JPH01316622A - 温度測定方法 - Google Patents
温度測定方法Info
- Publication number
- JPH01316622A JPH01316622A JP15054888A JP15054888A JPH01316622A JP H01316622 A JPH01316622 A JP H01316622A JP 15054888 A JP15054888 A JP 15054888A JP 15054888 A JP15054888 A JP 15054888A JP H01316622 A JPH01316622 A JP H01316622A
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明はフェロ磁性（ｆｅｒｒｏｍａｇｎｅｔｉｓｍ）
の温度依存性を利用して温度を測定する温度測定方法に
関する。
の温度依存性を利用して温度を測定する温度測定方法に
関する。
［従来の技術］
従来の温度測定方法は、温度変化による物質の膨張差を
利用するもの、赤外線スペクトルによるもの、熱電対等
のように起電力差を利用したちの並びにダイオード及び
サーミスター等の半導体を利用したものがある。
利用するもの、赤外線スペクトルによるもの、熱電対等
のように起電力差を利用したちの並びにダイオード及び
サーミスター等の半導体を利用したものがある。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上述した従来の温度測定方法においては
、物質の膨張によるもの及び熱電対又は半導体を利用す
るものは、被測定物に温度測定用センサーを直接接触さ
せる必要がある。また、赤外線を利用した方法は、被測
定物と温度測定用センサーとの間には、利用する赤外線
の波長に対して透明なものしか介在することができない
という難点がある。このように、従来の温度測定方法は
、被測定物、測定環境又は測定手段に制約が多く、汎用
性が低いという問題点がある。
、物質の膨張によるもの及び熱電対又は半導体を利用す
るものは、被測定物に温度測定用センサーを直接接触さ
せる必要がある。また、赤外線を利用した方法は、被測
定物と温度測定用センサーとの間には、利用する赤外線
の波長に対して透明なものしか介在することができない
という難点がある。このように、従来の温度測定方法は
、被測定物、測定環境又は測定手段に制約が多く、汎用
性が低いという問題点がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
フェロ磁性体の飽和磁化の温度依存性を利用することに
より、被測定物にセンサーを接触させることなく、また
測定環境等による制約を受けることなく被測定物の温度
を有効に測定することができる温度測定方法を提供する
ことを目的とする。
フェロ磁性体の飽和磁化の温度依存性を利用することに
より、被測定物にセンサーを接触させることなく、また
測定環境等による制約を受けることなく被測定物の温度
を有効に測定することができる温度測定方法を提供する
ことを目的とする。
［課題を解決するための手段］
本発明に係る温度測定方法は、フェロ磁性体のサンプル
を所定の温度にて飽和磁化させる工程と、前記サンプル
を被測定環境においてその飽和磁化を測定する工程と、
温度と飽和磁化との間の所定の関係に基いて前記飽和磁
化の測定結果から前記被測定環境の温度を求める工程と
を有することを特徴とする。
を所定の温度にて飽和磁化させる工程と、前記サンプル
を被測定環境においてその飽和磁化を測定する工程と、
温度と飽和磁化との間の所定の関係に基いて前記飽和磁
化の測定結果から前記被測定環境の温度を求める工程と
を有することを特徴とする。
［作用］
本発明においては、先ず、所定の温度においてフェロ磁
性体のサンプルを飽和磁化させ、次いで、このサンプル
を被測定環境におき、その飽和磁化を測定する。フェロ
磁性体の飽和磁化は温度によって変化するため、この飽
和磁化と温度との関係を予め求めておけば、前述の如く
被測定環境の飽和磁化を測定することにより、前記関係
を使用して被測定環境の温度を求めることができる。
性体のサンプルを飽和磁化させ、次いで、このサンプル
を被測定環境におき、その飽和磁化を測定する。フェロ
磁性体の飽和磁化は温度によって変化するため、この飽
和磁化と温度との関係を予め求めておけば、前述の如く
被測定環境の飽和磁化を測定することにより、前記関係
を使用して被測定環境の温度を求めることができる。
［実施例］
以下、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
明する。
先ず、第１図に示すように、フェロ磁性体のコイル状の
サンプル２を基準温度（ＴＲ）にて磁場Ｂの磁界中にお
き、サンプル２を飽和磁化させる。
サンプル２を基準温度（ＴＲ）にて磁場Ｂの磁界中にお
き、サンプル２を飽和磁化させる。
次いで、このサンプル２が飽和磁化ＩＲに到達している
か否かを、ガウスメータ１によりチエツクする。
か否かを、ガウスメータ１によりチエツクする。
その後、第２図に示すように、飽和磁化されたサンプル
２を温度測定しようとする測定環境におき、サンプル２
の磁化の強さＩｓをガウスメータ１により測定する。こ
のガウスメータ１の測定結果を演算器３に入力し、演算
器３はこのサンプル２の被測定温度Ｔｓにおける飽和磁
（ヒＩｓの測定結果に基いて、この被測定温度’ｒｓを
求める。
２を温度測定しようとする測定環境におき、サンプル２
の磁化の強さＩｓをガウスメータ１により測定する。こ
のガウスメータ１の測定結果を演算器３に入力し、演算
器３はこのサンプル２の被測定温度Ｔｓにおける飽和磁
（ヒＩｓの測定結果に基いて、この被測定温度’ｒｓを
求める。
演算器３には第３図に示すような飽和磁化の温度依存性
が設定されており、演算器３はこれに基いて被測定温度
を求める。第３図は横軸に温度Ｔとキューリー点θとの
比Ｔ／θをとり、縦軸に温度Ｔにおける飽和磁化Ｉと温
度０°Ｋにおける飽和磁化ＩＯとの比Ｉ／Ｉｏをとって
、飽和磁化■と温度Ｔとの関係を実測値に基いて示すグ
ラフ図である。図中、○はＮｉの飽和磁化、×はＦｅの
飽和磁化の測定値を示す。この第３図から明らかなよう
に、飽和磁化Ｉと温度Ｔとの間には一定の関係が存在す
る。而して、演算器３には、予めこの飽和磁化■と温度
Ｔとの間の関係が実測等により求められてテーブル化さ
れ、格納されている。
が設定されており、演算器３はこれに基いて被測定温度
を求める。第３図は横軸に温度Ｔとキューリー点θとの
比Ｔ／θをとり、縦軸に温度Ｔにおける飽和磁化Ｉと温
度０°Ｋにおける飽和磁化ＩＯとの比Ｉ／Ｉｏをとって
、飽和磁化■と温度Ｔとの関係を実測値に基いて示すグ
ラフ図である。図中、○はＮｉの飽和磁化、×はＦｅの
飽和磁化の測定値を示す。この第３図から明らかなよう
に、飽和磁化Ｉと温度Ｔとの間には一定の関係が存在す
る。而して、演算器３には、予めこの飽和磁化■と温度
Ｔとの間の関係が実測等により求められてテーブル化さ
れ、格納されている。
そして、演算器３は被測定環境におかれたサンプル２が
その被測定環境の温度にて測定された飽和磁化Ｉｓを基
に、前記テーブルを参照してその被測定環境の温度を求
める。そして、演算器３はこの求められた被測定温度を
適宜の表示装置に表示させる。
その被測定環境の温度にて測定された飽和磁化Ｉｓを基
に、前記テーブルを参照してその被測定環境の温度を求
める。そして、演算器３はこの求められた被測定温度を
適宜の表示装置に表示させる。
このように、本実施例においては、コイル状のサンプル
２を飽和磁化させた後、被測定環境にサンプル２をおき
、その飽和磁化を測定するだけで、その被測定環境の温
度を求めることができる。このため、被測定物に対し非
接触でその温度を測定することができ、また、測定装置
自体極めて簡素な構造であって測定上の制約が少ない。
２を飽和磁化させた後、被測定環境にサンプル２をおき
、その飽和磁化を測定するだけで、その被測定環境の温
度を求めることができる。このため、被測定物に対し非
接触でその温度を測定することができ、また、測定装置
自体極めて簡素な構造であって測定上の制約が少ない。
［発明の効果コ
本発明によれば、フェロ磁性体のサンプルの飽和磁化が
温度依存性を有することを利用して被測定環境の温度を
測定するから、被測定物に対して非接触で温度を測定す
ることができ、且つ測定上の制約が少なく、また簡素な
構造の測定装置で温度を測定することができる。
温度依存性を有することを利用して被測定環境の温度を
測定するから、被測定物に対して非接触で温度を測定す
ることができ、且つ測定上の制約が少なく、また簡素な
構造の測定装置で温度を測定することができる。
第１図及び第２図は本発明の実施例方法を工程順に示す
模式図、第３図は飽和磁化の温度依存性を示すグラフ図
である。 １；ガウスメータ、２；コイル状サンプル、３；演算器
模式図、第３図は飽和磁化の温度依存性を示すグラフ図
である。 １；ガウスメータ、２；コイル状サンプル、３；演算器
Claims (1)
- （１）フェロ磁性体のサンプルを所定の温度にて飽和磁
化させる工程と、前記サンプルを被測定環境においてそ
の飽和磁化を測定する工程と、温度と飽和磁化との間の
所定の関係に基いて前記飽和磁化の測定結果から前記被
測定環境の温度を求める工程とを有することを特徴とす
る温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15054888A JPH01316622A (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 温度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15054888A JPH01316622A (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 温度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01316622A true JPH01316622A (ja) | 1989-12-21 |
Family
ID=15499284
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15054888A Pending JPH01316622A (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 温度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01316622A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104132736A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-05 | 华中科技大学 | 一种直流激励磁场下的非侵入式快速温度变化的测量方法 |
| CN113932939A (zh) * | 2021-09-26 | 2022-01-14 | 郑州轻工业大学 | 基于扫场法的铁磁共振测温方法 |
-
1988
- 1988-06-17 JP JP15054888A patent/JPH01316622A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104132736A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-05 | 华中科技大学 | 一种直流激励磁场下的非侵入式快速温度变化的测量方法 |
| CN113932939A (zh) * | 2021-09-26 | 2022-01-14 | 郑州轻工业大学 | 基于扫场法的铁磁共振测温方法 |
| CN113932939B (zh) * | 2021-09-26 | 2023-07-21 | 郑州轻工业大学 | 基于扫场法的铁磁共振测温方法 |
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