JPH021241A - 顎運動の測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本発明は、顎の動きを測定する装置に閏腰特に、上下の
顎の動きを高精度に測定できる装置に関する。

【従来の技術】

下顎に光源を装着し、光源の動きを光センサーで受光し
て、下顎の動きを測定する装置は提案されている（特開
昭５３−８９２９Ｇ号公報）。 この装置は、下顎歯茎に、前方ｔこ向けて光を発する光
源を装着し、光源の前方に、レンズを介して光センサー
を配設し、光センサーからの信号を増幅してＸＹレコー
ダとデータレコーダに記録している。 更に別の顎運動測定装置として、下顎の動きを、顎の前
方に取り付けた３３個のポテンシオメータで検出する装
置も提案されている（実開昭５４−３４２９０号公報）
。 この装置は、患者の頭部にフレームを固定し、３個のポ
テンシオメータでもって下顎の面後、左右、上下の運動
を検出している。

【従来技術の問題点】

下顎歯茎に光源を固定した装置は、光の受光位置に無数
のＣＣＤやフォトトランジスタ等の受光センサーを配設
し、この受光センサーで受光位置を検出している。下顎
が上下左右に運動すると、光源がこれと一緒に運動して
、光の照射方向が変化する。光を受光センサーで受けて
、顎の運動を測定している。この装置は、下顎が運動す
ると光の明射方向が大幅に変化する。従って、原理的に
、ＣＣＤ等の受光センサーの数が著しく増加し、または
、大きなレンズを必要として高価になる欠点がある。 叉、光を前に照射して、重力に設けられた受光センサー
で検出する装置は、顎が運動すると光の照射位置と照射
方向の両方が変わる為、受光センサーの出力信号で顎の
動きを特定する演算処理が難しく、演算処理回路も複雑
になる欠点があった。 又、光て下顎の動きを測定する従来の装置は、頭を下顎
と一緒に動かすと、頭の動きが下顎の動きとして検出さ
れ、顎の動きと頭の動きとを判別できない。この為、測
定中に患者が頭を動かすと誤差の原因となるので、頭を
固定して顎を運動する必要がある。ところが、顎をいっ
ばいに下げて口を大きく開いた状態は、頭を少し上向き
に動かさなけれは、最大限に顎を下げて、口をいっばい
に開くことができない。この為、測定中に、患者の頭か
動いて測定誤差を起こし易く、高精度の測定ができ難い
欠点があった。 更に、ポテンシオメータを使用する下顎運動測定装置は
、顎の上下、前後、左右の動きを、前方に配設されたポ
テンシオメータに伝達するので、下顎と上顎との相対運
動距離に対するポテンシオメータの移動範囲が大きく、
測定範囲が広いセンサーを使用する必要があった。 本発明は、従来のこれ等の欠点を除去することを目的に
開発されたもので、本発明の重要な目的は、上顎と下顎
に装着して、それぞれの相対運動を測定する為、測定中
に頭が動いても測定誤差の原因とならず簡単かつ容易に
、しかも正確に顎の動きが測定できる顎運動の測定装置
を提供することにある。 また、本発明の池の重要な目的は、測定装置は顎を軽く
運動でき、顎の動きが高精度に）トリ定できる顎運動の
測定装置を提供することにある。 更に又、本発明の他の重、要な目的は、測定精度を高く
しても装置全体が高価にならず、しかもセンサーからの
出力信号で下顎の動きが正確に特定でき、測定された上
顎と下顎の軌跡が電気信号で得られる為、これをコンピ
ュータに簡単に人力でき、コンピュータで演算処理する
ことによって、顎の動きの測定皿ひに分析ができる顎運
動の測定装置を提供することにある。

【従来の問題点を解決する為の手段】

顎運動の測定装置は、上顎と下顎に別々に装着される上
顎運動部材と、下顎運動部材と、これ等の上顎運動部材
、下顎運動部材の相対的な変位を検出するセンサーとか
らなる。 上顎運動部材と下顎運動部材とは、人体に装着した状態
で両端が後方に折曲されている。上顎運動部材と下顎運
動部材は、後方の折曲端に、Ｅ顎運動部材と下顎運動部
材の相対位置を電気的に検出するセンサーが配設されて
いる。 この発明の好ましい実施例に於て、センサーには、セン
サーコイルと、このセンサーコイルの周囲に交流磁界を
作る界磁コイルと、この界磁コイルの磁界によってセン
サーコイルに誘導される交流の位相を検出する位相検出
回路とが使用されろ。 界磁コイルとセンサーコイルとは非接触で、界磁コイル
は、センサーコイルを中心として相対向する位置に配設
され、更に、相対向して配設された両界磁コイルは位相
が異なる交流で励磁されて交流磁界が作られ、交流磁界
によってセンサーコイルに交流が誘導され、誘導された
交流の位相を位相検出回路で検出してセンサーコイルの
位置を測定する。

【作用、効果】

本発明の好ましい実施例を示す第１図の顎運動の測定装
置は、上顎と下顎とが相対運動すると、これに取り付け
られている上顎運動部材１と、下顎運動部材２とが相対
運動する。上顎運動部材ｌと下顎運動部材２との相対運
動は、上顎運動部材と下顎運動部材とに配設されている
センサー３て検出される。 上顎運動部材と下顎運動部材とは、これを人体に装着し
た状態で両端が後方に折曲されている。 両端が後方に折曲された上顎運動部材と下顎運動部材は
、両端を下顎近傍の両側に位置させることができる。下
顎は、付根部を中心に運動している。 言い替えれは、下顎を開く時、下顎は後端の付根部を中
心に回動する。従って、下顎は、付根部の変位が最も少
ない。この発明の上顎運動部材と下顎運動部材とは、両
端が後方に折曲されて、折曲端にセンサーが配設されて
いるので、センサーを顎付根部の近傍に配設てきる。従
って、センサーは少ない変位を測定して下顎と上顎との
相対移動を検出できる。この為、センサーに測定幅が少
ないものを使用して、上顎と下顎の運動を正確に検出で
き、安価なセンサーで高精度なｉｖす定が実現てきる。 また、センサーは、上顎運動部材と下顎運動部材との両
端に配設されて両者の相対的な変位を測定している。こ
の為、下顎を運動するときに上顎が動いてもこのことが
誤差の原因とならない。従って、簡単かつ正確に、下顎
と上顎との相対運動を測定することができる。 更にまた、センサーが変位量の少ない箇所に配設されて
いるので、下顎が上顎に対して相対運動した時に、セン
サー取付部分の上顎運動部材と下顎運動部材とは強い力
で運動される。言い替えれは、テコの原理で力が増幅さ
れたような状態で、ト顎運動部材と下顎運動部材のセン
サー取付部分か運動される。この為、上顎運動部材と下
顎運動部材とに軽くて細い部材を使用して、センサーを
確実に駆動できる特長が実現でき、また、センサーから
下顎運動部材と上顎運動部材とが受ける反作用を極めて
少なくできて、下顎を軽く運動できる特長がある。 更にまた、センサーは上顎運動部材と下顎運動部材との
相対運動を電気的に検出するので、これをコンピュータ
ーに人力でき、測定結果をコンピュータで演算して、顎
の動きを正確に分析できる特長も実現できる。 この発明の顎運動の測定装置は、センサーの構造を特定
するものではないが、センサーには、センサーコイル５
と、界磁コイル６と、位相検出回路とかななるものが使
用できる。 以下、このセンサーの動作を説明する。 センサーコイル５は、移動する位置に対応してＩＪ相が
変わる交流が誘導される。従って、センサーコイル５に
誘導される交流の位相を、位相検出回路で測定して、セ
ンサーコイル５の位置を測定する。 第１図に示すように、ひとつのセンサーコイル５てもっ
て移動した位置を測定する場合、センサーコイル５は、
第２図に於て、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の位置、並びにＹ
軸まわりの回転角θを、順番に一定＋５１１！Ｈて繰り
返し測定し、各測定時間に対するセンサーコイル５の位
１をを検出する。 Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸方向の位置、並ひにＹ軸まわりの
回転角θの１回の測定時間は、顎の動きに対して充分に
短く、例えば１０μ秒〜１００ｍ秒の範囲に決定される
。 下顎運動部材２両端の、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸方向、並
びにＹ軸まわりの回転角θが測定されろと、上顎運動部
材ｌの下顎運動部材２に対する相対位置は特定できる。 ところで、図示しないが、上顎運動部材ｌの両端ともう
ひとつの一点、例えは上顎運動部材１の中央部分の合計
３点の、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定するなら、
回転角θの測定をすることなく、下顎運動部材２の上顎
運動部材１に対する相対位置は特定できる。従って、本
発明は、センサー取付位置、並びにセンサーの検出方向
を特定するものでない。 センサーコイルが、［多動した位置によって誘導されろ
交流の位相が変わる状態を、第；３図に基づいて説明す
る。 この図に於て、界磁コイル６ＢをＥｃｏｓωＬの交流で
励磁し、前方の界磁コイル６ＡをＥｓ１ｎωｔの交流で
励磁するとき、即ち、両界磁コイル６Ａ、６Ｂを位相差
が９０度で同一周波数の交流で励磁すると、センサーコ
イル５が両界磁コイルの中央に位置するとき、センサー
コイル５には、両界磁コイル６Ａ、６Ｂの中間の位相の
交流、即ちＣＯＳ　（ωｔ＋π／４）の交流が誘導され
る。 センサーコイル５が中央から矢印Ａの方向に移動する程
、センサーコイル５に誘導されろ交流の位相は、ｓ　ｉ
　ｎωしに近付き、中央から矢印Ｂの方向に移動する程
、ｃｏｓωｔの交流に近付く。 従って、センサーコイル５に誘導される交流の位相を検
出して、センサーコイル５のＸ軸方向の位置が測定でき
る。但し、センサーコイル５に誘導される交流の位相と
、Ｘ軸方向の変位量は、両界磁コイル６Ａ、６Ｂの中間
全ての領域に渡って直線的に変化するものでない。従っ
て、検出された１ｉ２相から変位量を補正する。 センサーコイル５のＹ軸方向の変位測定は、第４図に示
すように、センサーコイル５の両側でＹ軸方向に離して
２絹の界磁コイル６Ｃ１６Ｄを配設し、図に於て右側の
界磁コイル６ＣをＥ　ｓ　ｉ　ｎωｔの交流で励磁し、
左側の界磁コイル６ＤをＥＣＯ３ωｔの交流て励磁する
。このとき、センサーコイル５が両磁界コイル６Ｃ１６
Ｄの中間に位置すると、Ｘ軸方向と同様に、センサーコ
イル５には両励磁コイルの中間の位相差、Ｉ！Ｉち、Ｃ
０５（ωｔ＋π／４）の交流が誘導される。センサーコ
イル５が右に移動すると、センサーコイルに誘導されろ
交流の位相はｓ　ｉ　ｎ　ｔ、＞　ｔに近付き、反対に
左に移動すると、ＣＯＳωＬに近付く。 従って、この場合も、センサーコイル５の位相を測定し
てＹ軸方向の位置が測定できる。 同様にして、第５図に示すように、センサーコイル５の
上下、即ちＺ軸方向に２組の界磁コイル６Ｅ、６Ｆを配
設し、両界磁コイル６Ｅ、６Ｆに位相差９０度の交流を
加え、センサーコイル５に誘導される交流の位相を検出
して、Ｚ軸方向の位置が検出できる。 更に、Ｙ軸まわりの回転角θの測定は、第６図に示すよ
うに、センサーコイル５の前後に同方向に巻かれた１組
の界磁コイル６Ａ、６Ｂを、上下に同方向に巻かれた別
の１組の界磁コイル６Ｇ、６Ｈを配設し、前後の界磁コ
イル６Ａ、６ＢをＥｓ　４　ＩＩのｔの交流で、上下の
界磁コイル６Ｇ、６ＨをＥｃｏｓωを交流で励磁して測
定する。 センサーコイル５の中心軸がＹ軸と平行のとき、センサ
ーコイル５には、これと同方向に巻かれた前後の界磁コ
イル６Ａ、６Ｂと同相、即ち、ｓ１ｎωｔの交流が誘導
される。センサーコイル５がＹ軸を中心に回転するに従
って、誘導される交流の位相がずれてＣＯＳωｔに近付
く。従って、位相のずれを検出し、Ｙ軸まわりの回転角
θを測定する。 センサーコイル５に誘導される交流の位相差は、位相検
出回路で；セリ定され、必要ならば、位相検出回路の出
力をコンピューターで演算処理して、下顎運動部材と上
顎運動部材の各点、並びに上顎と下顎各点の相対運動曲
線をモニターテレビ、ＸＹプロッタ、プリンタ等に表示
させる。 位相検出回路の出力を演算処理する技術は、現在既にこ
の分野で使用されている公知の技術が使用される。 位相検出回路には、交流の位相が測定できる全ての回路
が使用できる。第７図にその実施例を示す。 この回路は、位相差を有するふたつの交流入力信号を、
波形整形回路１１で矩形波に整形し、この矩形波をエク
スクル−シフオア回路１２に人力して、両人力信号のい
ずれか片方が１のときにのみｌのパルス信号を作り、こ
のパルス信号のパルス幅をカウンターＩ３て計測してい
る。 第８図に位相検出回路の動作波形を示す。 図の（２）に示す波形の交流がセンサーコイルに誘導さ
れると、この信号と界磁コイルの励磁電圧波形とが（３
）、（４）で示される矩形波に整形され、（３）、（４
）の矩形波がエクスクル−シブオア回路１２で比較され
て（５）のパルス信号を得る。（５）のパルス幅ｔは、
　（１）、　（２）の人力信号の位相差に相当する。 両人力信号の位相差が大きい程、エクスクル−シブオア
回路１２の出力パルスの時間幅が広くなる。パルス幅り
をカウンターで計測すると、位相差が検出できる。これ
がカウンターで測定される。

【好ましい実施例】

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。 第１図に示す顎運動機構部の測定原理は、上顎または頭
蓋に座標系を設定し、下顎に剛体結合した２標点を設け
、この標点の運動と、標点間を結ぶ軸の回転を測定する
ことによって、上下顎の任意点の顎運動を計測する。 第１図に示す顎運動の測定装置は、上顎と下顎とに別／
ンに装着される上顎運動部材ｌと下顎運動部材２と、こ
れ等の上顎運動部材１と下顎運動部材２の両端に設けら
れて変１章を測定するセンサー３とからなる。 上顎運動部材１と下顎運動部材２とは、全体形状が【１
字状ないしコ字状に折曲され、両端が下顎の運動枢軸、
即ち、顎の付根部で顔の両側に位置する。 下顎運動部材２と上顎運動部材ｌの両端であって、セン
サー３の取り付は位置が、下顎の付根部分に位置すると
、下顎を大きく開く運動をしても、センサー変位量が少
なく、従って、非接触センサーの外径、特に界磁コイル
の外形をコンパクトにてき、全体を軽くてきる。 上顎運動部材ｌと下顎運動部材２は、通常、歯に嵌着さ
れる取付部材４を介して上顎と下顎とに固定される為、
可能な限り軽ｌ化するのがよい。 従って、上顎運動部材１と下顎運動部材２とは、アルミ
ニウム等の軽金属、あるいは合成樹脂や木等で作られる
。 センサー３は、センサーコイル５ど、界磁コイル６と、
位相検出回路７とからなる。 センサーコイル５と界磁コイル６とが相対運動してその
変位が測定できる。センサーコイル５を上顎運動部材１
と下顎運動部材２のいずれか一方に、界磁コイル６を他
の一方に固定して上顎運動部材１と下顎運動部材２の変
位を測定できる。 第１図は、下顎運動部材２０両端にセンサーコイル５を
、上顎運動部材１の両端に界磁コイル６を固定している
。 センサーコイル５は、下顎運動部材２の先端部分に、下
顎運動部材２の軸と同軸に巻かれている。 センサーコイル５は巻回数が多い程、誘導させる電圧が
大きくなるが、多すぎると、重くて応答性が遅くなるの
で、通常数十〜数千回程度に決定される。 界磁コイル６は、センサーコイル５の、Ｘ、　　Ｙ、Ｚ
軸方向の変位検出用、並びに回転角θ検出用からなる。 界磁コイル６は、センサーコイル５の周囲に、センサー
コイル５が移動してもこれと接触しないように離されて
配設されている。 センサーコイル５のＸ軸方向の変位を測定する界磁コイ
ル６Ａ、６Ｂは、第３図に示すように、センサーコイル
５からＸ軸方向に通されて、即ち、図に於て前後に離さ
れて２組み設けられている。 ２絹の界磁コイルＧＡ、６Ｂはセンサーコイル５と同方
向に巻かれている。 センサーコイル５のＹ軸方向の変位を測定する界磁コイ
ル６Ｃ，ＧＤは、第４図に示すように、センサーコイル
５からＹ軸方向に離されて、即ち、図に於て左右に離さ
れて２刊み設けられている。 ２″！Ａ１の界磁コイル６Ｃ，６Ｄはセンサーコイル５
と同方向に巻かれている。 Ｚ軸変位測定用の界磁コイル６Ｅ、６Ｆは、第５図に示
すように、センサーコイル５からＺ軸方向に離されて、
即ち、図に於て上下に離されて２組み設けられている。 ２紺の界磁コイル６Ｅ、６Ｆはセンサーコイル５と同方
向に巻かれている。 Ｚ軸まわりの回転角θ測定用の界磁コイルは、第６図に
示すように、Ｘ軸変位測定用の界磁コイル６Ａ、６Ｂを
１紺の界磁コイルとして使用し、センサーコイル５の上
下に配設された界磁コイル６Ｇ、６Ｈを１絹の界磁コイ
ルとして使用する。 界磁コイル６は、センサーコイル５が挿入される１面が
開いた箱型のケース１４内に固定され、ケース１４が上
顎運動部材ｌの端に固定される。 各界磁コイル６は、位相差９０度の交流出力を出す発振
器で励磁される。 発振器の一例を第９図に示す。この発振器は、同一周波
数で位相が９０度異能る、Ｅ　ｓ　ｉ　ｎ　ｂ）ｔとＥ
ｃｏｓωｔの２出力を出す発振回路８と、発振回路８の
出力を切り換えて、各界磁コイル６Ａ。 ６Ｂ、６Ｃ，６Ｄ、６Ｅ、ＧＦ、６Ｃ；、６Ｈを励磁す
る切換回路９と、切換回路９を一定の周期で制御するタ
イマー１０とからなる。 タイマー１０で制御される切換回路９は、一定時間毎に
、発振回路８の出力を各界磁コイル６Ａ、６Ｂ・・・・
・・・・・６Ｈに切り換える。切り換えのタイミングチ
ャートを第１０図に示す。この図に於て、一定時間、セ
ンサーコイル５のＸ軸方向の変位を測定する時間、即ち
、第３図に於て、前後の界磁コイル６Ａ、６Ｂのみを励
磁して、Ｘ軸方向の変位を測定し、その後、Ｙ軸方向の
変位を測定する時間、即ち、第４図に於てセンサーコイ
ル５左右の界磁コイル６Ｃ，６Ｄを励磁してＹ軸方向の
変位を測定する。その後、一定の周期で、Ｘ軸方向の変
位と回転角θとを測定した後、再びｘ、　　ｙ、　　ｚ
軸の変位と回転角θとを測定する。 Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸並びに回転角θのそれぞれの測定
時間Ｔは、顎の動きに対して充分に早く、例えば１０μ
秒〜１００　ｍ秒の範囲に調整される。従って、この時
間に、センサーコイル５に誘導される交流の位相が検出
できるように、界磁コイル６を励磁する交流の周波数は
、１００Ｈｚ〜数十ＫＨ２に調整される。 ところで、第９図および第１Ｏ図に示すように、順番に
Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸とθ角の変位を測定する場合、位
相検出回路７も、これに同期して制御される。 従って、位相検出回路のカウンター１３の出力は、タイ
マー１０で制御される。 即ち、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定する状態で界
磁コイルが励磁されるとき、位相検出回路７はＸ、Ｙ、
　　Ｚ軸の変位に対応した位相差を検出する。従って、
位相検出回路は、第９図に示すように、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸並
びにθ角の順番で、これと同期してその変位に相当する
位相差を検出する。 ただ図示しないが、上顎運動部材とＦ顎運動部材とに、
Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸並ひにθ角測定用のセンサーコイ
ルと界磁コイルとを設け、各センサーコイルの位相差を
連続的に検出して、下顎運動部材の上顎運動部材に対す
るＸ、　　Ｙ、　　Ｚ軸並ひにθ角の連続測定は可能で
ある。 但し、この場合、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸とθ角測定用の
界磁コイルは、互いに磁力線が干渉しないように１−顎
運動部材と下顎運動部材とに固定する必要がある。 位相検出回路７は、交流の位相が検出できる全ての回路
が使用できる。第７図の位相検出回路７は、ふたつの人
力サイン波を矩形波に整形する波形整形回路１１と、こ
の波形整形回路１１の出力を比較するエクスクル−シブ
オア回路１２と、このエクスクル−シブオア回路１２の
出力パルスの時間幅を測定するカウンター１３とからな
る。 一方の波形整形回路１１には、界磁コイル６を励磁する
Ｅ　ｓ　＋　ｎ　ｂＪｔ又はＥ　ｃ　ｏ　ｓ　ωｔのい
ずれかの交流を加え、別の波形整形回路１１には、セン
サーコイル５に誘導された交流を加える（第８図（１）
、（２）の人力波形）。 波形整形回路１１は、両人力信号を、第８図の（３）、
　（４）で示す矩形波に整形する。 エクスクル−シブオア回路１２は、両人力信号の位相差
成分を取り、第８図（５）に示すように、位相差に相当
するパルス幅ｔの信号を出力する。 出力信号のパルス幅りがカウンターｌ：３で測定され、
カウンター１３の出力が位相差を表示する。 今仮に、波形整形回路１１の一方に、Ｅ　ｓ　ｉ　ｎω
ｔの交流を人力し、この状態で、センサーコイル５がＥ
ｓ１ｎωｔの交流で励磁される片方の界磁コイルに接近
すると、センサーコイル５に誘導される交流の位相は、
第８図（２）の矢印で示す方向に位相がずれてＥ　ｓ　
ｉ　ｎωｔに近付き、波形整形回路１１の出力信号の位
相差が少なくなる。 従って、エクスクル−シブオア回路１２の出力信号のパ
ルス幅ｔは短く、カウンター１３の計測値は低くなる。 反対に、センサーコイル５がＥｓ１１１ωｔの交流て励
磁される界磁コイルから離れ、Ｅ　ＣＯＳυ）ｔの交流
で励磁される界磁コイルに近付くと、センサーコイル５
に誘導される交流は、Ｅｓｉ口ωｔの交流から位相のず
れが大きくなり、エクスクル−シブオア回路１２の出力
パルス幅が広く、カウンター１３の計測値が高くなる。 前にも述べたようにカウンターの計測値は、第１！図に
示すように、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸並びにθ角の変位端
に対して、直線的に変化しない。従って、第１１図に示
す特性曲線をコンピュータに記憶させ、これに基づいて
、検出位相差から正確に移動位置を演算することも可能
である。 以上の実施例は、界磁コイル６を位相差９０度の交流で
励磁したが、位相差は必ずしも９０度にする必要はなく
、両界磁コイル６に流す交流に位相差が有る限り使用で
きる。但し、界磁コイルの位相差が少ないと、測定精度
が低下する。 第１図に示す顎運動の測定装置は上顎運動部材ｌと下顎
運動部材２の両端にセンサー３を固定しているが、本発
明はセンサーの固定位置を特定するものでない。例えは
、図示しないが、上顎運動部材１と下顎運動部材２の両
端と中間の３点に、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定
するセンサーを固定することも、又、取付部材４の前方
３点のＸ、　　Ｙ、Ｚ軸の変位を測定することも可能で
ある。センサーは、立体的に相対運動する上顎運動部材
１と下顎運動部材２の位置が特定できる全ての取付状態
が採用できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す顎運動の測定装置の概
略斜視図、第２図は頭に対するＸ、　　Ｙ、Ｚ軸を示す
斜視図、第３図ないし第６図はセンサーコイルと界磁コ
イルの配列を示す概略斜視図、第７図は位相検出回路の
一例を示すブロック線図、第８図は波形成形回路の人出
力並ひにエクスクル−シブオア回路の出力波形を示すグ
ラフ、第９図は発振器の一例を示すブロック線図、第１
０図はＸ、　　Ｙ、　　Ｚ軸とθ角を測定するタイミン
グチャート図、第１１図は変位と位相差とを示すグラフ
である。 ｌ・・・・・・上顎運動部材、２・・・・・・下顎運動
部材、３・・・・・・センサー、　　　４・・・・・・
取付部材、５・・・・・・センサーコイル、 ６・・・・・・界磁コイル、　　７−・・・・・位相検
出回路、８・・・・・・発振回路、　　　９・・・・・
・切換回路、１０・・・・・・タイマー、　　１】・・
・・・・波形整形回路、１２・・・・・−エクスクル−
シブオア回路、】３・・・・・・カウンター　１／１・
・・・・・ケース。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 上顎と下顎に別々に装着される上顎運動部材と、下顎運
   動部材と、 これ等の上顎運動部材、下顎運動部材の相対的な変位を
   検出するセンサーとからなる顎運動測定装置に於て、 上顎運動部材と下顎運動部材とは、人体に装着した状態
   で両端が後方に折曲されており、後方の折曲端に、上顎
   運動部材と下顎運動部材の相対位置を電気的に検出する
   センサーが配設されていることを特徴とする顎運動測定
   装置。