JPH0145024B2 - - Google Patents

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JPH0145024B2
JPH0145024B2 JP58101685A JP10168583A JPH0145024B2 JP H0145024 B2 JPH0145024 B2 JP H0145024B2 JP 58101685 A JP58101685 A JP 58101685A JP 10168583 A JP10168583 A JP 10168583A JP H0145024 B2 JPH0145024 B2 JP H0145024B2
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JP
Japan
Prior art keywords
signal
article
predetermined
capsule
sensor output
Prior art date
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Expired
Application number
JP58101685A
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Japanese (ja)
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JPS59226974A (en
Inventor
Yukimasa Tachibana
Tetsuji Kawasaki
Masahiro Kishi
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 この発明は、薬剤用カプセルの如き円筒状物品
の表面を検査する外観検査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of the Invention] The present invention relates to an appearance inspection device for inspecting the surface of a cylindrical article such as a pharmaceutical capsule.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

第1図はかかる薬剤カプセルを示す外観図であ
る。すなわち、カプセル1はキヤツプ11とボデ
ー12とから構成され、さらにキヤツプ11に
は、これとボデー12とを相互にロツクするため
のロツク孔(ノツチ)13が設けられている。薬
剤充てん前のカプセルを空カプセルといゝ、この
ときのキヤツプ11とボデー12の結合力は小さ
く、同図aの如く、いわば仮結合状態にある。こ
の空カプセルは、薬剤充てん後は同図bの如くキ
ヤツプ11とボデー12が更に押圧されて、結合
力の大きな本結合状態にされる。このように形成
されるカプセルにおいては、その製造時に種々の
欠陥を生じることがある。例えば、カプセルの肉
厚が部分的に薄くなつたスイン(thin)スポツ
ト、このスインスプツトが更に大きくなつた穴、
ピンホール等がそれである。また、製造されたカ
プセルの中には、キヤツプとボデーが分離したル
ース品、分離したキヤツプが正常品のボデーに再
結合したツインキヤツプ、またはカプセル搬送中
に空カプセルが本結合状態となるロツクカプセル
と呼ばれる不良品が混在することがある。したが
つて、空カプセルを検査して上記のような欠陥を
もつ不要品を排除することが必要である。
FIG. 1 is an external view of such a drug capsule. That is, the capsule 1 is composed of a cap 11 and a body 12, and the cap 11 is further provided with a locking hole (notch) 13 for locking the cap and the body 12 together. The capsule before being filled with a drug is called an empty capsule, and at this time the bonding force between the cap 11 and the body 12 is small and they are in a so-called temporary bonded state as shown in FIG. After the empty capsule is filled with a drug, the cap 11 and body 12 are further pressed to form a fully bonded state with a strong bonding force, as shown in FIG. Capsules formed in this manner may suffer from various defects during manufacture. For example, a thin spot where the wall thickness of the capsule is partially thinned, a hole where this thin spot becomes even larger,
Examples include pinholes. Among the manufactured capsules, there are loose products in which the cap and body are separated, twin caps in which the separated cap is recombined with the normal product body, and lock capsules in which the empty capsule is fully connected during capsule transportation. There may be cases where defective products called . Therefore, it is necessary to inspect empty capsules and eliminate unnecessary products with the above-mentioned defects.

ところで、かかるカプセルの検査は、例えば次
のように行なわれる。
By the way, such a capsule inspection is performed, for example, as follows.

第2図はカプセル検査装置の従来例を示す構成
図、第2A図はカプセルの搬送態様とセンサ出力
波形の関係を示す説明図、第3図はカプセルの走
査方法を説明するための説明図である。第2図に
おいて、2は例えばカプセルに光を照射しその反
射光を受光する光学センサ、3はアナログ/デイ
ジタル(A/D)変換器、4はメモリ、5はデイ
ジタル処理装置(CPU)、6はコントローラ
(CTL)である。なお、カプセル1は、その長さ
方向軸を回転中心軸として回転せしめられなが
ら、第2A図イに示される搬送部材7により示矢
の方向へ移送されるので、第2図のセンサ2によ
つて各カプセルの表面が走査されることになる。
かかる走査はヘリカルスキヤンとも云われるが、
このヘリカルスキヤンによつて得られる出力波形
は、例えば第2A図ロの如きアナログ波形となる
ので、A/D変換器3にてデイジタル信号に変換
した後メモリ4へ書き込み、デイジタル処理装置
(CPU)5で、このメモリ4へ格納されたデータ
にもとづき所定の処理を行なうことにより、カプ
セル検査を行なうことができる。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a conventional example of a capsule inspection device, FIG. 2A is an explanatory diagram showing the relationship between the capsule transport mode and the sensor output waveform, and FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the capsule scanning method. be. In FIG. 2, 2 is an optical sensor that irradiates light onto a capsule and receives the reflected light, 3 is an analog/digital (A/D) converter, 4 is a memory, 5 is a digital processing unit (CPU), and 6 is an analog/digital (A/D) converter. is the controller (CTL). Note that the capsule 1 is transferred in the direction of the arrow by the conveying member 7 shown in FIG. 2A, while being rotated about its longitudinal axis as the central rotation axis, so that the capsule 1 is transported in the direction of the arrow by the conveying member 7 shown in FIG. The surface of each capsule will then be scanned.
Such scanning is also called helical scanning,
The output waveform obtained by this helical scan is, for example, an analog waveform as shown in FIG. At step 5, a capsule inspection can be performed by performing predetermined processing based on the data stored in the memory 4.

しかしながら、このような検査装置において
は、次のような欠点がある。
However, such an inspection device has the following drawbacks.

まず、第1は、メモリの容量がぼう大になると
いう点である。すなわち、例えば第3図の如く、
カプセルの直径をdC、カプセルの全長をLT、カプ
セルが1回転する間に搬送される距離をLP
A/D変換器3からのデイジタルデータを読込む
間隔をdPとすると、全表面を走査するのに必要な
メモリ容量CTは CT=πdC・LT/LP・1/dP ……(1) の如く表わされる。ここで、例えばdC=7mm、LT
=21mmのカプセルに生じている孔径0.5φの傷を検
査するため、0.1mmの間隔でデータを読み込もう
とすると、LP=0.5mm、dP=0.1mmであるから、上
記(1)式は CT=3.14×7×21/0.5×1/0.1≒10×103……(2) となり、必要な容量は10Kバイトということにな
る。
First, the memory capacity becomes enormous. That is, for example, as shown in Figure 3,
The diameter of the capsule is d C , the total length of the capsule is L T , the distance the capsule is transported during one rotation is L P ,
If the interval for reading digital data from the A/D converter 3 is d P , the memory capacity C T required to scan the entire surface is C T = πd C・L T /L P・1/d P ...It is expressed as (1). Here, for example, d C = 7 mm, L T
If you try to read data at intervals of 0.1 mm in order to inspect a flaw with a hole diameter of 0.5φ occurring in a capsule of = 21 mm, L P = 0.5 mm and d P = 0.1 mm, so the above equation (1) is C T =3.14×7×21/0.5×1/0.1≒10×10 3 ...(2) Therefore, the required capacity is 10K bytes.

第2は、演算時間が長くなるという点である。
つまり、上記の如き大容量の情報を用いて波形を
解析すべく各種演算を行なおうとすると、その処
理時間が長くなり、実用的でなくなるということ
である。
The second problem is that the calculation time becomes longer.
In other words, when attempting to perform various calculations to analyze a waveform using such a large amount of information as described above, the processing time becomes long, making it impractical.

つまり、従来の方式は、アナログ信号を何ら加
工せず、そのまゝ記憶するものであるため、メモ
リの容量がぼう大となるばかりでなく、演算時間
も長くなるという欠点がある。
In other words, in the conventional method, the analog signal is stored as is without any processing, which has the disadvantage that not only the memory capacity becomes large, but also the calculation time becomes long.

〔発明の目的〕 この発明は上記に鑑みてなされたもので、メモ
リ容量が少なくて済み、かつ演算時間の短縮化が
可能な外観検査装置を提供することを目的とする
ものである。
[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to provide an appearance inspection device that requires less memory capacity and can shorten calculation time.

〔発明の要点〕[Key points of the invention]

カプセルがその長手軸を中心に1回転する間の
検査はリアルタイムで行ない、その結果を一定時
間保持し、その間に該データをメモリへ読込む方
式とすることにより、読込み時間々隔を大きくし
てメモリ容量を減少させるとともに、センサ出力
からカプセルの回転方向の速度(周速)とカプセ
ル長さ方向の速度(搬送速度)とを考慮して各種
検査に有効な2値化信号を作るセンサ出力操作回
路を設け、この回路からの2値化信号にもとづい
て演算を行なうことにより、演算装置による2値
化のための演算を不要として演算時間を短縮させ
るものである。
The inspection during one revolution of the capsule around its longitudinal axis is performed in real time, and the results are retained for a certain period of time, during which time the data is read into memory, thereby increasing the reading time interval. Sensor output operation that reduces memory capacity and creates a binary signal effective for various inspections by taking into account the speed in the rotational direction of the capsule (peripheral speed) and the speed in the capsule length direction (conveying speed) from the sensor output. By providing a circuit and performing calculations based on the binarized signal from this circuit, the calculation time for binarization by an arithmetic unit is not required and the calculation time is shortened.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第4図はこの発明の実施例を示す構成図、第5
図は第4図の動作を説明するための各部波形図、
第6図はメモリの書込み(WRITE)、読出し
(READ)動作を説明する説明図、第7図はセン
サ出力のメモリへの読込みタイミングを説明する
波形図、第8図は第7図における各種信号の部分
的な記憶態様を示すメモリ構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram showing an embodiment of this invention, and FIG.
The figure is a waveform diagram of each part to explain the operation of Fig. 4,
Figure 6 is an explanatory diagram explaining the memory write (WRITE) and read (READ) operations, Figure 7 is a waveform diagram explaining the timing of reading sensor output into memory, and Figure 8 is the various signals in Figure 7. FIG. 2 is a memory configuration diagram showing a partial storage mode.

第4図において、211,212は微分器、22
〜225はコンパレータ、231〜234は単安定
マルチバイブレータ、24,26はバス切換スイ
ツチ、251,252はメモリ、271,272はデ
ータ書込みバス、271′,272′はデータ読出し
バス、28はアンドゲート、2,5および6は第
2図と同様のセンサ、データ処理装置(CPU)
およびコントローラである。
In Fig. 4, 21 1 and 21 2 are differentiators, 22
1 to 22 5 are comparators, 23 1 to 23 4 are monostable multivibrators, 24 and 26 are bus selection switches, 25 1 and 25 2 are memories, 27 1 and 27 2 are data write buses, 27 1 ', 27 2 ' is a data read bus, 28 is an AND gate, 2, 5, and 6 are sensors and data processing unit (CPU) similar to those in Fig. 2.
and a controller.

ここで、第5図も参照してその動作を説明す
る。なお、この場合、N回目では良品カプセル1
が、また、N+1回目では穴14のある不良品
カプセル12がそれぞれ検査されるものとする。
Here, the operation will be explained with reference also to FIG. In this case, in the Nth time, the good capsule 1
1 , and defective capsules 1 and 2 with holes 14 are inspected at the N+1 time.

カプセル11,12は、センサ2によつてヘリカ
ルスキヤンされ、第5図イの如き信号aが得られ
る。なお、a1はノツチ13によつて生じた凹部で
あり、a2は穴14によつて生じた凹部である。こ
の信号aから、次のようにして4種類の信号b,
f,gおよびmが得られる。まず、信号bはアナ
ログ信号aをコンパレータ221にて所定のレベ
ルaL(第5図イ)と比較することにより得られ、
第5図ロの如くカプセルが搬送部材7の有無に応
じて変化することになる。信号f,gはセンサの
視野の大きさ、カプセル搬送速度VTおよびカプ
セルの形状によつて決まる所定の微分係数をもつ
微分器211によつてアナログ信号aを微分した
後、コンパレータ222,223において第5図ハ
に示されるレベルCH,CLで2値化されたもので、
搬送部材7に形成されたカプセル収納穴71のの
始まりや終りおよびボデー、キヤツプの始まりや
終りに応じて、それぞれ第5図ニ,ホの如く得ら
れる。なお、この信号f,gはコンパレータ22
,223の出力を単安定マルチバイブレータ23
,232によつてそれぞれ所定幅の信号に整形し
たものであるが、このように所定時間だけ信号を
保持する理由については後述する。一方、信号m
はセンサの視野の大きさ、カプセル周速度VN
よび欠陥部の形状等によつて決まる所定の微分定
数を有する微分器212によつて、上記アナログ
信号aを微分して得られる第5図ヘの如き信号h
を、コンパレータ224,225にて所定のレベル
hH,hLとそれぞれ比較することによつて信号i,
jを得、この信号jを所定幅の信号に整形する単
安定マルチバイブレータ234を通して得た信号
kと信号iとをアンドゲート28にて論理積操作
した信号lを、さらに単安定マルチバイブレータ
233によつて所定幅の信号に整形したものであ
る。したがつて、信号lまたはmは第5図トの如
く、アナログ信号aにa1の如き凹部が存在すると
きのみ得られ、それ以外の場合には得られない。
なお、ここではカプセルのノツチを含む凹部を単
安定マルチバイブレータ233,234およびアン
ドゲート28を用いて検出するようにしている
が、コンパレータ224,225の出力i,jを所
定幅の信号に整形してメモリへ記憶させ、CPU
5の内部でその検出を行なうようにすることがで
きる。こうして得られるカプセルからの2値化信
号が、例えば第5図に示されるN番目のカプセル
1からのものであり、そのときバス切換スイツ
チ24,26が第4図の実線位置にあるものとす
れば、それらの信号はメモリ251へ格納される。
このときメモリ252にはN−1番目のカプセル
に関するデータが書き込まれており、したがつ
て、CPU5はこのデータによつてN−1番目の
カプセルの判定を行ない、その結果をコントロー
ラ6へ送る。次に、第5図に示される如きN+1
番目のカプセル12を走査するときは、コントロ
ーラ6によつてバス切換スイツチ24,26を第
4図の点線の位置に切り換えることにより、2値
化信号はメモリ252へ書込まれる一方、メモリ
251はCPU5と接続されるので、CPU5はN番
目のカプセルの判定を行なう。
The capsules 1 1 and 1 2 are helically scanned by the sensor 2, and a signal a as shown in FIG. 5A is obtained. Note that a 1 is a recess created by the notch 13 , and a 2 is a recess created by the hole 14 . From this signal a, four types of signals b,
f, g and m are obtained. First, the signal b is obtained by comparing the analog signal a with a predetermined level a L (FIG. 5A) using the comparator 221 ,
As shown in FIG. 5B, the capsule changes depending on the presence or absence of the conveying member 7. The signals f and g are obtained by differentiating the analog signal a by a differentiator 21 1 having a predetermined differential coefficient determined by the size of the field of view of the sensor, the capsule transport speed V T and the shape of the capsule, and then by using the comparators 22 2 , 22 3 , which is binarized at the levels C H and C L shown in Figure 5 C,
Depending on the beginning and end of the capsule storage hole 71 formed in the conveying member 7 and the beginning and end of the body and cap, the capsules are obtained as shown in FIG. 5 D and H, respectively. Note that these signals f and g are sent to the comparator 22.
2 , 22 3 outputs to monostable multivibrator 23
1 and 23 2 respectively, and the reason for holding the signal for a predetermined time will be described later. On the other hand, signal m
is obtained by differentiating the analog signal a using a differentiator 212 having a predetermined differential constant determined by the size of the field of view of the sensor, the circumferential velocity of the capsule VN , the shape of the defective part, etc. Signal h like h
to a predetermined level using comparators 22 4 and 22 5 .
By comparing h H and h L respectively, the signal i,
The signal k obtained through the monostable multivibrator 23 4 and the signal i obtained through the monostable multivibrator 23 4 which shapes the signal j into a signal with a predetermined width are logically ANDed by an AND gate 28 to obtain a signal l, which is further processed by the monostable multivibrator 23 3 , the signal is shaped into a signal with a predetermined width. Therefore, the signal l or m is obtained only when a concavity such as a1 exists in the analog signal a, as shown in FIG. 5G, and is not obtained in other cases.
Here, the concave portion including the notch of the capsule is detected using the monostable multivibrators 23 3 and 23 4 and the AND gate 28, but the outputs i and j of the comparators 22 4 and 22 5 are Shape the signal, store it in memory, and send it to the CPU
The detection can be performed within the device 5. The binary signal from the capsule obtained in this way is, for example, from the Nth capsule 11 shown in FIG. Then, those signals are stored in the memory 25 1 .
At this time, data regarding the N-1st capsule has been written in the memory 252 , so the CPU 5 uses this data to determine the N-1st capsule and sends the result to the controller 6. . Next, N+1 as shown in FIG.
When scanning the second capsule 12 , the controller 6 switches the bus selector switches 24 and 26 to the dotted line positions in FIG. 4, so that the binary signal is written to the memory 252 while the memory Since 251 is connected to the CPU 5, the CPU 5 judges the Nth capsule.

ここで、2値化信号をメモリへ書込むタイミン
グについて、第7図を参照して説明する。なお、
第7図イはセンサ出力aを、同図イ′はその部分
拡大図を、同図ロは第4図におけるアンドゲート
28の出力を、同図ハは同じく第4図の単安定マ
ルチバイブレータ233の出力を、同図ニはタイ
ミングパルスtをそれぞれ示すもので、特にタイ
ミングパルスtの間隔はカプセル長さ方向の判定
精度の基準となるが、ここでは、例えばカプセル
が1/4周だけ回転するに要する時間と等しく選ば
れる。ところで、上記の如き2値化信号lの時間
幅は、カプセルのノツチや穴などの大きさによつ
て決まるが、その値はカプセルが1回転するに要
する時間の略1/10以下である。したがつて、第7
図ニの如き読込みタイミングでは、信号lを読む
ことができないので、単安定マルチバイブレータ
233によつて信号lを1/4周期より若干長い時間
THだけ保持することにより信号mを作るもので
ある。なお、この信号mによれば、第7図の如く
1回以上読込むことができるが、この点は、信号
f,gの場合も同様である。こうして、第6図
イ,ロの如く、2値化信号はメモリ251,252
へ交互に書込まれ(WRITE)または読出され
(READ)、例えば、第7図の場合の例では第8
図の如く記憶される。なお、第6図イは例えばメ
モリ251の、同図ロはメモリ252の動作をそれ
ぞれ示すものである。
Here, the timing of writing the binarized signal into the memory will be explained with reference to FIG. 7. In addition,
Figure 7A shows the sensor output a, Figure A' shows its partially enlarged view, Figure 7B shows the output of the AND gate 28 in Figure 4, and Figure 7C shows the monostable multivibrator 23 in Figure 4. Figure 3 shows the output of 3, and Figure 2 shows the timing pulse t. In particular, the interval between the timing pulses t is a criterion for the determination accuracy in the capsule length direction, but here, for example, if the capsule rotates only 1/4 turn, is chosen equal to the time required to do so. Incidentally, the time width of the binary signal l as described above is determined by the size of the notch or hole in the capsule, but its value is approximately 1/10 or less of the time required for one rotation of the capsule. Therefore, the seventh
Since the signal l cannot be read at the reading timing shown in Figure D, the signal l is read by the monostable multivibrator 233 for a period slightly longer than 1/4 period.
The signal m is created by holding only T H. The signal m can be read more than once as shown in FIG. 7, and the same is true for the signals f and g. In this way, as shown in FIG .
For example, in the case of FIG. 7, the 8th
It is stored as shown in the figure. 6A shows the operation of the memory 251 , and FIG. 6B shows the operation of the memory 252 , respectively.

第9,10図は第5図の如く正常品カプセル1
、穴あきカプセル12をそれぞれ走査して得られ
た信号のうち、特に信号b,f,gおよびmの記
憶態様を説明するための説明図である。
Figures 9 and 10 are normal capsules 1 as shown in Figure 5.
FIG. 1 is an explanatory diagram for explaining the storage mode of signals b, f, g, and m among the signals obtained by scanning the perforated capsules 1 and 2 , respectively.

第9,10図において、各アドレスに示される
記号は次のようにしてつけられる。すなわち、
CPIN1,2は2値化信号bが“1”となる始ま
りと終りのアドレスに、RISE1,2は2値化信
号fが“1”となるアドレスで、カプセルの始ま
りと終り付近のアドレスに、CENTER−B,C
はカプセル中央部付近のアドレスに、FALL1,
2は2値化信号gが“1”となるアドレスで、カ
プセルの始まりと終り付近のアドレスに、
NOTCH1,2は2値化信号mが“1”となる
アドレスで、キヤツプとボデーが重なり合う領域
で生じたアドレスに、また、HOLEは上記
NOTCH以外の領域で2値化信号mが“1”と
なるアドレスにそれぞれ対応して付されるもので
ある。なお、第9図はキヤツプを先にして搬送さ
れる正常品の場合であり、第10図はボデーに穴
があり、かつボデーを先にして搬送される不良品
の場合であることから、第9図ではノツチを示す
アドレス(NOTCH1,2)が第10図の場合
よりも先に現われているとともに、穴を示すアド
レス(HOLE)は現れていないことがわかる。
In FIGS. 9 and 10, the symbols shown at each address are attached as follows. That is,
CPIN1 and 2 are the addresses at the beginning and end where the binary signal b becomes "1", RISE1 and 2 are the addresses at which the binary signal f becomes "1", and are at the addresses near the beginning and end of the capsule. CENTER-B,C
is the address near the center of the capsule, FALL1,
2 is the address where the binary signal g becomes "1", and the addresses near the beginning and end of the capsule are
NOTCH1 and 2 are the addresses where the binary signal m becomes "1", and are the addresses that occur in the area where the cap and body overlap, and HOLE is the address mentioned above.
These are assigned in correspondence with the addresses where the binary signal m becomes "1" in areas other than NOTCH. Note that Figure 9 shows the case of a normal product that is transported with the cap first, and Figure 10 shows the case of a defective product that has a hole in the body and is transported with the body first. It can be seen that in FIG. 9, the addresses indicating the notch (NOTCH1, 2) appear earlier than in the case of FIG. 10, and the address indicating the hole (HOLE) does not appear.

次に、上記の如くして抽出、記憶された情報
(b,f,g,m等の信号)にもとづいて、どの
ように判定が行なわれるかについて説明する。
Next, a description will be given of how the determination is made based on the information (signals b, f, g, m, etc.) extracted and stored as described above.

ここで、信号b,f,gおよびmのもつ意味に
ついて整理すると、次の如くなる。
Here, the meanings of the signals b, f, g, and m are summarized as follows.

(1) 信号bについて カプセルまたは搬送部材を走査するとき
“1”となる。
(1) Regarding signal b: Becomes “1” when scanning the capsule or conveyance member.

(2) 信号fについて カプセルの始まり、搬送部材上のカプセル収
納穴の終り、またはカプセルがボデーを先にし
て搬送されたときにキヤツプ切り口を走査する
と“1”になる。
(2) Regarding the signal f, it becomes "1" when scanning the beginning of the capsule, the end of the capsule storage hole on the transport member, or the cut end of the cap when the capsule is transported with the body first.

(3) 信号gについて カプセルの終り、カプセル収納穴の始まり、
またはカプセルがキヤツプを先にして搬送され
たときにキヤツプ切り口を走査すると“1”に
なる。
(3) About signal g End of capsule, beginning of capsule storage hole,
Alternatively, if the capsule is transported with the cap first and the cap cut end is scanned, it becomes "1".

(4) 信号mについて カプセル表面のの凹部、肉薄部または反射率
の低い部分を走査するとき“1”となる。
(4) Signal m becomes "1" when scanning a concave part, a thin part, or a part with low reflectance on the capsule surface.

以上の如く、各信号はそれぞれに個有の意味を
持つているが、必ずしも一義的に決まるものでは
なく、したがつて、これらをさらに分析する必要
がある。すなわち、信号f,gはカプセルの始ま
り、終りまたは中央部付近で発生するが、これら
は互いにアドレスが遠く離れていることから、容
易に区別することができる。しかし、信号mはノ
ツチ(NOTCH)によるものと穴(HOLE)に
よるものとがあるので、ここでは、次のようにし
て区別をしている。
As described above, each signal has its own meaning, but it is not necessarily determined uniquely, and therefore it is necessary to further analyze these. That is, the signals f and g are generated near the beginning, end, or center of the capsule, but since their addresses are far apart from each other, they can be easily distinguished. However, since there are two types of signal m, one for a notch (NOTCH) and the other for a hole (HOLE), the distinction is made here as follows.

第11図は信号の判定方法を説明するフローチ
ヤートである。
FIG. 11 is a flowchart illustrating a signal determination method.

まず、上記(2)、(3)項からも明らかなように、信
号fまたはgが“1”となるアドレスを調べるこ
とにより、カプセルの搬送方向とキヤツプ切口の
位置を判別する(○イ、○ロ参照)。次に、信号mが
“1”となるアドレスを調べ(○ハ、○ニ参照)、この
アドレスがカプセル側にあり、かつキヤツプ切り
口により所定距離以上離れていない場合は、m=
1なる信号はノツチによるものであり、一方、所
定距離以上離れていて、かつボデー側にある場合
は穴によるものと考えることができる。したがつ
て、ここでは、中心位置を表わすf=1またはg
=1となるアドレスと、m=1となるアドレスと
の差が所定の設定値CT1より小さいか否かを判
別し(○ホ、○ヘ参照)、YESならばノツチによるも
ので、正常と判定し(○ト参照)、NOならば穴が
ある不良品であると判定する(○チ参照)。なお、
○ハ、○ニにおいて、m=1となるアドレスが存在し
ないときは、エラーとする(○リ、○ヌ参照)。
First, as is clear from the above items (2) and (3), by checking the address where the signal f or g becomes "1", the transport direction of the capsule and the position of the cap cut are determined (○I, (See ○b). Next, check the address where the signal m becomes "1" (see ○C and ○D), and if this address is on the capsule side and is not separated by more than a predetermined distance due to the cap cut, m=
A signal of 1 is due to a notch, whereas a signal that is more than a predetermined distance away and located on the body side can be considered to be due to a hole. Therefore, here, f=1 or g representing the center position.
Determine whether the difference between the address where = 1 and the address where m = 1 is smaller than a predetermined setting value CT1 (see ○, ○), and if YES, it is determined to be due to the notch and normal. (see ○), and if NO, it is determined that the product is defective because it has a hole (see ○). In addition,
In ○C and ○D, if there is no address for which m=1, it is determined as an error (see ○R and ○nu).

以上、主としてカプセル表面の検査について説
明したが、前述の如きツインキヤツプ、チツプド
キヤツプまたはロツクカプセル等の検査も同様に
して可能である。また、第4図の実施例では、ア
ナログ信号の凹部を検出するために単安定マルチ
バイブレータ234を設けるようにしているが、
この単安定マルチバイブレータ234をコンパレ
ータ255ではなく224側へ接続することによ
り、アナログ信号の凸部を検出することができ
る。また、アナログ信号の凹凸を区別しない場合
は単安定マルチバイブレータを省略することが可
能である。また、前述した如く、コンパレータ2
4,225の出力を直接記憶させ、その検出処理
をCPU5にて行わせるようにしてもよいもので
ある。
The above description has mainly been about inspection of the capsule surface, but it is also possible to inspect twin caps, chipped caps, lock capsules, etc. as described above in the same way. Furthermore, in the embodiment shown in FIG. 4, a monostable multivibrator 234 is provided to detect the concave portion of the analog signal.
By connecting this monostable multivibrator 23 4 to the 22 4 side instead of the comparator 25 5 , it is possible to detect the convex portion of the analog signal. Further, if the unevenness of the analog signal is not distinguished, the monostable multivibrator can be omitted. In addition, as mentioned above, the comparator 2
It is also possible to directly store the outputs of 2 4 and 22 5 and have the CPU 5 perform the detection process.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、センサ出力
を適宜に2値化して種々の変化点信号を抽出し、
これを順次サンプリングして取込むようにしたの
で、データを取込む間隔を長くすることができ、
その結果、メモリへ格納すべきデータ量が少なく
なるので、メモリ容量を減少させることができる
とともに、メモリ内容のチエツクに要する時間を
短くすることができる利点を有するものである。
つまり、メモリ容量は先の(1)式の如く表わされ、
その際、カプセル全長およびカプセルが1回転す
る間に搬送される距離が一定であれば、メモリ容
量CTはデータをとり込む間隔dPで決まるが、ここ
ではdP≒πdC/4の如く選ばれているので、 CT=πdC(LT/LP)/(πdC/4) =4(LT/LP) となり、先の(2)式の定数を当てはめると、 CT=4×21/0.5=168 で、従来にくらべてメモリ容量を約1/56にするこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the sensor output is binarized as appropriate to extract various change point signals,
Since this data is sampled and imported sequentially, the interval between data acquisition can be extended.
As a result, the amount of data to be stored in the memory is reduced, which has the advantage that the memory capacity can be reduced and the time required to check the memory contents can be shortened.
In other words, the memory capacity is expressed as in equation (1) above,
At that time, if the total length of the capsule and the distance traveled during one rotation of the capsule are constant, the memory capacity C T is determined by the data acquisition interval d P , but here, d P ≒ πd C /4. Therefore, C T = πd C (L T /L P )/(πd C /4) = 4 (L T /L P ), and applying the constant in equation (2) above, C T = 4 x 21/0.5 = 168, making it possible to reduce the memory capacity to approximately 1/56 compared to the previous model.

また、センサ出力を演算装置(データ処理装
置)において2値化する必要がないので、演算時
間を短縮することが可能である。
Furthermore, since there is no need to binarize the sensor output in the arithmetic device (data processing device), the calculation time can be shortened.

なお、この発明は、上述の如き薬剤カプセルば
かりでなく、これと同形状の物品を検査する検査
装置一般に適用することができる。
Note that the present invention can be applied not only to drug capsules as described above, but also to general inspection apparatuses for inspecting articles having the same shape as the drug capsules.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はカプセルを示す外観図、第2図はカプ
セル検査装置の従来例を示す構成図、第2A図は
カプセルの搬送態様とセンサ出力波形との関係を
示す説明図、第3図はカプセルの走査方法を説明
する説明図、第4図はこの発明の実施例を示す構
成図、第5図は第4図の動作を説明するための各
部波形図、第6図は2つのメモリの書込み、読出
し動作を説明する説明図、第7図はセンサ出力の
メモリへの読込みタイミングの関係を説明する波
形図、第8図は各種信号の部分的な記憶態様を示
すメモリ構成図、第9図および第10図は第5図
に示される各種信号の記憶態様を示すメモリ構成
図、第11図は信号の判定方法を説明するフロー
チヤートである。 符号説明、1,11,12……カプセル、11…
…キヤツプ、12……ボデー、13……ノツチ、
14……穴、2……光学センサ、3……A/D変
換器、4,251,252……メモリ、5……デー
タ処理装置(CPU)、6……コントローラ
(CTL)、7……搬送部材、71……搬送部材のカ
プセル収納穴、211,212……微分器、221
〜225……コンパレータ、231〜234……単
安定マルチバイブレータ、24,26……バス切
換スイツチ、271,272,271′,272′……
データバス。
Fig. 1 is an external view showing the capsule, Fig. 2 is a configuration diagram showing a conventional example of a capsule inspection device, Fig. 2A is an explanatory diagram showing the relationship between the transport mode of the capsule and the sensor output waveform, and Fig. 3 is the capsule FIG. 4 is a configuration diagram showing an embodiment of the invention, FIG. 5 is a waveform diagram of each part to explain the operation of FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing the writing of two memories. , an explanatory diagram for explaining the readout operation, FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the relationship between the reading timing of the sensor output into the memory, FIG. 8 is a memory configuration diagram showing the partial storage mode of various signals, and FIG. 9 10 is a memory configuration diagram showing how the various signals shown in FIG. 5 are stored, and FIG. 11 is a flowchart illustrating a signal determination method. Code explanation, 1, 1 1 , 1 2 ...capsule, 11...
...Cap, 12...Body, 13...Notch,
14...hole, 2...optical sensor, 3...A/D converter, 4, 25 1 , 25 2 ...memory, 5...data processing unit (CPU), 6...controller (CTL), 7 ...Conveyance member, 7 1 ...Capsule storage hole of conveyance member, 21 1 , 21 2 ...Differentiator, 22 1
~22 5 ... Comparator, 23 1 ~23 4 ... Monostable multivibrator, 24, 26... Bus selection switch, 27 1 , 27 2 , 27 1 ', 27 2 '...
data bus.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 長さ方向軸を回転軸として回転せしめられな
がら軸方向に搬送される略円筒状の物品を光学セ
ンサにより順次走査し、該物品の外形および表面
の形状に応じた所定の位置毎に変化するセンサ出
力から物品の検査を行なう外観検査装置であつ
て、該センサ出力を所定のしきい値レベルで2値
化することによりその第1の変化点に関する信号
を抽出する第1の信号抽出手段と、少なくとも前
記物品の搬送速度を考慮した所定の微分定数を有
し前記センサ出力を微分する第1の微分手段と、
該第1微分手段から得られる正、負の信号をそれ
ぞれ所定のレベルで2値化することによりその第
2、第3の変化点に関する信号を抽出する第2、
第3の信号抽出手段と、少なくとも物品の回転速
度を考慮した所定の微分定数を有し前記センサ出
力を微分する第2の微分手段と、該第2微分手段
から得られる正、負の信号をそれぞれ所定のレベ
ルで2値化することにより第4、第5の変化点に
関する信号を抽出する第4、第5の信号抽出手段
とを備え、前記第1ないし第5信号抽出手段から
得られる信号を物品毎に所定の時間々隔でサンプ
リングしてメモリに記憶し、その内容にもとづき
所定の演算をして検査を行なうことを特徴とする
外観検査装置。 2 長さ方向軸を回転軸として回転せしめられな
がら軸方向に搬送される略円筒状の物品を光学セ
ンサにより順次走査し、該物品の外形および表面
の形状に応じた所定の位置毎に変化するセンサ出
力から物品の検査を行なう外観検査装置であつ
て、該センサ出力を所定のしきい値レベルで2値
化することによりその第1の変化点に関する信号
を抽出する第1の信号抽出手段と、少なくとも前
記物品の搬送速度を考慮した所定の微分定数を有
し前記センサ出力を微分する第1の微分手段と、
該第1微分手段から得られる正、負の信号をそれ
ぞれ所定のレベルで2値化することによりその第
2、第3の変化点に関する信号を抽出する第2、
第3の信号抽出手段と、少なくとも物品の回転速
度を考慮した所定の微分定数を有し前記センサ出
力を微分する第2の微分手段と、該第2微分手段
から得られる正、負の信号をそれぞれ所定のレベ
ルで2値化することにより第4、第5の変化点に
関する信号を抽出する第4、第5の信号抽出手段
と、該第4または第5の信号のいずれか一方を所
定幅の信号に整形する信号整形手段と、該整形さ
れた信号と第4、第5の信号のうちの整形されな
い信号との論理積を演算する論理積手段とを備
え、前記第1ないし第3の信号抽出手段および該
論理積手段から得られる信号を物品毎に所定の時
間々隔でサンプリングしてメモリに記憶し、その
内容にもとづき所定の演算をして検査を行なうこ
とを特徴とする外観検査装置。
[Scope of Claims] 1. A substantially cylindrical article that is conveyed in the axial direction while being rotated about a longitudinal axis is sequentially scanned by an optical sensor, and a predetermined object is detected according to the outer shape and surface shape of the article. A visual inspection apparatus that inspects an article from a sensor output that changes for each position, and a first system that extracts a signal related to a first change point by binarizing the sensor output at a predetermined threshold level. a first differentiating means for differentiating the sensor output and having a predetermined differential constant that takes into account at least the transport speed of the article;
a second step for extracting signals related to second and third points of change by binarizing the positive and negative signals obtained from the first differentiating means at predetermined levels, respectively;
a third signal extracting means; a second differentiating means for differentiating the sensor output having a predetermined differential constant that takes into account at least the rotational speed of the article; and positive and negative signals obtained from the second differentiating means. and fourth and fifth signal extraction means for extracting signals related to fourth and fifth change points by binarizing at predetermined levels, respectively, and the signals obtained from the first to fifth signal extraction means. 1. An appearance inspection apparatus characterized in that the sample is sampled for each article at predetermined time intervals and stored in a memory, and the inspection is performed by performing predetermined calculations based on the contents. 2. An optical sensor sequentially scans a substantially cylindrical article that is conveyed in the axial direction while being rotated about the longitudinal axis, and changes at predetermined positions according to the outer shape and surface shape of the article. A visual inspection device for inspecting an article based on a sensor output, wherein the sensor output is binarized at a predetermined threshold level to extract a signal related to a first change point thereof; , a first differentiator that differentiates the sensor output and has a predetermined differential constant that takes into account at least the transport speed of the article;
a second step for extracting signals related to second and third points of change by binarizing the positive and negative signals obtained from the first differentiating means at predetermined levels, respectively;
a third signal extracting means; a second differentiating means for differentiating the sensor output having a predetermined differential constant that takes into account at least the rotational speed of the article; and positive and negative signals obtained from the second differentiating means. fourth and fifth signal extraction means for extracting signals related to the fourth and fifth change points by binarizing at predetermined levels, respectively; a signal shaping means for shaping the signal into a signal of Appearance inspection characterized in that the signals obtained from the signal extraction means and the logical product means are sampled for each article at predetermined time intervals, stored in a memory, and the inspection is performed by performing predetermined calculations based on the contents. Device.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5470720A (en) * 1977-11-16 1979-06-06 Fuji Electric Co Ltd Binary coding circuit
JPS58743A (en) * 1981-06-26 1983-01-05 Fuji Electric Co Ltd Flaw inspecting device

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