JPH0214492A - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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JPH0214492A
JPH0214492A JP63163951A JP16395188A JPH0214492A JP H0214492 A JPH0214492 A JP H0214492A JP 63163951 A JP63163951 A JP 63163951A JP 16395188 A JP16395188 A JP 16395188A JP H0214492 A JPH0214492 A JP H0214492A
Authority
JP
Japan
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word line
latch circuit
address
row decoder
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63163951A
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English (en)
Inventor
Takayasu Sakurai
貴康 桜井
Kazutaka Nogami
一孝 野上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0214492A publication Critical patent/JPH0214492A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は半導体メモリに係り、特にCPUなどの論理演
算処理ブロックと同一半導体チップ上に混載されるキャ
ッシュメモリなどのオンチップメモリに使用されるもの
である。
(従来の技術) 第12図は従来の1チツプ化されたCPUおよびキャッ
シュメモリの一部を示しており、その動作波形を第13
図に示している。即ち、CPU(中央演算処理ユニット
)部のアドレス計算ユニット1の直後にアドレスラッチ
回路2が設けられ、このラッチ回路2にアドレスバス3
を介してキャッシュメモリ部のロウデコーダ4が接続さ
れている。このロウデコーダ4のチーコード出力によっ
てメモリセルアレイ5のワード線WLを駆動し、メモリ
セル(図示せず)を選択的に活性化する。
このメモリセルからの読出し出力は、場合によってはセ
ンスアンプなど(図示せず)によって増幅されて出力さ
れる。この出力りは、直後に設けられているデータラッ
チ回路6によってラッチされ、このデータラッチ回路6
のラッチ出力はデータバス7を介して前記CPU部のデ
ータフェッチユニット8に取り込まれて利用される。
上記構成においては、ロウデコーダ4とアドレスバス3
よりCPU側にアドレスラッチ回路2が設けられている
。このため、クロックCLKが入り、アドレスラッチ回
路2によりアドレスAddがラッチされて確定してから
、先ず、静電容量の大きなアドレスバス3を駆動するの
で、これまでに相当の時間を要する。次に、原理上、多
入力論理ゲートという比較的遅い回路構成からなるロウ
デコーダ4がデコードし終わることで初めてワード線W
Lの値が確定する。このワード線WLの値が確定すると
は、選択されたワード線WLが活性化され、非選択のワ
ード線WLが非活性化されることである。この時点で、
初めて、メモリセルが活性化されてデータが読出される
、あるいは、データが書込まれるという本来のメモリの
動作に移ることができる。
以上の説明から解るように、第12図の構成ではクロッ
クCLKが入ってからワード線WLの値が確定するまで
にかなりの時間がかかる。特に、半導体チップが大型化
し、アドレスバス3が物理的に長くなって静電容量の大
きくなると、アドレスバス3の遅延が問題となるし、メ
モリビット容量が10にビットを越える辺りからロウデ
コーダ4の遅延が問題となってくる。例えば1μmのデ
ザインルールでメモリビット容量が300にビット程度
のとき、クロック入力からワード線確定までの遅延は1
5ns程度であり、ワード線確定からメモリセルアレイ
のデータ出力までの20n s程度に比べて無視できな
いほど大きい。このため、クロック入力からデータ出力
までの高速化が制約されるという問題がある。
(発明が解決しようとする課題) 本発明は、上記したようにクロック入力からワード線確
定までの遅延が、ワード線確定からメモリセルアレイの
データ出力までの遅延に比べて無視できないほど大きい
ため、クロック入力からデータ出力までの高速化が制約
されるという問題点を解決すべくなされたもので、クロ
ック入力からデータ出力までの高速化を達成できる半導
体メモリを提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の半導体メモリは、ロウデコーダとワード線との
間にアドレスラッチ回路が設けられていることを特徴と
する。
(作用) クロック入力によりアドレスラッチ回路を少しの間だけ
開けてロウデコーダの出力をラッチし、ラッチデータに
よってワード線を選択した後にアドレスラッチ回路を閉
じるように制御することにより、閉じた後のアドレスラ
ッチ回路の入力に変化があっても、この変化はワード線
に伝わらない。
従って、本発明のメモリをCPUなどの論理演算処理ブ
ロックと同一半導体チップ上に混載したシステムで使用
する場合、CPUのアドレス計算ユニットからアドレス
バスを経てロウデコーダへアドレスを転送してロウデコ
ーダによりアドレスをデコードする動作と、クロック入
力によりアドレスラッチ回路を開けてワード線を開く動
作とを独立にバイブライン的に行うことができるので、
クロック入力によりアドレスラッチ回路を開ければ、直
ぐにワード線が開き、クロック入力からデータ出力まで
の高速化が達成される。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第1図は例えばCMOS構成の1チツプ化されたCPU
およびキャッシュメモリの一部を示しており、第12図
を参照して前述した従来例に比べて、CPU側のアドレ
スラッチ回路2が省略され、ロウデコーダ4とワード線
WLとの間にアドレスラッチ回路10が設けられている
点が異なり、その他は同じであるので第12図中と同じ
符号を付している。なお、ラッチ用クロックCLKはア
ドレスラッチ回路10およびデータラッチ回路6に与え
られている。
上記構成において、クロック入力によりアドレスラッチ
回路10を少しの間だけ開けてロウデコーダ4の出力を
ラッチし、ラッチデータによってワード線WLを選択し
た後にアドレスラッチ回路10を閉じるように制御され
る。このような制御により、閉じた後のアドレスラッチ
回路10の入力に変化があっても、この変化はワード線
WLに伝わらない。従って、CPU部のアドレス計算ユ
ニット1からアドレスバス3を経てロウデコーダ4ヘア
ドレスを転送してロウデコーダ4によりアドレスをデコ
ードする動作と、クロック入力によりアドレスラッチ回
路10を開けてワード線WLを開く動作とを独立にパイ
プライン的に行うことができるので、クロック入力によ
りアドレスラッチ回路10を開ければ、直ぐにワード線
WLが開き、クロック入力からデータ出力までの高速化
が達成される。この動作の様子を第2図に示している。
ここで、第2図と前記第13図とを比較すると、本発明
では確かにクロック入力からデータ読出しまでは速くな
るが、クロック入力よりかなり前にCPUがアドレスを
ださなければならないという問題点がありそうに思える
。しかし、通常、CPUとメモリを用いたシステムの速
度を決定している要因(クリティカルパス)はメモリ部
であり、アドレスはかなり速く出すことができるので、
システムにとっては本発明の方が高速化を実現できる。
ところで、前記アドレスラッチ回路10は、例えば第4
図に示すようなマスタースレーブ型回路40を用いても
よく、あるいは、第5図に示すようにロウデコーダ50
をクロックドゲート構成にし、このロウデコーダ50の
直後にラッチ回路51を設けるようにしてもよく、ある
いは、第6図に示すようにロウデコーダ4の直後にクロ
ックドインバータ61を設けるようにしてもよい。上記
マスタースレーブ型回路40を用いる場合、第3図に示
すようにそのスレーブ回路42を前記ロウデコーダ4の
直後に設け、そのマスター回路41を上記ロウデコーダ
4の直前に設けるようにしてもよい。このようにすれば
、アドレスバス3に雑音によるレベル変化やバイブライ
ン動作時の先行変化があっても、この変化がロウデコー
ダ4に伝わらなくなり、ワード線WLは前回のアドレス
に従った選択状態に安定に保たれる。また、ロウデコー
ダ4の直後にマスター回路41とスレーブ回路42とを
設ける場合に比べて、チップ上の占有面積が小さくて済
む。
前記第5図中のラッチ回路51は、インバータ52とク
ロックドインバータ53とからなり、このクロックドイ
ンバータ53は、例えば第7図(a)に示すように、V
dd電圧ノードとVss電圧ノードとの間にP型MOS
トランジスタ71と72とN型MOSトランジスタ73
と74とが直列接続されたCMOSクロックドインバー
タでもよく、あるいは、第7図(b)に示すように、C
MOSインバータ75の後にP型MOSトランジスタ7
6とN型MO3)ランジスタフ7とが並列接続されてな
るCMOSトランスファゲートが接続されたものでもよ
い。第5図中に示したクロックドゲート構成のロウデコ
ーダ50も、上記した構成に準じて、CMOSクロック
ドナントゲートによって、あるいは、CMOSナントゲ
ートとCMOSトランスファゲートとの組み合わせを用
いて構成できる。
上記第5図に示した構成によれば、ラッチ回路51のイ
ンバータ52があるので、長いサイクルがある場合でも
ワード線が電位的に浮遊状態になることはない。
なお、前記第5図に示した構成には、リダンダンシー用
のフユーズ素子Fが挿入されているが、これは本発明に
とって直接の関係はないのでその詳述を省略するが、本
発明はりダンダンシー技術と相反するものではない。
また、前記第6図に示した構成によれば、回路が簡単な
のでチップ上の占有面積が小さくて済むが、ダイナミッ
ク構成であるので、クロックドインバータ61が閉じた
後でワード線WLが電位的に浮遊状態になることがある
ここで、注意したいことは、本発明で使用されるラッチ
回路は、同期型アクセスメモリで使用される第14図(
a)に示すような回路とは全く違うことである。上記第
14図(a)の回路は、第14図(b)に示すようにワ
ード線活性化信号Φwlがアクティブになったときのみ
ワード線WLが活性化され、ワード線活性化信号ΦWR
が非アクティブになったときにはワード線WLが閉じら
れてしまうので、ラッチ機能があるとはいえない。即ち
、ワード線WLを選択的に活性化している状態のときに
入力がいくら変化しても選択されているワード線WLが
変化することはないという機能がない。これでは、ロウ
デコーダRDの出力が変化している間にメモリ部のワー
ド線やビット線が独立に動作することはできない。本発
明では、1つのサイクルで同時並列的にメモリ動作とア
ドレス伝達およびロウデコーディング動作を行えるので
スルーブツトが向上しており、このようなことは前記第
14図(a)の回路では本質的に不可能である。
第8図は本発明の変形例を示しており、ロウデコーダが
複数段に分割されている場合(ここでは、アドレスビッ
トのうちの最下位以外のビットに対するロウデコーダ8
1と、最下位ビットXo。
Xoに対する部分ロウデコーダ82とに分割されている
) これに対応してアドレスラッチ回路83.84も複
数段に分割している。この場合でも、最初のロウデコー
ダ81の後でワード線WLの前にラッチ回路83が入っ
ているので本発明の効果は期待できるが、前記第5図や
第6図に比べてクロック入力からデータ読出しまでが少
し遅くなる。
また、本発明は、低消費電力性や高速性を追及する目的
でワード線をメインワード線とセクションワード線とに
分けた二重ワード線構造を有する半導体メモリにも適用
することができる。即ち、例えば第9図に示すように、
ロウデコーダ90とメインワード線MWLとの間にアド
レスラッチ回路91を入れ、また、メモリセルアレイの
複数に分割されたセクションS E Ca −S E 
Cnを選択的に活性化制御するためのセクションデコー
ダSDの直後にアドレスラッチ回路92を設けている。
ここで、SDLはセクションデコーダ線、SWLはセク
ションワード線、SELはセクションワード線セレクト
回路、MCはメモリセル、C8はカラムスイッチであり
、この例ではカラムデコーダCDの直後にもアドレスラ
ッチ回路93を設けている。
このメモリにおいて、最もクリイティカルなバスとなる
のはメインワード線MWLであるので、このメインワー
ド線MWLの前にアドレスラッチ回路91を設けること
が最も重要である。
なお、メインワード線MWLに代えて各セクションセレ
クト回路SELの直後にアドレスラッチ回路91を設け
るようにしてもよいが、ラッチ回路数が多くなるのでチ
ップ上の占有面積が大きくなる。
なお、第9図中のラッチ回路91.92は、第1のCM
OSクロックドインバータ94とCMOSインバータ9
5の出力端と入力端との間に第2のCMOSクロックド
インバータ96が並列接続されている。
第10図(a)は上記第9図中のラッチ回路91.92
の変形例を示しており、第2のCMOSクロックドイン
バータ96に代えてCMOSインバータ101を用いて
いる。この場合、第1のCMOSクロックドインバータ
94がオン状態になったときに、その出力とCMOSイ
ンバータ101の出力とが衝突する。この衝突の影響(
遅延など)を弱めるためには、このCMOSインバータ
101の駆動能力を第1のCMOSクロックドインバー
タ94の駆動能力より小さく設計しておけばよく、ある
いは、第1゜図(b)に示すようにCMOSインバータ
101の出力端と第1のCMOSクロックドインバータ
94の出力端との間に、例えばポリシリコンからなる高
抵抗(例えばIGΩ)Rを挿入しておけばよい。
なお、本発明のようにアドレスラッチ回路を設ける場合
には、電源投入時にアドレスラッチ回路を所定状態に初
期化してワード線を非活性状態にし、メモリセルの電流
消費を抑制することが望ましい。そこで、電源投入時に
ワード線を非活性状態にする方向にアドレスラッチ回路
の状態を初期化し得るようにしておけばよい。このため
には、例えば第5図中あるいは第6図中に点線で示すよ
うに、ラッチ回路に容量Cを付加接続しておくとか、電
源投入時にはアドレスデコーダがオンになるがメインワ
ード線やセクションデコーダ線を駆動するためのラッチ
回路がオフになるようにクロックCLKを制御すればよ
い。
このように、クロックCLKを制御するための回路の一
例を第11図に示している。即ち、電源投入時には、初
期化パルス発生口路111は“0“レベルを出力し、ナ
ントゲート112の出力は“1″になり、インバータ1
13の出力(ロウデコーダ用クロックCLK)とインバ
ータ114の出力(セクションデコーダ用クロックCL
K)とは“0” (非アクティブ)になり、インバータ
115の出力(ロウデコーダ用クロックCLK)とイン
バータ116の出力(セクションデコーダ用クロックC
LK)とは“1“ (アクティブ)になる。システムリ
セット入力によって初期化パルス発生回路111は“1
”レベルを出力し、クロック人力CLKはインバータ1
17を経て前記ナントゲート112に入力し、以後は前
記したような1つのサイクルで同時並列的にメモリ動作
とアドレス伝達およびアドレスデコーディング動作が行
われる。
[発明の効果] 上述したように本発明の半導体メモリによれば、クロッ
ク入力からデータ出力までの高速化が達成される。従っ
て、本発明のメモリをCPUなどの論理演算処理ブロッ
クと同一半導体チップ上に混載したシステムで使用する
場合、システムで最も遅くてクリティカルパスになって
いるメモリ部の速度上のネックが解消されるので、シス
テムとしての高速化が達成される。特に、このようなシ
ステムの場合には、メモリに対する高速化の要求が強く
、システムの自由度が増しているので、チップ占有面積
の多少のオーバーヘッドがあっても本発明の構成を採用
することが望ましい。
また、上記したようなシステムの場合には、チップ上の
他のロジック部が発生する雑音も大きいが、アドレスを
ラッチしてしまえばラッチ入力に雑音が入ってもワード
線選択上の問題は生じないので、従来例に比べて本発明
のようになるべくワード線の近くにアドレスラッチ回路
を配置している構成は有利である。また、上記したよう
なシステムをパイプライン化することによって、スルー
ブツトの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るオンチップキャッシュ
メモリとCPUとを用いたシステムの一部を示すブロッ
ク図、第2図は第1図のシステムの動作を示すタイミン
グ図、第3図は第1図のシステムの変形例を示すブロッ
ク図、第4図乃至第6図はそれぞれ第1図中のアドレス
ラッチ回路の相異なる構成例を示す回路図、第7図(a
)および(b)は第5図中のCMOSクロックドゲート
の具体例を示す回路図、第8図は第1図中のロウデコー
ダおよびアドレスラッチ回路の変形例を示す回路図、第
9図は本発明の他の実施例に係る二重ワード線構造を有
する半導体メモリの一部を示す回路図、第10図(a)
および(b)はそれぞれ本発明で用いられるアドレスラ
ッチ回路の他の例を示す回路図、第11図は本発明で用
いられるクロックを電源投入時に制御する回路の一例を
示す回路図、第12図は従来のオンチップキャッシュメ
モリとCPUとを用いたシステムの一部を示すブロック
図、第13図は第12図のシステムの動作を示すタイミ
ング図、第14図(a)および(b)は従来の同期型ア
クセスメモリの一部を示す回路図および動作を示すタイ
ミング図である。 1・・・アドレス計算ユニット、3.・・・アドレスバ
ス、4.81.82.90・・・ロウデコーダ、5・・
・メモリセルアレイ、6・・・データラッチ回路、10
.51.8B、84.91.92.93・・・アドレス
ラッチ回路、40・・・マスタースレイブ回路、41・
・・マスター回路、42・・・スレイブ回路、CD・・
・カラムデコーダ、MWL・・・メインワード線、S 
E Ca −S E Cn−・・セクション、S D 
−・・セクションデコーダ、SDL・・・セクションデ
コーダ線、SWL・・・セクションワード線、SEL・
・・セレクト回路、MC・・・メモリセル。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 (a) (b) 第 図 Xo  X。 第12図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ロウデコーダとワード線との間にアドレスラッチ
    回路が設けられていることを特徴とする半導体メモリ。
  2. (2)前記アドレスラッチ回路はマスタースレーブ型回
    路からなり、そのスレーブ回路が前記ロウデコーダの直
    後に設けられ、そのマスター回路が上記ロウデコーダの
    直前に設けられていることを特徴とする請求項1記載の
    半導体メモリ。
  3. (3)カラムデコーダの直後にアドレスラッチ回路が設
    けられていることを特徴とする請求項1または2記載の
    半導体メモリ。
  4. (4)前記ワード線がメインワード線とセクションワー
    ド線とに分けられた二重ワード線構造を有する半導体メ
    モリにおいて、メモリセルアレイのセクションを選択的
    に活性化制御するためのセクションデコーダの直後にア
    ドレスラッチ回路が設けられていることを特徴とする請
    求項1記載の半導体メモリ。
  5. (5)請求項1ないし4記載の半導体メモリは同一半導
    体チップ上に論理演算処理ブロックが搭載されているこ
    とを特徴とする半導体メモリ。
JP63163951A 1988-06-30 1988-06-30 半導体メモリ Pending JPH0214492A (ja)

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JP63163951A JPH0214492A (ja) 1988-06-30 1988-06-30 半導体メモリ

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5972698A (ja) * 1982-10-18 1984-04-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
JPS61237289A (ja) * 1985-04-15 1986-10-22 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション パイプライン方式メモリ・システム
JPS6421786A (en) * 1987-07-15 1989-01-25 Nec Corp Semiconductor memory

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