JPH02108149U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02108149U JPH02108149U JP1612089U JP1612089U JPH02108149U JP H02108149 U JPH02108149 U JP H02108149U JP 1612089 U JP1612089 U JP 1612089U JP 1612089 U JP1612089 U JP 1612089U JP H02108149 U JPH02108149 U JP H02108149U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test signal
- substrate bias
- amplifier circuit
- terminal
- Prior art date
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- Pending
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
図は本考案の実施例を示す回路図である。
１…基板バイアス発生回路、２…外部端子、３
…入力保護抵抗、４…第１の増幅回路、９…第２
の増幅回路、１４…第２の増幅回路、１５…テス
トモード回路。
…入力保護抵抗、４…第１の増幅回路、９…第２
の増幅回路、１４…第２の増幅回路、１５…テス
トモード回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体基板をバイアスするための基板バイアス
電圧を発生する基板バイアス発生回路と、 テスト信号が印加される端子と、 前記基板バイアス電圧と前記テスト信号の差を
増幅する第１の増幅回路と、 該第１の増幅回路の差動増幅出力をさらに増幅
する第２の増幅回路と、 該第２の増幅回路の出力に基づいて前記半導体
基板上に形成された回路をテスト状態にするテス
トモード回路と、 を備えてなるテスト信号入力回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1612089U JPH02108149U (ja) | 1989-02-13 | 1989-02-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1612089U JPH02108149U (ja) | 1989-02-13 | 1989-02-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02108149U true JPH02108149U (ja) | 1990-08-28 |
Family
ID=31228772
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1612089U Pending JPH02108149U (ja) | 1989-02-13 | 1989-02-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02108149U (ja) |
-
1989
- 1989-02-13 JP JP1612089U patent/JPH02108149U/ja active Pending
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