JPH02132567A - 2値化回路 - Google Patents

2値化回路

Info

Publication number
JPH02132567A
JPH02132567A JP28561988A JP28561988A JPH02132567A JP H02132567 A JPH02132567 A JP H02132567A JP 28561988 A JP28561988 A JP 28561988A JP 28561988 A JP28561988 A JP 28561988A JP H02132567 A JPH02132567 A JP H02132567A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
gradation value
contrast
image
interest
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28561988A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiaki Miyagawa
宮川 道明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP28561988A priority Critical patent/JPH02132567A/ja
Publication of JPH02132567A publication Critical patent/JPH02132567A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、パターン認識技術を利用して各種部品(ワー
ク)の傷,形状を検査する自動外観検査装置、特にその
2直化回路に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の回路としては、二次元撮像装置(例えば
TVカメラ)の出力を適宜に増幅したのち、TVカメラ
からの信号を固定のしきい値で比較する固定2値化回路
と、カメラからの信号をCR不完全積分回路を介して得
た信号をしきい値とし、ζれをカメラ信号と比較する浮
動2直化回路が代表的なものとして知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、傷検査等ではワークがベルトコンベア等で連
続的に搬送されるのが一般的であシ、また憂検啼岬慰欠
陥部分が小さく、かつ欠陥部分と正常部分とのコントラ
ストが小さいものが多い。
したがって、TVカメラから得られる信号も正常部分と
欠陥部分とのコントラストが小さく、従来の2値化回路
では、これらの傷の検出が困難な場合が多いと云う大き
な問題があった。なお、従来から検出困難な傷不良の代
表的なものとして、食品や薬品容器に付着した髪の毛、
または金属等の引っ掻き傷などがある。
したがって、本発明は従来から検出困難とされていた傷
を、ワークが連続的に移動する場合でも高精度に検出す
ることが可能な2値化回路を提供することを目的とする
〔課題を解決するための手段〕 こ〜では主として移動物体を対象とすることから、ワー
クがTVカメラの視野内に入ったときの1フレームの信
号のみを有効とし、判定の対象とする。すなわち,TV
カメラの信号を画素分割し、各画素に対してTVカメラ
の信号をA/D変換(例えばsbit)1,て洟淡画像
として捉え、この濃淡画像に対し信号強調演算を行なっ
て、傷等のコントラストを強調する。信号強調の方法と
しては、従来検出困難であった傷の代表的なものが線状
の特徴をもつこと、即ち方向性をもつことに着目し、線
状の濃淡があればこれを強調する手法としている。この
ため、着目画素ijの濃淡IiiSoとmXmの2次近
傍周辺の画素の濃淡値S,〜Smに対し、4方向の(線
状)複数画素の組合せに分割し、各方向に対して積和演
算を行ない、4方向の演算値の中で最も濃淡値の小さい
(tたは大きい)直を検出し、その値を着目点i3の鏝
淡として強調する。この操作を全ての画像につき実行し
てコントラスト強調画像とする。
このように、二次元局部面mXmの4方向別の濃淡の積
和をとシ、その内の最小濃淡値(黒キズ対象のときで、
白キズのときは最大濃淡値とする。)をとるので、キズ
が存在したときキズの方向に油って午ズ濃度を積分する
効果を有し、無欠陥部にはノイズを減少させる効果を有
するので、S/Nが向上してコントラスト強調が行なわ
れる。このコントラスト強調された画像(信号強調画像
)データをベースにして、キズ検出のための二次元空間
演算を行ない、高精度にキズの検出を行なう。
この信号強調後のキズ検査の空間演算としては、キズ個
所が正常個所に比べて谷(黒キズの場合)または山(白
キズの場合)を形成することに着目し、二次元局部面n
Xnに対して着目点iJの濃度が、点ijを挾む周辺2
画素の濃度に比べて共に低い(谷)か高い(山)かを調
べ、谷または山があったらキズと検出する。
〔作用〕
(1)撮像装置を介して得られる濃淡画像に対し、mX
mの二次元局部メモリによる二次元局部空間について、
着目点を中心として複数方向に分割し、その各々の方向
について、複数画素Nの濃淡値の積和をとる。したがっ
て、キズがあればキズの濃淡はN倍の深さでコントラス
ト強調され、無欠陥部であればノイズは1/V『となシ
、信号強調と同時にノイズ除去がなされ、高S/Nとな
る。
(2)方向別K複数画素の積和をとるので、従来検出困
難であった線状のキズに沿ってコントラストが拡大され
、単一画素の濃度のみに頼る従来方式よシも著しく検出
感度が向上する。
(3)画素の方向を複数(4つ)方向にとるので、発生
するキズの方向に無関係にコントラスト強調される。
(4)着目点画素のデータとして、方向別に求めた積和
濃淡直に対し、最小濃淡直(黒キズ)または最大濃淡値
(白キズ)を与える濃淡値を着目点ljの強調濃淡値と
するので、キズのコントラスト強調が高精度にできる。
(5)以上のコントラスト強調を、2次元局部メモリを
使用して有効画面全体に掛けるので、有効画面全体にコ
ントラスト強調ができる。
(6)信号強調(コントラスト強調)した濃淡画像デー
タK対し、nxnの2次元濃淡局部メモリによシ二次元
局部空間に対して空間濃度演算を行ない、キズ検出゛を
するので、有効画面全域にわたり精度の高い検出ができ
る。
(7)キズ検出演算として、着目点を挾む両側の画素と
の関係から谷または山検出を行ない、これを各方向の成
分について実行するので、線状のキズに対しても高精度
の検出ができる(一方向に濃度が傾斜しているものは検
出しないので、検出精度が著しく向上する。)。
(8)以上の処理を、TVカメラ内にワークが入った1
フレームの信号のみを使って実行するので、移動物体に
対しても充分に対処できる。
(9)高速処理向きの手法なので、検出処理時間が短く
てすむ。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、1はコンベア、2はワーク(物品)、3は
位置センサ、4は判定タイミング回路、5はTV,l?
、6は増幅器(AMP)、7は画面分割回路、8はアナ
ログ/ディジタル(A/D )変換器、9,9人は濃淡
2次元局部メモリ、10は方向別積和演算回路、11は
最小/最大濃淡値検出回路、12は空間微分2値化回路
、13は着目点濃淡検出回路、14は固定2筺化回路、
15はタイミング調整回路、16は論理積回路、17は
認識回路である。
まず、TVカメラ5でコンベア1上を常時撮像し、ワー
ク(物品)2がTVカメラ5の視野内の適切な位置に到
着したことを、位置センサ3で検知する。TVカメラの
信号(撮像信号)は増幅器6を介して常時適切な値に増
幅される。画面分割回路7では、TVの走査線とそれに
同期した例えば12MHzの高周波クロツクにより、T
V信号を空間的に多数の画素(例えば512X512)
に離散化すると同時に、各画素に対応するアナログ信号
をサンプルホールドする。判定タイミング回路4は、位
置センサ3の信号を受けてワーク2がTVカメラ視野内
に入ったことを知り、TVカメラとのタイミングをとっ
て1フレーム期間だけ有効期間信号として出力する。回
路7はこの指令を受けて、1フレーム期間だけ信号を出
力する。A/D変換回路8はTVカメラからの画像信号
を例えば8ビットに多値化し、濃淡画像を得る。この多
[[11像データをmXm(ex.3X5)の8ビット
の濃淡2次元局部メモリ9に入力し、二次元局部面の濃
度を並列に出力する。第2因に3×3の場合の局部空間
の例を示す。なお、同図のS。−88は各画素の濃淡直
を示している。
次に、方向別積和演算回路10と最小/最大濃淡値検出
回路11によシ、着目点画素ijの濃度Soと周辺画素
の濃度81〜S8とから所定の演算を行ない、コントラ
スト強調画像を得る。この操作を有効画面領域全域につ
いて行なう。これは、公知の2次元局部メモリを使うこ
とによシ自動的に実行される。この考え方を図示したの
が第3図で、オリジナル画像I。に対し、工。の着目点
1jと周辺画素(点線)の濃度に対して川数Fをかけ、
コントラスト強調画像ICを得る様子を示している。具
体的な】η数として、こ〜では、まず第2図のm X 
mの局部空間を第4図のA−A’e B−B’,C−C
’,D−D’のように着目点を中心とする4方向に分割
する。この4方向の(線状)画素について、方向別に複
数画素(3×3の実例では3画素)の濃度について積和
演算を行なう。積和の式としては、例えば次式がある。
A−A’方向について、 S1+kSo+S5−SijA B−B’方向について、 S +kSo+S6腐SijB c−c’方向について、 S +kSo+S,=SB。
S D−D’方向について、 S +kSo+S8−SijD ・・・・・・(1) なお、kは重み係数であシ、1または2が採用される。
方向が予め定められているので、画素の組み合わせも一
義的に決定される。よって、例えば第5図のように、濃
淡2次元局部メモリ9の濃度値を濃淡抽出部21A〜2
1Dによυ方向別にラッチし、積和演算部22A〜22
Dによシ方向別に積和演算することによシ、(1)式の
演算を容易に行なうことができる。このように、濃度演
算した4組の濃度随に対し、回路11でその最小(黒キ
ズの場合)iたは最大(白キズの場合)濃度値を検出し
、着目点目のコントラスト強調画像とする。
こうして方向別の複数(腺状)囮素N画素の積和をとる
ことにより、もしキズがあればキズに沿って濃度が積分
されることから、キズ濃度はN倍に拡大し、無欠陥部の
ノイズは1/VWに縮少する。よって、高S/Nとなシ
、コントラストが強調されると同時K低ノイズ画面が形
成されることになる。この方向別(線状)画素の積和を
4方向で行ないその最小またVi最大濃度をとることに
ょυ、キズの方向性とは無関係にコントラスト強調がで
きる。以上はm X mとして3×6の場合を例示した
が、5×5とすればNが大きくなる分だけ更に良い効果
が得られる。5×5の空間の分割例を第6図に示す。
このようにしてコントラスト強調した画像が回路11よ
シ出力されるので、以下はこの画像データを使ってキズ
ニ直化をする。
9人はキズ検出のためのm X m (例えば3×5)
の12ビツ}fl淡2次元局部メモリ(■)で、回路1
1の出力をうけて、コントラスト強調画像に対して二次
元局部空間の並列データを出力する。
この出力は空間徴分2値化回路12で空間徴分され、そ
の微分濃度値がしきい値よシも大きければ、キズ候補と
して2値化される。
一方、淡淡2次元局部メモ!J(I)9よりの着目点濃
度を回路13でラッチし、回路14にょシ2値化する。
回路14の2値化出力はタイミング調整回路15によシ
制御され、回路12からの出力と同期がとられるように
する。即ち、回路14はキズを検知せず物体領域だけを
検知するようにセットしているので、論理積回路16で
は回路12の出力のうち物体中のキズを示すものだけを
検知することができる。
第7図は本発明の他の実施例を示すブロック図である。
こ一に、符号1〜11および17は第1図に示すものと
同じであり、したがって31〜39なる構成要素を付加
した点が特徴でおる。なお、31は濃淡イメージメモリ
、32はメモリ読出回路、33は続出スタート回路、3
4はメモリ書込回路、35は離散形濃淡2次元局部メモ
リ、36は着目点一近傍園素差分回路、37は比較(ロ
)路、58は谷検出回路、39はしきい値設定回路をそ
れぞれ示す。
こ工では、回路11の出力は有効画面の全領域について
濃淡イメージメモリ(12bitxs12x512)回
路51に、書込回路34の制御をうけて書込まれる。全
領域書込完了後はメモリの読出スタート回路33が動作
し、読出回路32の制御をうけて、メモリ回路31の情
報を読出す。n×n(5X5)の離散形濃淡2次元局部
メモリ35はこの情報をうけて、例えば第8図に示す着
目点iJの濃度S。′と、周辺近傍画素の内から8画素
について離散的に抽出した画素の濃度B,l〜88′を
出力する。この出力から着目点一近傍画素差分回路36
では差分濃度を各近傍画素について求め、それらがしき
い値αよシ大きいか否かを比較回路37でチェックし、
αよシ大きければ論理11#が出力される。つぎに、谷
(または山)検出回路58によシ、着目点をはさむ画素
について共にα以上の濃度差があれば、キズであるとし
、それらが4方向のいずれにあるかをチェックする。4
方向のいずれか1方向に谷が存在すれば、回路38よ)
キズ2直化信号として認識回路17に出力される。以上
の演算を概念的に示すと第9因のようになる。なお、こ
の谷検出は黒キズに対して有効であるが、白キズのとき
は、第9図に示す演算式の左辺の順序を入れ替えて山検
出をすればよい。
こうして、キズがnXn空間の着目画素S。′を挾む両
側の2m素、例えばS′とS,′を用いて谷(または山
)が形成されたときのみ、キズとして出力される。よっ
て、シエーデイングのように局部的には1方向にしか濃
度が傾斜しないものには作用しない。よって、キズの検
知感度1Eさらに上げることができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来では検出困難とされていた低コン
トラストの傷(たとえば細い髪の毛,金属の引っ掻きキ
ズ)の検出精度が大幅に向上し、従来品の致命的欠陥を
解消することができる。また、刻印文字などの低コント
ラストの文字も高精度に検出可能となシ、線図形の2値
化も容易となる。
また、TVカメラの1画面(1フレーム)の信号だけを
使用しているので、移動している物体についても全く同
様の効果が得られる。さらに、二次元局部演算を主体と
しているので高速動作が可能であシ、処理能力も実用的
に元分高速なものが製作可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
3×3の二次元局部空間を説明するための説明図、第3
図は本発明におけるコントラスト強調演算の概念を説明
するための説明図、第4図は第2図に示す局部空間の方
向割付例を説明するための説明図、第5図は第1図に示
す積和演算回路の具体例を示すブロック図、第6図は5
×5の局部空間と方向割付例を説明するための説明図、
第7図は本発明の他の実施例を示すブロック図、第8因
は第7図に示す離散形濃淡二次元局部メモリの内容例を
説明するための説明図、第9図は第7図に示す回路36
〜39による動作内容を説明するための概念図である。 符号説明 1・・・・・・コンベア、2・・・・・・ワーク、3・
・・・・・位置センサ、4・・・・・・判定タイミング
回路、5・・・・・・TVカメラ、6・・・・・・増幅
器(AMP)、7・・・・・・画面分割回路、8・・・
・・・アナログ/ディジタル( A/D )変換器、?
,9A,35・・・・・・2次元局部メモリ、10・・
・・・・積和演算回路、11・・・・・・最小/最大濃
淡値検出回路、12・・・・・・空間微分2値化回路、
13・・・・・・着目点濃度検出回路、14・・・・・
・固定2値化回路、15・・・・・・タイミング調整回
路、16・・・・・・論理積回路、17・・・・・・認
識回路、21A〜21D・・・・・・濃淡抽出部、22
A〜22D・・・・・・積和演算部、31・・・・・・
濃淡イメージメモリ、32・・・・・・メモリ読出回路
、53・・・・・・読出スタート回路、34・・・・・
・メモリ書込回路、36・・・・・・着目点一近傍画素
差分回路、37・・・・・・比較回路、38・・・・・
・谷検出回路、39・・・・・・しきい値設定回路。 第2 図 1 図 代理人 弁理士 並 木 昭 夫

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)対象物を撮像する撮像手段と、 対象物が該撮像手段の視野内に入つたとき撮像信号を有
    効とするタイミング制御手段と、該撮像信号を画素単位
    でアナログ/ディジタル変換して原濃淡画像を得る原画
    像抽出手段と、原濃淡画像に対し着目点の濃淡情報と着
    目点近傍周辺画素の濃淡情報とから二次元局部空間を複
    数方向に分割してそれぞれ積和演算をし方向別積和値の
    内で最も小さいかまたは大きい濃度を着目点のコントラ
    スト強調濃度とする処理を原濃淡画像の全画素について
    行ないコントラスト強調画像を得る強調画像抽出手段と
    、 該コントラスト強調画像に対し二次元局部空間毎に濃度
    演算を行なう演算手段と、 を備え、該演算値を予め設定されたしきい値と比較して
    2値化することを特徴とする2値化回路。 2)請求項1)に記載の2値化回路において、前記コン
    トラスト強調画像について二次元局部空間の複数方向に
    対し着目点が谷または山であることを検出する検出手段
    を設け、少なくともいずれか1つの方向で谷または山が
    検出されたとき着目点を有意画素とすることを特徴とす
    る2値化回路。
JP28561988A 1988-11-14 1988-11-14 2値化回路 Pending JPH02132567A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28561988A JPH02132567A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 2値化回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28561988A JPH02132567A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 2値化回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02132567A true JPH02132567A (ja) 1990-05-22

Family

ID=17693873

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28561988A Pending JPH02132567A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 2値化回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02132567A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006041593A1 (en) * 2004-09-10 2006-04-20 3M Innovative Properties Company Methods for testing durable optical elements

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58161470A (ja) * 1982-03-18 1983-09-26 Toshiyuki Sakai 映像信号2値化方式
JPS62262180A (ja) * 1986-05-08 1987-11-14 Hitachi Ltd 画質検査方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58161470A (ja) * 1982-03-18 1983-09-26 Toshiyuki Sakai 映像信号2値化方式
JPS62262180A (ja) * 1986-05-08 1987-11-14 Hitachi Ltd 画質検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006041593A1 (en) * 2004-09-10 2006-04-20 3M Innovative Properties Company Methods for testing durable optical elements
US7289202B2 (en) 2004-09-10 2007-10-30 3M Innovative Properties Company Methods for testing durable optical elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0784827B1 (en) Method and apparatus for determining the fine angular orientation of bar code symbols in two-dimensional ccd images
KR100730051B1 (ko) 결함 검출장치 및 결함 검출방법
JPS5937450A (ja) 物体表面に生ずる欠陥をリアルタイムで自動的に検出し、かつそれらの欠陥をその特徴に従つて自動的に分類する方法および装置
CN114723677A (zh) 图像缺陷检测方法、检测装置、检测设备及存储介质
US5438636A (en) Apparatus for simultaneously convolving multiple digital binary images using a single convolver with a binary mask to determine pixel densities
Jang et al. Binarization of noisy gray-scale character images by thin line modeling
JPH02132567A (ja) 2値化回路
JPH0713836B2 (ja) 2値化回路
JP3044951B2 (ja) 円形容器内面検査装置
JPH0531791B2 (ja)
JP4474006B2 (ja) 検査装置
JPH0233671A (ja) 2値化装置
JPS6055474A (ja) 画像間差異検出装置
Ieamsaard et al. Automated optical inspection for solder jet ball joint defects in the head gimbal assembly process
JPH0785263B2 (ja) パタ−ンの傷検出装置
EP0797804B1 (en) Method and apparatus for simultaneously convolving multiple digital binary images using a single convolver with a binary mask to determine pixel densities
JP3367450B2 (ja) 電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体
JPS625480A (ja) エッジ検出方法
JPH02108167A (ja) 光学検査装置
JPH08304302A (ja) 検査対象物の表面傷検出方法
JPH03224074A (ja) 画像処理方法およびその装置
JPH0359362B2 (ja)
JPH0815173A (ja) 文字記号検査装置
JPH0431751A (ja) 外観検査による欠陥検出方法
Hsueh et al. Morphological algorithms for processing tickets by handheld assay