JPH0135431Y2 - - Google Patents
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- JPH0135431Y2 JPH0135431Y2 JP15785685U JP15785685U JPH0135431Y2 JP H0135431 Y2 JPH0135431 Y2 JP H0135431Y2 JP 15785685 U JP15785685 U JP 15785685U JP 15785685 U JP15785685 U JP 15785685U JP H0135431 Y2 JPH0135431 Y2 JP H0135431Y2
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- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は無挿抜力(以下ZIFと略記する)タイ
プのICソケツトに関するものである。[Detailed Description of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a no insertion/extraction force (hereinafter abbreviated as ZIF) type IC socket.
(従来の技術)
LSIを含むICは元来、接続リードを直接プリン
ト配線板に半田付けして使用するように設計され
ている。しかしながら、一方ではICソケツトを
プリント配線板に半田付けしておき、これに所望
のICを挿入して交換可能に装着することも多く
行なわれている。また、ICを高温雰囲気中で正
常動作あるいは限界動作を行なわせて、短時間で
不良もしくは規格限界にあるICを摘出するバー
ンイン工程でも被試験ICの接続にはICソケツト
が用いられている。(Prior Art) ICs including LSIs are originally designed to be used by directly soldering connection leads to a printed wiring board. However, on the other hand, it is often the case that an IC socket is soldered to a printed wiring board, and a desired IC is inserted into the socket so that it can be replaced. IC sockets are also used to connect ICs under test during the burn-in process, in which ICs are operated normally or at their limits in a high-temperature atmosphere, and ICs that are defective or at the limits of their specifications are removed in a short period of time.
従来より用いられているこれらのICソケツト
は、ハウジングの多数のリード挿入孔内に予めテ
ンシヨンが与えられたコンタクトを配置してお
き、IC装着の際には、このコンタクトのプレテ
ンシヨンに抗して接続リードを各リード挿入孔に
挿入してゆき、このプレテンシヨンでコンタクト
とICの接続リード圧接し、両者の電気的接続を
はかるものである。 These conventionally used IC sockets have contacts pre-tensioned in the numerous lead insertion holes in the housing, and when inserting an IC, the contacts must be pulled against the pretension of the contacts. A connection lead is inserted into each lead insertion hole, and this pretension presses the contact and the connection lead of the IC to establish an electrical connection between the two.
(考案が解決しようとする問題点)
しかしながら、ICの接続リードは前述の如く
プリント配線板に直付けするものとして設計され
ており、コネクタプラグとしての寸法精度までは
保たれておらず、また、特に硬質の材料を用いて
もいないため、このような従来のICソケツトを
用いた場合、コンタクトに予め与えられたテンシ
ヨンによつて、ICソケツトへの挿抜時に接続リ
ードがしばしば曲がつてしまつたり、折損したり
することがあり、極端な場合にはICのパツケー
ジにも無用の応力が加わつてこれを破壊してしま
う危険性もあつた。また、このような事故を防止
するため、ICソケツトのコンタクトばね圧を下
げると接続の信頼性を著しく低下してしまうとい
う問題点があつた。(Problem that the invention aims to solve) However, as mentioned above, the IC connection leads are designed to be directly attached to the printed wiring board, and the dimensional accuracy as a connector plug is not maintained. Since no particularly hard material is used, when using such conventional IC sockets, the pre-applied tension on the contacts often causes the connection leads to bend when inserted into or removed from the IC socket. In extreme cases, there was a risk that unnecessary stress would be applied to the IC package, causing it to break. Furthermore, in order to prevent such accidents, if the contact spring pressure of the IC socket is lowered, there is a problem in that the reliability of the connection is significantly reduced.
また、これらの問題点を除去するために、いく
つかのZIFタイプのICソケツトも提案されてはい
るが、機構が極めて複雑なものであり、安価に提
供できるものはなく、ICの挿抜時に別途に治具
を必要とする等、その取扱も不便なものであつ
た。 In addition, several ZIF-type IC sockets have been proposed to eliminate these problems, but their mechanisms are extremely complex, and none of them can be provided at low cost. It was also inconvenient to handle, such as requiring a jig.
本考案は、これらの点に着目してなされたもの
であり、構造が簡単で取扱も容易であり、ICの
装着、抜去に特に力を必要とせず、信頼性の向上
および長寿命化をはかつたICソケツトを提供せ
んとするものである。 The present invention has been developed with these points in mind; it has a simple structure, is easy to handle, does not require special force to attach and remove ICs, and improves reliability and extends lifespan. The aim is to provide an IC socket with a new design.
(問題点を解決するための手段)
そのため、本考案ではICソケツトを、硬質絶
縁材料よりなり、ICの接続リードに対応付けら
れた多数のリード挿入孔を備えたハウジングと、
このハウジングの各リード挿入孔内に配置された
コンタクトと、前記各リード挿入孔にICの接続
リードの挿入方向と略直角に出入自在に配された
スライダと、形状記憶合金よりなり、変態温度を
越えたとき前記スライダを押圧して前記リード挿
入孔に挿入されたICの接続リードを前記コンタ
クトに圧接する形状を記憶しているスプリングと
で構成したものである。(Means for Solving the Problems) Therefore, in the present invention, the IC socket includes a housing made of a hard insulating material and equipped with a large number of lead insertion holes corresponding to the connection leads of the IC.
It consists of a contact placed in each lead insertion hole of this housing, a slider placed in each lead insertion hole so as to be able to move in and out approximately at right angles to the insertion direction of the connecting lead of the IC, and a shape memory alloy. The spring has a memorized shape that presses the slider and presses the connection lead of the IC inserted into the lead insertion hole against the contact when the contact is crossed.
(作用)
このように構成された本考案のICソケツトで
は、形状記憶合金よりなるスプリングは変態温度
より低い温度では縮んでいて、ICを装着する場
合、その接続リードは何等の抵抗も受けずにIC
ソケツトのリード挿入孔に挿入することができ
る。ここで、温度が前記変態温度を越えると、ス
プリングは記憶していた形状になるため、リード
挿入孔に出入自在に配されたスライダを押圧して
リード挿入孔内に押し出し、リード挿入孔内に挿
入されたICの接続リードをコンタクトへ圧接す
る。これによつて信頼性の高い接続が実現され
る。ICを抜去する場合には、前記形状記憶合金
よりなるスプリングの温度を変態温度より下げて
やれば、スライダの押圧は除かれ、ICは何等の
抵抗も受けずにICソケツトより抜去することが
できる。(Function) In the IC socket of the present invention configured as described above, the spring made of the shape memory alloy contracts at a temperature lower than the transformation temperature, so that when the IC is mounted, the connection lead is not subjected to any resistance. I C
It can be inserted into the lead insertion hole of the socket. When the temperature exceeds the transformation temperature, the spring assumes its memorized shape, so it presses the slider that can move in and out of the lead insertion hole and pushes it into the lead insertion hole. Press the inserted IC connection lead to the contact. This provides a highly reliable connection. When removing the IC, if the temperature of the spring made of the shape memory alloy is lowered below the transformation temperature, the pressure of the slider is removed and the IC can be removed from the IC socket without experiencing any resistance. .
これによつて、構造が簡単で取扱も容易であ
り、ICの装着、抜去に特に力を必要とせず、信
頼性の向上および長寿命化をはかつたICソケツ
トを実現したものである。 This has resulted in an IC socket that has a simple structure, is easy to handle, does not require special force to attach or remove an IC, and has improved reliability and extended life.
(実施例)
次に、本考案の実施の一例を図面を参照しなが
ら説明する。図面は本考案に係るICソケツトの
一実施例の要部を示す要部縦断面図であり、第1
図は非接続状態を、第2図は接続状態を夫々示し
ている。図面において11はIC、13はその接
続リードである。(Example) Next, an example of implementation of the present invention will be described with reference to the drawings. The drawing is a longitudinal cross-sectional view of the main part of one embodiment of the IC socket according to the present invention, and
The figure shows a non-connected state, and FIG. 2 shows a connected state. In the drawing, 11 is an IC, and 13 is its connection lead.
15は硬質の絶縁性プラスチツク成形品よりな
るハウジングであり、17はこのハウジング15
に、その上面よりIC11の接続リード13に対
応付けられて穿設された多数のリード挿入孔であ
る。19はこの各リード挿入孔17内に配置され
たコンタクトであり弾性に富む金属条片で形成さ
れている。このコンタクト19は前記各リード挿
入孔17の内側側壁21に沿つて配される第1の
接片23と、外側側壁25に沿つて配される第2
の接片27とを互いに対向させて備えおり、第1
の接片23は内側側壁21方向へのプレテンシヨ
ンが与えられている。 15 is a housing made of a hard insulating plastic molded product; 17 is this housing 15;
A large number of lead insertion holes are drilled from the upper surface of the IC 11 in correspondence with the connection leads 13 of the IC 11. Reference numeral 19 denotes a contact disposed within each lead insertion hole 17, and is made of a highly elastic metal strip. This contact 19 includes a first contact piece 23 disposed along the inner side wall 21 of each lead insertion hole 17 and a second contact piece disposed along the outer side wall 25.
contact pieces 27 are provided facing each other, and the first
The contact piece 23 is given a pretension toward the inner side wall 21.
29は絶縁性硬質プラスチツクで成形されたス
ライダであり、前記各リード挿入孔17の内側側
壁21の前記第1の接片23の背後に、IC11
の接続リード13の挿入方向と略直角にあけられ
た透孔31に出入自在に配されている。33はハ
ウジング15内の前記スライダ31の背後に配置
されたスプリングである。このスプリング33は
形状記憶合金よりなり、変態温度を越えたとき前
記スライダ29を背後より押圧して、前記コンタ
クト19の第1の接片23と第2の接片27との
間に、リード挿入孔17に挿入されたIC11の
接続リード13を加圧挟持させる形状を記憶して
いる。 Reference numeral 29 denotes a slider made of insulating hard plastic, and the IC 11
The connecting lead 13 is disposed in a through hole 31 that is formed substantially perpendicularly to the direction in which the connecting lead 13 is inserted. 33 is a spring arranged behind the slider 31 inside the housing 15. This spring 33 is made of a shape memory alloy, and when the transformation temperature is exceeded, it presses the slider 29 from behind and inserts the lead between the first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19. The shape of the connection lead 13 of the IC 11 inserted into the hole 17 is memorized.
このように構成されたICソケツトでは、スプ
リング33に変態温度が例えば40℃の形状記憶合
金を用いた場合、このスプリング33は40℃より
低い温度では縮んでいて、コンタクト19の第1
の接片23と第2の接片27との間が開いている
ので、IC11を装着する場合、その接続リード
13は第1図に示す如く何等の抵抗も受けずに
ICソケツトのリード挿入孔17に挿入すること
ができる。 In the IC socket configured in this way, when a shape memory alloy with a transformation temperature of 40°C is used for the spring 33, the spring 33 contracts at a temperature lower than 40°C, and the first contact 19
Since there is an open space between the first contact piece 23 and the second contact piece 27, when the IC 11 is installed, the connection lead 13 will not receive any resistance as shown in FIG.
It can be inserted into the lead insertion hole 17 of the IC socket.
このような状態で温度が上昇して前記変態温度
である40℃を越えると、スプリング33は記憶形
状に従つて延び、スライダ29を背後より押圧す
る。従つて、スライダ29はリード挿入孔17内
に押し出されて、コンタクト19の第1の接片2
3を押圧して外側側壁25方向へ押したおす。こ
れによつてリード挿入孔内17に挿入されたIC
11の接続リード13は、前記コンタクト19の
第1の接片23と第2の接片27とで加圧挟持さ
れ、信頼性の高い接続が実現される。 When the temperature rises in this state and exceeds the transformation temperature of 40° C., the spring 33 extends according to the memorized shape and presses the slider 29 from behind. Therefore, the slider 29 is pushed out into the lead insertion hole 17 and the first contact piece 2 of the contact 19 is pushed out.
3 and push it down toward the outer side wall 25. As a result, the IC inserted into the lead insertion hole 17
The eleven connection leads 13 are held under pressure between the first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19, thereby realizing a highly reliable connection.
IC11を抜去する場合には、例えば室温に放
置して変態温度の40℃より冷してやればよい。即
ち、この温度降下によつて、スプリング11はそ
の記憶形状に従つて再度縮み、スライダ29はス
プリング11による押圧が除かれて前記コンタク
ト19の第1の接片23に与えられたプレテンシ
ヨンによつて押し戻される。従つて、IC11の
接続リード13は圧接挟持から開放され、IC1
1は何等の抵抗も受けずにICソケツトより抜去
できる。 If the IC 11 is to be removed, it may be left at room temperature and cooled below the transformation temperature of 40° C., for example. That is, due to this temperature drop, the spring 11 contracts again according to its memorized shape, and the pressure of the spring 11 is removed, and the slider 29 is moved by the pretension applied to the first contact piece 23 of the contact 19. I get pushed back. Therefore, the connection lead 13 of IC11 is released from the pressure clamping, and IC11
1 can be removed from the IC socket without encountering any resistance.
このようなICソケツトはバーンイン用のソケ
ツトとして有効である。即ち、40℃以下の室温で
はコンタクト19の第1の接片23と第2の接片
27とが開いていて、ZIFによるIC11の挿抜が
可能となり、温度が80℃〜150℃になる試験時に
はコンタクト19の第1の接片23と第2の接片
27とが閉じてIC11の接続リード13をしつ
かりと圧着挟持するため、コンタクト19のばね
性の劣化を考慮する必要がなくなつて信頼性の向
上がはかれ、IC11の装着、抜去時にコンタク
ト19の第1の接片23および第2の接片27と
IC11の接続リード13とが加圧摺接すること
がないため、メツキの剥離も少なく長寿命化がは
かれる。 Such an IC socket is effective as a burn-in socket. That is, at a room temperature below 40°C, the first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19 are open, making it possible to insert and remove the IC 11 using ZIF, and during testing when the temperature is between 80°C and 150°C. Since the first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19 close and tightly crimp the connection lead 13 of the IC 11, there is no need to consider the deterioration of the spring properties of the contact 19, which increases reliability. The first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19 are improved when the IC 11 is attached and removed.
Since there is no pressurized sliding contact between the IC 11 and the connection lead 13, there is less peeling of the plating and the life is extended.
また、スプリング33に例えば−30℃の変態温
度を有する形状記憶合金を用いれば、常温で使用
する機器のプリント配線板に搭載するZIFタイプ
のICソケツトも実現できる。即ち、冷却ガスを
用いてスプリング33を−30℃以下に冷却してや
れば、コンタクト19の第1の接片23と第2の
接片27とが開いてZIFによるIC11の挿抜が可
能となり、室温に戻してやれば第1の接片23と
第2の接片27とが閉じて接続リード13をしつ
かりと圧着挟持して、信頼性の高い接続を実現す
る。 Furthermore, if a shape memory alloy having a transformation temperature of, for example, -30 DEG C. is used for the spring 33, a ZIF type IC socket mounted on a printed wiring board of equipment used at room temperature can also be realized. That is, if the spring 33 is cooled to -30°C or lower using cooling gas, the first contact piece 23 and the second contact piece 27 of the contact 19 will open, allowing insertion and removal of the IC 11 using the ZIF, and the temperature will rise to room temperature. If it is returned, the first contact piece 23 and the second contact piece 27 will close and tightly crimp the connection lead 13 to achieve a highly reliable connection.
さらに、スプリング33として用いる形状記憶
合金は、前述の如き、2方向性形状記憶合金のみ
ならず1方向性形状記憶合金も使用可能なもので
ある。即ち、1方向性形状記憶合金を用いた場
合、変態温度よりも低温になつても自らもとの形
状に縮むことはないが、変態温度より高温の場合
と低温の場合とでスプリングとしての作動力が著
しく変化することを利用して、コンタクト19の
第1の接片23のばね圧で強制的にもとの形状に
縮め、これによつて、ZIF動作を繰返し可能にす
るものである。 Further, as the shape memory alloy used as the spring 33, not only the bidirectional shape memory alloy as described above but also the unidirectional shape memory alloy can be used. In other words, when a unidirectional shape memory alloy is used, it will not shrink to its original shape even if the temperature is lower than the transformation temperature, but it will not work as a spring when the temperature is higher or lower than the transformation temperature. Taking advantage of the fact that the power changes significantly, the first contact piece 23 of the contact 19 is forcibly contracted to its original shape by the spring pressure, thereby making it possible to repeat the ZIF operation.
また、コンタクト19も図示の実施例の形状の
ものにのみ限定されるものではなく、例えば第2
の接片27を割愛しても、IC11の接続リード
13を第1の接片23とリード挿入孔17の外側
側壁25との間で圧接挟持する構造とすれば、同
様なZIFタイプのICソケツトの実現が可能であ
り、また、スプリング33として2方向性形状記
憶合金が用いられていれば、IC11の接続リー
ド13をスライダ29と第2の接片27とで圧接
挟持する構造として、第1の接片23を割愛する
ことも可能である。 Further, the contact 19 is not limited to the shape of the illustrated embodiment; for example, the contact 19 is
Even if the contact piece 27 is omitted, if the structure is such that the connecting lead 13 of the IC 11 is pressed and held between the first contact piece 23 and the outer side wall 25 of the lead insertion hole 17, a similar ZIF type IC socket can be used. In addition, if a bidirectional shape memory alloy is used as the spring 33, the first It is also possible to omit the contact piece 23.
(考案の効果)
本考案は以上の様に構成され、形状記憶合金よ
りなるスプリングは、変態温度より低い温度では
縮んでいて、ICを装着する場合、その接続リー
ドは何等の抵抗も受けずにICソケツトのリード
挿入孔に挿入することができ、温度が前記変態温
度を越えるとスプリングが記憶していた形状にな
つてスライダをリード挿入孔内に押し出し、IC
の接続リードをコンタクトへ圧接して電気的な接
続をはかれ、温度を変態温度より下げてやれば、
スプリングによるスライダの押圧が除かれ、IC
は何等の抵抗も受けずにICソケツトより抜去す
ることができるものであるため、装着時にはコン
タクトのばね性の劣化を考慮する必要がなくなつ
て信頼性の向上がはかれ、ICの装着、抜去時に
コンタクトとICの接続リードとが加圧摺接する
ことがなくなり、メツキの剥離も少なくなつて長
寿命化がはかれ、さらに、構造が簡単で取扱も容
易なZIFタイプのICソケツトが実現できるという
優れた効果を奏するものである。(Effects of the invention) The invention is constructed as described above, and the spring made of shape memory alloy contracts at a temperature lower than the transformation temperature, so that when an IC is attached, its connection lead does not receive any resistance. The slider can be inserted into the lead insertion hole of the IC socket, and when the temperature exceeds the transformation temperature, the spring assumes the memorized shape and pushes the slider into the lead insertion hole, and the IC socket is inserted into the lead insertion hole.
If you make an electrical connection by pressing the connection lead to the contact and lowering the temperature below the transformation temperature,
The pressure on the slider due to the spring is removed, and the IC
Since the IC socket can be removed from the IC socket without experiencing any resistance, there is no need to consider the deterioration of the spring properties of the contact during installation, improving reliability. This eliminates the pressure-sliding contact between the contact and the IC connection lead, which reduces the chance of peeling of the plating, resulting in a longer life.Furthermore, it is possible to create a ZIF-type IC socket that has a simple structure and is easy to handle. It has excellent effects.
図面は本考案に係るICソケツトの一実施例の
要部を示す要部縦断面図であり、第1図は非接続
状態を、第2図は接続状態を夫々示している。
11……IC、13……接続リード、15……
ハウジング、17……リード挿入孔、19……コ
ンタクト、29……スライダ、33……スプリン
グ。
The drawings are longitudinal cross-sectional views showing essential parts of an embodiment of the IC socket according to the present invention, with FIG. 1 showing the unconnected state and FIG. 2 showing the connected state. 11...IC, 13...Connection lead, 15...
Housing, 17...Lead insertion hole, 19...Contact, 29...Slider, 33...Spring.
Claims (1)
応付けられた多数のリード挿入孔を備えたハウジ
ングと、このハウジングの各リード挿入孔内に配
置されたコンタクトと、前記各リード挿入孔に
ICの接続リードの挿入方向と略直角に出入自在
に配されたスライダと、形状記憶合金よりなり、
変態温度を越えたとき前記スライダを押圧して前
記リード挿入孔に挿入されたICの接続リードを
前記コンタクトに圧接する形状を記憶しているス
プリングとを備えてなるICソケツト。 A housing made of a hard insulating material and provided with a large number of lead insertion holes corresponding to the connection leads of the IC, a contact arranged in each lead insertion hole of this housing, and a housing in each lead insertion hole.
It consists of a slider that can be freely moved in and out approximately at right angles to the insertion direction of the IC connection lead, and a shape memory alloy.
An IC socket comprising: a spring that stores a shape that presses the slider and presses the connection lead of an IC inserted into the lead insertion hole to the contact when the transformation temperature is exceeded.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15785685U JPH0135431Y2 (en) | 1985-10-17 | 1985-10-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15785685U JPH0135431Y2 (en) | 1985-10-17 | 1985-10-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6267482U JPS6267482U (en) | 1987-04-27 |
JPH0135431Y2 true JPH0135431Y2 (en) | 1989-10-27 |
Family
ID=31080795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15785685U Expired JPH0135431Y2 (en) | 1985-10-17 | 1985-10-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0135431Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014115190A (en) * | 2012-12-10 | 2014-06-26 | Mitsubishi Electric Corp | Testing device |
-
1985
- 1985-10-17 JP JP15785685U patent/JPH0135431Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6267482U (en) | 1987-04-27 |
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