JPH02137724A - 超電導薄膜 - Google Patents
超電導薄膜Info
- Publication number
- JPH02137724A JPH02137724A JP63291218A JP29121888A JPH02137724A JP H02137724 A JPH02137724 A JP H02137724A JP 63291218 A JP63291218 A JP 63291218A JP 29121888 A JP29121888 A JP 29121888A JP H02137724 A JPH02137724 A JP H02137724A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- barium
- superconducting
- elements
- silicon substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 61
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 25
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 22
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims abstract description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000002603 lanthanum Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 abstract description 11
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 241001197925 Theila Species 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、エトロニクス用素子に応用される超電導薄膜
、特にバリウムを含む酸化物超電導薄膜に関するもので
ある。
、特にバリウムを含む酸化物超電導薄膜に関するもので
ある。
従来の技術
Y−Ba−Cu−0系が超電導転移温度90Kをこえる
高温の超電導体であることが最近提案された[ M 、
K 、Wu等、フィジカル レビュー レターズ(Ph
ysical Revlew Letters) Vo
l、5B、No、9,908−910 (+987)]
。これにより液体窒素の沸点(77K)よりも高くなっ
たことで実用化が有望となってきた。また、100に以
上で超電導体となるBi −8r−Ca−Cu−0系材
料やTl−Ba−Ca−Cu−0系材料が相次いで発見
された。これら酸化物超電導材料の超電導機構の詳細は
明かではないが、転移温度が室温以上に高くなる可能性
があり、高温超電導体として従来の2元系化合物より、
より有望な特性が期待される。
高温の超電導体であることが最近提案された[ M 、
K 、Wu等、フィジカル レビュー レターズ(Ph
ysical Revlew Letters) Vo
l、5B、No、9,908−910 (+987)]
。これにより液体窒素の沸点(77K)よりも高くなっ
たことで実用化が有望となってきた。また、100に以
上で超電導体となるBi −8r−Ca−Cu−0系材
料やTl−Ba−Ca−Cu−0系材料が相次いで発見
された。これら酸化物超電導材料の超電導機構の詳細は
明かではないが、転移温度が室温以上に高くなる可能性
があり、高温超電導体として従来の2元系化合物より、
より有望な特性が期待される。
これら酸化物超電導材料をエレクトロニクス素子として
実用化する場合、薄膜化が強く要望される。特に、この
種の材料の半導体上への薄膜化は、超電導体素子と半導
体素子との集積化や配線などに利用することができるだ
けでな(、超電導と半導体を用いた新しい素子を実現す
る可能性もあり、その応用範囲は広い。このため、SL
基板上に超電導薄膜を形成する試みが行われている。
実用化する場合、薄膜化が強く要望される。特に、この
種の材料の半導体上への薄膜化は、超電導体素子と半導
体素子との集積化や配線などに利用することができるだ
けでな(、超電導と半導体を用いた新しい素子を実現す
る可能性もあり、その応用範囲は広い。このため、SL
基板上に超電導薄膜を形成する試みが行われている。
発明が解決しようとする課題
しかし、現在のところ、酸化物超電導薄膜を形成するた
めには、基板を600°Cかそれ以上に上げる必要があ
る。このため、単結晶St基板上に直接酸化物超電導体
を成膜しようした場合、酸化物超電導体の構成元素であ
るバリウムがシリコンと反応し第2図に示すように基板
のシリコンとの界面近傍に析出するため、緻密でかつ平
坦で特性の良好な超電導薄膜は形成されにくい。
めには、基板を600°Cかそれ以上に上げる必要があ
る。このため、単結晶St基板上に直接酸化物超電導体
を成膜しようした場合、酸化物超電導体の構成元素であ
るバリウムがシリコンと反応し第2図に示すように基板
のシリコンとの界面近傍に析出するため、緻密でかつ平
坦で特性の良好な超電導薄膜は形成されにくい。
課題を解決するための手段
シリコンとバリウムの反応を抑えるため、シリコン基体
上に、前記シリコン基体に接した第1の薄膜と、前記第
1の薄膜に接した第2の薄膜を具備した超電導薄膜にお
いて、前記第1の薄膜と第2の薄膜がバリウムを含む同
一の構成元素からなり、かつ少なくとも前記第2の薄膜
が超電導特性を示し、かつ前記第1の薄膜中のバリウム
の含有量が前記第2の薄膜中のバリウムの含有量よりも
少なくなるような構成にする。
上に、前記シリコン基体に接した第1の薄膜と、前記第
1の薄膜に接した第2の薄膜を具備した超電導薄膜にお
いて、前記第1の薄膜と第2の薄膜がバリウムを含む同
一の構成元素からなり、かつ少なくとも前記第2の薄膜
が超電導特性を示し、かつ前記第1の薄膜中のバリウム
の含有量が前記第2の薄膜中のバリウムの含有量よりも
少なくなるような構成にする。
作用
シリコン上に、先ずバリウムの濃度が通常の酸化物超電
導体よりも少ない酸化物を形成するため基板のシリコン
とバリウムの反応を抑えることができる。このうえに良
好な超電導特性を示す組成の酸化物薄膜を形成するため
、シリコン上に良好な超電導薄膜を容易に作成すること
ができる。
導体よりも少ない酸化物を形成するため基板のシリコン
とバリウムの反応を抑えることができる。このうえに良
好な超電導特性を示す組成の酸化物薄膜を形成するため
、シリコン上に良好な超電導薄膜を容易に作成すること
ができる。
実施例
本発明の実施例を図面を用いて説明する。
シリコン基板11上に、第1の薄膜として例えば、Y
−B a −Cuからなる酸化物を、高周波プレナーマ
グネトロンスパッタにより、焼結したYBapcua、
sox ターゲットをArと02の混合ガス雰囲気でス
パッタリング蒸着する。このときのスパッタ条件は、A
rと02のガス混合比は1:3、混合ガス圧力は0.4
Pa1 スパッタリング電力は130W、 基体温度
は600″Cであり、薄膜の膜厚は10nmである。こ
の薄膜12の組成Y−Ba−Cuは、通常の良好な超電
導特性を示す組成である1−2−3に比べてバリウムの
量がかなり少なくなっている。
−B a −Cuからなる酸化物を、高周波プレナーマ
グネトロンスパッタにより、焼結したYBapcua、
sox ターゲットをArと02の混合ガス雰囲気でス
パッタリング蒸着する。このときのスパッタ条件は、A
rと02のガス混合比は1:3、混合ガス圧力は0.4
Pa1 スパッタリング電力は130W、 基体温度
は600″Cであり、薄膜の膜厚は10nmである。こ
の薄膜12の組成Y−Ba−Cuは、通常の良好な超電
導特性を示す組成である1−2−3に比べてバリウムの
量がかなり少なくなっている。
上記第1の薄膜12を付着させた後、Arと02のガス
混合比だけを2= 1に変えて第2の薄膜13を形成し
た。膜厚は0.5μmである。
混合比だけを2= 1に変えて第2の薄膜13を形成し
た。膜厚は0.5μmである。
酸化膜13を形成後、500Paの酸素雰囲気中におい
て室温まで冷却し、大気中にて取り出した。この第2の
薄膜13の組成Y−Ba−Cuはほぼ1−2−3であっ
た。このようにして得られた第2の薄膜13は超電導を
示し、その転移温度はオンセット89 Kで、オフセッ
ト75にであった。また、バリウムはシリコンとの相互
反応が抑制されており、界面でのバリウムの析出はなか
った。
て室温まで冷却し、大気中にて取り出した。この第2の
薄膜13の組成Y−Ba−Cuはほぼ1−2−3であっ
た。このようにして得られた第2の薄膜13は超電導を
示し、その転移温度はオンセット89 Kで、オフセッ
ト75にであった。また、バリウムはシリコンとの相互
反応が抑制されており、界面でのバリウムの析出はなか
った。
第1の薄膜及び第2の薄膜の構成元素として、Y(イツ
トリウム)、Ba(バリウム)、Cu(銅)からなる酸
化物以外に、元素のモル比率が0゜5≦(A十Ba)/
Cu≦2゜5 であるへ元素、Ba(バリウム)およびCu(銅)を含
む酸化物を用いてもよい。ここに、AはB1、T11
Pb1 Scおよびランタン系列元素(原子番号57〜
71)のうち少なくとも一種の元素を示す。また、バリ
ウムを含む酸化物において、バリウムの一部をIla族
の元素のうち少なくとも一種の元素で置き換えた酸化物
でもよい。
トリウム)、Ba(バリウム)、Cu(銅)からなる酸
化物以外に、元素のモル比率が0゜5≦(A十Ba)/
Cu≦2゜5 であるへ元素、Ba(バリウム)およびCu(銅)を含
む酸化物を用いてもよい。ここに、AはB1、T11
Pb1 Scおよびランタン系列元素(原子番号57〜
71)のうち少なくとも一種の元素を示す。また、バリ
ウムを含む酸化物において、バリウムの一部をIla族
の元素のうち少なくとも一種の元素で置き換えた酸化物
でもよい。
発明の効果
本発明によりシリコン上に酸化物超電導薄膜を容易に形
成することができるため、超電導薄膜の基板としてMg
Oや5rTi03等の高価な基板でなく、安価で大面積
の基板であるシリコンを用いることかできる。また、直
接シリコン上に超電導薄膜を形成することができるため
、シリコンと超電導との接合を用いた新しい機能素子を
作成することが可能となる。
成することができるため、超電導薄膜の基板としてMg
Oや5rTi03等の高価な基板でなく、安価で大面積
の基板であるシリコンを用いることかできる。また、直
接シリコン上に超電導薄膜を形成することができるため
、シリコンと超電導との接合を用いた新しい機能素子を
作成することが可能となる。
第1図は本発明の一実施例の超電導体構造物の基本構成
図、第2図は従来のシリコン上の酸化物薄膜のオージェ
電子分光分析界面特性図である。 11・・・シリコン基体、12・・・第1の薄膜、13
・・・第2の薄膜。
図、第2図は従来のシリコン上の酸化物薄膜のオージェ
電子分光分析界面特性図である。 11・・・シリコン基体、12・・・第1の薄膜、13
・・・第2の薄膜。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)シリコン基体上に、前記シリコン基体に接した第
1の薄膜と、前記第1の薄膜に接した第2の薄膜を具備
した超電導薄膜において、前記第1の薄膜と第2の薄膜
がバリウムを含む同一の構成元素からなり、かつ少なく
とも前記第2の薄膜が超電導特性を示し、かつ前記第1
の薄膜中のバリウムの含有量が前記第2の薄膜中のバリ
ウムの含有量よりも少ないことを特徴とする超電導薄膜
。 (2)第1の薄膜及び第2の薄膜の構成元素として、元
素のモル比率が 0.5≦(A+Ba)/Cu≦2.5 であるA元素、Ba(バリウム)およびCu(銅)を含
む酸化物を用いることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の超電導薄膜。 ここに、AはBi、Tl、Pb、Sc、Yおよびランタ
ン系列元素(原子番号57〜71)のうち少なくとも一
種の元素を示す。 (3)バリウムを含む酸化物において、バリウムの一部
をIIa族の元素のうち少なくとも一種の元素で置き換え
ることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の超電導
薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63291218A JP2517085B2 (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 超電導薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63291218A JP2517085B2 (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 超電導薄膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02137724A true JPH02137724A (ja) | 1990-05-28 |
JP2517085B2 JP2517085B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=17765998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63291218A Expired - Fee Related JP2517085B2 (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 超電導薄膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2517085B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5350893A (en) * | 1992-07-23 | 1994-09-27 | Yazaki Corporation | Lever switch |
US5457443A (en) * | 1992-03-30 | 1995-10-10 | Yazaki Corporation | Multifunctional combination switch |
US6006624A (en) * | 1997-06-30 | 1999-12-28 | Niles Parts Co., Ltd. | Lever switch for a vehicle |
-
1988
- 1988-11-17 JP JP63291218A patent/JP2517085B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5457443A (en) * | 1992-03-30 | 1995-10-10 | Yazaki Corporation | Multifunctional combination switch |
US5350893A (en) * | 1992-07-23 | 1994-09-27 | Yazaki Corporation | Lever switch |
US6006624A (en) * | 1997-06-30 | 1999-12-28 | Niles Parts Co., Ltd. | Lever switch for a vehicle |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2517085B2 (ja) | 1996-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5179070A (en) | Semiconductor substrate having a superconducting thin film with a buffer layer in between | |
AU614606B2 (en) | Semiconductor substrate having a superconducting thin film, and a process for producing the same | |
JPH02137724A (ja) | 超電導薄膜 | |
EP0323342B1 (en) | A semiconductor substrate having a superconducting thin film | |
EP0323345B1 (en) | A semiconductor substrate having a superconducting thin film | |
US5221660A (en) | Semiconductor substrate having a superconducting thin film | |
JPH01280380A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JP2797186B2 (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
EP0366510B2 (en) | Process for preparing superconductor of compound oxide of Bi-Sr-Ca-Cu system | |
JPH01280382A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280379A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JP3258824B2 (ja) | 金属酸化物材料、それを用いた超伝導接合素子及び超伝導素子用基板 | |
JP2931779B2 (ja) | 超電導素子 | |
JPH01280377A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280376A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280378A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280372A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280370A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JP3284010B2 (ja) | 金属酸化物材料及びそれを用いた超伝導デバイス | |
JPH01280371A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280374A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280373A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280381A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01280369A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
JPH01170078A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |