お
よび第3.639.120号、並びに1981年6月6
日に公開されたリコー社の特開昭第56−142537
号に開示されている。−船釣には、ハロゲンドーピング
セレンひ素合金電荷移送層は約99.5〜約99.9重
量%のセレン、約0.1〜約0.5重量%のひ素、およ
び約10〜約200重量ppmのハロゲンを含み、その
ハロゲン濃度は公称濃度である。ハロゲンにはフッ素、
塩素、臭素および沃素がある。塩素が主としてその安定
性故に好ましい。輸送層は、例えば、米国特許第4.6
09.605号および第4,297.424号に記載さ
れており、これら米国特許の記載はすべて参考として本
明細書に引用する。
輸送層のような多層型感光体の第1層は真空蒸着のよう
な任意の適当な通常の方法によって付着させ得る。即ち
、約1重量%以下のひ素を含むハロゲンドーピングセレ
ン−ひ素合金を含む輸送層は通常の真空コーティング装
置により蒸着させて所望の厚さを形成できる。真空コー
ターの蒸発ボートで用いるべき合金量は特定のコーター
形状および所望の輸送層厚を得るための他のプロセス変
化要因に依存するであろう。蒸着中のチャンバー圧は約
4X10−’)−ル程であり得る。蒸着は約15〜25
分内で通常完了し、溶融合金温度は約り50℃〜約32
5℃の範囲である。これら範囲外の他の時間、温度およ
び圧力も当業者に良く理解されているように使用できる
。一般に望ましいのは基体温度を輸送層の蒸着巾約50
℃〜約70℃の範囲に維持することである。輸送N調製
の更なる詳細は、例えば、米国特許第4,297,42
4号に述べられており、該米国特許の記載はすべて参考
として本明細書に引用する。
本発明方法による分易制御は長期間に亘って受は入れ可
能で予想し得る電気特性を有し、セレンテルルおよびセ
レンテルルひ素の発生層が約60ミクロンまでの厚さ、
前述した他の厚さ、あるいは本発明の目的が達成される
限りの他の厚さを有する感光体を作製するのに十分であ
る。
尖施炭 例1 0、5%のひ素、99.5%のセレンおよび20ppm
の塩素を含むセレンひ素合金球50gを真空蒸着18イ
ンチ(45,7cm)釣鐘状つぼ型コーター中のるつぼ
に入れた。合金球はスバチラによりコーター内で均一に
拡散させた。300℃のるつぼ温度および4X10−’
トールの真空下で蒸発させて、厚さ10ミル(254μ
m)を有し55℃に維持したアルミニウム上に99.5
%のセレンおよび0.5%のひ素の合金生成物を20分
に亘ってコーティングさせた。EMPA (電子顕微鏡
分析)は合金生成物が高度に骨品していること、即ち、
ひ素含有量が55ミクロンの厚さを有する膜生成物のト
ップ表面から底部表面にかけて低減していることを示し
た。さらに詳細には、合金生成物膜の底部表面では、約
0.02重重量のひ素が存在していた。また、合金の上
層部0.1ミクロンおよび0、5ミクロンでのひ素の平
均量は、それぞれ、3、1重量%および2.6重量%で
あった。
例2 例1の方法を繰返したが、1gの三方晶セレンをるつぼ
中の合金球にふりかけた。セレンひ素合金(99,51
0,5)生成物を得た。E M P A分析は比較的フ
ラットなひ素プロフィノペ即ち、実質的にひ素骨品のな
いこと、および厚さ55ミクロンを有する合金の上層部
0.1ミクロンおよび0.5ミクロンは、それぞれ、0
,8重量%および1.5重量%のひ素濃度を有していた
例3 例2の方法を繰返したが3gの三方晶セレンをるつぼ中
の合金球表面にふりかけた。EMPA分析は比較的フラ
ットなひ素プロフィル、即ち、実質的にひ素骨品のない
こと、および合金の上層部0.1ミクロン右よび0.5
ミクロンは、それぞれ、0.6重量%および0.8重量
%のひ素濃度を有していた。
例  4 例1の方法を繰返したが、10.7重量%のテルルを含
むセレンテルル合金球50gをセレンひ素合金の代りに
用い、るつぼ温度は350℃に維持し、コーティングは
22分で終了させた。89.3%のセレンと10.7%
のテルルの合金生成物膜は55ミクロンの厚さを有して
いた。合金のEMPA分析は高骨品を示し、合金の上層
部0.1ミクロンおよび0.5ミクロンは、それぞれ、
17.6重量%および17.7重量%のテルル濃度を有
していた。55ミクロン膜生成物の底部では、約2重量
%のテルルが存在し高度に分界した膜合金を示していた
例5 例4の方法を繰返したが、2.5gの三方晶セレンをる
つぼ中の合金球上にふりかけた。セレンテルル合金膜(
89,3/ 10.7 )生成物を得た。
EMPA分析は比較的フラットなテルルプロフィル、即
ち、実質的にテルル9品のないこと、および合金のトッ
プ0.1ミクロンおよび0.5ミクロン部分は、それぞ
れ、9.2重量%および10.6重量%のテルル濃度を
有していた。55ミクロン膜生成物の底部では、約8.
5重世%のテルルが存在し、実質的に合金生成物の分界
がないことを示した。
例6 2%のひ素と98.0%のセレンを含むセレンひ素合金
50gを真空蒸着コーター内のるつぼに入れた。るつぼ
温度300℃および4X10−5)−ルの真空下で蒸発
させたのち、90分間で55ミクロンの膜を10ミル(
254ミクロン)厚のアルミニウム基体上にコーティン
グした。EMPAは合金生成物が高度に分界しているこ
とを示した。
さらに詳しくは、合金の上層部0.1ミクロンおよび0
.5ミクロンでの平均ひ素置は、それぞれ、23.5重
量%および19.8重量%であった。
例7 例6の方法を繰返したが1gの三方晶セレンをるつぼ中
の合金球上にふりかけた。セレンひ素合金(98/2)
生成物を得た。EMPA分析は比較的フラットなひ素プ
ロフィノベ即ち、実質的にひ素骨品のないこと、および
合金の上層部0.1ミクロンおよび0.5ミクロンは、
それぞれ、1.5重量%および2.6重量%のひ素濃度
を示した。
例8 例7の方法を繰返したが、3gの三方晶セレンをるつぼ
中の合金球表面上にふりかけた。EMP八分へは比較的
フラットなひ素プロフィノベ即ち、実質的にひ素骨品の
ないこと、および合金の上層部0.1ミクロンおよび0
.5ミクロンは、それぞれ、0.8重量%および0.9
重量%のひ素濃度を有していた。
即ち、本発明の方法によれば、得られた合金生成物は上
述するように高度に分界しない。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、カルコゲナイド合金と結晶性または無定形セレンと
    を混合し、次いで得られた混合物を蒸発させることを特
    徴とするカルコゲナイド合金の製造方法。 2、セレン合金と三方晶セレンを混合し、次いで得られ
    た混合物を蒸発させることを特徴とするセレン合金の分
    晶制御方法。 3、カルコゲナイド合金と結晶性または無定形セレンと
    を混合し、次いで得られた混合物を蒸発させることを特
    徴とするカルコゲナイド合金の分晶制御方法。
JP1270187A 1988-10-24 1989-10-17 カルコゲナイド合金の分晶抑制方法 Pending JPH02164721A (ja)

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US07/261,659 US4904559A (en) 1988-10-24 1988-10-24 Processes for suppressing the fractionation of chalcogenide alloys
US261659 1988-10-24

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JPH02164721A true JPH02164721A (ja) 1990-06-25

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ID=22994272

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JP1270187A Pending JPH02164721A (ja) 1988-10-24 1989-10-17 カルコゲナイド合金の分晶抑制方法

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GB2225027B (en) 1993-07-07
GB8923912D0 (en) 1989-12-13
US4904559A (en) 1990-02-27
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