JPH02124415A - Shape measuring apparatus - Google Patents

Shape measuring apparatus

Info

Publication number
JPH02124415A
JPH02124415A JP19131788A JP19131788A JPH02124415A JP H02124415 A JPH02124415 A JP H02124415A JP 19131788 A JP19131788 A JP 19131788A JP 19131788 A JP19131788 A JP 19131788A JP H02124415 A JPH02124415 A JP H02124415A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
measured
program
objects
list
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP19131788A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07119601B2 (en
Inventor
Tamiji Tezuka
手塚 民治
Masahide Yamazaki
山崎 正英
Hisao Hara
原 久夫
Yasuhisa Nakamichi
中道 泰久
Takayuki Seki
隆行 関
Hiroyuki Sato
浩幸 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP19131788A priority Critical patent/JPH07119601B2/en
Publication of JPH02124415A publication Critical patent/JPH02124415A/en
Publication of JPH07119601B2 publication Critical patent/JPH07119601B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To easily conduct re-measurement by providing an executing means which outputs data of the position on a moving desk of an object to be measured which is required to be measured again by a requiring means, and executes re-measurement of said object to be measured. CONSTITUTION:A position calculating means 35 is provided with a list of objects to be re-measured which are selected by an object selecting means 30 when the re-measurement is required, apart from a list of objects to be measured. As a re-measuring signal is input, the coordinates are calculated from the list of the objects to be re-measured. For example, when an object is measured in failure and required to be measured again, a re-measuring signal is input to the calculating means 35. After the object is set in the list of the objects to be re-measured by the selecting means 30, only the objects set in the list can be measured. In this re-measuring mode, only the measured data of the selected objects is updated, and the other data of the objects which are not re-measured remains as it is. Accordingly, re-measurement of the object can be performed easily.

Description

【発明の詳細な説明】 く本発明の産業上の利用分野〉 本発明は、被測定物表面の形状を測定するための形状測
定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Industrial Application Field of the Present Invention The present invention relates to a shape measuring device for measuring the shape of the surface of an object to be measured.

〈従来技術〉 物体表面のソリや平行度等を測定するために、物体表面
の高さを所定の測定ルートに従って測定し、この高さデ
ータに基づいてソリや平行度等を測定する形状測定装置
が従来よりあった。
<Prior art> A shape measuring device that measures the height of the object surface according to a predetermined measurement route and measures the warp, parallelism, etc. based on this height data in order to measure the warp, parallelism, etc. of the object surface. has always been the case.

このような従来の形状測定装置では、移動台上にf/X
置された被測定物表面上の測定点をXYh向に移動させ
ながら、測定点のZ方向の高さをセンサによって検出し
、この高さデータに基づいて被測定物表面のソリや平行
度等を測定しており、この移動台の移動制御、高さデー
タの検出および形状の判定等は、コンピュータのプログ
ラム制御によって自動釣に行なって測定効率を高くする
ようにしている。
In such a conventional shape measuring device, f/X is placed on the movable table.
While moving the measurement point on the surface of the object to be measured in the XYh direction, the height of the measurement point in the Z direction is detected by the sensor, and based on this height data, the warp, parallelism, etc. of the surface of the object to be measured are determined. The movement control of the movable table, the detection of height data, the determination of shape, etc. are performed automatically under computer program control to increase measurement efficiency.

例えば、移動台上に載置された多数の被測定物に対して
同一の測定を行なう場合には、1つの被測定物表面の測
定を実行した後、他の被測定物表面上に測定点を移動し
て、同様の測定を実行するという達続初作を行ない、測
定表面毎に得られた高さf−タに基づいてソリや平行度
等の演算を行なって、ソリや平行度の度合を判別してそ
の結果を表示するように構成されている。
For example, when performing the same measurement on many objects to be measured placed on a moving table, after performing the measurement on the surface of one object, The first step was to perform similar measurements by moving the It is configured to determine the degree and display the result.

く本発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、前記のような形状測定装置では、移動台
上に載置された複数の被測定物のいずれかに対する測定
が失敗した場合、例えば、被測定物表面白身に欠陥があ
るときや、被測定物の移動台に対する戟は状態に問題が
あって測定値が異常になった場合、測定を全て始めから
やり直すか、あるいは測定プログラムの変更作業を行な
ってからその被測定物に対する測定を再度行なうという
非常に煩雑な作業が必要となる。
Problems to be Solved by the Present Invention> However, in the shape measuring device as described above, if measurement of one of the plurality of objects placed on the moving table fails, for example, if the object to be measured fails. If there is a defect in the surface white, or if there is a problem with the condition of the moving table of the object to be measured and the measured value becomes abnormal, either restart the measurement from the beginning or change the measurement program. This requires a very complicated task of re-measuring the object to be measured.

このため、1回の測定で多数(例えば100個)の被測
定物を測定するような場合、移動台に対する被測定物の
載置を非常に慎重に行なうとともに、測定プログラムの
変更作業に熟練した作業者を常時必要とするという問題
があった。
Therefore, when measuring a large number of objects (for example, 100 objects) in one measurement, the objects to be measured must be placed on the moving table very carefully, and a skilled person should be required to change the measurement program. There was a problem in that workers were always required.

本発明はこの問題を解決した形状測定装置を提供するこ
とを目的としている。
An object of the present invention is to provide a shape measuring device that solves this problem.

く前記問題点を解決するための手段〉 前記問題を解決するために本発明の形状測定装置は、 形状測定の種類、該測定に必要な測定パラメータおよび
被測定物表面上で定義される測定点の位置データとを予
め測定項目毎に設定記憶する設定手段と、 前記設定手段に設定された測定項目毎の測定種類、測定
パラメータおよび位置データに基づいて、曲間移動台上
に載置された1つの被測定物表面上で定義される測定プ
ログラムを編栗作成するブ[1グラム!8集手段と、 nil記測定プログラムに移動台上の被測定物の位置′
ii!i報を与えて絶対座標化する位置決め手段と、絶
対座標化した測定プログラムに従って、前記移動台の移
動を制御し、センサからの検出信号により測定結果を出
力する測定要求手段と、前記測定結果を記憶する手段と
、 移動台上に411!置された任意の被測定物を指定して
前記測定プログラムによる再測定を要求する再測定要求
手段と、 前記再測定要求手段により指定された被測定物の移動台
上の位置情報を前記位置決め手段に出力して、該被測定
物に対する再測定を実行させる再測定要求手段とを測定
制御部に備えている。
Means for Solving the Problems> In order to solve the problems described above, the shape measuring device of the present invention provides the following features: type of shape measurement, measurement parameters necessary for the measurement, and measurement points defined on the surface of the object to be measured. a setting means for setting and storing position data for each measurement item in advance; and a setting means for setting and storing position data for each measurement item in advance; A program that creates a measurement program defined on the surface of one object to be measured [1 gram! 8 collection means and the position of the object to be measured on the moving table in the nil measurement program.
ii! a positioning means for giving an i-information and converting it into absolute coordinates; a measurement requesting means for controlling the movement of the movable table according to a measurement program converted into absolute coordinates and outputting a measurement result based on a detection signal from a sensor; A means to memorize and 411 on the moving platform! remeasurement requesting means for requesting remeasurement using the measurement program by specifying any object to be measured that has been placed; and positioning means for transmitting position information on the moving platform of the object specified by the remeasurement requesting means The measurement control unit is provided with a remeasurement requesting means for outputting an output to the object to be measured and executing remeasurement of the object to be measured.

〈作用〉 したがって、1つの被測定物表面に対して設定された測
定項目に基づいて、1つの被測定物表面に対する測定プ
ログラムが自111Ja集され、この測定プログラムに
移動台上の被測定物毎の位置情報が与えられ絶対座標化
され、被測定物に対する測定が実行され、その測定結果
が記・はされる。
<Operation> Therefore, a measurement program for one object surface is compiled based on the measurement items set for the surface of one object to be measured, and this measurement program is applied to each object to be measured on the movable table. The position information is given and converted into absolute coordinates, measurements are performed on the object to be measured, and the measurement results are recorded.

また、再測定が要求される被測定物を指定するとその被
測定物の位置情報が測定プログラムに与えられ、指定さ
れた被測定物に対する測定が実行される。
Furthermore, when an object to be measured for which re-measurement is requested is specified, the position information of the object is given to the measurement program, and measurement of the specified object is executed.

く本発明の実施例〉(第1〜12図) 以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。Embodiments of the present invention> (Figures 1 to 12) Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は、本発明の一実施例の形状測定装置の全体構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the overall configuration of a shape measuring device according to an embodiment of the present invention.

図において、10は測定機構部であり、基台11上には
X−Yステージ12が設けられており、X−Yステージ
12の上には被測定物を載置するだめのの載置台1が固
定されている。
In the figure, 10 is a measurement mechanism section, an X-Y stage 12 is provided on a base 11, and a mounting table 1 on which the object to be measured is placed on the X-Y stage 12. is fixed.

Xステージ12aは載置台1を左右方向(第1図におい
て)に移動させ、Yステージ12bは、Xステージ12
aと直交する方向に41!置台1を移動させるように構
成されている。
The X stage 12a moves the mounting table 1 in the left and right direction (in FIG. 1), and the Y stage 12b moves the
41 in the direction perpendicular to a! It is configured to move the stand 1.

また、Yステージ12b上には、Xステージ12aの基
準位置(載置台の基準原点)からの移動層を検出するX
位置検出器12cが設けられ、Yステージの側方には同
様にYステージ12bの移!1lIJ!を検出するY位
置検出器12d#5けられている。
Moreover, on the Y stage 12b, there is an X
A position detector 12c is provided on the side of the Y stage to similarly move the Y stage 12b. 1lIJ! The Y position detector 12d#5 that detects the

13は、載置台1の@肴穴3(第2図)から空気を吸い
込むバキューム装置である。
Reference numeral 13 denotes a vacuum device that sucks air from the @dish hole 3 (FIG. 2) of the mounting table 1.

14は、X−Yステージ12上方に配置された光センサ
部であり、載置台1に光ビームを照I4する投光部14
aとその反射光を受けて、照射点の高さ変化に対応する
変位信号を出力する受光検出部14bとから構成されて
いる。
Reference numeral 14 denotes an optical sensor section disposed above the X-Y stage 12, and a light projecting section 14 that illuminates the mounting table 1 with a light beam I4.
a and a light reception detection section 14b which receives the reflected light and outputs a displacement signal corresponding to a change in the height of the irradiation point.

この変位信号は光センサ部14から照射点までの距離に
応じて変化するもので、この信号に基づいて戸田される
距離を、光センサ部14から載置台1のXY平面の原点
までの高さから減痒することによって、照射点の原点か
らの高さが得られる。
This displacement signal changes depending on the distance from the optical sensor section 14 to the irradiation point, and the distance determined based on this signal is determined by the height from the optical sensor section 14 to the origin of the XY plane of the mounting table 1. By reducing itching, the height of the irradiation point from the origin can be obtained.

この光センサ部14には、照射点近傍を拡大して映像を
出力するモニタカメラ15が一体化されている。
A monitor camera 15 that magnifies the vicinity of the irradiation point and outputs an image is integrated into this optical sensor section 14.

16は、この光センサ部14をX−Yステージ12に直
交するZ方向に移動させる2ステージであり、X−Yス
テージ12および2ステージ16はともにXYZ駆初部
17によって移動制御される。
Reference numeral 16 denotes two stages that move the optical sensor section 14 in the Z direction perpendicular to the X-Y stage 12, and the movement of both the X-Y stage 12 and the second stage 16 is controlled by the XYZ drive section 17.

18は、モニタカメラからの映像信号を画面に表示する
モニタテレビである。
18 is a monitor television that displays a video signal from a monitor camera on a screen.

19(よ、移動信号を直接XYZ駆動部17に入力する
ことにより、X−Yステージ12を単独に移動させる手
動操作部である。
19 (Y) is a manual operation unit that moves the XY stage 12 independently by directly inputting a movement signal to the XYZ drive unit 17.

20は、コンピュータによって構成された測定制御部で
あり、設定された測定プログラムに従ってXYZ駆動部
17から各ステージに移動信号を与えて、光センサ部1
4の受光検出部14bからの変位信号に基づいて、被測
定物の測定点の7方向の高さを輝出して、形状判定を行
なう。
Reference numeral 20 denotes a measurement control section configured by a computer, which gives movement signals from the XYZ drive section 17 to each stage according to a set measurement program, and controls the optical sensor section 1.
Based on the displacement signal from the light reception detection section 14b of No. 4, the height of the measurement point of the object to be measured in seven directions is highlighted to determine the shape.

この測定制御部20は、第2図に示すように載置台1の
左下の所定位置を絶対座標の基準原点(Olo、0)と
してX−Yステージ12、Zステージ16等の制御を行
なっている。
As shown in FIG. 2, this measurement control unit 20 controls the X-Y stage 12, Z stage 16, etc., with a predetermined lower left position of the mounting table 1 as the reference origin (Olo, 0) of absolute coordinates. .

この載置台1には、9個の被測定物を3×3の配列で所
定の載置場所E1〜E9に4g置するように、3つのガ
イド部材2が取付けられており、各載置場所E1〜E9
の左下(第2図において)の角部は被測定物のパリ笠を
避けるために円形に切欠かれている。
Three guide members 2 are attached to this mounting table 1 so that nine objects to be measured are placed in a 3×3 array at 4g at predetermined mounting locations E1 to E9. E1-E9
The lower left corner (in FIG. 2) is cut out in a circular shape to avoid the risk of scratching the object to be measured.

各載置場所E1〜E9に載置される被測定物の基準位置
はこの角部の中央にあたる位Ill!R1〜R9に設定
されており、位置R1〜R9のX方向の間隔はXp 、
Y方向の間隔はYpに設定され、位@R7の基準原点か
らの座標位置は(×1、Yl)に設定されているものと
する。
The reference position of the object to be measured placed in each of the placement locations E1 to E9 is at the center of this corner. R1 to R9 are set, and the interval in the X direction between positions R1 to R9 is Xp,
It is assumed that the interval in the Y direction is set to Yp, and the coordinate position of position @R7 from the reference origin is set to (x1, Yl).

第3図は測定I制御181S20の機能ブロックを示す
図である。
FIG. 3 is a diagram showing functional blocks of the measurement I control 181S20.

第3図において、21は、形状測定の種類およびその測
定に必要な測定パラメータをその項目毎に入力設定する
ための第1の入力手段であり、22は、入力された測定
種類および測定パラメータを測定項目毎に記憶する第1
の記憶手段である。
In FIG. 3, 21 is a first input means for inputting and setting the type of shape measurement and the measurement parameters necessary for the measurement for each item, and 22 is the first input means for inputting the input measurement type and measurement parameters. The first item to be memorized for each measurement item.
It is a storage means for

この入力手段21は、被測定物に対して想定される測定
項目を予め設定するものであり、例えば第4図に示す項
目1のように、2辺による平行度測定、項目2のように
2辺によるソリ測定、・・・・・・項目Nのように5点
によるソリ測定等の測定種類(ソリ、平行度等)および
ルート種別(2′y2.5点等)を項目毎に記号化して
入力するとともにこの測定に必要な測定パラメータ(測
定ピッチ、測定速度、規格)の値を入力し、第5図に示
すように、測定項目毎に第1の記憶手段22に記憶させ
る。
This input means 21 is used to preset measurement items assumed for the object to be measured, such as parallelism measurement on two sides as in item 1 shown in FIG. Measurement of warp by side, warp measurement by 5 points as in item N, etc. Measurement type (warp, parallelism, etc.) and route type (2'y2.5 points, etc.) are symbolized for each item. At the same time, the values of measurement parameters (measurement pitch, measurement speed, standard) necessary for this measurement are input, and are stored in the first storage means 22 for each measurement item, as shown in FIG.

なお、この表でに1は平行度測定を示す記号、に2はソ
リ測定を示す記号であり、R1は2辺の測定ルート数を
示す記号、R5は5つの測定点数を示す記号である。
In this table, 1 is a symbol indicating parallelism measurement, 2 is a symbol indicating warpage measurement, R1 is a symbol indicating the number of measurement routes on two sides, and R5 is a symbol indicating the number of measurement points of 5.

したがって、(K1、R1)は2辺で平行度測定を行な
うことを示すことになる。
Therefore, (K1, R1) indicates that parallelism measurement is performed on two sides.

23は、第5図に示すような測定項目の一見表を表示す
る測定項目表示手段である。
Reference numeral 23 denotes a measurement item display means for displaying an at-a-glance table of measurement items as shown in FIG.

24は、表示された測定項目の中から被測定物に対して
行ないたい測定項目の番号を選択する測定項目選択手段
である。
Reference numeral 24 denotes a measurement item selection means for selecting the number of the measurement item desired to be performed on the object to be measured from among the displayed measurement items.

25は、1つの被測定物に対して設定された測定項目毎
にその測定ルートの始点、終点および多点バタンの位置
、被測定物の規格上の高さ鎖を被測定物の所定の基準位
置からの座標データとして入力する第2の入力手段であ
る。
25, for each measurement item set for one object to be measured, the starting point, end point, and multi-point button positions of the measurement route, the height chain according to the standard of the object to be measured, and the specified standard of the object to be measured. This is a second input means for inputting coordinate data from a position.

26は、代表的な1つの被測定物に対する測定項目毎に
入力された座標データを第6図のように測定項目毎に記
憶する第2の記憶手段である。
Reference numeral 26 denotes a second storage means for storing coordinate data input for each measurement item for one representative object to be measured for each measurement item as shown in FIG.

27は、載置台1上に載置される複数の被測定物の位置
情報を入力するための第3の入力手段であり、載置台の
基準位置、被測定物の配列ピッチ、配列個数等を入力設
定する。
Reference numeral 27 denotes a third input means for inputting position information of a plurality of objects to be measured placed on the mounting table 1, and inputs information such as the reference position of the mounting table, the arrangement pitch of the objects to be measured, the number of objects to be measured, etc. Set input.

28は、第3の入力手段27から入力された位置情報を
記憶するための第3の記憶手段である。
28 is a third storage means for storing the position information input from the third input means 27.

29は、第3の記憶手段28に記憶された位置情報に従
って、載置台1上の′a31定物の位置を表示する被測
定物位置表示手段である。
Reference numeral 29 denotes an object position display means for displaying the position of the fixed object 'a31 on the mounting table 1 according to the position information stored in the third storage means 28.

3oは、被測定物位置表示手段29によって表示された
被測定物のなかから、測定したい被#I宝物を選択する
ためのIIgs定物選宝物段である。
Reference numeral 3o denotes an IIgs regular object selection stage for selecting treasure #I to be measured from among the objects displayed by the object position display means 29.

31は、被測定物についての測定を連続的に行なうか、
被測定物毎に測定動作を中断(間欠動作)させるかを選
択する測定シーケンス選択手段である。
31, whether the measurement of the object to be measured is carried out continuously;
This is a measurement sequence selection means for selecting whether to interrupt the measurement operation (intermittent operation) for each object to be measured.

32は、測定項目選択手段24、被測定物選択手段30
の選択動作によって選択された測定項目とその測定項目
に対応する位置情報および測定シーケンス選択手段31
からの選択情報とを読み込み、これらの測定1!1ll
lに基づいて被測定物の測定表面上で定義される測定プ
ログラムを自ea集する測定プログラム自esuii手
段である。
32 is a measurement item selection means 24 and a measurement object selection means 30
The measurement item selected by the selection operation, the position information corresponding to the measurement item, and the measurement sequence selection means 31
Select information from and load these measurements 1!1ll
This is a measurement program self-esui means for self-assembling a measurement program defined on the measurement surface of the object to be measured based on the measurement object.

この測定プログラム自動S*手段32は第7図に示すよ
うに、各選択手段による選択動作に従って測定項目リス
トL1、被測定物リストL2、シーケンスデータD1、
および被測定物の高さデータD2を作成記憶し、第8図
に示す処理手順によって測定プログラムを自動編集して
測定プログラム記憶子1933に記憶させる。
As shown in FIG. 7, this measurement program automatic S* means 32 includes a measurement item list L1, an object to be measured list L2, sequence data D1,
and the height data D2 of the object to be measured are created and stored, and the measurement program is automatically edited according to the processing procedure shown in FIG. 8 and is stored in the measurement program storage 1933.

なお、第7図および第8図は、測定項目として1.2、
N番目の項目が選択され、載置台1の載置位@EIE6
、R7に411置された被測定物が選択された場合を示
している。
In addition, Fig. 7 and Fig. 8 show measurement items of 1.2,
The Nth item is selected and the mounting position of mounting table 1 @EIE6
, R7 is selected.

第8図において、測定項目リストL1のプログラムポイ
ンタPOK、 測定プログラム記憶手段33のプログラ
ムポインタPPOおよびプログラムメモリポインタMP
Oが初期化された債、POKが示す項目番号が読み出さ
れて、変1f!KOMに代入される(ステップ1.2)
In FIG. 8, the program pointer POK of the measurement item list L1, the program pointer PPO of the measurement program storage means 33, and the program memory pointer MP
O is the initialized bond, the item number indicated by POK is read out, and change 1f! Assigned to KOM (step 1.2)
.

項目番号の読み出しの終了が判定されたのち、KOM1
目のパラメータ表(第5図)からarピッチPIC1測
定速度SPDの測定パラメータが読み出される(ステッ
プ3.4)。
After determining the end of reading the item number, KOM1
The measurement parameter of the ar pitch PIC1 measurement speed SPD is read from the eye parameter table (FIG. 5) (step 3.4).

第2の記憶手段からKOM番目の座標データ(第6図)
が読み出された後、測定装置の文法に合せた測定プログ
ラムが合成される(ステップ5.6)。
KOM-th coordinate data from the second storage means (Figure 6)
is read out, a measurement program adapted to the grammar of the measurement device is synthesized (step 5.6).

合成したプログラムを測定プログラム記憶手段のMPO
番地に記憶させた侵、このプログラムの先頭番地を管理
テーブルPPO?fi目に記憶させ、POK、PPOを
1増加させ、MPOを更新してステップ2に戻る(ステ
ップ7〜9)。
The synthesized program is measured in the MPO of the program storage means.
Is the start address of this program stored in the management table PPO? The fi-th data is stored, POK and PPO are incremented by 1, MPO is updated, and the process returns to step 2 (steps 7 to 9).

この処理を選択された測定項目の数だけ行なった後、ス
テップ3で終了が判定されると、PPOの示すテーブル
に終了マークがm込まれ、項目リスト[1が測定項目切
換手段34に送られ、被測定物リストL2が位置弾出手
段35に送られる(ステップ10〜12)。
After performing this process for the number of selected measurement items, when the end is determined in step 3, an end mark is entered in the table indicated by the PPO, and the item list [1 is sent to the measurement item switching means 34. , the object to be measured list L2 is sent to the position output means 35 (steps 10 to 12).

このようにして自動編集された測定プログラムおよび?
!理データが第9図に示すように測定プログラム記憶手
段33に記憶され、位置算出手段35に対する測定スタ
ート信号により測定が開始される。
Measurement program automatically edited in this way and?
! The measurement data is stored in the measurement program storage means 33 as shown in FIG. 9, and measurement is started by a measurement start signal sent to the position calculation means 35.

第10図(a)および(b)は測定の処理手順を示すフ
ローチャートである。
FIGS. 10(a) and 10(b) are flowcharts showing the measurement processing procedure.

初めにこの位置算出1段35において、測定プログラム
自動編集手段32からの被測定物リストL2と、第3の
記憶手段からの位置情報によって、リスト中の被測定物
の基準位置(R1−R9のいずれか)の載置台1上の基
準位置に対する座標(Xr 、Yr )が算出される。
First, in this first stage 35 of position calculation, the reference position (of R1 to R9) of the object in the list is calculated based on the object list L2 from the measurement program automatic editing means 32 and the position information from the third storage means. The coordinates (Xr , Yr ) of any one of the reference positions on the mounting table 1 are calculated.

ただしn、mはともに3であり、番地(Cn 、 Cn
 )は(1,1)から(3,3)までの値となる(ステ
ップ1〜5)なお、位置算出手段35は、被測定物リス
トL2とは別に再測定時に被測定物選択手段30によっ
て選択される再測定用の被測定物リストL3を持ってお
り、再測定信号が入力されているときは、この被測定物
リストL3による座標が計郷される。
However, both n and m are 3, and the address (Cn, Cn
) is a value from (1, 1) to (3, 3) (steps 1 to 5). In addition, the position calculating means 35 uses the object to be measured selection means 30 at the time of re-measurement, in addition to the object to be measured list L2. It has a list of objects to be measured L3 for re-measurement to be selected, and when a re-measurement signal is input, coordinates based on this list of objects to be measured L3 are calculated.

次に、被測定物位置決め手段36において、位置篩土手
段35からの座標値Xr 、 ’y’r 、’;lrが
、測定プログラム記憶手段33に記憶された被測定物の
基準位置に対して定義されている座標情報に加輝され、
絶対座標化された測定プログラムが測定制御手段37に
送られ、X−Yステージの移動、光センサからの検出信
号に基づく高さ測定が行なわれる(ステップ6〜8)。
Next, in the object positioning means 36, the coordinate values Xr, 'y'r,'; The defined coordinate information is enhanced,
The measurement program converted into absolute coordinates is sent to the measurement control means 37, and the XY stage is moved and the height is measured based on the detection signal from the optical sensor (steps 6 to 8).

この測定データは、この測定が失敗したか否かを示す測
定状態テーブルおよび測定データの管理テーブルととも
に第11図のように測定データ記憶手段40に記憶され
る(ステップ9〜16)。
This measurement data is stored in the measurement data storage means 40 as shown in FIG. 11, along with a measurement status table indicating whether the measurement has failed or not and a measurement data management table (steps 9 to 16).

ただし、ステップ6からステップ15までの処理は被測
定物に対する測定項目の数だけ繰返して行なわれ、被測
定物リストL2またはL3の全ての被測定物に対して、
はぼ同機の処理が行なわれることになる。
However, the processes from step 6 to step 15 are repeated as many times as the number of measurement items for the object to be measured, and for all the objects in the object list L2 or L3.
Processing for the same aircraft will be carried out.

この測定データに対しで、測定性類によって予め定めら
れた形状測定の演算処理が判定手段42によってなされ
、判定表示手段43によってぞの判定結果が表示される
(ステップ19.20)。
The determination means 42 performs calculation processing for shape measurement predetermined by the measurement type on this measurement data, and the determination display means 43 displays the determination result (step 19.20).

なお、例えば測定の失敗した被測定物く第11図では第
6被測定物)の測定を再度行なう場合、位置算出手段3
5に対して再測定信号を入力し。
Note that, for example, when measuring the object to be measured whose measurement has failed (the 6th object to be measured in FIG. 11) again, the position calculation means 3
Input the re-measurement signal to 5.

被測定物選択手段により第61目の被測定11Flを選
択して被測定物リストL3に設定した後、第10図のス
テップ1のWKCNT−1の部分から処理をスタートさ
せることにより、被測定物リストL3の被測定物(第6
被測定物)に対してのみ測定を行なうことができる。
After the 61st object to be measured 11Fl is selected by the object selection means and set in the object to be measured list L3, the process is started from the part WKCNT-1 in step 1 in FIG. List L3 object to be measured (6th
Measurements can only be made on objects (object to be measured).

この再測定モードでは、第10図のステップ12に代っ
て第12図の処理手順(ステップ40゜41)が行なわ
れ、指定測定された被測定物の測定データだけが更新さ
れ、再測定されなかった被測定物の測定データはそのま
ま残ることになる。
In this re-measurement mode, the processing procedure in FIG. 12 (steps 40 and 41) is performed in place of step 12 in FIG. Measurement data for objects to be measured that were not included will remain as they are.

く本発明の他の実施例〉 なお、前記実施例は、被測定物を最大9個載置でき、光
センサによって高さデータを検出するようにした形状測
定装置に対して本発明を適用した場合を示したものであ
り、他のセンサを有し、より多くの被測定物を載置でき
る形状測定装置についても本発明は同様に適用すること
ができる。
Other Embodiments of the Present Invention In the above embodiments, the present invention is applied to a shape measuring device that can place up to nine objects to be measured and detects height data using an optical sensor. The present invention is also applicable to a shape measuring device having other sensors and capable of mounting a larger number of objects to be measured.

く本発明の効果〉 本発明の形状測定方法は、前記説明のように構成されて
いるため、全ての被測定物に対する測定をやり直したり
、測定プログラムを変更するという煩雑で熟練を要する
作業をしないで被測定物の再測定を極めて容易に行なう
ことができる。
Effects of the Present Invention Since the shape measuring method of the present invention is configured as described above, there is no need to re-measure all objects to be measured or to change measurement programs, which are complicated and require skill. The object to be measured can be remeasured very easily.

このため、多数の被測定物を1回の測定で測定する場合
でも、移動台に対する′a測定物の載置作業を特に慎重
に行なう必要がなく、熟練者でなくとも容易にかつ効率
的な測定作業を行なうことができる。
Therefore, even when measuring a large number of objects in one measurement, there is no need to be particularly careful when placing the objects to be measured on the moving table, and even non-experts can easily and efficiently perform the work. Can perform measurement work.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は1本発明を適用した形状測定′@宵の全体構成
を示す図、第2図は第1図の要部を示す平面図、第3図
は、第1図の要部の機能ブロック図である。 第4図は、測定項目に対する測定パターンを示す図、第
5図は第3図要部に記憶される測定パラメータを示す図
、第6図は第3図要部に記Iされる測定位置データを示
す図である。 第7図は、第3図の選択動作に対する記憶リストを示す
図、第8図は、第3図要部の処理手順を示すフローチャ
ート、第9図は、第8図の処理結果を示すメモリ図、第
10図(a)および(b)は、第3図要部の処理手順を
示すフO−チV−ト、第11図は第10図の処理結果を
示すメモリ図である。 第12図は、一実施例の再測定時の処理手順の一部を示
すフローチャートである。 20・・・・・・測定制御部、21・・・・・・第1の
入力手段、22・・・・・・第1の記憶手段、24・・
・・・・測定項目選択手段、25・・・・・・第2の入
力手段、26・・・・・・第2の記憶手段、27・・・
・・・第3の入力手段、28・・・・・・第3の記憶手
段、30・・・・・・被測定物選択手段、31・・・・
・・測定シーケンス選択手段、32・・・・・・測定プ
ログラム自1lJlil集手段、33・・・・・・測定
プログラム記憶手段、35・・・・・・位置算出手段、
36・・・・・・被測定物位置決め手段、37・・・・
・・測定制御手段、40・・・・・・測定データ記憶手
段。 第2 図 第4 図 第5図 第6図 第8図 第10図 (a) 手続ネrtl正7!7 (自発) 昭和63年10月21日 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 1、事件の表示 昭和63年 特許願 第191317号2、発明の名称 形状測定装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住所 東京都港区南麻布5丁[110番2番号7号 (
057)アンリツ珠式会社 代表者  藤 1)雄 五 4、代理人〒105  電話433−4702住所 東
京都港区新橋4−24−3 6、補正の内容
Fig. 1 is a diagram showing the overall configuration of the shape measurement '@yoi to which the present invention is applied, Fig. 2 is a plan view showing the main parts of Fig. 1, and Fig. 3 is the function of the main parts of Fig. 1. It is a block diagram. Figure 4 is a diagram showing measurement patterns for measurement items, Figure 5 is a diagram showing measurement parameters stored in the main part of Figure 3, and Figure 6 is measurement position data written in the main part of Figure 3. FIG. 7 is a diagram showing a memory list for the selection operation in FIG. 3, FIG. 8 is a flowchart showing the processing procedure of the main part of FIG. 3, and FIG. 9 is a memory diagram showing the processing results in FIG. 8. , FIGS. 10(a) and 10(b) are diagrams showing the processing procedure of the main part of FIG. 3, and FIG. 11 is a memory diagram showing the processing results of FIG. 10. FIG. 12 is a flowchart showing a part of the processing procedure at the time of re-measurement in one embodiment. 20... Measurement control unit, 21... First input means, 22... First storage means, 24...
... Measurement item selection means, 25 ... Second input means, 26 ... Second storage means, 27 ...
... Third input means, 28 ... Third storage means, 30 ... Measured object selection means, 31 ...
... Measurement sequence selection means, 32 ... Measurement program own collection means, 33 ... Measurement program storage means, 35 ... Position calculation means,
36... Measured object positioning means, 37...
...Measurement control means, 40...Measurement data storage means. Fig. 2 Fig. 4 Fig. 5 Fig. 6 Fig. 8 Fig. 10 (a) Procedures 7! 7 (Voluntary) October 21, 1985 Commissioner of the Patent Office Yoshi 1) Moon Yi 1, Incident Indication of 1986 Patent Application No. 191317 2 Name of the invention Shape Measuring Device 3 Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant address 5-chome Minami-Azabu, Minato-ku, Tokyo [110-2 No. 7 (
057) Anritsu Tamashiki Company Representative Fuji 1) Yu Go 4, Agent 105 Telephone 433-4702 Address 4-24-3 Shinbashi, Minato-ku, Tokyo 6. Contents of amendment

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被測定物をXY方向に移動させる移動台と、被測定物表
面上の測定点の高さ変化を検出するセンサと、 前記移動台を移動制御して、被測定物表面上の測定点を
移動させ、前記センサからの検出信号に基づいて被測定
物表面の形状測定を行なう測定制御部とを備えた形状測
定装置において、 形状測定の種類、該測定に必要な測定パラメータおよび
被測定物表面上で定義される測定点の位置データとを予
め測定項目毎に設定記憶する設定手段と、 前記設定手段に設定された測定項目毎の測定種類、測定
パラメータおよび位置データに基づいて、前記移動台上
に載置された1つの被測定物表面上で定義される測定プ
ログラムを編集作成するプログラム編集手段と、 前記測定プログラムに前記移動台上の被測定物の位置情
報を与えて絶対座標化する位置決め手段と、 絶対座標化した測定プログラムに従つて、前記移動台の
移動を制御し、前記センサからの検出信号により測定結
果を出力する測定実行手段と、前記測定結果を記憶する
手段と、 移動台上に載置された任意の被測定物を指定して前記測
定プログラムによる再測定を要求する再測定要求手段と
、 前記再測定要求手段により指定された被測定物の移動台
上の位置情報を前記位置決め手段に出力して、該被測定
物に対する再測定を実行させる再測定実行手段とを前記
測定制御部が備えていることを特徴とする形状測定装置
[Scope of Claims] A moving table for moving an object to be measured in X and Y directions, a sensor for detecting a change in height of a measurement point on the surface of the object to be measured, and a sensor for controlling the movement of the moving table to move the object to be measured in the X and Y directions. A shape measuring device comprising a measurement control unit that moves a measurement point on the top and measures the shape of the surface of the object based on a detection signal from the sensor, the type of shape measurement and the measurement parameters necessary for the measurement. and a setting means for presetting and storing position data of measurement points defined on the surface of the object to be measured for each measurement item, based on the measurement type, measurement parameter, and position data for each measurement item set in the setting means. a program editing means for editing and creating a measurement program defined on the surface of one object to be measured placed on the movable table; and providing position information of the object to be measured on the movable table to the measurement program. positioning means that converts the measurement results into absolute coordinates; measurement execution means that controls the movement of the movable platform and outputs measurement results based on detection signals from the sensors; and storage of the measurement results. re-measurement requesting means for specifying an arbitrary measured object placed on a moving table and requesting re-measurement using the measurement program; and moving the measured object specified by the re-measurement requesting means. The shape measuring device characterized in that the measurement control unit includes remeasurement execution means for outputting position information on the table to the positioning means and causing the measurement target to be remeasured.
JP19131788A 1988-07-18 1988-07-30 Shape measuring device Expired - Lifetime JPH07119601B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19131788A JPH07119601B2 (en) 1988-07-18 1988-07-30 Shape measuring device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63-178422 1988-07-18
JP17842288 1988-07-18
JP19131788A JPH07119601B2 (en) 1988-07-18 1988-07-30 Shape measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02124415A true JPH02124415A (en) 1990-05-11
JPH07119601B2 JPH07119601B2 (en) 1995-12-20

Family

ID=26498596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19131788A Expired - Lifetime JPH07119601B2 (en) 1988-07-18 1988-07-30 Shape measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07119601B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0465619A (en) * 1990-07-05 1992-03-02 Nikon Corp Pattern position measuring instrument

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0465619A (en) * 1990-07-05 1992-03-02 Nikon Corp Pattern position measuring instrument

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07119601B2 (en) 1995-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20030090483A1 (en) Simulation apparatus for working machine
JPH09304703A (en) Focusing device
US6147758A (en) Projection measuring instrument
JPH02124415A (en) Shape measuring apparatus
JPS62265520A (en) Three-dimensional measuring machine equipped with two detecting elements
JP2008032496A (en) Optical measuring device
JPH02124408A (en) Shape measuring apparatus
JP2678127B2 (en) Optical measuring device
JPH02124414A (en) Shape measuring method
JPH0821722A (en) Method and equipment for measuring shape
JP3183811B2 (en) Inspection support device
JP2909808B2 (en) Automatic measuring device for long structures such as bridge box girder
JPH02124407A (en) Shape measuring apparatus
JPH02124416A (en) Shape measuring apparatus
JPH10197224A (en) Picture measuring instrument
JPH02118412A (en) Shape measuring method
JP3697780B2 (en) Image measuring device
JP2888368B2 (en) Position measuring device
JP2001159515A (en) Flatness measuring method and flatness measuring device
JP2021135108A (en) Teaching program for image measuring device
JP2021135109A (en) Teaching program for image measuring device
KR101070749B1 (en) System and Method for Increasing Speed of Optic Guage Focusing in Flat Display Inspection
JPS60103485A (en) Edge position deciding method of subject to be checked for picture processor
JPS63230287A (en) Correcting method for machining error in laser beam machining
KR100800562B1 (en) Apparatus for detecting the location of defects on glass substrate for liquid crystal display