JPH02144737A - Counting circuit control system - Google Patents

Counting circuit control system

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JPH02144737A
JPH02144737A JP63301245A JP30124588A JPH02144737A JP H02144737 A JPH02144737 A JP H02144737A JP 63301245 A JP63301245 A JP 63301245A JP 30124588 A JP30124588 A JP 30124588A JP H02144737 A JPH02144737 A JP H02144737A
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JP
Japan
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unit
measurement
counter
value
digits
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JP63301245A
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Japanese (ja)
Inventor
Akio Shinagawa
明雄 品川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To decrease the number of hardware digits and at the same time to flexibly change the desired number of digits at every counter or measurement and to secure the accurate measurement by dividing the measuring counters included in a unit to be measured into the most significant digit and other parts. CONSTITUTION:In a device consisting of a unit 1 to be measured and a measurement unit 2, plural measuring counters 11 included in the unit 1 are divided into the most significant digits 11a and other parts 11b for example. At the same time, the digit 11a of the each counter 11 reads the working value of the unit 1 out of the unit 2 at a specific frequency and adds the working value to the value of an area corresponding to each counter 11 of a memory 23 included in the unit 2. Then the parts 11b are read out except the most significant digits 11a of the counters 11 after the working of the unit 1 is stopped and then synthesized with the value of the corresponding area of the memory 23 of the unit 2 as the value of each counter 11. As a result, the number of hardware digits can be decreased for each counter 11 of the unit 1. At the same time, the number of necessary digits can be flexibly changed at every counter or measurement to ensure the accurate measurement.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 計算機システムを構成する被測定ユニット内に設けられ
ている複数個の性能測定用カウンタの制御方式に関し、 ハードウェアで構成したときには、比較的桁数の多いカ
ウンタが必要であること1桁あぶれを起こしたとき、正
しい値が保証できないこと、又、ソフトウェアで構成し
たときには、測定誤差が生じること、特に、並列マシン
の場合には、ジョブの分割の仕方によって性能測定対象
回路の動作が異なることがあり、該測定対象回路に対す
る正確な測定ができない等の問題を解消することを目的
とし、 被測定ユニッl−(Vl)と、測定ユニッl−(V2)
とから構成される装置において、上記被測定ユニット(
Vl)中に設けられている複数個の測定用カウンタ(R
1,R2,〜)を、例えば、最上位桁(R1−A 、 
R2−A 。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a control method for a plurality of performance measurement counters provided in a unit under test that constitutes a computer system, when configured with hardware, a counter with a relatively large number of digits can be controlled. In the case of a one-digit error, it is not possible to guarantee the correct value.Also, when configured using software, measurement errors may occur.In particular, in the case of parallel machines, performance may vary depending on how jobs are divided. The purpose of this is to solve the problem that the operation of the circuit to be measured may differ, making it impossible to perform accurate measurements on the circuit to be measured.
In an apparatus consisting of the above-mentioned unit to be measured (
A plurality of measurement counters (R
1, R2, ~), for example, the most significant digit (R1-A,
R2-A.

〜)と、それ以外の部分(R1−B、R2−B、〜)と
に分割し、各測定用カウンタ(I11、R2,〜)の最
上位桁は、該被測定ユニット(Vl)の動作中の値を、
測定ユニット(V2)から、特定の頻度で読み出して、
該測定ユニット(V2)内のメモリ(1)中の各測定用
カウンタ(1?1.R2,〜)に対応する領域の値に加
算し、該被測定ユニット(Vl)の動作停止後において
、上記各測定用カウンタ(R1,R2,〜)の最上位桁
以外の部分(R1−B、 R2−B、〜)を読み出し、
上記測定ユニッ) (V2)内の上記メモリ(助士の上
記対応する領域の値と合成して、各測定用カウンタ(R
1,R2゜〜)の値とするように制御する。
~) and other parts (R1-B, R2-B, ~), and the most significant digit of each measurement counter (I11, R2, ~) indicates the operation of the unit under test (Vl). the value inside,
Read from the measurement unit (V2) at a specific frequency,
It is added to the value of the area corresponding to each measurement counter (1?1.R2, ~) in the memory (1) in the measurement unit (V2), and after the unit under test (Vl) stops operating, Read out the parts (R1-B, R2-B, ~) other than the most significant digit of each of the above measurement counters (R1, R2, ~),
The value of each measurement counter (R
1, R2°~).

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、計算機システムを構成する被測定ユニット内
に設けられている複数個の性能測定用カウンタの制御方
式に関する。
The present invention relates to a control method for a plurality of performance measurement counters provided in a unit under test that constitutes a computer system.

最近、例えば、IJ スプ(LISP)、プロoグ(P
I?0LOG)等の特殊な高級言語で記述したプログラ
ムを実行する、並列マシン、人工知能マシン、大規模マ
シン等の開発が盛んに行われる動向にある。
Recently, for example, IJ SP (LISP), PROG (P
I? There is an active trend in the development of parallel machines, artificial intelligence machines, large-scale machines, etc. that execute programs written in special high-level languages such as 0LOG).

かかる新規なマシンに関しては、過去のハードウェア知
識、ハードウェア性能に関するデータが少ないことから
、このような言語で記述されたプログラムの中には、繰
り返して実行される処理が多いことに着目し、その部分
をハードウェアで構成して、該並列マシン、人工知能マ
シン等の高性能化を図ることが行われる。
Since there is little data on past hardware knowledge and hardware performance regarding such new machines, we focused on the fact that programs written in such languages have many processes that are executed repeatedly. This part is configured with hardware to improve the performance of the parallel machine, artificial intelligence machine, etc.

この場合、該ハードウェア部分が実際にどのように動作
しているかを把握して、評価を行い、高性能な並列マシ
ン、人工知能マシン等を構築することになるが、具体的
には、一連のプログラムを実行して、該ハードウェア化
した部分が動作した回数をカウントして、その効果を評
価する。
In this case, it is necessary to understand how the hardware part actually operates, evaluate it, and build a high-performance parallel machine, artificial intelligence machine, etc. The program is executed, the number of times the hardware part operates is counted, and its effectiveness is evaluated.

このとき、該マシンが自分で評価していたのでは、オー
バヘッドが大きく、又、実際の各ハードウェアの振る舞
いとは異なる評価を行う危険がある為、外部装置、例え
ば、サービスプロセッサ(SVP)等から、該被測定ユ
ニット (マシン)内の各カウンタの値を読み出し、評
価する方法をとるのが現実的である。
At this time, if the machine were to evaluate itself, there would be a large overhead and there is a risk that the evaluation would be different from the actual behavior of each hardware, so external devices such as service processors (SVPs), etc. It is practical to read out and evaluate the values of each counter in the unit under test (machine).

然して、該カウンタを純ハードウェアで構成した場合に
は、比較的桁数の多いカウンタを幾種類も設ける必要が
あるとか、桁あぶれを起こした時、正しい値を保持でき
ない等の問題がある。
However, if the counter is constructed from pure hardware, there are problems such as the need to provide several types of counters with a relatively large number of digits, and the inability to maintain a correct value when a digit error occurs.

又、該カウンタをソフトウェアで実現した場合には、カ
ウントの為の余分なステップが必要で、その為に測定誤
差がでるとか、特に、並列マシンの場合には、複数個の
マシンに対する処理の分割の仕方によっては、該ハード
ウェアの振る舞いが変わってくるとか、再現性がない等
の問題があり、該性能評価用カウンタに対して、これら
の各種問題を回避できるカウント回路制御方式が必要と
されるようになってきた。
Also, if the counter is implemented in software, an extra step is required for counting, which may cause measurement errors, and especially in the case of parallel machines, it may be necessary to divide the processing among multiple machines. Depending on the method used, there are problems such as changes in the behavior of the hardware or lack of reproducibility.There is a need for a counter circuit control method that can avoid these various problems for the performance evaluation counter. It's starting to happen.

〔従来の技術と発明が解決しようとする課題〕第3図は
従来のカウント回路制御方式を説明する図であって、特
に、ハードウェアによる方式を示している。
[Prior Art and Problems to be Solved by the Invention] FIG. 3 is a diagram illustrating a conventional counting circuit control method, and particularly shows a hardware-based method.

被測定ユニッl−(mlは、具体的には、計算機システ
ムの本体装置であり、被測定ユニット(V2)2は、例
えば、サービスプロセッサ(SVP)である。
The unit to be measured l-(ml is specifically the main unit of the computer system, and the unit to be measured (V2) 2 is, for example, a service processor (SVP).

該被測定ユニット(Vl)1には、前述のハードウェア
回路、即ち、被測定回路(PI、R2,・・−)13が
あり、該被測定回路(PL、R2,−) 13が何らか
の動作をしたことを、インタフェース回路(口1.Q2
.−−)12が検出して、カウンタ回路(R1,R2,
−・)11を制御しカウントアンプさせる。
The unit under test (Vl) 1 has the aforementioned hardware circuit, that is, the circuit under test (PI, R2, . . . -) 13, and the circuit under test (PL, R2, -) 13 performs some operation. The interface circuit (mouth 1.Q2
.. --) 12 detects and the counter circuit (R1, R2,
-・) Controls 11 and makes it count amplify.

該カウント値をサービスプロセンサ(SVP) 2から
、例えば、公知のスキャンイン・アウト機構により、各
カウンタ回路(R1,R2,−’) 11の中のカウン
トレジスタ(rl、r2.−−) lieの値を読み取
り、サービスプロセッサ(SVP) 2において、それ
ぞれの被測定回路(PI、R2,−−−−)13を評価
する。
The count value is transferred from the service processor (SVP) 2 to the count register (rl, r2.--) in each counter circuit (R1, R2, -') 11, for example, by a known scan-in/out mechanism. The service processor (SVP) 2 evaluates each circuit under test (PI, R2, -----) 13 by reading the value of .

かかる従来方式においては、図示されている如くに、各
カウンタ回路(171,R2,−・−)11のカラン1
−レジスタ(rLr2.−) lieに直接カウント値
を持っていた。
In such a conventional system, as shown in the figure, the counter circuit 1 of each counter circuit (171, R2, ---) 11 is
-Register (rLr2.-) It had the count value directly in ie.

従って、被測定回路(Pl、R2,−・−)13の動作
回数の予測値等に合わせて、各カウントレジスタ(rl
Therefore, each count register (rl
.

r2. ・−) lieの桁数(又は、ビット数)が異
なり、該被測定回路(PL、R2,−) 13の動作回
数が多い場合には、桁数の多いカランとレジスタ(rl
、r2) lieを必要とした。
r2.・-) If the number of digits (or number of bits) of lie is different and the number of operations of the circuit under test (PL, R2, -) 13 is large, the register (rl
, r2) required lie.

又、−度構築したカウンタ回路(Ri) 11において
、予想以上のインクリメント動作が行われ、桁あぶれを
起こした場合には、正しい値を保持できないという問題
があった。
In addition, in the counter circuit (Ri) 11 constructed by -degree, if an increment operation is performed more than expected and a digit error occurs, there is a problem that the correct value cannot be held.

次に、ソフトウェアで該被測定回路(PL、R2,−・
−)13の動作回数をカウントする場合について考察す
る。
Next, the circuit under test (PL, R2, -.
-) Consider the case of counting the number of operations of 13.

この場合、第一に、例えば、特定の被測定回路(Pi)
 13に関連するプログラム、或いは、サブルーチン中
でカウント処理を行うとすると、該被測定回路(Pi)
 13をカウントする為のステップを必要とし、それだ
け、該ザブルーチンでのオーバヘンドが増加すると共に
、該カウント処理の為に測定誤差が生じるとか、再現性
がない等の問題があった。
In this case, first, for example, a specific circuit under test (Pi)
If counting processing is performed in a program or subroutine related to 13, the circuit under test (Pi)
This requires a step to count 13, which increases the overhead in the subroutine, and causes problems such as measurement errors and lack of reproducibility due to the counting process.

又、該カウント処理をオペレーティングシステム(O8
)等で行うようにすると、個々のプログラムによる測定
誤差は回避できるが、該オペレーティングシステム(O
5)でのオーバヘッドが増加すると共に、それぞれの被
測定回路(Pi) 13を使用するプログラムを起動す
るタイミングを特定することが難しくなり、被測定回路
(Pi) 13に対する正確な動作の評価が困難になる
という問題があった。
In addition, the counting process is performed by the operating system (O8
) etc., measurement errors caused by individual programs can be avoided, but the operating system (O
As the overhead increases in step 5), it becomes difficult to specify the timing to start a program that uses each circuit under test (Pi) 13, making it difficult to accurately evaluate the operation of the circuit under test (Pi) 13. There was a problem with becoming.

更に、並列マシンの場合、複数個のマシンにどのような
処理が割当てられるかにより、それぞれの被測定回路(
Pi) 13の振る舞いが異なってくることがあり、こ
の観点からも、正確な評価が困難になるという問題があ
った。
Furthermore, in the case of parallel machines, each circuit under test (
Pi) 13 may behave differently, and from this point of view as well, there was a problem that accurate evaluation was difficult.

本発明は上記従来の欠点に鑑み、計算機システムを構成
する被測定ユニット内に設けられている複数個の性能測
定用カウンタの制御方式において、ハードウェアで実現
した場合には、比較的桁数の多いカウンタが必要である
こと1桁あぶれを起こしたとき、正しい値が保証できな
いこと、又、ソフトウェアで実現した場合には、測定誤
差が生じること1特に、並列マシンの場合には、ジョブ
の分割の仕方によって、被測定対象回路の動作が異なる
ことがあり、該測定対象回路に対する正確な測定ができ
ない等の問題を解消するカウント回路制御方式を堤供す
ることを目的とするものである。
In view of the above conventional drawbacks, the present invention provides a control method for a plurality of performance measurement counters provided in a unit under test that constitutes a computer system, which requires a relatively large number of digits when realized by hardware. The need for a large number of counters; the inability to guarantee the correct value when one digit is off; and the possibility that measurement errors will occur if it is realized by software 1. Particularly in the case of parallel machines, it is difficult to divide jobs The purpose of this invention is to provide a counting circuit control method that solves the problem of not being able to accurately measure the circuit to be measured because the operation of the circuit to be measured may differ depending on the method of measurement.

〔課題を解決するための手段] 第1図は本発明のカウント回路制御方式の原理図である
[Means for Solving the Problems] FIG. 1 is a diagram showing the principle of the counting circuit control system of the present invention.

上記の問題点は下記の如くに構成されたカウント回路制
御方式によって解決される。
The above problems are solved by a count circuit control system configured as follows.

被測定ユニッ1−(Vl)1と、測定ユニット(V2)
2とから構成される装置において、 上記被測定ユニッ1−(Vl)1中に設けられている複
数個の測定用カウンタ(R1,R2,〜) 11を、例
えば、最上位桁(R1−八、R2−Δ、 〜) 11.
11と、それ以外の部分(R1−B、 R2−8,〜)
 11bとに分割し、各測定用カウンタ(R1,R2,
〜)11の最上位桁は、該被測定ユニット(Vl)1の
動作中の値を、測定ユニット(V2)2から、特定の頻
度で読み出して、該測定ユニット(V2) 2内のメモ
リ(M) 23中の各測定用カウンタ(R1,R2,〜
)11に対応する領域の値に加算し、 該被測定ユニン1−(Vl)1の動作停止後において、
上記各測定用カウンタ(R1,R2,〜)11の最上位
桁(R1−A、R2−A、 〜) 11a以外の部分(
R113、R2−B 。
Unit to be measured 1-(Vl)1 and measurement unit (V2)
2, a plurality of measurement counters (R1, R2, ~) 11 provided in the unit to be measured 1-(Vl) 1 are, for example, the most significant digit (R1-8). , R2-Δ, ~) 11.
11 and other parts (R1-B, R2-8, ~)
11b, and each measurement counter (R1, R2,
The most significant digit of 11 reads out the operating value of the unit under test (Vl) 1 from the measuring unit (V2) 2 at a specific frequency, and stores the value in the memory (V2) in the measuring unit (V2) 2 at a specific frequency. M) Each measurement counter in 23 (R1, R2, ~
)11, and after the operation of the measured unit 1-(Vl)1 has stopped,
The most significant digits (R1-A, R2-A, ~) of each of the above measurement counters (R1, R2, ~) 11. Parts other than 11a (
R113, R2-B.

〜)11bを読み出し、上記測定ユニッ)(V2)2内
のメモリ(M) 23上の上記対応する領域の値と合成
して、各測定用カウンタ(R1,R2,〜) 11の値
とするように構成する。
~) 11b is read and combined with the value of the corresponding area on the memory (M) 23 in the measurement unit (V2) 2 to obtain the value of each measurement counter (R1, R2, ~) 11. Configure it as follows.

〔作用〕[Effect]

即ち、本発明によれば、計算機システムを構成する被測
定ユニント内に設けられている複数個の性能測定用カウ
ンタの制御方式において、該被測定ユニット内の設けら
れている複数個の測定用カウンタの、例えば、最上位指
宿のオーバフローは、特定の時間以内には起こらないこ
とに着目し、それらの各カウンタを最上位桁(Ri−A
)と、それ以外の部分(Ri−[1)とに分割し、該被
測定ユニットが動作中は、測定ユニット、例えば、サー
ビスプロセッサ(SVP)から、該被測定ユニット内の
各測定用カウンタの、各々の最上位桁に桁上がりが行わ
れる最も短い周期より短い頻度で、複数個の最上位桁(
Ri−A)を周期的に読み出し、測定ユニット内のロー
カルメモリ(M)内の、各カウンタに対応する特定領域
の値に加算し、該読み出し後の上記最上位桁(Ri−A
)の値を°0゛に戻すことを繰り返すことで、各カウン
タの上位桁部分を、該メモリ上に構築する。
That is, according to the present invention, in a control method for a plurality of performance measurement counters provided in a unit to be measured constituting a computer system, a plurality of measurement counters provided in the unit to be measured constitute a computer system. For example, by focusing on the fact that the overflow of the most significant digit (Ri-A
) and the other part (Ri-[1), and while the unit under test is in operation, a measurement unit, for example, a service processor (SVP), sends information to each measurement counter in the unit under test. , multiple most significant digits (
The most significant digit (Ri-A) is read out periodically and added to the value of the specific area corresponding to each counter in the local memory (M) in the measurement unit.
) by repeating returning the value to 0, the upper digit part of each counter is constructed on the memory.

このとき、各測定用カウンタの最上位桁の値のバッファ
(Ri−C)は、各インクリメンタ(At)の最上位桁
より上位への桁上がりを、上記測定ユニットが各測定用
カウンタの上記最上位桁(Ri−A)を読み出し、0″
にクリアしている間、−時保持するように機能し、該測
定ユニットからのアクセスの終了後、該バッファ(Ri
−C)の値が最上位桁(R4−A)に移され、自らは“
0″に戻る。
At this time, the buffer (Ri-C) of the value of the most significant digit of each measurement counter is stored in the buffer (Ri-C) of the value of the most significant digit of each incrementer (At) by the measurement unit. Read the most significant digit (Ri-A) and set it to 0''
The buffer (Ri
-C) is moved to the most significant digit (R4-A), and itself is “
Return to 0''.

そして、該被測定ユニットの動作が停止した時点におい
て、各カウンタの上記最上位以外の部分(Ri −B)
を読み出し、上記測定ユニット内のローカルメモリ(M
)内に構築されている上位桁部分の値と合成することで
、各測定用カウンタの全桁の値とする。
Then, at the time when the operation of the unit under test stops, the portion of each counter other than the above-mentioned topmost part (Ri-B)
is read out and stored in the local memory (M
) is combined with the value of the upper digit part constructed within ) to obtain the value of all digits of each measurement counter.

従って、被測定ユニット内の各測定用カウンタのハード
ウェアの桁数は比較的少なくて、且つ、固定でもよく、
メモリ上に構築されている上位桁部分は、該メモリのビ
ット方向の大きさ迄許容されるので、上記比較的少ない
ハードウェアで、非常に大きな値をカウントできる。又
、カウンタ毎/測定毎に、柔軟に必要桁数を変更できる
効果がある。
Therefore, the number of hardware digits of each measurement counter in the unit under test is relatively small and may be fixed.
Since the upper digit part constructed on the memory is allowed up to the size of the memory in the bit direction, a very large value can be counted with the above-mentioned relatively small amount of hardware. Furthermore, there is an effect that the required number of digits can be changed flexibly for each counter/measurement.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の実施例を図面によって詳述する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

前述の第1図が本発明のカウント回路制御方式の原理図
であり、第2図が本発明の一実施例を示した図であって
、測定ユニッ1−(V2)2と被測定ユニッ1−(Vl
)1からなる装置において、被測定ユニッ1−(Vl)
1中の測定用カウンタ(Ri) 11を、例えば、最上
位桁(Ri−A) 11aと、それ以外の部分(Ri−
B) 11bとに分割し、該被測定ユニッ1−(Vl)
1が動作中は、該測定用カウンタ(R4) 11の最上
位桁(R1−Δ)11aを特定の頻度で読み出し、該測
定ユニット(V2)2内の記憶部(M)内の各測定用カ
ウンタ(R1)11に対応した領域に加算して上位桁を
構築し、該被測定ユニッ1−(Vl)1が動作を停止し
た時点において、各測定用カウンタ(Ri) 11の最
上位桁を除いた部分(R4−8)を読み出し、上記上位
桁と合成して、各カウンタの全桁の値を生成する手段が
本発明を実施するのに必要な手段である。
The above-mentioned FIG. 1 is a principle diagram of the counting circuit control method of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention. -(Vl
) 1, the unit to be measured 1-(Vl)
For example, the measurement counter (Ri) 11 in 1 is divided into the most significant digit (Ri-A) 11a and the other part (Ri-A).
B) divided into 11b and the unit to be measured 1-(Vl)
1 is in operation, the most significant digit (R1-Δ) 11a of the measurement counter (R4) 11 is read at a specific frequency, and each measurement counter in the storage section (M) in the measurement unit (V2) 2 is read out. The most significant digit of each measurement counter (Ri) 11 is constructed by adding it to the area corresponding to the counter (R1) 11, and when the unit under test 1-(Vl)1 stops operating. Means for reading the removed portion (R4-8) and combining it with the above-mentioned upper digits to generate values for all digits of each counter is necessary for carrying out the present invention.

以下、第1図を参照しながら、第2図によって本発明の
カウント回路制御方式を説明する。
Hereinafter, the counting circuit control system of the present invention will be explained with reference to FIG. 2 while referring to FIG.

第2図において、Pl、R2,−・13が当該被測定ユ
ニット、例えば、計算機システムの本体装置に設けられ
ている被測定回路で、前述のプログラム実行時によく使
用されるハードウェア回路であり、本発明は、該被測定
回路(PI、R2,−・)13がプログラムの実行時に
、何回動作したかをカウントする時のカウント動作に関
係している。
In FIG. 2, Pl, R2, -.13 are the measured circuits provided in the unit to be measured, for example, the main unit of the computer system, and are hardware circuits often used when executing the above-mentioned program. The present invention relates to a counting operation for counting how many times the circuit under test (PI, R2, -.) 13 operates during program execution.

そして、本発明においては、前述のように、各測定用カ
ウンタ(Ri) 11は、例えば、最上位桁(Ri−A
) 11aと、それ以外の部分(Ri−B) 11bと
に分割されて構成されている。
In the present invention, as described above, each measurement counter (Ri) 11 has, for example, the most significant digit (Ri-A
) 11a and the other part (Ri-B) 11b.

今、被測定ユニット(mlにおいて、プログラムが実行
され、被測定回路(Pi) 13の何らかの変化に対し
て、制御回路(R1)12が測定用カウンタ(Ri) 
11を制御して、カウンタ値を増加させるように機能す
る。
Now, the program is executed in the unit under test (ml), and in response to any change in the circuit under test (Pi) 13, the control circuit (R1) 12 sets the measurement counter (Ri).
11 to increase the counter value.

測定ユニノ1−(V2)2、例えば、計算機システムの
サービスプロセッサ(SVP)の中央処理装置(CPU
)21は、読み出し/書き込み回路(E) 22を介し
て、被測定ユニット(Vl) 1の測定用カウンタ(I
li)11の最上位桁(R4−A) 11aを、例えば
、公知のスキャンイン・アウト機構で、順次読み出し、
記憶部(M) 23内に保持している各測定用カウンタ
(Ri)11に対応した上位桁の値に、新しい桁上がり
値を加算(“+1”)し、該最上位桁(Ri−八)11
aの値を0°に戻す。
Measurement unit 1-(V2)2, for example, a central processing unit (CPU) of a service processor (SVP) of a computer system.
) 21 is connected to the measurement counter (I) of the unit under test (Vl) 1 via the read/write circuit (E) 22.
li) Read out the most significant digit (R4-A) 11a of 11 sequentially, for example, by a known scan-in/out mechanism,
The new carry value is added (“+1”) to the value of the upper digit corresponding to each measurement counter (Ri) 11 held in the storage unit (M) 23, and the value of the upper digit (Ri−8) is )11
Return the value of a to 0°.

各測定用カウンタ(Ri) 11のバッファ(Ri−C
) 11cは、測定ユニッI−(V2)2から上記最上
位桁(R4A) 11aをアクセスしている時に、加算
器(Ai) 11dから出力された桁上がり値を一時保
持し、咳測定ユニッ1−(V2)2からのアクセスが終
了した後において、その値を上記最上位桁(Ili−A
) 11aに移し、自らは“0°となるように動作する
Each measurement counter (Ri) 11 buffers (Ri-C
) 11c temporarily holds the carry value output from the adder (Ai) 11d when the most significant digit (R4A) 11a is accessed from the measurement unit I-(V2)2, and uses it in the cough measurement unit 1. - (V2) After the access from 2 is completed, the value is transferred to the most significant digit (Ili-A
) 11a, and operates so that it is at "0°".

上記の動作を、該被測定ユニット(Vl)■が動作中繰
り返して行うが、その周期は、各測定用カウンタ(R4
) 11の全ての最上位桁(Ri−A) 11aが該測
定用カウンタ(R4) 11内で1回更新(即ち、加算
器(インクリメンタ)11dからの桁上がりがくる)さ
れる間に、最低1回は測定ユニット(V2)2から、該
最上位桁(Ri−A) 11aの値を読み出すように設
定される。 (例えば、最も早い測定用カウンタ(Ri
) 11の更新周期以下とする。)このようにして、該
被測定ユニッ1−(Vl)1が動作を停止した(即ら、
プログラムの実行が終了した)後、測定ユニット(V2
)2の中央処理装置(CPU)21から、上記最上位桁
を除いた部分(Ri−B) 11bを読み出し、上記記
憶部(M) 23内の対応する上位桁の値と合わせて、
各測定用カウンタ(Ri) 11の全桁の値とする。
The above operation is repeated while the unit under test (Vl) is in operation, and the period is determined by each measurement counter (R4).
) While all the most significant digits (Ri-A) 11a of 11 are updated once in the measurement counter (R4) 11 (that is, a carry from the adder (incrementer) 11d comes), The value of the most significant digit (Ri-A) 11a is set to be read out from the measurement unit (V2) 2 at least once. (For example, the earliest measurement counter (Ri
) 11 update cycles or less. ) In this way, the unit under test 1-(Vl)1 has stopped operating (i.e.,
After the program execution has finished), the measurement unit (V2
) 2's central processing unit (CPU) 21, the part (Ri-B) 11b excluding the most significant digit is read out, and combined with the value of the corresponding upper digit in the storage unit (M) 23,
Each measurement counter (Ri) shall be the value of all 11 digits.

このとき、前述のバッファ(Ri−C) 11cに値が
残っていれば、上記最上位桁(R4−^)11aに移し
て、各カウンタ(Ri) 11に対応した上位桁に加算
する必要があるので、実際には、該被測定ユニッ1−(
Vl) 1が動作を停止した後に、上記最上位桁を除い
た部分(Ri−B) Ilbを読み出す前に、該最上位
桁(Ri−A) 11aを読み出すように機能させる。
At this time, if the value remains in the buffer (Ri-C) 11c, it must be moved to the most significant digit (R4-^) 11a and added to the most significant digit corresponding to each counter (Ri) 11. Therefore, in reality, the measured unit 1-(
After Vl) 1 stops operating, the most significant digit (Ri-A) 11a is read out before reading out the portion (Ri-B) Ilb excluding the most significant digit.

このようにして、各測定用カウンタ(Ili) 11の
全桁の値を知ることができる。
In this way, the values of all digits of each measurement counter (Ili) 11 can be known.

このように、本発明は、測定ユニット(V2) 2と被
測定ユニッl−(mlからなる装置において、被測定ユ
ニット(Vl)1中の測定用カウンタ(R4) 11を
、例えば、最上位桁(Ri−A) 11aと、それ以外
の部分(Ri−B) Ilbとに分割し、該被測定ユニ
ッ1−(Vl)1が動作中は、該測定用カウンタ(Ri
) 11の最上位桁(R4−A) 11aを特定の頻度
で読み出し、該測定ユニット(V2)2内の記憶部(M
)内の各測定用カウンタ(Ri) 11に対応した領域
に加算して上位桁を構築し、該被測定ユニット(Vl)
■が動作を停止した時点において、各測定用カウンタ(
Ri) 11の最上位桁を除いた部分(Ri−B)を読
み出し、上記上位桁と合成して、各カウンタの全桁の値
を生成するようにした所に特徴がある。
As described above, the present invention provides a device comprising a measurement unit (V2) 2 and a unit to be measured (ml), in which the measurement counter (R4) 11 in the unit to be measured (Vl) 1 is set to the most significant digit. (Ri-A) 11a and other parts (Ri-B) Ilb, and when the unit to be measured 1-(Vl)1 is in operation, the measurement counter (Ri
) The most significant digit (R4-A) 11a of 11 is read out at a specific frequency, and the storage section (M
) is added to the area corresponding to each measurement counter (Ri) 11 to construct the upper digits, and the unit to be measured (Vl)
When ■ stops operating, each measurement counter (
Ri) 11 except for the most significant digit (Ri-B) is read out and combined with the above-mentioned most significant digit to generate values for all digits of each counter.

尚、上記の実施例において、最上位桁を除いた部分(1
7i−B) 11bが、測定用カウンタ(Ri) 11
毎に異なっていてもよいことはいう迄もないことである
In the above embodiment, the part excluding the most significant digit (1
7i-B) 11b is a measurement counter (Ri) 11
It goes without saying that it may be different for each case.

又、上記の実施例では、上位桁が1桁、即ち、それが、
最上位桁である場合について説明したが、これに限定さ
れるものでないことはいう迄もないことである。
Also, in the above embodiment, the upper digit is one digit, that is, it is
Although the case where it is the most significant digit has been described, it goes without saying that the case is not limited to this.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳細に説明したように、本発明のカウント回路制
御方式は、被測定ユニット(Vl)と、測定ユニッl−
(V2)とから構成される装置、例えば、計算機システ
ムを構成する上記被測定ユニット(Vl)内に設けられ
ている複数個の性能測定用カウンタを計測するのに、上
記被測定ユニット(ν1)中に設けられている複数個の
測定用カウンタ(R1,R2−)を、例えば、最上位桁
(R1−A 、 R2−A 、〜)とそれ以外の部分(
1?1−B、R2−8,〜)とに分割し、各測定用カウ
ンタ(R1,R2,〜)の最上位桁は、該被測定ユニッ
ト(mの動作中の値を、測定ユニット(V2)から、特
定の頻度で読み出して、該測定ユニット(V2)内のメ
モリ(R1中の各測定用カウンタ(R1、R2,〜)に
対応する領域の値に加算し、該被測定ユニット(VL)
の動作停止後において、上記各測定用カウンタ(R1,
R2,〜)の最上位桁(R1−A、 R2−A〜)以外
の部分(R1−B、 R2−B、〜)を読み出し、上記
測定ユニット(V2)内の上記メモリ(M)上の上記対
応する領域の値と合成して、各測定用カウンタ(R1,
R2,〜)の値とするようにしたものであるので、被測
定ユニット内の各測定用カウンタのハドウエアの桁数は
比較的少なくてよく、メモリ上に構築されている上位桁
部分は、該メモリのビット方向の大きさ迄許容されるの
で、上記比較的少ないハードウェアで、非常に大きな値
をカウントできる。又、カウンタ毎/測定毎に、柔軟に
必要桁数を変更できる効果がある。
As explained above in detail, the count circuit control method of the present invention is applicable to the unit under test (Vl) and the measuring unit l-
(V2), for example, to measure a plurality of performance measurement counters provided in the unit under test (Vl) constituting a computer system, the unit under test (ν1) For example, the plurality of measurement counters (R1, R2-) provided therein are divided into the most significant digits (R1-A, R2-A, ~) and the other parts (
1?1-B, R2-8, ~), and the most significant digit of each measurement counter (R1, R2, ~) indicates the value of the measuring unit (m) during operation. V2) at a specific frequency and add it to the value in the area corresponding to each measurement counter (R1, R2, ~) in the memory (R1) in the measurement unit (V2), and VL)
After the operation of each of the above measurement counters (R1,
Read out the parts (R1-B, R2-B, ~) other than the most significant digits (R1-A, R2-A~) of R2,~), and store them on the memory (M) in the measurement unit (V2). Combined with the values of the corresponding areas above, each measurement counter (R1,
R2, ~), the number of hardware digits for each measurement counter in the unit under test is relatively small, and the upper digits built on the memory are Since it is permissible up to the size of the memory in the bit direction, very large values can be counted with the relatively small amount of hardware mentioned above. Furthermore, there is an effect that the required number of digits can be changed flexibly for each counter/measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のカウント回路制御方式の原理図。 第2図は本発明の一実施例を示した図。 第3図は従来のカウント回路制御方式を説明する図。 である。 いた部分(Ri−8) 11cはバンフy (Ri−C)。 lidは加算器(Ai)、又は、インクリメンタ。 12は制御回路(Qi) 、   13は被測定回路(
Pi)。 2は測定ユニット(V2) 、又は、サービスプロセッ
サ(SVP) 21は中央処理装置(CPU)。 22は読み出し/書き込み回路(E)。 23は記憶部(M)、又は、ローカルメモリ(M)、又
は、メモリ(り をそれぞれ示す。 図面において、 1は被測定ユニッI−(Vl)、又は、計算機システム
の本体装置。 11は測定用カウンタ(Ri) 11aは測定用カウンタ(Ri)の最上位桁(Ri−^
)。
FIG. 1 is a principle diagram of the counting circuit control method of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram explaining a conventional count circuit control method. It is. Part (Ri-8) 11c is Banff y (Ri-C). lid is an adder (Ai) or an incrementer. 12 is a control circuit (Qi), 13 is a circuit under test (
Pi). 2 is a measurement unit (V2) or a service processor (SVP); 21 is a central processing unit (CPU); 22 is a read/write circuit (E). Reference numeral 23 indicates a storage unit (M), a local memory (M), or a memory, respectively. In the drawings, 1 indicates a unit to be measured I-(Vl) or a main unit of the computer system. 11 indicates a measurement unit. Measurement counter (Ri) 11a is the most significant digit (Ri-^) of the measurement counter (Ri).
).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被測定ユニット(V1)(1)と、測定ユニット(V2
)(2)とから構成された装置において、 上記被測定ユニット(V1)(1)中に設けられている
複数個の測定用カウンタ(R1、R2、〜)(11)を
、上位桁(R1−A、R2−A、〜)(11a)と、そ
れ以外の部分(R1−B、R2−B、〜)(11b)と
に分割し、各測定用カウンタ(R1、R2、〜)(11
)の上位桁は、該被測定ユニット(V1)(1)の動作
中の値を、測定ユニット(V2)(2)から、特定の頻
度で読み出して、該測定ユニット(V2)(2)内のメ
モリ(M)(23)中の各測定用カウンタ(R1、R2
、〜)(11)に対応する領域の値に加算し、 該被測定ユニット(V1)(1)の動作停止後において
、上記各測定用カウンタ(R1、R2、〜)(11)の
上位桁(R1−A、R2−A、〜)(11a)以外の部
分(R1−B、R2−B、〜)(11b)を読み出し、
上記測定ユニット(V2)(2)内のメモリ(M)(2
3)上の上記対応する領域の値と合成して、各測定用カ
ウンタ(R1、R2、〜)(11)の値とするように制
御することを特徴とするカウント回路制御方式。
[Claims] Unit to be measured (V1) (1) and measuring unit (V2)
) (2), a plurality of measurement counters (R1, R2, ~) (11) provided in the unit to be measured (V1) (1) are connected to the upper digits (R1 -A, R2-A, ~) (11a) and other parts (R1-B, R2-B, ~) (11b), each measurement counter (R1, R2, ~) (11
The upper digit of ) indicates that the value during operation of the unit under test (V1) (1) is read out from the measurement unit (V2) (2) at a specific frequency, and the value in the measurement unit (V2) (2) is Each measurement counter (R1, R2) in the memory (M) (23)
, ~) (11), and after the unit under test (V1) (1) stops operating, the upper digits of each measurement counter (R1, R2, ~) (11) are added to the value of the area corresponding to (11). Read out the part (R1-B, R2-B, ~) (11b) other than (R1-A, R2-A, ~) (11a),
Memory (M) (2) in the above measurement unit (V2) (2)
3) A count circuit control method characterized by controlling the value of each measurement counter (R1, R2, -) (11) by combining it with the value of the corresponding area above.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006109728A1 (en) * 2005-04-11 2006-10-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. System performance profiling device

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