JPH0135483Y2 - - Google Patents

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JPH0135483Y2
JPH0135483Y2 JP6819284U JP6819284U JPH0135483Y2 JP H0135483 Y2 JPH0135483 Y2 JP H0135483Y2 JP 6819284 U JP6819284 U JP 6819284U JP 6819284 U JP6819284 U JP 6819284U JP H0135483 Y2 JPH0135483 Y2 JP H0135483Y2
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semiconductor circuit
socket
pin
circuit
conductor
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Description

【考案の詳細な説明】 (技術分野) 本考案はパツケージ化された半導体回路の保護
装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] (Technical Field) The present invention relates to a protection device for a packaged semiconductor circuit.

(従来技術) 近年、半導体技術の進歩発展により、電子回路
の大部分が薄膜、厚膜等の集積回路によりパツケ
ージ化されるようになつてきている。このような
パツケージ化された半導体回路は、通常TO−5
パツケージやデイツプ形のパツケージ内に封入さ
れ、外部回路との接続は、パツケージから外部に
突き出したピンにより行うようになつている。具
体的には、これらピンを例えばプリント板のスル
ーホールに挿入して、ハンダ付けしている。
(Prior Art) In recent years, with the progress and development of semiconductor technology, most electronic circuits have come to be packaged using integrated circuits such as thin films and thick films. Such packaged semiconductor circuits are usually TO-5
It is enclosed in a package or a dip-shaped package, and connections to external circuits are made through pins protruding from the package. Specifically, these pins are inserted into, for example, through holes in a printed board and soldered.

ところで、MOS形ICや半導体レーザダイオー
ド等の素子は、空間電荷による高電圧や電磁波に
よる過電流等によつて破壊することがある。従つ
て、このような部品を含む半導体回路をプリント
板にハンダ付けする場合等においては、すばやく
ハンダ付けすることによつて破損を最小限にくい
とめるか、ピン相互間に導線を巻付けておいて、
ハンダ付けが終了したら、この導線を取り除く等
の方法がとられている。しかしながら、ハンダ付
けでは、素子が破壊されたときの着脱が不便であ
るし、プリント板にハンダ付けするときの操作も
煩雑である。
By the way, elements such as MOS type ICs and semiconductor laser diodes may be destroyed by high voltages caused by space charges, overcurrents caused by electromagnetic waves, and the like. Therefore, when soldering a semiconductor circuit containing such components to a printed circuit board, it is recommended to solder quickly to minimize damage or to wrap conductor wires between the pins. ,
After soldering is completed, methods such as removing this conductor are used. However, with soldering, it is inconvenient to attach and detach the element when it is destroyed, and the operation when soldering to the printed board is also complicated.

(考案の目的) 本考案はこのような点に鑑みてなされたもので
あつて、その目的は、着脱が容易で、且つ回路中
の素子を静電破壊等から確実に保護することので
きる半導体回路の保護装置を実現することにあ
る。
(Purpose of the invention) The present invention was made in view of the above points, and its purpose is to create a semiconductor that is easy to attach and detach, and that can reliably protect elements in the circuit from electrostatic damage. The purpose is to realize a circuit protection device.

(考案の構成) このような目的を達成する本考案は、半導体回
路のパツケージに外部ソケツトと接続するための
複数個の接続用ピンを設け、該パツケージの所定
の位置にこれらピンとパツケージ内半導体回路の
導体部分とを短絡可能にするためのバネ性導体を
設け、ピンと導体部分との接触はパツケージを外
部ソケツトに挿入することにより断たれるように
構成したことを特徴とするものである。
(Structure of the invention) The present invention achieves the above object by providing a plurality of connection pins for connection with an external socket on a semiconductor circuit package, and connecting these pins and the semiconductor circuit in the package at predetermined positions on the package. The device is characterized in that a spring conductor is provided to enable a short circuit between the pin and the conductor portion, and the contact between the pin and the conductor portion is broken by inserting the package into an external socket.

(実施例) 以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に
説明する。
(Embodiments) Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、本考案の一実施例を示す機械的構成
図である。図において、1はパツケージ化された
半導体回路、2は該半導体回路1の取り付けられ
た基板、3は半導体回路1と外部回路とを接続す
るためのピンである。図では、ピンが2本の場合
を示しているが、これに限るものではなく任意の
数のピンであつてよい。又、パツケージ及び基板
2の形状も図に示すものに限る必要はなく、任意
の形状であつてもよい。
FIG. 1 is a mechanical configuration diagram showing an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a packaged semiconductor circuit, 2 is a substrate on which the semiconductor circuit 1 is attached, and 3 is a pin for connecting the semiconductor circuit 1 to an external circuit. Although the figure shows a case where there are two pins, the number of pins is not limited to this, and any number of pins may be used. Further, the shapes of the package and the substrate 2 are not limited to those shown in the figures, and may be any shape.

4はその一端がピン3の一方と接触するように
取り付けられたバネ性(弾性)を有した導体であ
る。該バネ性導体4の他端は、半導体回路1の所
定の導体部分と接続されている。バネ性導体4の
材料としては、例えばりん青銅が用いられる。こ
のように構成された装置の動作を説明すれば、以
下の通りである。
4 is a conductor having spring properties (elasticity) attached so that one end thereof comes into contact with one of the pins 3. The other end of the spring conductor 4 is connected to a predetermined conductor portion of the semiconductor circuit 1. As the material of the spring conductor 4, for example, phosphor bronze is used. The operation of the device configured as described above will be explained as follows.

バネ性導体4は、通常は図に示すように半導体
回路1の導体部分とピン3との間を短絡してい
る。このような短絡は、この間に静電気或いは電
磁波が印加されると、内部素子(例えば
MOSFET)が破壊されるような端子間について
行うものとする。即ち、高圧電界が印加されると
内部素子が静電破壊されるおそれがある場合に、
そのような箇所を予めバネ性導体4で短絡してお
くのである。このようにしておけば、高圧電界が
印加されることがなくなるので、内部素子、従つ
て半導体回路1は保護される。
The spring conductor 4 normally short-circuits the conductor portion of the semiconductor circuit 1 and the pin 3 as shown in the figure. Such short circuits occur when static electricity or electromagnetic waves are applied during this time, causing damage to internal elements (e.g.
This test shall be performed between terminals where the MOSFET may be destroyed. In other words, if there is a risk of electrostatic damage to internal elements when a high-voltage electric field is applied,
Such points are short-circuited in advance using the spring conductor 4. If this is done, a high-voltage electric field will not be applied, so that the internal elements, and therefore the semiconductor circuit 1, will be protected.

第2図は、第1図に示す半導体パツケージをプ
リント板に取り付けた状態を示す図である。第1
図と同一のものは、同一の番号を付して示す。1
1はプリント板、12は該プリント板11に取り
付けられたソケツトである。ソケツト12は、そ
の底部に設けられたピン13をプリント板11に
ハンダ付けすることにより、プリント板11と固
着される。14はハンダである。15はソケツト
ピン13と導通しているピンホルダで、ソケツト
内部に設けられている。
FIG. 2 is a diagram showing the semiconductor package shown in FIG. 1 attached to a printed board. 1st
Components that are the same as those in the figures are indicated by the same numbers. 1
1 is a printed board, and 12 is a socket attached to the printed board 11. The socket 12 is fixed to the printed board 11 by soldering a pin 13 provided at its bottom to the printed board 11. 14 is solder. A pin holder 15 is electrically connected to the socket pin 13 and is provided inside the socket.

このように構成されたソケツト12に、半導体
回路1がピン3を介して挿入される。ピン3は、
ソケツト12内のピンホルダ15に保持され、こ
のことにより半導体回路1は、プリント板11上
に構成された電気回路(図示せず)と接続され
る。半導体パツケージがソケツト12に挿入され
ると、それまでピン3と接触していたバネ性導体
4は、ソケツト12のために外に向けて押し出さ
れる。この結果、半導体回路1の所定の導体部分
とピン3との接触は断たれることになる。しかし
ながら、その代わりにバネ性導体4で短絡されて
いた部分には、プリント板11上に構成された電
気回路が接続されるので、直接その部分に高圧電
界が印加されることはなくなる。又、逆に半導体
回路1が電気回路の一部に組込まれたにも拘わら
ず、その導体部分とピン3とが短絡されているこ
とは不都合である。従つて、半導体回路1がソケ
ツト12に封入されたときには、バネ性導体4は
ピン3から外れる必要がある。図に示す装置によ
れば、バネ性導体4は、ソケツト12の物理的制
約のためにピン3と接触できないので好都合であ
る。
The semiconductor circuit 1 is inserted into the thus constructed socket 12 via the pins 3. Pin 3 is
The semiconductor circuit 1 is held by a pin holder 15 within the socket 12, thereby connecting the semiconductor circuit 1 to an electric circuit (not shown) configured on the printed board 11. When the semiconductor package is inserted into the socket 12, the spring conductor 4, which was previously in contact with the pin 3, is forced outwardly into the socket 12. As a result, the contact between the predetermined conductor portion of the semiconductor circuit 1 and the pin 3 is broken. However, instead, an electric circuit configured on the printed board 11 is connected to the short-circuited portion of the spring conductor 4, so that a high-voltage electric field is no longer directly applied to that portion. On the other hand, even though the semiconductor circuit 1 is incorporated into a part of the electric circuit, it is inconvenient that the conductor part and the pin 3 are short-circuited. Therefore, when the semiconductor circuit 1 is encapsulated in the socket 12, the spring conductor 4 must be removed from the pin 3. Advantageously, according to the device shown, the spring conductor 4 cannot come into contact with the pin 3 due to the physical constraints of the socket 12.

上述の説明では、半導体回路をプリント板に取
り付ける場合について説明したが、本考案はこれ
に限るものではなく、半導体回路と他の電気回路
を接続する場合の全てについて適用することがで
きる。第3図は、本考案の他の実施例を示す機械
的構成図である。図は、半導体回路としてのレー
ザダイオードをソケツトに接続した状態を示して
いる。図において、21は筐体、22は回路ケー
ス、23はレーザダイオード、24は該レーザダ
イオード23が封入されるソケツト、25は該ソ
ケツト24のソケツト端子、26は基板である。
レーザダイオード23は、ソケツト端子25を介
して外部電気回路と接続される。図中には示され
ていないが、基板26中には電気回路(例えばレ
ーザダイオード23の駆動回路)が封入されてお
り、この電気回路とソケツト端子25とは接続さ
れている。
In the above description, a case has been described in which a semiconductor circuit is attached to a printed board, but the present invention is not limited to this, and can be applied to all cases in which a semiconductor circuit and other electric circuits are connected. FIG. 3 is a mechanical configuration diagram showing another embodiment of the present invention. The figure shows a state in which a laser diode as a semiconductor circuit is connected to a socket. In the figure, 21 is a housing, 22 is a circuit case, 23 is a laser diode, 24 is a socket in which the laser diode 23 is sealed, 25 is a socket terminal of the socket 24, and 26 is a board.
Laser diode 23 is connected to an external electrical circuit via socket terminal 25. Although not shown in the figure, an electric circuit (for example, a driving circuit for the laser diode 23) is enclosed in the substrate 26, and this electric circuit and the socket terminal 25 are connected.

27はレーザダイオード23の発光を集光する
レンズ、28はレンズケース、29はレンズ27
を固定するレンズ固定ネジ、30はレンズケース
28のガタを吸収するための反発バネ、31はレ
ーザダイオード23のケースをアース電位(回路
ケース22の電位)におとすためのアースバネ、
32は基板26を押さえるための基板押さえネ
ジ、33はカバー、34はゴムブツシユである。
27 is a lens that focuses the light emitted from the laser diode 23, 28 is a lens case, and 29 is a lens 27.
30 is a repulsion spring for absorbing the play of the lens case 28, 31 is a ground spring for bringing the case of the laser diode 23 to ground potential (the potential of the circuit case 22),
32 is a board holding screw for holding down the board 26, 33 is a cover, and 34 is a rubber button.

レーザダイオード23には、第1図に示したと
同様のバネ性導体35が取り付けられている
(尚、第3図中では、該バネ性導体35とレーザ
ダイオード23を黒塗りに一体的に示した)。
A spring conductor 35 similar to that shown in FIG. 1 is attached to the laser diode 23 (in FIG. 3, the spring conductor 35 and the laser diode 23 are shown integrally in black). ).

このように構成された装置において、レーザダ
イオード23をソケツト24に挿入しない状態に
おいては、バネ性導体35がレーザダイオード2
3の所定の導体部分とピン部とを短絡し、高電界
が印加された場合等からレーザダイオード23を
保護している。このレーザダイオード23がソケ
ツト24に挿入されると、バネ性導体35は物理
的にレーザダイオード23のピンと接触すること
が不可能になり、接触が断たれる。代わりに、そ
れまでバネ性導体35で保護されていた部分には
外部の電気回路がソケツト端子25を介して接続
されるので、レーザダイオード23に直接高圧電
界が印加されることはなくなり、該レーザダイオ
ード23は保護される。この間の事情は第2図に
示した場合と同様である。
In the device configured in this manner, when the laser diode 23 is not inserted into the socket 24, the spring conductor 35 is connected to the laser diode 2.
A predetermined conductor portion of 3 and the pin portion are short-circuited to protect the laser diode 23 from the case where a high electric field is applied. When this laser diode 23 is inserted into the socket 24, the spring conductor 35 is physically unable to make contact with the pin of the laser diode 23, and the contact is broken. Instead, an external electric circuit is connected via the socket terminal 25 to the portion that was previously protected by the spring conductor 35, so that a high voltage electric field is no longer applied directly to the laser diode 23, and the laser Diode 23 is protected. The circumstances during this time are similar to those shown in FIG.

上述したバネ性導体は必ずしも図に示す形状の
ものに限る必要はなく、半導体回路をソケツトに
挿入したときに該半導体回路の所定の導体部分と
ピンとの接触が断たれるものであればどのような
構造のものであつてもよい。又、ピンとの接触が
も1個に限る必要はなく、複数個のピンと同時に
接触する構造のものであつてもよく、複数個の導
体部分と、複数個のピンがそれぞれ複数個のバネ
性導体で短絡されるような構成のものであつても
よい。
The above-mentioned spring conductor is not necessarily limited to the shape shown in the figure; any spring conductor may be used as long as the contact between the predetermined conductor part of the semiconductor circuit and the pin is broken when the semiconductor circuit is inserted into the socket. It may have a similar structure. Further, the contact with the pin does not have to be limited to one, and may be structured to contact with multiple pins at the same time. It may also be configured such that it is short-circuited.

(考案の効果) 以上詳細に説明したように、本考案によれば、
通常は半導体回路の導体部分と半導体回路のピン
とを短絡しておき、該半導体回路とソケツトに挿
入したときに導体部分とピンとの接触が断たれる
構成にすることにより、着脱が容易で、且つ回路
中の素子を静電破壊等から確実に保護することの
できる半導体回路の保護装置を実現することがで
きる。
(Effects of the invention) As explained in detail above, according to the invention,
Normally, the conductor part of the semiconductor circuit and the pin of the semiconductor circuit are short-circuited, and the contact between the conductor part and the pin is broken when the semiconductor circuit is inserted into the socket, thereby making it easy to attach and detach. It is possible to realize a semiconductor circuit protection device that can reliably protect elements in the circuit from electrostatic damage and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の一実施例を示す機械的構成
図、第2図は第1図に示す半導体パツケージをプ
リント板に取り付けた状態を示す図、第3図は本
考案の他の実施例を示す機械的構成図である。 1……半導体回路、2……基板、3,13……
ピン、4,35……バネ性導体、11……プリン
ト板、12,24……ソケツト、14……ハン
ダ、15……ピンホルダ、21……筐体、22…
…回路ケース、23……レーザダイオード、25
……ソケツト端子、26……基板、27……レン
ズ、28……レンズケース、29……レンズ固定
ネジ、30……反発バネ、31……アースバネ、
32……基板押さえネジ、33……カバー、34
……ゴムブツシユ。
Figure 1 is a mechanical configuration diagram showing one embodiment of the present invention, Figure 2 is a diagram showing the semiconductor package shown in Figure 1 attached to a printed board, and Figure 3 is another embodiment of the present invention. FIG. 1...Semiconductor circuit, 2...Substrate, 3, 13...
Pin, 4, 35... Spring conductor, 11... Printed board, 12, 24... Socket, 14... Solder, 15... Pin holder, 21... Housing, 22...
...Circuit case, 23...Laser diode, 25
...Socket terminal, 26 ... Board, 27 ... Lens, 28 ... Lens case, 29 ... Lens fixing screw, 30 ... Repulsion spring, 31 ... Earth spring,
32... Board holding screw, 33... Cover, 34
...Rubber bumps.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 半導体回路のパツケージに外部ソケツトと接続
するための複数個の接続用ピンを設け、該パツケ
ージの所定の位置にこれらピンとパツケージ内半
導体回路の導体部分とを短絡可能にするためのバ
ネ性導体を設け、ピンと導体部分との接触はパツ
ケージを外部ソケツトに挿入することにより断た
れるように構成したことを特徴とする半導体回路
の保護装置。
A semiconductor circuit package is provided with a plurality of connection pins for connection to an external socket, and a spring conductor is provided at a predetermined position on the package to enable short-circuiting between these pins and a conductor portion of the semiconductor circuit within the package. A protection device for a semiconductor circuit, characterized in that the contact between the pin and the conductor portion is broken by inserting the package into an external socket.
JP6819284U 1984-05-09 1984-05-09 Semiconductor circuit protection device Granted JPS60179046U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6819284U JPS60179046U (en) 1984-05-09 1984-05-09 Semiconductor circuit protection device

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JP6819284U JPS60179046U (en) 1984-05-09 1984-05-09 Semiconductor circuit protection device

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Publication Number Publication Date
JPS60179046U JPS60179046U (en) 1985-11-28
JPH0135483Y2 true JPH0135483Y2 (en) 1989-10-30

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