JPH02120716A - 光軸微調装置 - Google Patents

光軸微調装置

Info

Publication number
JPH02120716A
JPH02120716A JP27466588A JP27466588A JPH02120716A JP H02120716 A JPH02120716 A JP H02120716A JP 27466588 A JP27466588 A JP 27466588A JP 27466588 A JP27466588 A JP 27466588A JP H02120716 A JPH02120716 A JP H02120716A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fine adjustment
prism
optical axis
angle
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27466588A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2756681B2 (ja
Inventor
Rei Morimoto
玲 森本
Tamihiro Miyoshi
民博 三好
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP27466588A priority Critical patent/JP2756681B2/ja
Publication of JPH02120716A publication Critical patent/JPH02120716A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2756681B2 publication Critical patent/JP2756681B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ミラ一の調整等によっては困難な微小角度
、微小シフト量を設定するための光軸微調装置に関する
ものである。
[従来の技術] プリズムは単色光線を入射させた場合、この入射光線と
出射光線とのなす角を偏角、あるいはふれ角と呼ぶが、
この偏角は入射角と出射角とが等しいときに最小値をと
り、この付近の領域では入射角の変化に対する偏角の変
化率が低くなる。
すなわち、この性質を利用すれば、光線のプリズムに対
する入射角度を比較的大きなレベルで調整することによ
って、この光線の角度を微小なレベルで変化させること
ができるこ′ととなる。
しかしながら、1つのプリズムで調整を行おうとすると
、入射光束と出射光束との間に常□に角度差があり、ま
た、入射光束と出射光束との断面形状も変化し、波長帯
域の広い光、例え□ば白色光を入射させた際には色収差
も顕著左なるため、用途によっでは使用できない場合が
あった。
これらの問題を解決するために、第16図に示したよう
に2つのプリズムを用いた光軸微調装置も考えられてい
る。
図示されるように、この光軸微調装置は各入出射端面が
光束の入射方向と垂直な一軸と平行な2つの三角プリズ
ムPI、  P2を有しており、プリズムP1をその一
軸に平行な回動軸91回りに回動させることによって出
射光の角度を微調整するものである。
このような構成とされた光軸微調装置においては、三角
プリズムP+を軸91回りに回動させることによって出
射光束の方向を前述した入射角と偏角との関係に従って
変化させることができる。
[発明が解決しようとする課題] ところが、この光束微調整装置においては、前述の問題
点は略解決できるものの、入射光束と出射光束とが大き
くシフトしてしまうため、出射光との関係で光源装置あ
るいは調整装置自身の位置設定が難しいという問題点が
あった。
[l!!明の目的] この発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、
入射光束と出射光束との間のシフトを小さく抑えると共
に、この角度とシフトとを微小なピッチで可変とするこ
とができる光軸微調装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明は上記の目的を達成させるためになされたもの
であり、請求項1は、それぞれの入射端面及び出射端面
が、入射光束の中心軸に対して垂直に交わる一の直交線
分と平行な線分を含んで中心軸に対して同一方向に傾斜
し、かつ、入射側のプリズムの入射端面及び出射側のプ
リズムの出射端面が他の2面より中心軸に対する傾斜が
小さくなるよう配置された第1、第2プリズムと、第1
、第2プリズムの少なくとも一方を直交線分と平行な回
動軸回りに回動調整自在とする回動調整機構と、第1、
第2プリズムの少なくとも一方を前記中心軸に沿ってス
ライド調整自在とするスライド機構を備えることを特徴
とする。
第1図はこの発明に係る光軸微調装置のプリズム部分の
断面を示す概念図である。なお、以下の説明では各面の
角度は中心軸(−点鎖線)と垂直な面に対する角度とし
、図中反時計回りを正として角度をとることとする。
この光軸微調装置においては、第1プリズム10の入射
端面11の角度をθ電、出射端面の角度を02とし、第
2プリズム20の入射端面21の角度をθt+Δ、出射
端面22の角度を01+Δとしている。すなわち、ここ
では頂角1θ1−021の同一なプリズムを2つ使用し
ている。
ここで、1θ11(1θt1であるため、光束は各プリ
ズム内で図中下方に偏向し、両プリズム間で図中上方に
偏向することとなる。従って入射光束と出射光束とのシ
フトを従来と比較して低く抑えることができ、所定の条
件を満たすよう配置すれば、光束のシフトを0とするこ
ともできる。
ここで第1プリズム10に入射して屈折した光束が中心
軸となす角をα、第1プリズム10を出射した光束が中
心軸となす角をβ、第2プリズム20に入射した光束が
中心軸となす角をα゛とし、また中心軸に沿う第1プリ
ズム10の厚さをd、第2プリズム20の厚さをd゛、
使用波長での屈折率をn、両プリズム間の間隔を霊とす
る。
第2プリズムから出射する光束の中心軸に対する角度U
は、 U=θ重+Δ−5in−’[n−5in(θ1−02+
β:θ5−sin−’(n−sin(θt−a))si
nθ1 α=θ+−5in−’() となる。
Δ:0の場合にU=Oとなる。
Δに対するUの感度す なわち微分は、 5in(θ2+Δ−β) kR=θ1−θ2+5tn−’( となる。
すなわち、第2プリズムを第1プリズムに対向する角度
からΔ回動させて設定すれば、出射光束は入射光束に対
してUなる微小角偏向される。
また、その角度から更に回動させれば、du/dΔの減
衰された感度で角度の微調整を行なうことができる。
第2プリズムの入射端面による屈折光と光軸との角度α
゛は、 a ’ :(32+A −5in−1(”” ”’−β
))となる。
(以下余白) シフトfisは、 1+tana’、jan(o++A) ’ (d”’°
°“パS= 1+tana  ・jan(θ2÷Δ)1+tanα・
tanθ2 9に対するSの変化量は、 となる。
両プリズムの間隔2を適宜設定することにより、8分だ
け光軸がシフトし、ds/d 11の減衰された感度で
調整を行ない得る。 s=0とするための条件は、とな
り、特にΔ:Oの場合α゛=αとなるので、となる。
[実施例コ 次に、この発明の光軸微調装置を、フィルム等に対して
精密パターンを描画するレーザーフォトプロッターに適
用した実施例を説明する。
まず、第2図〜第4図に従って装置全体の概略構成を説
明し、その後光学系の説明を行う。
この装置は、Xテーブル100及びYテーブル200が
設けられた本体1と、この本体1の長手方向の両端に設
けられた支柱2.3によってテーブルの上方に固定され
た光学ヘッド部4とから概略構成されている。
Xテーブル100は、本体1のキャビネット部に対して
1方向にスライド自在に設けられ、X方向用DCモータ
101によりボールネジ102を介して駆動される。
Yテーブル200は、このXテーブル100上に設けら
れたガイドレールに沿ってスライド自在に設けられ、y
方向DCモータ201によりポールネジ202を介して
駆動される。
また、Yテーブル上に設けられた描画板部300は、独
立して駆動されるAP駆動部310,320,330に
より上下動、傾動可能に支持されている。
従来のベクター描画装置においても、上記と同様にx−
yテーブルを用いて描画を行っていたが、ビームの方向
が固定されていたため2軸の動作が全て機械的であり、
描画スピードが遅い上、送り機構のバックラッシュ等の
影響も出やすかった。
この改良としてテーブルを1軸駆動として1方向のみに
スライドさせ、光学ヘッドを走査式光学系としてラスタ
ースキャンによる描画を行うシステムが存在する。
しかし、従来のラスタースキャン装置は比較的精度の緩
い描画を対象としており、描画の最小線幅を決定するス
ポット径は30μm程度であった。より高精度の描画を
目的とする場合には、スポットを絞るために走査レンズ
の焦点距離を短く設定する必要がある。
しかし、この場合、走査角度が従来と同一であれば走査
幅は小さくなり、焦点深度も浅くなる。
そこで、この実施例の装置では描画面の主走査方向の幅
を一回の走査でカバーせずにこれを複数の領域に分割し
、複数回の走査によって主走査方向の幅全体に描画でき
るようテーブルの駆動方式を2軸としている。但し、基
本的にはラスタースキャン方式であるため従来のベクタ
ースキャン装置のような、テーブルの両方向の駆動は必
要なく、描画時の駆動は両軸とも1方向のみとしてバッ
クラッシュの影響を除去している。
また、焦点深度が浅くなる問題は、AF機構を設けて描
画板部300を光学ヘッド部4に対して上下動作せて常
に適切な位置となるよう制御することで解決している。
この結果、描画スピードは多少犠牲となるが、高精度の
描画を行うことを可能としている。
基本的な動作としては、固定された光学ヘッド部4に対
し、Xテーブル100を移動させつつスポットを走査し
て描画を行い、所定の走査幅でX方向の走査が終了する
と、Yテーブル200を走査幅分移動すると共にXテー
ブル100を書き初めと同一位置に戻し、再びXテーブ
ル100を移動させつつ描画を行う。
光学ヘッド部4には、走査充用レーザー400から発す
るビームを偏向させるポリゴンミラー450及びこのポ
リゴンミラー450で反射されたビームを描画面上に収
束させるfθレンズ500等の走査充用の光学素子が設
けられている。
また、テーブルの正確な位置出のため、レーザー測長器
が設けられている。レーザー測長器は、測長用レーザー
460からの光束を2分してYテーブル200に固定さ
れたX軸ミラ一部470、y軸ミラ一部480で反射さ
せ、この反射光を受光して各テーブルの移動量を測定す
る公知の構造である。
ポリゴンミラー450は、光学ヘッド部4の端部に設け
られたスピンドル部451に固定され、描画板部300
に対して垂直な面内で回転自在とされている。
次に、第4図及び第5図に基づいて各光学素子の配列を
説明する。なお、第5図は第4図中の光学素子のみを抜
き出して概略的に示した斜視図であり、付された符号は
両図共通である。
このフォトプロッターは、走査充用レーザー400から
出射するレーザー光を3本に分割し、その内の2本によ
って描画面上に2つのスポットを形成し、残りの1本を
スポットの正確な位置を検出するためのモニター光とし
て用いている。描画面上のスポットは、ポリゴンミラー
450の回転によって隣接する走査ライン上を主走査方
向に所定間隔をおいて同時に走査する。
主走査方向の間隔を設けた理由は、隣接する走査ライン
の間隔が精密描画を行うためにスポット径より小さく設
定されており、間隔を設けないと2つのスポットが一部
オーバーラップして干渉により描画性能を不安定なもの
とする虞があるからである。
なお、2つの光束を同一光路に合成するためには、2本
の光束の偏光方向を互いに直交させ、偏光ビームスプリ
ッタ−を用いて合成する構成が一般的であるが、上記の
ように1つの光源から発する光束を3つに分割し、再び
合成して同一の偏向器によって走査させるためには偏光
方向のみによる分割、合成では実現できない。
そこで、この光学系においては、描画用の光束とモニタ
ー用光束とを偏光を利用して区別し、2本の描画用光束
とおしは同一のレンズに対して異なる方向から入射させ
ることによって同一光路上に合成している。このような
合成方法が許容させるのは、前述したように描画用のス
ポットを主走査方向にずらして形成する構成を採用して
いるからである。
走査充用レーザー400から発したレーザー光は、ピン
ホール401を介して5%反射のハーフミラ−402に
より二分される。このハーフミラ−402で反射された
レーザー光はモニタ用光束L@とじて利用される。
一方、ハーフミラ−12を透過したレーザー光はAO変
調器(超音波光学変調器)に対してS偏光として入射す
るよう第1の1/2波長板403で偏光方向を90゜回
転され、50%0%反射0%透過の第1のビームスプリ
ッタ−404で更に二分される。そして、分割された2
本の光束は、描画面上で離間する2つのスポットを形成
する描画用光束として用いられる。
第1のビームスプリッタ−404で反射された第1描画
用光束L+は、ビームベンダー405で反射され、レン
ズ406を介して第1描画用AO変調器407の位置に
集光する。
このAO変調器407は、ブラッグ条件を満たす方向か
ら入射するレーザー光をトランスデユーサ−への超音波
の入力により回折させるもので、入力される超音波を0
N10FFすることにより、レーザー光を0次光と1次
光とに切り換えることができ、1次光を描画光束として
利用する。  AO変調器407は、描画面に対するド
ツト単位の露光情報である書き込み信号により制御され
る。
変調されたON光である1次光は、AO変調器407の
後方に設けられたレンズ408によって再び平行光束と
され、それぞれ2個のプリズムからなる第1、第2の光
軸微調部410,420により所定角度偏向され、ビー
ムベンダー409の端部を僅かに外れて第ルンズ系43
0に入射する。
他方、第1のビームスプリッタ−404を透過した第2
描画用光束L2は、レンズ406′を介して収束光とさ
れ、第2描画用AO変調器407“に入射する。  A
O変調@ 407’の機能は、前記の第1描画用AO変
調器407と同様である。但し、この第2描画用AO変
調器407°を駆動する信号は、前記の第1描画用^0
変調器407に入力される信号とは1ライン分ずれたラ
インを走査するための信号である。
第2描画用AO変調3407°を出射した1次光は、レ
ンズ408°を通して2個のプリズムからなる第3光軸
徴調部41σ、ビームベンダー431、そして第4光軸
微調部420゛を介して所定角度偏向され、ビームベン
ダー409の端部で反射されて第ルンズ系430に入射
する。
なお、レンズ406,406’は19ページの第1表に
示したような構成であり、レンズ408.408°は第
2表に示した構成である。以下、表中のfは全系の焦点
距離、riはレンズ系の第1面の曲率半径、dlは第1
面と第i+1面間の距M(レンズ厚及び空気間隔)、n
iは第1面と第i+1面間の媒質の使用波長での屈折率
をそれぞれ表わしている。
像面上で複数のスポットを微小量分離し、かつ各スポッ
トの収束性能を高く保つためには、各光束が微小角度を
有するように偏向器上で同一位置に合成される必要があ
る。
これを達成するため、角度、位置の微小設定、調整が必
要となるが、特に角度方向に対する誤差は像面上で倍増
されるため、厳しい精度が要求され、ミラーによる調整
では満足する精度を得ることができない。
そこで、この装置においては、光束の方向、シフト量を
微小なピッチで調整するために上述したように1つの光
路につき2組の光軸微調部を設けている。同様の理由か
ら、モニター光LOに関しても第5、第6光軸微調部4
10”、420”が設けられている。
第1光軸微調部410の第1、第2プリズム411,4
12の構成は第6図及び19ページの第3表に示した通
りであり、第2光軸微調部420の第1、第2プリズム
421゜422の構成は第7図及び第4表に示した通り
である。
なお、第6図は光学ヘッド部4の上面に対して垂直なx
−y面内での断面図、第7図は上面に対して平行なX−
Z面内での断面図である。また、第1光軸徴調部410
のプリズムはx−y面内では光束の入射方向に対して傾
斜がなく、この面内での偏向には関与しない、同様に、
第2光軸微調部420のプリズムはx”z面内では光束
の偏向に関与しない。
これらのプリズムの設定値を5ページ〜8ページに対応
させて表示すれば、以下の通りとなる。
第1光軸微調部410 θ1=−15°、θ2=−25°、頂角10°、Δ=−
0,24”、d=d’=10.oo、j =18.86
、n=1.52177u=−0,0171”、du/d
Δ=6.0717s=0.33、ds/dll =0.
113a =−5,21@13 =6.02@、a ’
 =−5’、30’、堂・=15.91 第2光軸微調部420 θI=−15”、θ2=−25°、頂角10°、Δ=−
1,82°、d=d’=5.00%f=28.39、n
l、521??u=−0,135°、du/dΔ=0.
0781s=2.27、ds/df :0.114α=
−5,21@  β=6.02’″、α’ =−5,9
5°、!9 @=8.39また、第3光軸微調部は、第
6図を上下反転させた状態で配置されており、すなわち
各面の角度θ1、θ2及びΔの符号が上記の例と反対と
なるのみで他の構成は上記と同様である。
第1表 算距離は127.89である。
第2表 算距煎は127.89である。
第3表 第4表 では120.00である。
更に、モニター光と各描画光とは、第1の偏光ビームス
プリッタ−437以降同一の光路をとることとなる。
各プリズムの状態を上記の設定値と一致させるため、第
1光軸微調部410の第1プリズム411は光軸方向に
スライド調整自在とされ、第2プリズム412はZ軸と
平行な回動軸回りに回動調整自在とされている。また、
第2光軸微調部420の第1プリズム421は光軸方向
にスライド調整自在とされ、第2プリズム422はy軸
と平行な回動軸回りに回動調整自在とされている。調整
機構については後述する。
そしてこの例では、第1、第2の描画用光束り、 、L
2は、その中心軸が互いに主走査方向に0.27°、副
走査方向に0.034°の角度をもち、主走査方向に3
.8m、副走査方向に0.48mm1l!!れた位置か
ら第ルンズ系430に入射するよう構成されている。
さて、上記の光束方向調整装置420 、420°を出
射した光束が入射する第ルンズ系430は、23ページ
の第5表に示すようにr+−+」の3枚構成による正レ
ンズであり、入射するレーザー光を収束させる。
そして、この第ルンズ系50による集光点より空気換算
距離で62mm手前側に、ポリゴンミラー450の面倒
れによる影豐を補正するための補正用^0変51343
2が設けられている。
補正用AO変調器432を出射した描画用のレーザー光
は、第23ページの第6表に示した「+−」の2枚構成
のリレーレンズ系433を透過し、第7表に示した「−
+」の2枚構成の第2レンズ系434に入射する。
第2レンズ系434により再び平行光束とされた描画用
のレーザー光は、光量調整用のバリアプルフィルタ一部
435を透過すると共に、ビームベンダー436で反射
されて第1偏光ビームスプリッタ−437においてモニ
ター光と合成される。すなわち、ハーフミラ−402で
分割されたモニタ光L―は、ビームベンダー438で反
射され、第5、第6光軸微調部410” 。
420″によって所定角度偏向されると共に、ビームベ
ンダー439.440で反射されて第1偏光ビームスプ
リッタ−437にS偏光として入射し、反射される。
一方、2本の描画用光束は第1の172波長板403に
よりモニター光とは偏光方向が異なるものとされている
ため、P偏光として入射してそのまま透過することとな
る。
2本の描画用光束とモニター用光束とは、第2の1/2
波長板441によりそれぞれ偏光方向が90@回転させ
られ、24ページの第8表に示したr−+−+Jの4枚
構成による第3レンズ系442、ビームベンダー443
を介して第9表に示した「++」の2枚構成の第4レン
ズ系444に入射する。そして、第4レンズ系444を
出射した光束は、3つのビームベンダー445,446
,447を介してポリゴンミラー450に向けられ、こ
のポリゴンミラー450によって反射偏向される。
第ルンズ系430と第2レンズ系434とは、倍率1゜
67倍の第1のビームエクスパンダ−系を構成しており
、0.7φのビームを1.17φに拡大する。そして、
第3レンズ系442と第4レンズ系444とは、倍率2
1,4倍の第2のビームエクスパンダ−系を構成してお
り、2本の描画用光束は1.17φから25φに拡大さ
れる。
リレーレンズ系433は、これらのビームエクスパンダ
−系の作用に関与せずに、補正用AO変調器432とポ
リゴンミラー450の反射面とを共役とし、第5表 第8表 では150.00であり、第2レンズ系430の第6面
から補正用AO変調r4432までの空気換算距離は5
4.67であり、第2レンズ系による集光点と変調面と
の空気換算距離は81.95である。
第6表 第9表 の空気換算距離は140.38である。
第7表 は296.94であり、第4レンズ系444の第4面か
らポリゴンミラーまでの距離は1261.00である。
リレーレンズ系の第4面と第2レンズ系の第1面との距
離は76.55である。
ポリゴンミラ一の面倒れ補正、及びこの補正に伴うポリ
ゴンミラー上での光束のずれを補正する機能を有してい
る。
ポリゴンミラー450の反射面は、加工誤差等の問題か
ら回転軸に対する傾き、すなわち面倒れ誤差が発生し、
反射面毎に走査ラインがスポットの走査方向に対して垂
直な副走査方向にずれることとなる。
この面倒れ誤差を補正するため、単に光源と偏向器との
間にAO変調器を設けて副走査方向への入射角度を微小
偏向する場合には、面倒れによる反射光束の角度ずれは
補正できるが、この補正に伴って反射光束に平行なシフ
トが発生する。そして、このシフトによりfθレンズへ
の入射光束が副走査方向にずれ、レンズ性能の悪化や走
査ラインの湾曲、場合によっては枠によるケラレを生じ
て問題となる。
そこでこの装置では、補正用AO変調器432と、ポリ
ゴンミラー450とを光学的にほぼ共役な状態としてい
る。光学的に共役であるとは、必ずしも結像関係にある
ことを意味しないが、主光線のみを考えると光束の角度
ずれがあっても位置ずれが生じないことが理解できる。
ポリゴンミラー450による反射光束は、次ページに示
す焦点距11151mmのfθレンズ500によって収
束され、描画光束は第2の偏光ビームスプリッタ−44
8を透過して描画面に直径5μmの2つのスポットを形
成する。
他方、モニター光はこのビームスプリッタ−448で反
射され、走査方向に直交する縞状のパターンを有する走
査補正用スケール801を有する受光光学系800に入
射する。この受光光学系800は、スケール801上を
走査するビームの透過光量の変化から走査速度に比例す
る。周波数のパルスを出力する。
描画面上に形成される2つのスポットは、主走査方向に
対しては20μm、副走査方向に対しては1う、イン間
隔分の2.5μmN間して形成される。
なお、符号900は3対のLEIIとPSDとからなる
焦点検出機構であり、描画面での反射光により描画面が
fθレンズの焦点深度内にあるか否かを判断する。
第10表 fθレンズ FNO,=6゜Of=151.207 20=40 ”
瞳位置 第1面より前方 94.030mm次に、前述
した光軸微調部の構成を第8図〜第15図に基づいて説
明する。ここでは、便宜上第1、第2光軸微調部につい
て述べるが、他の光軸微調部もプリズムの方向が異なる
のみで他の機構は同一である。
第8図〜第11図は、第1光軸徴調部410を示したも
のである。
この光軸微調部410は、第8図に示したように光学ヘ
ッド部4にボルト固定される基部600と、この基部6
00上に固定され第1プリズム411が取り付けられた
スライド調整部610、及び第2プリズム412が取り
付けられる回動調整部620とを有している。
スライド調整部610は、第9図に示したように基部6
00に固定された固定部611と、この固定部のガイド
レール8!横によって光軸方向にスライド自在な移動部
612とから構成されている。
そして、固定部611には、保持部613を介してスラ
イド用マイクロメーターヘッド630が固定されている
一方、移動部612には、第10図に示したように光路
孔が穿設されて第1プリズム411が接着された断面り
字状の金具614が固定されており、またマイクロメー
ターヘッド630に対向する位置にガイド部615が一
体に固定されている。
そして移動部612は、内部のバネにより光束の入射側
、すなわち第8図中の左側に付勢されており、マイクロ
メーターヘッド630のスピンドル631の先端はガイ
ド部615に当て付けられている。
従って、移動部612はスライド用マイクロメーターヘ
ッド630の回動調整により光軸方向にスライド調整す
ることができ、所定の位置に調整された後、ボルトを締
め付けて移動部612を固定部611に固定する。
他方、回動調整部620は、基部600にボルト固定さ
れた固定部621と、第2プリズム412の中心に位置
する回動軸622(第10図参照)を中心に固定部62
1に対して回動自在に設けられた回転ステージ623と
を有している。
また、回転ステージ623には、第2プリズム4)2が
接着された断面り字状の金具624が固定されると共に
、このステージと一体に回転するバー625が一端側に
突出して設けられている。
固定部の一端面には、第11図に示したような断面コ字
状の保持部材626が固定されている。この保持部材6
26の上腕部626aには回動用マイクロメーターヘッ
ド640が設けられており、下腕部626bにはこのヘ
ッドに対向してスプリングプランジャー650が設けら
れている。
回転ステージ623のバー625は、上記の回転用マイ
クロメーターヘッド640のスピンドル641の先端と
スプリングプランジャー650との間に挟持されており
、この回動用マイクロメーターヘッド640を調節する
ことにより第2プリズム412の傾斜角度を自由に設定
することができる。この調整により第2プリズムの傾斜
を前述の設定値に合わせた後、ボルトにより回転ステー
ジ623を固定部621に固定する。
第12図〜第15図は第2光軸微調部420を示したも
のである。
この光軸微調部420は、光学ヘッド部4にボルト固定
される基部700と、この基部700上に固定され第1
プリズム421が取り付けられたスライド調整部710
、及び第2プリズム422が取り付けられる回動調整部
720とを有している。
スライド調整部710は、第13図に示したように基部
700に固定された固定部711と、この固定部のガイ
ドレール機構によって光軸方向にスライド自在な移動部
712とから構成されている。
そして、固定部711には、保持部713を介してスラ
イド用マイクロメーターヘッド730が固定されている
一方、移動部712には、第12図に示したように光路
孔が穿設されて第1プリズム411が接着された断面り
字状の金具714が固定されており、またマイクロメー
ターヘッド730に対向する位置にガイド部715が一
体に固定されている。
そして移動部712は、内部のバネにより光束の入射側
、すなわち第12図中の左側に付勢されており、マイク
ロメーターヘッド730のスピンドル731の先端はガ
イド部715に当て付けられている。
従って、移動部712はスライド用マイクロメーターヘ
ッド730の回動調整により光軸方向にスライド調整す
ることができ、所定の位置に調整された後、ボルトを締
め付けて移動部712を固定部711に固定する。
他方、回動調整部720は、基部700にボルト固定さ
れた固定部721と、第2プリズム422の中心に位置
する回動軸722を中心に固定部721に対して回動自
在に設けられた回転ステージ723とを有している。
また、回転ステージ723には、第2プリズム422が
接着された断面り字状の金具724が固定されると共に
、このステージと一体に回転するバー725(第12図
参照)が一端側に突出して設けられている。
固定部721の一端面には、第12図に示したように側
方へ向けて突出する2つの保持部材726,727が固
定されている。保持部材726には回動用マイクロメー
ターヘッド740が設けられており、保持部材727に
はヘッドに対向するスプリングプランジャー750が設
けられている。
回転ステージ723のバー725は、上記の回転用マイ
クロメーターヘッド740のスピンドル741の先端と
スプリングプランジャー750との間に挟持されており
、この回動用マイクロメーターヘッド740を調節する
ことにより第2プリズム420の傾斜角度を自由に設定
することができる6 この調整により第2プリズムの傾
斜を前述の設定値に合わせた′後、ボルトにより回転ス
テージ723を固定部722に固定する。
なお、第1、第2光軸微調部は、描画用AO変調器の1
次回折光の光路上にあるため、回折角、1°だけ底面に
傾斜が付けである。
[効果] 以上説明してきたように、この発明に係る光軸微調装置
では、入射光束と出射光束とのシフトを小さく抑えつつ
、光束の角度、シフト量を微小なピッチで調整すること
ができるため、光源装置あるいは調整装置自身の位置設
定が容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の原理を示すための説明図である。 第2図〜第4図は実施例に係るフォトプロッターを示し
たものであり、第2図は側面図、第3図は正面図、第4
図は平面図、第5図は光学素子の配置を示す、概略斜視
図である。 第6図及び第7図は実施例に使用されるプリズムの配置
を示す説明図である。 第8図〜第11図は上記実施例に係る第1光軸徴調部の
メカ系を示したものであり、第8図は側面図、第9図は
正面図、第10図は平面図、第11図は背面図である。 第12図〜第15図は上記実施例に係る第2光軸微調部
のメカ系を示したものであり、第12図は平面図、第1
3図は側面図、第14図は正面図、第15図は背面図で
ある。 第16図は従来の光軸微調装置の説明図である。 410・・・第1光軸微調部  420・・・第2光軸
微調部411.421・・・第1プリズム 412,4
22・・・第2プリズム610.710・・・スライド
調整部 620.720・・・回動調整部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)それぞれの入射端面及び出射端面が、入射光束の
    中心軸に対して垂直に交わる一の直交線分と平行な線分
    を含んで前記中心軸に対して同一方向に傾斜し、かつ、
    入射側のプリズムの入射端面及び出射側のプリズムの出
    射端面が他の2面より前記中心軸に対する傾斜が小さく
    なるよう配置された第1、第2プリズムと、 前記第1、第2プリズムの少なくとも一方を前記直交線
    分と平行な回動軸回りに回動調整自在とする回動調整機
    構と、 前記第1、第2プリズムの少なくとも一方を前記中心軸
    に沿ってスライド調整自在とするスライド機構を備える
    ことを特徴とする光軸微調装置。
  2. (2)前記第1、第2プリズムは、頂角の等しいプリズ
    ムであることを特徴とする請求項1記載の光軸微調装置
JP27466588A 1988-10-31 1988-10-31 光軸微調装置 Expired - Fee Related JP2756681B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27466588A JP2756681B2 (ja) 1988-10-31 1988-10-31 光軸微調装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27466588A JP2756681B2 (ja) 1988-10-31 1988-10-31 光軸微調装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02120716A true JPH02120716A (ja) 1990-05-08
JP2756681B2 JP2756681B2 (ja) 1998-05-25

Family

ID=17544853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27466588A Expired - Fee Related JP2756681B2 (ja) 1988-10-31 1988-10-31 光軸微調装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2756681B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5966987A (en) * 1997-05-28 1999-10-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Controlling device of tunable filter
JP2020109860A (ja) * 2013-06-27 2020-07-16 ギガフォトン株式会社 光ビーム計測装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5966987A (en) * 1997-05-28 1999-10-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Controlling device of tunable filter
JP2020109860A (ja) * 2013-06-27 2020-07-16 ギガフォトン株式会社 光ビーム計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2756681B2 (ja) 1998-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5055663A (en) Optical scanning system and method for adjusting thereof
US5986778A (en) Hologon deflector system having dispersive optical elements for scan line bow correction, wavelength shift correction and scanning spot ellipticity correction
JP2761744B2 (ja) 走査式描画装置のポリゴンミラー分割面倒れに基づく走査ビーム補正装置
KR0137218B1 (ko) 광픽업
US5218461A (en) Scanning optical apparatus
EP2149777A2 (en) Oblique incidence interferometer
US3873180A (en) Light beam scanning system with scan angle demagnification
US6643026B2 (en) Optical system for oblique incidence interferometer and apparatus using the same
US20200341379A1 (en) Pattern drawing device
JP2696364B2 (ja) 走査式光学装置のモニター機構
JPS61117516A (ja) 光学レ−ザビ−ム偏向装置
JPH02120716A (ja) 光軸微調装置
JP2002196270A (ja) レーザー描画装置
JP3463054B2 (ja) マルチビーム走査装置
JP2678485B2 (ja) 走査式描画装置の描画面調整機構
JPH05333282A (ja) マルチビーム記録装置
US5341212A (en) Wave front interferometer
JP2548928B2 (ja) 多ビ−ム走査式光学装置
JP2709949B2 (ja) 走査式描画装置の描画面調整機構
JP2678486B2 (ja) 描画装置のテーブル構造
JP2006091377A (ja) インナードラム露光装置
JP2772556B2 (ja) 走査式光学装置
JP2808713B2 (ja) 光学式微小変位測定装置
JPS59166914A (ja) 光ビ−ムを安定化する方法及び光ビ−ム安定化器
JPH02123320A (ja) 複数ビーム走査装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees