JPH01314916A - 不揮発性カウンタ - Google Patents

不揮発性カウンタ

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JPH01314916A
JPH01314916A JP63146612A JP14661288A JPH01314916A JP H01314916 A JPH01314916 A JP H01314916A JP 63146612 A JP63146612 A JP 63146612A JP 14661288 A JP14661288 A JP 14661288A JP H01314916 A JPH01314916 A JP H01314916A
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K21/00Details of pulse counters or frequency dividers
    • H03K21/40Monitoring; Error detection; Preventing or correcting improper counter operation
    • H03K21/403Arrangements for storing the counting state in case of power supply interruption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 光匪辺且力 [産業上の利用分野コ 本発明は不揮発性カウンタに関し、詳しくは電気的に消
去・書込可能な半導体不揮発性記憶素子にデータを記憶
する不揮発性カウンタに関する。
[従来の技術] 従来、パルス数等を計数するカウント回路に並列にE 
E P ROM等の不揮発性のメモリを配設し、カウン
タの値が変化するとその値をEEPROMに書き込む不
揮発性カウンタが知られている。こうした不揮発性カウ
ンタは、電源を切ってもカウント値を保存することがで
きるため、車両の電子式走行距離計やプラントのデータ
収集装置(データロガ−)等に使用することができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、EEPROM等の不揮発性メモリを使用
した不揮発性カウンタでは、EEPROMの消去・書込
回数の制約により計数値の最大値が制限されてしまうと
いう問題があった。即ち、EEFROMはそのエンデユ
ランス特性により消去・書込回数に制限があり、例えば
バイナリカウンタの場合、最下位ピッ) (LSB)側
はどデータの変化の回数が多いから、そのままではカウ
ント値の上限は最下位ビットの変化回数で決ってしまう
のである。しかも、メモリセルに不良が発生した場合、
エラーを生じたビットが高位であれば正しい計数値と全
く異なった値となってしまう。
こうした問題に対して、EEFROM内のカウント値を
記憶するセルを特に下位桁用については複数個用意し、
カウント値の下位桁を複数のメモリセルに順次書き込む
ことによりカラン) 11の上限を改善する構成や、更
には同一の計数値を複数のメモリセルに記・憶し多数決
論理を適用して信頼性を向上させるといった構成を採る
ものも提案されているが、以下の問題があり必ずしも完
全な解決にならない。即ち、これらの構成では、メモリ
セルの数が徒に増加してしまう上、各メモリセルの書込
回数の監視や信頼性チエワクの多数決処理等を別途行な
わねばならないという問題を招致する。かかる処理には
通常、制御用のマイクロコンピュータを要するから構成
が複雑になり却って信頼性を損なうことも考えられる。
また、マイクロコンピュータが故障すると、カウント値
を読み出すことが全くできない。
本発明の不揮発性カウンタは上記課題を解決し、簡易な
構成により計数値の上限を高くし、更には記憶したカウ
ント1直の信頼性の向上も可能とすることを目的として
なされた。
几咀少構戒 かかる目的を達成する本発明の構成について以下説明す
る。
[問題点を解決するための手段] 本発明の不揮発性カウンタは、 電気的に消去・書込可能な不揮発性記憶素子に記憶され
たデータを、カウント値に基づいて更新し、カウント動
作を行なう不揮発性カウンタであって、 前記不揮発性記憶素子を、所定ビット数のセルの配列と
して構成すると共に、 該セルの配列から、カウント(fiの所定桁の値に対応
するセルを選択する選択手段と、 該選択されたセルに、前記所定桁とは異なる桁の埴に対
応したデータを書き込む書込手段とを備えたことを要旨
とする。
[作用] 上記構成を有する本発明の不揮発性カウンタは、電気的
に消去・書込可能な不揮発性記憶素子を構成する所定ビ
ット数のセルの配列に記憶されたデータを、カウント値
に基づいて更新してカウント動作を行なう。即ち、不揮
発性記憶素子のセルの配列から、選択手段により、カラ
ン) Ilmの所定桁の値に対応して選択されたセルに
、書込手段により、他の桁の値に対応したデータを書き
込む。即ち、カウント値を記憶する不揮発性記憶素子に
複数のセルを単に設けるのではなく、セルの配列として
構成し、カウント値の所定桁の値により配列内のセルを
特定するのである。
従って、カウント動作に伴う各セルへの書込・消去の回
数は配列されたセルの数に比例して低下すると共に、個
々のセルは、そのセルが記憶するある桁の値のみならず
、そのセルの配列内の位置により所定桁の値も担うこと
になる。
[実施例] 以上説明した本発明の構成・作用を一層明らかにするた
めに、以下、本発明の不揮発性カウンタの好適な実施例
について説明する。第1図は、実施例の不揮発性カウン
タの概略構成図である。この不揮発性カウンタは、1チ
ツプの半導体デバイスとして構成されており、第1図に
示すように、内部バス1を介して受ける読出・書込制御
信号R/Wや、図示しない外部の車速センサから直接受
けるカウント信号CNT等の制御信号に基づいて動作す
るものである。
かかる不揮発性カウンタは、車速センサから受は取るカ
ウント信号CNTによりカウント動作を行なうカウント
部3.下位桁用のEEFROMをアクセスする下位桁制
御部5.下位桁用のEEPROMへのデータの書き込み
を制御する書込制御部7.上位桁用のEEPROMをア
クセスする上位桁制御部9等から構成されている。尚、
内部バス1には、図示゛しないパワーオンリセット回路
等により起動される初期化の処理等の所定の処理を実行
するためのマイクロコードを記・憶したマイクロROM
l0も接続されている。
カウント部3は、5桁の2進カウンタ11,12,13
.14.15と、2進カウンタ11ないし15をプリセ
ットするプリセット回路18と、この2進カウンタ11
ないし15の各4ビツトの出力をコード変換するコード
変換器21.22゜23.24.25とを備える。各2
進カウンタ11ないし14は、そのキャリア信号を次段
のカウンタ12ないし15のカウント人力としており、
全体で、2進化10進コードで5桁、即ち「99999
」までのパルスをカウントする。プリセット回路1日は
、不揮発性カウンタに電源が投入されたとき、このチッ
プ内部に保持されたカウント値を読み出して、これを各
カウンタ11ないし15の各ビットにブリセ・ン卜する
回路である。プリセット回路1日は、マイクロROMl
0と共に一種のファームウェアとして働き、チップ内部
に保持されたカウント値を読み出す等の処理は、マイク
ロROMl0に記憶された処理手順に従って処理される
コード変換器21ないし25は、バイナリコードを第2
図に示すコードに変換するものであり、4ビツトの人力
の各組合せに対して各々1の出力を形成するアンドゲー
ト群とその出力に対して所定のコードを出力するオアゲ
ート群とから構成されている。例えば、2進カウンタ1
1がコード[0011]を出力した場合には、コード変
換器21は、コード[0111]を出力する。かかる構
成は、いわゆるプログラマブルロジックアレイ(PLA
)と等価であるが、ここではチップ内に必要なゲートの
み形成して実現している。コード変換器21の出力C3
C2CI COは書込制御部7に、コード変換器22の
出力A3 A2 At AOとコード変換器23の出力
G3 G2 GI GOとは下位桁制御部5に、更にコ
ード変換器23ないし25の出力G3 G2 GI G
O,H3H2HI HO。
I3 I2 It IOは上位桁制御部9に、各々人力
されている。
下位桁制御部5は、4ビツト1デジツトのセルの2次元
配列として構成された下位桁用EEPROM31と、こ
のEEPROM31のローアドレスを設定するローデコ
ーダ33と、EEPROM31の各ワードのうちの4ビ
・ントを選択するカラムデコーダ35と、EEPROM
をワード単位で消去する消去用回路37と、カラムデコ
ーダ35における選択を制御するセレクト信号生成回路
3日とから構成されている。EEPROM31は、1ワ
ード16ビツト構成であり、ローデコーダ33によりい
ずれかのワードが選択される。各ワードの内部は、4ビ
ツトを1セルとして4Miに区分されており、各セルが
10進数の1桁(デジット)に対応している。各セルの
列に対応した各4ビ・ントBO,B1.B2.B3は、
カラムデコーダ35により選択される。従って、ローデ
コーダ33により選択されたローアドレスのカラムデコ
ーダ35により選択されたセルが、数値の書込・続出の
対象となる。
下位桁制御部5のローデコーダ33は、第3図に示すよ
らに、コード変換器22の出力データA3ないしAOの
正論理信号線と負論理信号線とに対して、これらと接地
ラインGNDおよび電源ラインVDDとの開に、必要と
するコードに対応して、N型及びP型のFETを形成し
た構成を採っている。従って、例えばコード変換器22
の出力データA3ないしAOが[10111である場合
には、ワードアドレスW9が選択されることになる。尚
、第2図に示すカウントコードには、10進数の値10
のコード[1111]が示されているが、このデータ[
1111Fは、コード変換器22等の出力データとなる
ことはない。かかるコードは、セルに対する書込が既に
終了していることを示す°インデックスとして使用され
る。
カラムデコーダ35は、その内部に図示しない選択用の
アナログスイッチとデータの読出用のセンスアンプとを
備え、セレクト信号生成回路39の出力するセレクト信
号Sl、S2を受けて、各セルに対応した各4ピツ)B
OないしB3の何れかをアクティブにする。この結果、
カラムデコーダ35を介して、書込制御部7の出力する
書込データはEEPROM31の選択されたセルに出力
され、あるいはEEPROM31の選択したセルから読
み出されたデータは書込制御部7に出力される。尚、各
セルは10θの値を記憶するが、このEEPROM31
内部の数値の保持の手法については、後で詳述する。
カラムデコーダ35にセレクト信号Sl、  S2この
結果、カウント部3のカウントf[100毎に、ピッ)
BOないしB3はサイクリックに選択されることになる
が、その選択については後述する。
下位桁制御部5の消去用回路37は、下位桁用EEPR
OM31の1ワードを一括して消去する回路であり、E
EPROM31の記憶用の浮遊ゲートにエレクトロンを
注入する周知の回路である。
書込制御部7は、下位桁制御部5のカラムデコーダ35
を介してデータE3 E2 EI EOを読み出してラ
ッチする読出回路41、読出回路41によりラッチされ
たデータE3ないしEOとカウント部3のコード変換器
21の出力データC3ないしCOとを比較する比較器4
3、比較器43の出力データD3 D2 DI DOと
カウント部3のコード変換器21のカウント値C3ない
しCOとの何れか、を選択して出力するデータセレクタ
45、データセレクタ45の出力をう・ソチして下位桁
制御部5のカラムデコーダ35に出力する書込回路47
を主要部として構成されている。比較器43は、両デー
タE3ないしEOおよびC3ないしCOが1ビツトを除
いて一致している場合にはその制御信号CMPをアクテ
ィブとし、2ビツト以上相違する場合には消去信号ST
をアクティブとすると共に、両出力データの排他的論理
和をとってそのデータD3ないしDOを出力する。
比較器43の制御信号CMPは、データセレクタ45の
セレクト端子SLに接続されると共に、2人力のオアゲ
ート49を介して書込回路47のイネーブル端子に人力
される。この結果、データセレクタ45は、比較器43
において両データが1ビツトを除いて一致していると判
断された場合には、比較器43の出力する排他的論理和
のデータD3ないしDOを、一方、それ以外の場合には
、コード変換器21の出力データC3ないしCOを、各
々出力することになる。他方、比較器43の消去信号S
Tは、下位桁制御部の消去用回路37に人力されており
、この信号STを受けて下位桁用EEPROM31のあ
るワードの消去を行なう消去用回路37からの消去完了
信号ERが、オアゲート49の他方の人力に接続されて
いる。
尚、読出回路41の出力は、コードを過密のバイナリコ
ードに変換するコード逆変換器50を介して内部バス1
に接続されているから、内部バス1から出力される読出
・書込制御信号R/Wをハイアクティブとすることによ
り、内部バス1に接続された他のデバイス、例えばマイ
クロROMl0等は、内部バス1を介してEEPROM
31に記憶されたデータをセル単位で読み出すことがで
きる。
かかる書込制御部7のデータの書込動作について簡単に
説明する。
(1) マイクロROMl0内の所定の手順に従い、デ
ータの書込を行おうとするセルを選択し、そのセルに記
憶されたデータを読み出す。このデータをカラムデコー
ダ35を介して読出回路41にラッチする。
(2) 続出回路41にラッチされたこのデータE3な
いしEOを、比較器43により、現在のカウント値の最
下位桁のデータC3ないしCOと比較する。これと同時
に、比較器43は、両データのlト他的論理和のデータ
D3ないしDOを出力する。カウントコードには、第2
図に示すように、カウント後のデータがカウント前のデ
ータに1と・ントを加えたものである部分が大部分であ
るから、この時、両データの排他的論理和のデータは、
第2図の最右欄に示す書込データと一致する。比較器4
3は、両データが1ビツトを除いて一致しているとき、
その制御出力CMPをアクティブにする。かかる制御出
力CMPがアクティブとなると、7データセレクタ45
は出力として比較器43のデータD3ないしDOを選択
し、オアゲート49を介して書込回路47の出力がイネ
ーブルとされる。
この結果、両データが1ビツトを除いて一致している場
合には、比較器43により生成された書込データが、先
にデータが読み出されたセルに書き込まれる。
例えば、現在のセルのデータが[00111の場合には
、次のカウントコードは[01111であるから、両デ
ータは1ビツトを除いて一致しており、両者の排他的論
理和をとった書込データとしてデータ[0100]が生
成され、これがそのセルに書き込まれることになる。
(3) 一方、両データが2ビツト以上相違する場合に
は、比較器43の消去信号STがアクティブとなり、こ
れを受けて消去用回路37が、読み出されたセルの存在
するワード全体の消去を行なう。ワード全体の消去が完
了すると、消去用回路37の消去完了信号ERがアクテ
ィブとなり、これにより書込回路45の出力がイネーブ
ルとなる。この時、比較器43の制御信号CMPは、ア
クティブとはならないから、データセレクタ45はコー
ド変換器21の出力データC3ないしCOを選択し出力
する。従って、両データが2ビツト以上相違する場合に
は、コード変換器21の出力データC3ないしCOが、
書込回路47により、下位桁用EEPROM31の所定
のセルに書き込まれる。例えば、現在のセルのデータが
[0111]の場合には、次のカウントコードは[01
00]であり、両データは2ビツト以上相違しているか
ら、書込データとしてコード変換器21の出力データ[
0100]が選択され、EEPROM31の消去後、こ
れがそのセルに書き込まれることになる。
上位桁制御部9は、上位桁用EEPROM51と、この
上位桁用EEPROMδ1にデータを消去・書き込みす
るための上位桁データ消去・書込回路53と、上位桁用
EEPROM51からデータを読み出゛す読出回路55
とから構成されている。
この上位桁制御部9は、下位桁と異なり上位桁では頻繁
なデータの書換えが行なわれるものではないことから、
データの消去と書込とを毎回行なう従来の回路として構
成されている。
以上説明した本実施例の不揮発性カウンタの働きについ
て説明する。カウンタが初めて使用される場合、■Iち
値0からカウントが始まる場合には、第4図(A)に示
すように、ワードアドレスWO、ピッ)BOを選択する
。カウント信号CNTが外部からカウント部3に人力さ
れるたびに、カウント動作が実行され、最下位桁のコー
ド変換器21の出力は、第2図のカウントコードに従っ
て変化する。これに応じて、既述した書込制御部7によ
り、下位桁用EEPROM31のセル(W’0.  B
O)に書込もしくは書込に先立つ消去と書込とが行なわ
れる。この際、第2図に示すように、書き込まれるのは
、4ビツトのうち1ビツトのみである。第4図(A)は
、値6を書き込んだときの下位桁用EEPROM31の
状態を模式的に示したものである。
カウントコードは、第2図に例示するように、カウント
後のデータが、カウント前のデータの書き込みされてい
ないビットの一部に書き込みを行なったデータであり、
かつカウント前後のこの関係が2回もしくは3回連続す
るコードである。従って、この関係が連続する開は、そ
のデジットのデータに対しては消去動作を行なう必要が
なく、順次データを書き込むだけでよい。
こうしてカウントがfilo(10進数)まで進むと、
カウント部3のコード変換器22の出力がインクリメン
トされる。そこで、いままで書込を行なってきたセル(
WO,BO)に[1111コを書き込んだ後、次のセル
としてワードアドレスW1を選択し、ここに[0001
]を書き込む。
カウントが進むにつれてワードアドレスは順次W9に向
け′てインクリメントされ、これにともないピッ)BO
の各セルは、順次[1111]により埋め尽くされてい
く。更にカウントが進んで、10進数で値100を越え
ると、コード変換器22の出力は元に戻り、その上位の
コード変換器23の出力はインクリメントされる。この
時、下位桁制御部5のセレクト信号生成回路39の出力
によって、カラムデコーダ35は、ビットB1のカラム
を選択する。従って、この後は、書き込まれるセルは、
セル(WO,Bl)から、このピッ)B1のカラムにつ
いて、順次切り換えられていくことになる。
セル(WOlBl)のデータを[0111]から[01
00]に書き換える際には、既に説明したように、ワー
ド単位でEEPROM31の消去が行なわれる。従って
、あるセルについて消去が行なわれると、同じワードの
下位のと・ソトに属するセルの内容は[0000]にク
リアされる。この結果、例えば、(ffi223(10
進数)までカウントした状態では、第4図(B)に示す
ように、セル(W2、B2)が[0111コとなってお
り、そのひとつ前のセル(Wl、B2)からその10個
前のセル(W2、Bl)までの各セルの内容が[1i 
i iコに、更にセル(Wl、Bl)から(24までカ
ウントしたときは、セル(W2、Bl)の内容は[00
001に消去されている。
10進数で値400までカウントが進むと、セル(WO
、B3)を除いて残りの全セルは[0000]となるこ
とになり、再び、セル(WO,BO)からデータの書込
が開始される。尚、本実施例では下位桁用EEPROM
31は、その内部を2次元の計40個のセルの配列とし
て構成しているが、4×10個の配列としたのは、ひと
つのセル当りの書込・消去回数を一層低減するためであ
り、各セルに保持された値はカウント値の106の桁に
対応し、各セルのワードfi(WOないしWO)がカウ
ント値の101の桁に対応している。
従って、第4図(B)に例示したカウント値223の場
合でも、実際にカウント値として取り扱われるのは下位
2桁(23)であり、カウント値の103以上の桁は、
上位桁用EEPROM51に記憶される。
ROM3−1をその最下位のセル(WO,BO)からス
キャンし、連続した[1111]のセルが途切れた最初
の[0000]でないセルを検出する。
このセルが最下位桁10”のデータを、そのセルの位置
が101の桁のデータを、各々保持していることになる
。例えは、第4図(B)に示す例では、該当するセルは
(W2.82)でありそのセルに記憶された値は第2図
から値3であることから、特別な変換回路等を要するこ
となく、カウント値23が容易に読み出される。従って
、そのセルのビットラインとワードラインとそのセルに
記憶されたデータとから特定される下位桁のデータを、
上位桁用EEPROM51に記憶されたデータに加えた
データが、この不揮発性カウンタに記憶されたカラン[
・(直に相当する。
カウントの途中で電源が遮断された後、再度投入された
場合には、マイクロROMl0内に記憶BO)からスキ
ャンし、最下位桁のデータを保持しているセルを検出し
て下位桁のデータを読み出し、上位桁用EEPROM5
1に記憶されたデータを加え、そのデータをプリセット
回路18により設定する。その後のカウント動作につい
ては、既述した場合と同様である。
以上説明したように、本実施例の不揮発性カウンタは、
2次元配列された下位桁用EEPROM31の各セルの
位置を101の桁のデータにより特定し、そのセルにカ
ウント値の最下位桁のデータを書き込む。従って、極め
て簡易な構成により、40個のセルを偏ることなく繰り
返し使用して、カウント値を記憶することができる。し
かも、各セル内の各ビットの書込回数も平均化され、各
セル当りの消去・書込回数が下位の桁はど等止縁数的に
増大することがない。この結果、1セル当りの消去・書
込回数も、単純なカウンタの構成における最下位桁と較
べて、数十分の1となり、全体の信頼性、耐久性を改善
することができる。
更に、本実施例の不揮発性カウンタによれば、カウント
値の101の桁をデータを記憶したセルの位置の情報と
して展開しているので、最後に書き込みを行なったセル
のビットにエラーを生じた場合、あるいは他のセルのビ
ットにエラーを生じた場合にも、カウント値を大きく誤
ってしまうことかない。例えは、第5図に示すように、
セル(W5.BO)、(W4.81)、 (W8.Bl
)、(W5.82)にビットエラーを生じた場合でも、
少なくとも最後に書き込みが行なわれたセルの直前のセ
ルからその9つ前のセルまでは本来[1111コのデー
タが記憶されていることから、最後に書き込みを行なっ
たセルを特定することができる。従って、最後に書き込
みを行なっているセルにビットエラーを生じた場合を除
き、正しいデータを再生することができる。一方、最後
に書き込みを行なったセルにビ・ントエラーが生じた場
合でも、そのデータは10e桁の値に過ぎず、誤差は最
小限に押さえられる。
また、本実施例によれば、カウンタにおいて繰り返しデ
ータの書き直しが必要となる下位の桁では、第2図に示
すカウントコードを採用しているので、消去回数が少な
くて済み、消去・書込回数に制限のあるEEPROMを
使用しても十分な耐久性、信頼性を実現することができ
る。例えば、(直0から9までカウントする間に、本実
施例のカウントコードであれば、わずか3回消去するだ
けで済み、従来のバ、イナリコード(5回消去)を用い
た構成と較べて、消去回数の点で極めて有利である。ま
た、本実施例のカウントコードでは、各セル内の各ビッ
トの書込回数もほぼ平均化されているので、この点でも
耐久性上有利である。
更に、本実施例の不揮発性カウンタでは、データは常に
1ビツトのみ書き込まれるので、書込時に必要とされる
電源容量を最小限に押さえることができ、回路の小型化
、高集積化を図ることができる。EEPROMは、書込
時のメモリセルの電圧VTが低下するため、 「1」を
書き込むビ・ント数が異なると、書込後の電圧VTがば
らつく恐れがあるが、本実施例のように密に1ビツトの
み書き込む構成とすることにより、こうした問題を回避
することができ、書込後のEEPROMに記′憶された
データの信頼性を向上させることができる。
また、本実施例では、連続するカウントコードが1ビツ
トのみ相違する関係となっているか、もしくは次に書き
込むデータが何れか1ビツトのみアクティブとなってい
るかなので、書込制御部7において、書込用のデータを
生成するのに、排他的論理和を演算する比較器43とデ
ータセレクタ45とを用いるだけでよく、その構成を簡
略にすることができる。
このように、本実施例の不揮発性カウンタは、信頼性、
耐久性、高集積性等に優れるので、車載の走行距離計等
なと、従来実用化の進んでいなかった分野で、好適に使
用することができる。
尚、以上説明した実施例では、ひとつのセルについての
カウントコードの書込が総て完了するとそのセルにデー
タ[11111を書き込み、隣接するカラム(BOない
しB4)のセルへの書込動作に付随して生じる消去動作
によりデータ[1111コを消去することによって、現
在カウントコードを書き込んでいるセルを特定できるよ
う構成しているが、カウントコードの初期値の書込前の
セルの状態(データ)とカウントコードの最終値の書込
後のセルの状態(データ)とが相違するように構成すれ
ば、他の構成としても現在カウントコードを書き込んで
いるセルを特定することができる。例えば、カウントコ
ードとして最終値が[1111]であるものと[000
0]であるものと2種類持ち、これを交互に使用してカ
ウントコードの書込を行なう構成などである。こうした
構成を取った場合には、下位桁用EEPROM31を1
×10のセルの配列、即ち1次元の配列としても、現在
カウントコードを書き込んでいるセルを特定することが
できる。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明はこう
した実施例に同等限定されるものではなく、例えばセル
を1次元の配列もしくは3次元以上の配列とした構成、
1セルを4ビツト未満もしくは5ビツト以上とした構成
、下位桁用EEPROMのカラ°ムを4以上(例えば第
6図に示すように8桁)とした構成、あるいはEEPR
OMへの書き込みを一度に2ビツトずつ行なうものとし
た構成、あるいは第2図に示すカウントコードを以外の
コード使用する構成等、本発明の要旨を逸脱しない範囲
において、種々なる態様で実施し得ることは勿論である
え匪Ω苅】 以上詳述したように、本発明の不揮発性カウンタによれ
ば、揮発性記憶素子を構成する所定ビット数の配列され
たセルを、カウント値の所定桁に対応して選択し、その
セルに他の桁の値に対応したデータを書き込むから、キ
セル当りの消去・書込回数を単純なカウンタの構成にお
ける下位桁と較べて、格段に低減することができ、記憶
するカウント値の信頼性の向上を図ることができるとい
う優れた効果を奏する。しかも、不揮発性記憶素子を構
成する各セルは、そのセルが記憶するある桁の値のみな
らず、そのセルの配列内の位置により所定桁の値も担う
から、セルを単に複数用いてる場合と較べて、記憶する
情報量を大きくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例としての不揮発性カウンタの概
略構成図、第2図は実施例におけるカウントコードを示
す説明図、第3図は同じく不揮発性カウンタのローデコ
ーダの概略構成図、第4図(A)、  (B)は実施例
におけるカウントの様子を示す説明図、第5図はビット
エラーが生じた場合の下位桁用EEPROM内のデータ
の様子を示す説明図、第6図は実施例の他の構成例につ
いて説明する説明図、である。 1・・・内部バス     3・・・カウント部5・・
・下位桁制御部   7・・・書込制御押部9−・・上
位桁制御部  10・・・マイクロROM11〜15・
・・2進カウンタ 21〜25・・・コード変換器 31・・・EEPROM   33・・・ローデコーダ
35・・・カラムデコーダ 37・・・消去用回路41
・・・読出回路    43・・・比較器45−・・デ
ータセレクタ 47・・・書込回路51・・・上位桁用
EEPROM 代理人 弁理士 定立 勉(ほか2名)第2図 第 3 図 第4図 (A> (B) 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 電気的に消去・書込可能な不揮発性記憶素子に記憶
    されたデータを、カウント値に基づいて更新し、カウン
    ト動作を行なう不揮発性カウンタであって、 前記不揮発性記憶素子を、所定ビット数のセルの配列と
    して構成すると共に、 該セルの配列から、カウント値の所定桁の値に対応する
    セルを選択する選択手段と、 該選択されたセルに、前記所定桁とは異なる桁の値に対
    応したデータを書き込む書込手段とを備えた不揮発性カ
    ウンタ。
JP63146612A 1988-05-30 1988-06-14 不揮発性カウンタ Granted JPH01314916A (ja)

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JP63146612A JPH01314916A (ja) 1988-06-14 1988-06-14 不揮発性カウンタ
US07/358,791 US5095452A (en) 1988-05-30 1989-05-30 Device for accurately displaying physical measure by adjusting the outputs from pulse counters
US07/846,959 US5280438A (en) 1988-05-30 1992-03-06 Memory circuit including an EEPROM provided with unique addressing means for storing at selected memory cells frequently incremented count data

Applications Claiming Priority (1)

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