JPH0187236U - - Google Patents

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JPH0187236U
JPH0187236U JP18388187U JP18388187U JPH0187236U JP H0187236 U JPH0187236 U JP H0187236U JP 18388187 U JP18388187 U JP 18388187U JP 18388187 U JP18388187 U JP 18388187U JP H0187236 U JPH0187236 U JP H0187236U
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scattered light
particle size
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scattering angle
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JP18388187U
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、この考案の粒度分布測
定装置の1実施例図であり、主として第1図は測
光部、第2図は信号処理部の構成を示す。 1……光源、2……コリメータ、3……試料セ
ル、4……光検出部、41……半導体フオトセン
サ、42……基板、5……プリアンプ、6……積
分器、7……データ処理装置、8……表示記録装
置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 懸濁液を収容した試料セルに単色光を照射して
    散乱角と散乱光強度を測定し、懸濁液中の微小粒
    子の粒度分布を測定する装置において、試料セル
    を中心とする円周上に半導体フオトセンサを複数
    個配置してなる散乱光センサと、前記の各フオト
    センサの出力を積分する装置を有し、複数の固定
    散乱角位置での散乱光強度を同時に測定するよう
    に構成したことを特徴とする粒度分布測定装置。
JP18388187U 1987-12-01 1987-12-01 Pending JPH0187236U (ja)

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JP18388187U JPH0187236U (ja) 1987-12-01 1987-12-01

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JPH0187236U true JPH0187236U (ja) 1989-06-08

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Family Applications (1)

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JP18388187U Pending JPH0187236U (ja) 1987-12-01 1987-12-01

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JP (1) JPH0187236U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015007649A (ja) * 2009-07-10 2015-01-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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