JPH0158456B2 - - Google Patents

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JPH0158456B2
JPH0158456B2 JP56081043A JP8104381A JPH0158456B2 JP H0158456 B2 JPH0158456 B2 JP H0158456B2 JP 56081043 A JP56081043 A JP 56081043A JP 8104381 A JP8104381 A JP 8104381A JP H0158456 B2 JPH0158456 B2 JP H0158456B2
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JP
Japan
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sample
sample stage
stage
ultrasonic
microscope
Prior art date
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JP56081043A
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Japanese (ja)
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JPS57197463A (en
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Kyoshi Ishikawa
Hiroshi Kanda
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/27Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the material relative to a stationary sensor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料台を静圧空気軸受によつて、非
接触に支持したことを特徴とする超音波顕微鏡等
の試料移動台に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a sample moving table for an ultrasonic microscope or the like, characterized in that the sample table is supported in a non-contact manner by a hydrostatic air bearing.

近年1GHzに及ぶ超高周波の音波の発生検出が
可能となつたので、水中で約1μmの音波長が実
現できることになり、その結果、高い分解能の音
波撮像装置が得られるようになつた。即ち、凹面
レンズを用いて集束音波ビームを作り、1μmに
及ぶ高い分解能を実現するのである。
In recent years, it has become possible to generate and detect ultrahigh-frequency sound waves of up to 1 GHz, making it possible to realize sound wavelengths of approximately 1 μm underwater, and as a result, it has become possible to obtain high-resolution sound wave imaging devices. In other words, a concave lens is used to create a focused acoustic beam, achieving a high resolution of 1 μm.

上記ビーム中に試料をそう入し、試料による反
射超音波を検出して試料の微細領域の弾性的性質
を解明したり、或は試料を機械的に2次元に走査
しながら、この信号の強度をブラウン管の揮度信
号として表示すれば、試料の微細構造を拡大して
みることができる。
By inserting a sample into the beam and detecting the reflected ultrasonic waves from the sample, we can elucidate the elastic properties of minute regions of the sample, or while mechanically scanning the sample in two dimensions, we can measure the intensity of this signal. By displaying this as a volatility signal on a cathode ray tube, it is possible to magnify the fine structure of the sample.

第1図は、その超音波顕微鏡の主要構成部を示
す図である。超音波の集束及び送受は球面レンズ
1により行つているが、その構造は円柱状の熔融
石英等をもちいた物質の一面を光学研磨し、その
上に圧電薄膜(ZnO)2を上下電極3によりはさ
む、このようにサンドウイツチ構造になつている
圧電薄膜2に、パルス発振器4から発生されたパ
ルス5を印加して、超音波6を発生させる。ま
た、他端部は口径0.1mmφ〜1.0mmφ程度の凹面状
の半球穴が形成されており、この半球穴と試料と
の間には、超音波6を試料7に伝播させるための
媒質(例えば水)8が満されている。
FIG. 1 is a diagram showing the main components of the ultrasound microscope. The focusing, transmission and reception of ultrasonic waves is carried out by a spherical lens 1, whose structure consists of optically polishing one side of a material made of cylindrical fused silica or the like, and then placing a piezoelectric thin film (ZnO) 2 on top of it with upper and lower electrodes 3. A pulse 5 generated from a pulse oscillator 4 is applied to the piezoelectric thin film 2 sandwiched in a sandwich structure to generate an ultrasonic wave 6. In addition, a concave hemispherical hole with a diameter of about 0.1 mmφ to 1.0 mmφ is formed at the other end, and a medium (for example, Water) 8 is fulfilled.

圧電薄膜2によつて発生した超音波6は円柱の
中を平面波となつて伝播する。この平面波が半球
穴に達すると石英(音速6000m/s)と水(音速
1500m/s)との音速の差により屈折作用が生
じ、試料7面上に集速した超音波6を照射するこ
とができる。逆に試料7から反射されてくる超音
波は球面レンズにより集音整相され、平面波とな
つて圧電薄膜2に達し、こゝでRF信号9に変換
される。このRF信号9を受信器10で受信し、
こゝでダイオード検波してビデオ信号11に変換
し、CRTデイスプレイ12の入力信号として用
いている。
Ultrasonic waves 6 generated by the piezoelectric thin film 2 propagate in the cylinder as plane waves. When this plane wave reaches the hemispherical hole, quartz (velocity of sound 6000m/s) and water (velocity of sound
1500 m/s), a refraction effect occurs, and the focused ultrasonic waves 6 can be irradiated onto the surface of the sample 7. Conversely, the ultrasonic waves reflected from the sample 7 are collected and phased by a spherical lens, become plane waves, and reach the piezoelectric thin film 2, where they are converted into an RF signal 9. This RF signal 9 is received by a receiver 10,
Here, it is diode-detected and converted into a video signal 11, which is used as an input signal for the CRT display 12.

この様に構成された装置において、試料7が試
料台駆動電源13によりx−y平面内で2次元に
走査していると試料の走査にともなう試料面から
の反射の強弱が2次元的にCRT面12に表示さ
れる。
In the apparatus configured in this way, when the sample 7 is two-dimensionally scanned within the x-y plane by the sample stage drive power supply 13, the intensity of reflection from the sample surface as the sample scans changes two-dimensionally. displayed on surface 12.

試料7の走査速度は高速であるほど、一画面を
形成する時間が短時間ですみ、操作性の向上につ
ながるが、従来、一般に使用されている試料7の
走査方法は機械的に行つているために走査速度
も、x軸走査を数10Hz、y軸走査を約10秒程度で
行つている。
The faster the scanning speed of the sample 7 is, the shorter the time it takes to form one screen, leading to improved operability, but conventionally commonly used scanning methods for the sample 7 are mechanical. For this reason, the x-axis scan is performed at several tens of Hz, and the y-axis scan is performed in about 10 seconds.

上述の如く、x−y平面に走査している試料
に、超音波を照射し、試料から反射してくる超音
波を使つて画像表示する装置において、試料の近
傍あるいは内部に弾性的性質の変化があれば、そ
の都度反射してくる超音波には振幅や位相の変化
が生ずる。この位相は球面レンズと試料との距離
が敏感に影響するので、走査している試料面と超
音波ビームの焦点面とは空間的に、いつも同一位
相条件に保つよう構成されなければならず、試料
の走査には、その精度が問題となつてくるが、こ
のような装置に適した試料移動台として、静圧空
気軸受の使用が考えられている。この静圧空気軸
受の特徴は軸受と試料台との間に供給される空気
の静圧力で試料台を支持する方法であるので、軸
受の摩擦抵抗が少なく、摩耗のないことがあげら
れる。さらに試料台と軸受面との静圧空気層が緩
衝材として作用するので軸受面のわずかな凹凸に
も影響されることなく平滑に移動する。
As mentioned above, in a device that irradiates ultrasonic waves onto a sample while scanning in the x-y plane and displays images using the ultrasonic waves reflected from the sample, changes in elastic properties near or inside the sample are detected. If there is, the amplitude and phase of the reflected ultrasound waves will change each time. Since this phase is sensitively affected by the distance between the spherical lens and the sample, the scanning sample surface and the focal plane of the ultrasonic beam must be configured so that they are always kept in the same spatial phase condition. Accuracy is a problem when scanning a sample, and the use of a hydrostatic air bearing is being considered as a sample moving table suitable for such an apparatus. The characteristic of this hydrostatic air bearing is that the sample stage is supported by the static pressure of the air supplied between the bearing and the sample stage, so the bearing has little frictional resistance and is free from wear. Furthermore, since the static air layer between the sample stage and the bearing surface acts as a buffer, the specimen moves smoothly without being affected by slight irregularities on the bearing surface.

第2図a及びbは上述の静圧空気軸受を使用し
た試料移動台の構成を示すもので、第2図bは第
2図aの断面図である。図において、14はガイ
ド部である。ガイド部には圧縮空気吐出口15が
所定の位置に取りつけられており、この圧縮空気
吐出口15から吐出される圧縮空気により試料台
16を保持する。17は圧縮空気取入口である。
また、18は試料台16の駆動軸である。
FIGS. 2a and 2b show the structure of a sample moving stage using the above-mentioned hydrostatic air bearing, and FIG. 2b is a sectional view of FIG. 2a. In the figure, 14 is a guide portion. A compressed air outlet 15 is attached to the guide portion at a predetermined position, and the sample stage 16 is held by the compressed air discharged from the compressed air outlet 15. 17 is a compressed air intake port.
Further, 18 is a drive shaft of the sample stage 16.

このように構成された試料台を使用することに
より、走査中の試料の上下動を0.03μm以下が実
現され、超音波顕微鏡等の試料台として極めて安
定に動作するのである。
By using a sample stage configured in this manner, the vertical movement of the sample during scanning can be kept to 0.03 μm or less, and it can operate extremely stably as a sample stage for ultrasonic microscopes and the like.

上述の超音波顕微鏡で種々の試料に対して、観
察実験を行つているときに超音波顕微鏡で観察し
た同一個所を他の観察装置、例えば光学顕微鏡な
どでは得られない情報を取得し、両者の結果を総
合して試料の形態や特性を判断できれば、得られ
る結果は単一装置から得られるものよりも、精度
は向上すると考えられる。
When performing observation experiments on various samples using the ultrasonic microscope described above, information that cannot be obtained using other observation devices such as an optical microscope can be obtained from the same part observed using the ultrasonic microscope, and the If the morphology and characteristics of a sample can be determined by integrating the results, the accuracy of the results obtained will be improved compared to those obtained from a single device.

第3図はこのような要求を実現するための試料
移動台の一実施例を示す図である。本実施例で
は、超音波顕微鏡(音響球面レンズ1で示す)で
観察した試料と同一視野を光学顕微鏡で観察する
構成について述べる。
FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of a sample moving stage for realizing such a request. In this embodiment, a configuration will be described in which the same field of view as a sample observed with an ultrasonic microscope (indicated by an acoustic spherical lens 1) is observed with an optical microscope.

試料の視野選択を行うためのX・Y方向の移動
が可能な粗動機構部20,21が直交して取りつ
けてある。その上部に図では省略したが試料7を
x・y走査するためのx・y走査部22,23が
取りつけてある。こゝでx走査部には第2図で述
べた静圧空気軸受型試料台が使用されており、そ
の駆動は加振器24から試料台駆動軸18を介し
て試料台16に接続されていることにより行つて
いる。
Coarse movement mechanisms 20 and 21, which are movable in the X and Y directions for selecting the field of view of the sample, are mounted orthogonally. Although not shown in the figure, x and y scanning units 22 and 23 for scanning the sample 7 in x and y are attached to the upper part thereof. Here, the x-scan section uses the hydrostatic air bearing type sample stage described in FIG. I am doing it by being there.

y軸走査はx軸走査と直交した方向にステツプ
モータ25により移動できるようになつている。
The y-axis scan can be moved by a step motor 25 in a direction perpendicular to the x-axis scan.

また、試料7と球面レンズ1との間隙を調整す
るためZ軸移動機構26が取りつけられている。
Further, a Z-axis moving mechanism 26 is attached to adjust the gap between the sample 7 and the spherical lens 1.

このように構成された超音波顕微鏡において観
察した試料7の同一視野内を光学顕微鏡27で観
察できるように球面レンズ1の軸中心よりx軸方
向に距離Lだけはなれた位置に光学顕微鏡27が
配置されている。
The optical microscope 27 is placed at a position separated from the axial center of the spherical lens 1 by a distance L in the x-axis direction so that the optical microscope 27 can observe the same field of view of the sample 7 observed with the ultrasonic microscope configured as described above. has been done.

したがつて、超音波顕微鏡で観察後の試料7を
光学顕微鏡27によつて観察しようとする場合に
は、試料台16を試料台駆動軸18から切り離し
て、光学顕微鏡27の光軸下に移動しなければな
らない。また、この操作とは逆にあらかじめ光学
顕微鏡27によつて試料7を観察しておき、この
試料7を超音波顕微鏡で観察するなどの場合も同
様に、試料7の移動が滑らかであるとともに高精
度の位置の再現性が要求される。これを実現する
試料移動台として本発明は、第4図に示すような
構成のものを用いる。すなわち、図において静圧
空気軸受のガイド部14を試料台16が光学顕微
鏡27の軸上にまで移動しても脱落しない長さに
延長することにより、その機能を充分実現するこ
とができる。
Therefore, when the sample 7 that has been observed with the ultrasonic microscope is to be observed with the optical microscope 27, the sample stage 16 is separated from the sample stage drive shaft 18 and moved under the optical axis of the optical microscope 27. Must. In addition, in contrast to this operation, if the sample 7 is observed in advance with the optical microscope 27 and then observed with the ultrasonic microscope, the movement of the sample 7 is smooth and the height is high. Accurate position repeatability is required. In the present invention, a sample moving table having a structure as shown in FIG. 4 is used to realize this. That is, in the figure, by extending the guide portion 14 of the hydrostatic air bearing to a length that does not fall off even if the sample stage 16 moves onto the axis of the optical microscope 27, its function can be fully realized.

以上の説明はx軸上に球面レンズ1から距離L
だけはなされた位置に光学顕微鏡27を設けた構
成であるが、この位置に光学顕微鏡27の代りに
他の観測機能をもつ装置を配置してもよい。さら
に図では省略するが、光学顕微鏡27はそのまゝ
とし、球面レンズ1からx軸上の所定距離だけは
なされた位置に他の観測装置を配置する場合には
ガイド部14をその装置まで延長すればよい。
The above explanation is based on the distance L from the spherical lens 1 on the x-axis.
In this configuration, the optical microscope 27 is provided at the position where the optical microscope 27 is located, but instead of the optical microscope 27, a device having another observation function may be placed at this position. Further, although not shown in the figure, if the optical microscope 27 is left as is and another observation device is placed at a position a predetermined distance on the x-axis from the spherical lens 1, the guide portion 14 is extended to that device. do it.

x軸上に複数個の観測装置を配置し、各々の観
測装置下の所定の場所に試料台16が停止するよ
う、ストツパ28が試料台16の動きに連動して
動作するようにすれば、試料台16を各観測装置
下では同一視野内で停止する。この作業を逐次行
ないながら、それぞれの装置から情報を取得する
ことができる。
If a plurality of observation devices are arranged on the x-axis and the stopper 28 is operated in conjunction with the movement of the sample stage 16 so that the sample stage 16 stops at a predetermined location under each observation device, The sample stage 16 is stopped within the same field of view under each observation device. Information can be acquired from each device while performing this work sequentially.

第5図は第4図に示したのと同じく静圧空気軸
受を使用し、試料台16をLだけ移動できる構成
の側断面図である。
FIG. 5 is a side sectional view of a configuration in which the sample stage 16 can be moved by L using a static air bearing similar to that shown in FIG.

いま、超音波顕微鏡で観察中のA点にある試料
7を光学顕微鏡で観察するためにB点まで移動し
ようとする場合について述べると、加振器24か
ら駆動軸18を介し試料台16は連結されてい
る。この連結の一番簡単な方法は図では省略した
が電磁石の吸引力で結合しておくと便利である。
Now, to describe the case where the sample 7 at point A, which is being observed with an ultrasonic microscope, is to be moved to point B in order to be observed with an optical microscope, the sample stage 16 is connected to the vibrator 24 via the drive shaft 18. has been done. The simplest method for this connection is not shown in the figure, but it is convenient to connect them using the attractive force of an electromagnet.

たとえば、両者の結合を切りはなしたい場合に
は電磁石の励磁を停止すれば自然と両者は分離さ
れるからである。このような方法によつて駆動軸
18から試料台16を切りはなすと同時にバルブ
V1を開きパイプ29より圧縮空気を吐出させる
と圧縮空気は試料台の下部に取りつけてある駆動
板31に衝突し、試料台16を移動させるための
力が作用し、B点に向つて試料台16は移動す
る。こゝで使用する圧縮空気は静圧空気軸受に使
用されている圧縮空気を分岐して導いてきたもの
であるが、試料台は静圧空気軸受で支持されてい
るので、駆動板31に吹きつける空気の風圧、風
量は極めて僅かでも試料台16が移動する。従つ
て測定系に不用の振動などを発生することがな
い。
For example, if you want to break the bond between the two, you can stop the excitation of the electromagnet and the two will naturally separate. By this method, the sample stage 16 is separated from the drive shaft 18 and the valve is removed at the same time.
When V 1 is opened and compressed air is discharged from the pipe 29, the compressed air collides with the drive plate 31 attached to the bottom of the sample stage, a force is applied to move the sample stage 16, and the sample moves towards point B. The stand 16 moves. The compressed air used here has been branched from the compressed air used in the static air bearing, but since the sample stage is supported by the static air bearing, the air is blown onto the drive plate 31. Even if the pressure and volume of the applied air are extremely small, the sample stage 16 moves. Therefore, unnecessary vibrations are not generated in the measurement system.

B点に到達した試料台16はストツパー28に
より所定の位置で停止する。この際上述のように
駆動板31に吹きつける空気の風圧によつて、試
料台16はストツパー28に押しつられているの
で、試料台16とは特別な係止手段を設ける必要
はない。又この時には駆動板39はパイプ29の
吹出口から最も離れた位置になるので、駆動板3
1が受ける風圧は小さくなり、振動など観測に支
障を生ずることはない。
The sample stage 16 that has reached point B is stopped at a predetermined position by the stopper 28. At this time, since the sample stage 16 is pressed against the stopper 28 by the wind pressure of the air blown against the drive plate 31 as described above, there is no need to provide any special locking means with respect to the sample stage 16. Also, at this time, the drive plate 39 is at the farthest position from the outlet of the pipe 29, so the drive plate 39
The wind pressure that 1 receives will be small, and there will be no vibration or other problems with observation.

B点に到達した試料台16はストツパー28に
より所定の位置で停止する。逆にB点にある試料
台16をA点に移動させない場合には、上述の操
作と逆な操作を行い、V2を開き、パイプ30よ
り圧縮空気を吐出させれば試料台16は滑らかに
A点に到達する。
The sample stage 16 that has reached point B is stopped at a predetermined position by the stopper 28. On the other hand, if you do not want to move the sample stage 16 at point B to point A, perform the opposite operation to the above, open V 2 , and discharge compressed air from the pipe 30, and the sample stage 16 will move smoothly. Reach point A.

以上述べた如く、複数個の観測機能をもつ装置
において、各観測機能の間を試料を移動させる方
法として、静圧空気軸受を使用した方法が操作が
容易で、かつ高信頼性を実現でき、本発明の効果
は顕著である。
As mentioned above, in a device with multiple observation functions, the method of using hydrostatic air bearings to move the sample between each observation function is easy to operate and achieves high reliability. The effects of the present invention are remarkable.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は超音波顕微鏡の構成を示す図、第2図
は静圧空気軸受の主要構成部を示す図、第3図
は、複合型観測装置の構成を説明するための図、
第4図及び第5図は本発明の一実施例の構成を示
す図である。
Fig. 1 is a diagram showing the configuration of an ultrasonic microscope, Fig. 2 is a diagram showing the main components of a static air bearing, and Fig. 3 is a diagram illustrating the configuration of a compound observation device.
FIGS. 4 and 5 are diagrams showing the configuration of an embodiment of the present invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 一端部に圧電素子を設け、他端部に球面穴を
形成した音波レンズと、前記音波レンズの焦点近
傍に設けられた試料台と、前記試料台に載置され
た試料に対し前記音波レンズが2方向に走査する
走査装置とからなり、試料に対し、前記音波レン
ズより放射された後に前記試料によつてじよう乱
された超音波を受信することにより、上記試料を
撮影する超音波顕微鏡に用いる試料移動台であつ
て、前記2方向の走査方向のうち一方の走査方向
の同一軸上の任意の個所に複数個の観測手段を配
置し、各々の観測手段の所定の位置に試料台を移
動せしめることが可能な装置において、試料台が
移動する方向に延在して試料台を非接触で支持す
る静圧空気軸受と、試料台に設けた駆動板に圧縮
空気を吹きつけるパイプを設けたことを特徴とし
た試料移動台。
1. A sonic lens provided with a piezoelectric element at one end and a spherical hole formed at the other end; a sample stage provided near the focal point of the sonic lens; and a scanning device that scans in two directions, and which photographs the sample by receiving ultrasonic waves emitted from the sonic lens and then disturbed by the sample. A sample moving stage used in In a device capable of moving the sample table, a static air bearing that extends in the direction in which the sample table moves and supports the sample table without contact, and a pipe that blows compressed air to a drive plate installed on the sample table. A sample moving stage is provided.
JP56081043A 1981-05-29 1981-05-29 Sample moving table Granted JPS57197463A (en)

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