JPH02109201A - セラミクス被覆絶縁電線とその製造方法 - Google Patents
セラミクス被覆絶縁電線とその製造方法Info
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- JPH02109201A JPH02109201A JP26375288A JP26375288A JPH02109201A JP H02109201 A JPH02109201 A JP H02109201A JP 26375288 A JP26375288 A JP 26375288A JP 26375288 A JP26375288 A JP 26375288A JP H02109201 A JPH02109201 A JP H02109201A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
高真空機器や高温使用機器などにおいて配線用電線や巻
線用電線等に用いられるセラミクス被覆絶縁電線の製造
方法に関するものである。
線用電線等に用いられるセラミクス被覆絶縁電線の製造
方法に関するものである。
[従来の技術]
従来の絶縁電線は、金属導体の外方を有機材料であるゴ
ムやプラスチック系の樹脂で絶縁した物が使用されてい
た。高温使用機器に対しては特に、その絶縁材料がポリ
イミド等が使用されている。
ムやプラスチック系の樹脂で絶縁した物が使用されてい
た。高温使用機器に対しては特に、その絶縁材料がポリ
イミド等が使用されている。
しかしながら、これらの耐熱温度は300℃程度である
。また、真空機器用の絶縁電線に関しては、絶縁皮膜で
ある有機樹脂中に含まれる残存有機溶媒、分解ガス、及
び水分などの揮発成分のため高度の非ガス放出性を要求
される真空機器用絶縁電線などの用途には使用しにくか
った。更に、真空機器用絶縁電線は真空装置のベーキン
グ時の加熱に耐え得る耐熱性も必要である。
。また、真空機器用の絶縁電線に関しては、絶縁皮膜で
ある有機樹脂中に含まれる残存有機溶媒、分解ガス、及
び水分などの揮発成分のため高度の非ガス放出性を要求
される真空機器用絶縁電線などの用途には使用しにくか
った。更に、真空機器用絶縁電線は真空装置のベーキン
グ時の加熱に耐え得る耐熱性も必要である。
このため、無機材料を被覆した電線が検討されており、
例えば陽極酸化法を用いてアルミニウム導体の上に酸化
アルミウム皮膜を形成したアルマイト電線や、種々のセ
ラミクスを筒状ガイシに加工した物に導体を通したセラ
ミクス被覆絶縁電線がある。
例えば陽極酸化法を用いてアルミニウム導体の上に酸化
アルミウム皮膜を形成したアルマイト電線や、種々のセ
ラミクスを筒状ガイシに加工した物に導体を通したセラ
ミクス被覆絶縁電線がある。
[発明が解決しようとする課題]
従来の物は、絶縁層に使用する無機材料の基材に対する
付着力が不十分な点があり、例えば銅基材上に二酸化珪
素の薄膜をCVD法で形成した場合、手で擦っただけで
も膜が剥離する場合があった。
付着力が不十分な点があり、例えば銅基材上に二酸化珪
素の薄膜をCVD法で形成した場合、手で擦っただけで
も膜が剥離する場合があった。
また陽極酸化法によるアルマイト電線などでは、基材が
アルミニウムに1種に限定され、かつその基材上に形成
される無機絶縁層も酸化アルミニウムに限定されていた
。このため種々の用途に適した基材と無機絶縁層との組
合せを選ぶことが不可能であるといった困難さがあった
。
アルミニウムに1種に限定され、かつその基材上に形成
される無機絶縁層も酸化アルミニウムに限定されていた
。このため種々の用途に適した基材と無機絶縁層との組
合せを選ぶことが不可能であるといった困難さがあった
。
この発明の目的はこのような問題点を解消し、種々の導
体上に種々の高付着性無機絶縁層を施した(真空機器用
)セラミクス被覆絶縁電線を提供することである。
体上に種々の高付着性無機絶縁層を施した(真空機器用
)セラミクス被覆絶縁電線を提供することである。
[課題を解決するための手段及びその作用コこの発明に
従う絶縁電線では、導体と、導体の表面に形成される密
着層として機能する第1層と、この第1層の外方に形成
される絶縁性酸化物皮膜として機能する第2層を備えて
いる。
従う絶縁電線では、導体と、導体の表面に形成される密
着層として機能する第1層と、この第1層の外方に形成
される絶縁性酸化物皮膜として機能する第2層を備えて
いる。
この発明に使用される導体としては、特に限定されない
が産業上の利用を考えて高導電性や低コストから銅、ス
テンレス、さらにアルミニウムを使用できる。
が産業上の利用を考えて高導電性や低コストから銅、ス
テンレス、さらにアルミニウムを使用できる。
種々の金属に対してIa、IIa、I[[aもしくはI
Va族のいわゆる塩基性の高い元素はJa+IIa+n
laもしくはIVa族以外の金属元素と化学的な結合を
持ち易く、特に高酸性度を示す遷移金属元素とは1対1
の化合物をつくる傾向がある。このことを利用してまず
遷移金属などの金属基材上に少なくとも1種類のIa、
IIa、nlaもしくはIVa族のいわゆる塩基性の高
い元素金属の酸化物を含む第1層を形成し、さらにその
外層にIIIbもしくはIVb族の金属元素の酸化物を
含む第2層を形成する。この第1層は下地金属と高付着
力を存する密着層となり得る。さらにこの酸化物層であ
る第1層の」二に主絶縁体熱層である第2層を作成する
。
Va族のいわゆる塩基性の高い元素はJa+IIa+n
laもしくはIVa族以外の金属元素と化学的な結合を
持ち易く、特に高酸性度を示す遷移金属元素とは1対1
の化合物をつくる傾向がある。このことを利用してまず
遷移金属などの金属基材上に少なくとも1種類のIa、
IIa、nlaもしくはIVa族のいわゆる塩基性の高
い元素金属の酸化物を含む第1層を形成し、さらにその
外層にIIIbもしくはIVb族の金属元素の酸化物を
含む第2層を形成する。この第1層は下地金属と高付着
力を存する密着層となり得る。さらにこの酸化物層であ
る第1層の」二に主絶縁体熱層である第2層を作成する
。
この第1層と第2層との付着性は、双方がともに金属酸
化物であることから高付着性を示す。
化物であることから高付着性を示す。
また、密着層である第1層の形成にはIa、IIa、I
IIaもしくはIa族の少なくとも1種類の金属の化合
物を何機溶媒に溶解した溶液を塗布しさらに有機溶剤の
揮発及び残留有機物質の除去のため室温より高い温度で
放置する必要がある。又、この雰囲気は基材金属の融点
以上の高温であってはならない。この雰囲気中で塗布し
た溶液中に含まれる金属の化合物の分解は500°C程
度で完全に終了しているが、しかしそれ以上の温度をか
けた場合基材と塗布した金属との反応が促進され基材金
属と第1層間の付着力が増加する。この事は第2層形成
の際にも適用される。
IIaもしくはIa族の少なくとも1種類の金属の化合
物を何機溶媒に溶解した溶液を塗布しさらに有機溶剤の
揮発及び残留有機物質の除去のため室温より高い温度で
放置する必要がある。又、この雰囲気は基材金属の融点
以上の高温であってはならない。この雰囲気中で塗布し
た溶液中に含まれる金属の化合物の分解は500°C程
度で完全に終了しているが、しかしそれ以上の温度をか
けた場合基材と塗布した金属との反応が促進され基材金
属と第1層間の付着力が増加する。この事は第2層形成
の際にも適用される。
主絶縁層の形成には膜厚が要求されるためゾルゲル法に
より粘調な溶液を作成しこれを塗布焼成してもよい。
より粘調な溶液を作成しこれを塗布焼成してもよい。
以」二、密着層、主絶縁層きも溶液を使用した方法で作
成するために、その薄膜の形成には簡単な設備でよくか
つ高速で線状物質にコーティングが可能である。
成するために、その薄膜の形成には簡単な設備でよくか
つ高速で線状物質にコーティングが可能である。
[実施例1コ
線径0.8mmφの銅線をまず0.INの硝酸、次にc
l)b50(三菱瓦斯化学制)の50%溶液で処理した
のちにジルコニウムブトキシド10モル%のイソプロピ
ルアルコール溶液を第1図に示す装置を用いて塗布焼成
する。
l)b50(三菱瓦斯化学制)の50%溶液で処理した
のちにジルコニウムブトキシド10モル%のイソプロピ
ルアルコール溶液を第1図に示す装置を用いて塗布焼成
する。
第1図の装置は金属線条体1が脱油俗情2のローラ4.
4′にガイドされながら、脱油液3によって表面を洗浄
された後、乾燥炉5によって乾燥される。その後、ロー
ラ6.7を経由して塗布装置8.ダイス9によって表面
に塗布されたのち、焼付炉工0によって焼付けられる。
4′にガイドされながら、脱油液3によって表面を洗浄
された後、乾燥炉5によって乾燥される。その後、ロー
ラ6.7を経由して塗布装置8.ダイス9によって表面
に塗布されたのち、焼付炉工0によって焼付けられる。
ここで、表面に何回かに亙って塗布するが、その場合は
ローラ7及び11の案内によって必要回数だけ塗布焼き
付けされたのち、巻取装置12に巻き取られる。
ローラ7及び11の案内によって必要回数だけ塗布焼き
付けされたのち、巻取装置12に巻き取られる。
なお、第1図は例示的に示すもので、これに限定される
ものではない。
ものではない。
ここで加熱温度は炉温で500’C1その線速は20m
/分、繰り返し回数3回、形成膜厚は膜厚0.6μmで
ある。 その後、テトラブチルオルトシリケイト8モル
%、水32モル%、イソプロピルアルコール60モル%
の混合溶液に硝酸をテトラブチルオルトシリケイトのモ
ル数に対し100分の3の量を滴下し2時間80℃で反
応させた溶液を同じく第1図の装置を用いてさらにその
上にコーティングする。炉温500℃線速20m/分、
繰り返し回数10回、膜厚10 II mである。
/分、繰り返し回数3回、形成膜厚は膜厚0.6μmで
ある。 その後、テトラブチルオルトシリケイト8モル
%、水32モル%、イソプロピルアルコール60モル%
の混合溶液に硝酸をテトラブチルオルトシリケイトのモ
ル数に対し100分の3の量を滴下し2時間80℃で反
応させた溶液を同じく第1図の装置を用いてさらにその
上にコーティングする。炉温500℃線速20m/分、
繰り返し回数10回、膜厚10 II mである。
この皮膜はJTS C3003−10の耐摩耗試験に
も700g荷重で30回の成績であった。
も700g荷重で30回の成績であった。
以上のようにして得られた、絶縁電線を、長さ30cm
採り、これに約50mm間隔の4カ所にそれぞれ約1.
0mmの部分に密接して厚さ0.02mmの白金箔を巻
き付け、導体金属箔間に交流60Hz、200Vで、真
空チャンバー(1×10 ”’torr)中でテストし
た。この結果、500℃の加熱テストにおいても皮膜の
外観には何の変化も認められず、かつ漏洩電流が0.8
mm、Aで絶縁性も維持した。また、この電線を底面積
1500cm′高さ50o、の円筒状真空チャンバー中
に、2m投入し排気!50¥にターボ分子ポンプ(日型
アネルバ製)で減圧したところ試料を投じない場合は1
0−’torrまで1時間30分装したが、本試料を投
じた場合でもこの真空度までの到達時間は1時間30分
と有意な差はみられなかった。
採り、これに約50mm間隔の4カ所にそれぞれ約1.
0mmの部分に密接して厚さ0.02mmの白金箔を巻
き付け、導体金属箔間に交流60Hz、200Vで、真
空チャンバー(1×10 ”’torr)中でテストし
た。この結果、500℃の加熱テストにおいても皮膜の
外観には何の変化も認められず、かつ漏洩電流が0.8
mm、Aで絶縁性も維持した。また、この電線を底面積
1500cm′高さ50o、の円筒状真空チャンバー中
に、2m投入し排気!50¥にターボ分子ポンプ(日型
アネルバ製)で減圧したところ試料を投じない場合は1
0−’torrまで1時間30分装したが、本試料を投
じた場合でもこの真空度までの到達時間は1時間30分
と有意な差はみられなかった。
[実施例2コ
、IJi[0,6Iφのアルミニウム線をまずO,IN
の弗酸で処理したのちにナフテン酸バリウム10モル%
のトルエン溶液を第1図に示す装置を用いて塗布焼成す
る。この場合加熱温度は炉温で500℃、その線速は2
0m/分、繰り返し回数3回、膜厚0.6μmである。
の弗酸で処理したのちにナフテン酸バリウム10モル%
のトルエン溶液を第1図に示す装置を用いて塗布焼成す
る。この場合加熱温度は炉温で500℃、その線速は2
0m/分、繰り返し回数3回、膜厚0.6μmである。
その後、テリブトキシアルミニウム5モル%、トリエ
タノールアミン10モル%、水5モル%、イソプロピル
アルコール80モル%の混合溶液を50″01時間反応
させた溶液を同じく第1図の装置を用いて更にその上に
コーティングする、炉温500℃線速20m/分、繰り
返し回数10回、膜厚6μmである。この皮膜はJIS
C3003−10の耐摩耗試験にも700g荷重で
40回の成績であった。
タノールアミン10モル%、水5モル%、イソプロピル
アルコール80モル%の混合溶液を50″01時間反応
させた溶液を同じく第1図の装置を用いて更にその上に
コーティングする、炉温500℃線速20m/分、繰り
返し回数10回、膜厚6μmである。この皮膜はJIS
C3003−10の耐摩耗試験にも700g荷重で
40回の成績であった。
以」二のようにして得られた、絶縁電線を、長さ30c
m採り、これに約50mm間隔の4カ所にそれぞれ約1
0mmの部分に密接して厚さ0.02mmの白金箔を巻
き付け、導体金属箔間に交流60Hz、200Vで、真
空チャンバー(1×1Q−’torr)中でテストした
。この結果、500℃の加熱テストにおいても皮膜の外
観には何の変化も認められず、かつ漏洩電流が1mrn
Aで絶縁性も維持した。また、この電線を底面積150
0mm、5Qcmの円筒状真空チャンバー中に、20m
投入し排気量50跣タ一ボ分子ポンプ(日型アネルバ製
)で減圧したところ試料を投じない場合は10’tor
rまで1時間30分装したが、本試料を投じた場合でも
この真空度までの到達時間は1時間35分とを意な差は
みられなかった。
m採り、これに約50mm間隔の4カ所にそれぞれ約1
0mmの部分に密接して厚さ0.02mmの白金箔を巻
き付け、導体金属箔間に交流60Hz、200Vで、真
空チャンバー(1×1Q−’torr)中でテストした
。この結果、500℃の加熱テストにおいても皮膜の外
観には何の変化も認められず、かつ漏洩電流が1mrn
Aで絶縁性も維持した。また、この電線を底面積150
0mm、5Qcmの円筒状真空チャンバー中に、20m
投入し排気量50跣タ一ボ分子ポンプ(日型アネルバ製
)で減圧したところ試料を投じない場合は10’tor
rまで1時間30分装したが、本試料を投じた場合でも
この真空度までの到達時間は1時間35分とを意な差は
みられなかった。
[比較例コ
線径0.8mmφの銅線をまず0.INの硝酸、次にc
pb50 (三菱瓦斯化学制)の50%溶液で処理した
のちに、テトラブチルオルトシリケイト8モル%、水3
2モル%、イソプロピルアルコール60モル%の混合溶
液に硝酸をテトラブチルオルトシリケイトのモル数に対
し100分の3の量を摘果し2時間80 ’Cで反応さ
せた溶液を同じく第1図の装置を用いてさらにその上に
コーティングする、炉温500℃線速20m/分、繰返
し回数10回、膜厚10μmである。この絶縁電線はス
コッチテープで粘着テストをしたところすべてψjll
lた。
pb50 (三菱瓦斯化学制)の50%溶液で処理した
のちに、テトラブチルオルトシリケイト8モル%、水3
2モル%、イソプロピルアルコール60モル%の混合溶
液に硝酸をテトラブチルオルトシリケイトのモル数に対
し100分の3の量を摘果し2時間80 ’Cで反応さ
せた溶液を同じく第1図の装置を用いてさらにその上に
コーティングする、炉温500℃線速20m/分、繰返
し回数10回、膜厚10μmである。この絶縁電線はス
コッチテープで粘着テストをしたところすべてψjll
lた。
[発明の効果コ
本願発明に於ける絶縁電線は高温・真空状態においても
剥離することがなく、良好な絶縁性を確保しうる効果は
極めて膏効である。
剥離することがなく、良好な絶縁性を確保しうる効果は
極めて膏効である。
第1図は本願発明のセラミクス被覆絶縁電線の製造装置
の概略図である。図中の番号は 1:金属線条体 2:脱油温情 3:脱油浴 4.4’ 6.7、ifローラ 5:乾燥炉5 8:塗布装置 10:焼付炉 ll−
の概略図である。図中の番号は 1:金属線条体 2:脱油温情 3:脱油浴 4.4’ 6.7、ifローラ 5:乾燥炉5 8:塗布装置 10:焼付炉 ll−
Claims (7)
- (1)金属基材上に I a,IIa,IIIaもしくはIVa族
の少なくとも1種類の金属の化合物を有機溶媒に溶解し
た溶液を塗布しその金属を含む第1層を形成し、さらに
その外層にIIIbもしくはIVb族の少なくとも1種類の
金属の化合物を有機溶媒に溶解した溶液を塗布しその金
属を含む金属酸化物の薄膜を形成してなることを特徴と
するセラミクス被覆絶縁電線。 - (2)金属基材上に第1層として形成する薄膜には、特
に酸化ジルコニウム、酸化カルシウムを含む請求項1記
載のセラミクス被覆絶縁電線。 - (3)第1層の外層に形成する第2層の薄膜には、特に
酸化珪素、酸化アルミウムを含む請求項1記載のセラミ
クス絶縁電線。 - (4)金属基材上に形成する第1層及び第2層の薄膜形
成の際に使用する金属の化合物は特に金属のアルコキシ
ド、金属カルボン酸エステルである請求項1、2又は3
記載のセラミクス絶縁電線。 - (5)金属基材として特に遷移金属もしくはアルミニウ
ムを使用する請求項1、2、3又は4記載のセラミクス
被覆絶縁電線。 - (6)請求項1における1層及び第2層の薄膜の形成に
は溶液を塗布した後、室温以上、基材金属の融点より低
い温度の雰囲気下で放置することを特徴とするセラミク
ス絶縁電線の製造方法。 - (7)請求項1における第1層及び第2層の薄膜の形成
には I a,IIA,IIIaもしくはIVa族の少なくとも1
種類の金属のアルコキシドを、もしくはIIIbもIVb族
の少なくとも1種類の金属のアルコキシドを有機溶媒に
溶解し加水分解及び脱水縮合反応を行なわせた塗布溶液
を用いた請求項6記載のセラミクス絶縁電線の製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26375288A JP2639494B2 (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | セラミクス被覆絶縁電線とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26375288A JP2639494B2 (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | セラミクス被覆絶縁電線とその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02109201A true JPH02109201A (ja) | 1990-04-20 |
JP2639494B2 JP2639494B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=17393798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26375288A Expired - Fee Related JP2639494B2 (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | セラミクス被覆絶縁電線とその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2639494B2 (ja) |
-
1988
- 1988-10-18 JP JP26375288A patent/JP2639494B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2639494B2 (ja) | 1997-08-13 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |