JPH01297561A - サンプリングシステム - Google Patents
サンプリングシステムInfo
- Publication number
- JPH01297561A JPH01297561A JP1066445A JP6644589A JPH01297561A JP H01297561 A JPH01297561 A JP H01297561A JP 1066445 A JP1066445 A JP 1066445A JP 6644589 A JP6644589 A JP 6644589A JP H01297561 A JPH01297561 A JP H01297561A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampling
- coupled
- transmission line
- pulse
- sampling system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 title claims abstract description 104
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 89
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims abstract description 48
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 26
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 16
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 16
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
- G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、サンプルすべき信号を供給する信号入力を有
し、かつ第1サンプリングパルスとその位相が第1サン
プリングパルスの位相と反対である第2サンプリングパ
ルスをそれぞれ供給する第1および第2パルス入力を有
するサンプリング回路を具え、さらに第1および第2サ
ンプリングパルスを発生するためにパルス入力を介して
サンプリング回路に結合されているパルス発生回路を具
えるサンプリングシステムに関連している。
し、かつ第1サンプリングパルスとその位相が第1サン
プリングパルスの位相と反対である第2サンプリングパ
ルスをそれぞれ供給する第1および第2パルス入力を有
するサンプリング回路を具え、さらに第1および第2サ
ンプリングパルスを発生するためにパルス入力を介して
サンプリング回路に結合されているパルス発生回路を具
えるサンプリングシステムに関連している。
さらに本発明はこのようなサンプリングシステムでの使
用に適したパルス発生回路とサンプリング回路に関連し
ている。
用に適したパルス発生回路とサンプリング回路に関連し
ている。
本発明はまたそのようなサンプリングシステムを具える
オシロスコープに関連している。
オシロスコープに関連している。
(背景技術)
そのようなサンプリングシステムは米国特許明細書第3
241976号から既知である。その場合、第3図から
分かるように、相互にねじられた2ワイヤ一信号ライン
(「ツィステッドペアー」)を有するパルス発生回路は
サンプリング回路に接続されている。さらに、キャパシ
タが電荷蓄積要素として使用されている。実際には、キ
ャパシタは公差を有し、お互いに決して完全に同一では
ないであろう。この設計の結果として、システムにイン
バランスが起こり、さらにパルス発生回路それ自身のイ
ンバランスによって強調されよう。温度変動もまたキャ
パシタに影響しよう。もし例えば小振幅の信号を測定で
きる必要のあるオシロスコープでそのようなサンプリン
グシステムが使用されるなら、これらのインバランスは
かなりの効果を有するであろう。もし例えば1%のイン
バランスが存在し、そしてもし測定すべき入力信号が1
mVの振幅を有するなら、例えば3Vの振幅をそれ自身
が有するアンバランスパルスは測定すべき入力信号と比
較して大きい30mVの信号を与えよう。
241976号から既知である。その場合、第3図から
分かるように、相互にねじられた2ワイヤ一信号ライン
(「ツィステッドペアー」)を有するパルス発生回路は
サンプリング回路に接続されている。さらに、キャパシ
タが電荷蓄積要素として使用されている。実際には、キ
ャパシタは公差を有し、お互いに決して完全に同一では
ないであろう。この設計の結果として、システムにイン
バランスが起こり、さらにパルス発生回路それ自身のイ
ンバランスによって強調されよう。温度変動もまたキャ
パシタに影響しよう。もし例えば小振幅の信号を測定で
きる必要のあるオシロスコープでそのようなサンプリン
グシステムが使用されるなら、これらのインバランスは
かなりの効果を有するであろう。もし例えば1%のイン
バランスが存在し、そしてもし測定すべき入力信号が1
mVの振幅を有するなら、例えば3Vの振幅をそれ自身
が有するアンバランスパルスは測定すべき入力信号と比
較して大きい30mVの信号を与えよう。
(発明の開示)
本発明の目的はそのような欠点を持たないサンプリング
システムを与えることである。
システムを与えることである。
本発明によるサンプリングシステムは、サンプリングシ
ステムをバランスするバランシング手段を具えるサンプ
リングシステムを特徴としている。
ステムをバランスするバランシング手段を具えるサンプ
リングシステムを特徴としている。
その結果、入力信号のサンプリングのみが実際に得られ
るであろう。
るであろう。
本発明によるサンプリングシステムの一実施例では、信
号入力に接合された第1および第2サンプリングダイオ
ードと、サンプルすべき信号に対応する電荷を蓄積する
ために第1および第2サンプリングダイオードに結合さ
れた第1および第2電荷蓄積要素を具えるサンプリング
回路において、バランシング手段が第1結合平面伝送ラ
イン(firstcoupled planar tr
ansmission 1ine) と第1平面伝送
ラインの反対側に配置されたアース平面により形成され
た電荷蓄積要素を具え、第1平面伝送ラインの第1端部
は第1および第2サンプリングダイオードに結合され、
第2端部は第1および第2パルス入力に結合されている
こと、 を特徴としている。
号入力に接合された第1および第2サンプリングダイオ
ードと、サンプルすべき信号に対応する電荷を蓄積する
ために第1および第2サンプリングダイオードに結合さ
れた第1および第2電荷蓄積要素を具えるサンプリング
回路において、バランシング手段が第1結合平面伝送ラ
イン(firstcoupled planar tr
ansmission 1ine) と第1平面伝送
ラインの反対側に配置されたアース平面により形成され
た電荷蓄積要素を具え、第1平面伝送ラインの第1端部
は第1および第2サンプリングダイオードに結合され、
第2端部は第1および第2パルス入力に結合されている
こと、 を特徴としている。
電荷蓄積要素は分布キャパシティとして構成されている
。顕著なバランスが平面伝送ライン技術で容易に達成で
きる。またパルス発生回路の信号入力結合は第1平面伝
送ラインを介して高い対称性をもって起こることが可能
であろう。伝送ラインは2重の機能を有し、信号伝送と
電荷蓄積の双方に使用されている。
。顕著なバランスが平面伝送ライン技術で容易に達成で
きる。またパルス発生回路の信号入力結合は第1平面伝
送ラインを介して高い対称性をもって起こることが可能
であろう。伝送ラインは2重の機能を有し、信号伝送と
電荷蓄積の双方に使用されている。
本発明によるサンプリングシステムの別の実施例は、サ
ンプリング回路が一端で各サンプリングダイオードに接
続されている第1および第2出力結合抵抗器を具えるも
のにおいて、第1および第2出力結合抵抗器が第1平面
伝送ラインのトラック幅に比べて狭い導体トラックを用
いて第1平面伝送ラインに接続されていることを特徴と
している。狭い導体トラックは超高周波に対して高いイ
ンピーダンスを示している。出力結合抵抗器の寄生効果
は従って低減される。
ンプリング回路が一端で各サンプリングダイオードに接
続されている第1および第2出力結合抵抗器を具えるも
のにおいて、第1および第2出力結合抵抗器が第1平面
伝送ラインのトラック幅に比べて狭い導体トラックを用
いて第1平面伝送ラインに接続されていることを特徴と
している。狭い導体トラックは超高周波に対して高いイ
ンピーダンスを示している。出力結合抵抗器の寄生効果
は従って低減される。
本発明のサンプリングシステムの別の実施例は、パルス
発生回路がステップリカバリダイオードを具え、それが
第1および第2階段状信号、階段状信号を反射するため
にステップリカバリダイオードに結合された第1および
第2反射伝送ライン、およびステップリカバリダイオー
ドに結合された第1および第2出力結合伝送ラインを形
成する制御回路によってトリガーできるサンプリングシ
ステムにおいて、 バランシング手段は第2結合平面伝送ラインに接続され
、かつ第2平面伝送ラインの第1端部と第2端部の間に
位置しているステップリカバリダイオードを具え、第2
平面伝送ラインの第1端部は制御回路に結合され、第2
端部は第1および第2パルス出力に結合され、反射伝送
ラインは第1端部とステップリカバリダイオードの間の
第2平面伝送ラインの部分によって形成され、そして出
力結合伝送ラインはステップリカバリダイオードと第2
端部の間の第2平面伝送ラインの部分により形成されて
いること、 を特徴としている。
発生回路がステップリカバリダイオードを具え、それが
第1および第2階段状信号、階段状信号を反射するため
にステップリカバリダイオードに結合された第1および
第2反射伝送ライン、およびステップリカバリダイオー
ドに結合された第1および第2出力結合伝送ラインを形
成する制御回路によってトリガーできるサンプリングシ
ステムにおいて、 バランシング手段は第2結合平面伝送ラインに接続され
、かつ第2平面伝送ラインの第1端部と第2端部の間に
位置しているステップリカバリダイオードを具え、第2
平面伝送ラインの第1端部は制御回路に結合され、第2
端部は第1および第2パルス出力に結合され、反射伝送
ラインは第1端部とステップリカバリダイオードの間の
第2平面伝送ラインの部分によって形成され、そして出
力結合伝送ラインはステップリカバリダイオードと第2
端部の間の第2平面伝送ラインの部分により形成されて
いること、 を特徴としている。
パルス発生回路のインバランスは非対称パルスを生じ、
その結果として上記の欠点が起こる。例えば米国特許明
細書第3760283号の第2図は、ステップリカバリ
ーダイオードに近い2つの導通ワイヤーを介して伝送ラ
インに接続されていることを示している。ステップリカ
バリーダイオードの特性環境(characteris
tic environment)はこれにより乱され
、その結果としてインバランスが起こり、なかんずく寄
生効果の結果としてそうである。
その結果として上記の欠点が起こる。例えば米国特許明
細書第3760283号の第2図は、ステップリカバリ
ーダイオードに近い2つの導通ワイヤーを介して伝送ラ
インに接続されていることを示している。ステップリカ
バリーダイオードの特性環境(characteris
tic environment)はこれにより乱され
、その結果としてインバランスが起こり、なかんずく寄
生効果の結果としてそうである。
本発明はこれらのインバランスが実効的に除去される結
果を達成している。ステップリカバリーダイオードの環
境は結果として第2平面伝送ラインの第1端部でトリガ
するという特徴を持っている。
果を達成している。ステップリカバリーダイオードの環
境は結果として第2平面伝送ラインの第1端部でトリガ
するという特徴を持っている。
トリガリングは零電位を持つ電位ノード(短絡伝送ライ
ン)で実際に起こる。追加の利点はシステムの帯域幅が
ステップリカバリーダイオードの位置を変えることによ
り簡単に変更できることである。
ン)で実際に起こる。追加の利点はシステムの帯域幅が
ステップリカバリーダイオードの位置を変えることによ
り簡単に変更できることである。
本発明によるサンプリングシステムの別の実施例は、ス
テップリカバリーダイオードの直流バイアシンク手段が
第1端部に結合されていることを特徴としている。この
結果、ステップリカバリーダイオードの直流バイアスは
いずれにしても何の妨害効果も有していない。
テップリカバリーダイオードの直流バイアシンク手段が
第1端部に結合されていることを特徴としている。この
結果、ステップリカバリーダイオードの直流バイアスは
いずれにしても何の妨害効果も有していない。
本発明によるサンプリングシステムの別の実施例は、第
1および第2直流デカップリングキャパシタが出力結合
伝送ラインのダウンストリームに直接に結合されている
ことを特徴としている。たとえ直流デカップリングキャ
パシタのキャパシタンス値の差の結果として出力結合に
いくらかのインバランスが起こっても、これはサンプリ
ング回路の伝送ラインにより大いに低減されよう。これ
は伝送ライン自身がバランシング作用を有していると言
う事実によっている。
1および第2直流デカップリングキャパシタが出力結合
伝送ラインのダウンストリームに直接に結合されている
ことを特徴としている。たとえ直流デカップリングキャ
パシタのキャパシタンス値の差の結果として出力結合に
いくらかのインバランスが起こっても、これはサンプリ
ング回路の伝送ラインにより大いに低減されよう。これ
は伝送ライン自身がバランシング作用を有していると言
う事実によっている。
本発明によるサンプリングシステムを備えるオシロスコ
ープはたとえ低振幅信号であっても満足に処理可能であ
る。
ープはたとえ低振幅信号であっても満足に処理可能であ
る。
図面を参照して本発明の詳細な説明する。
(実施例)
第1図は例えば上記の米国特許明細書第3241076
号に記載されたようなサンプリングシステム1を示して
いる。サンプリングシステム1はサンプリング回路2と
、そして米国特許明細書第3241076号よりさらに
詳しく、パルス発生回路3を具えている。サンプリング
回路2は、サンプリングすべき信号を供給する信号入力
4、第1サンプリングパルスを供給する第1パルス入力
5、その位相が第1サンプリングパルスの位相に反対な
第2サンプリングパルスを供給する第2パルス入力6、
およびサンプリング値を取り出す出力端子7を有してい
る。サンプリング回路2は、そのカソードkL が抵抗
器R,を介して信号入力4に接続されている第1サンプ
リングダイオードD、と、そのアノードa2が抵抗器R
1を介して信号入力4に接続されている第2サンプリン
グダイオードD2を具えている。ダイオードD1のアノ
ードa1は電荷蓄積要素としてキャパシタC1の接続端
子にβ1に接続され、ダイオードD20カソードに2は
電荷蓄積要素としてキャパシタC2の接続端子k12に
接続されている。
号に記載されたようなサンプリングシステム1を示して
いる。サンプリングシステム1はサンプリング回路2と
、そして米国特許明細書第3241076号よりさらに
詳しく、パルス発生回路3を具えている。サンプリング
回路2は、サンプリングすべき信号を供給する信号入力
4、第1サンプリングパルスを供給する第1パルス入力
5、その位相が第1サンプリングパルスの位相に反対な
第2サンプリングパルスを供給する第2パルス入力6、
およびサンプリング値を取り出す出力端子7を有してい
る。サンプリング回路2は、そのカソードkL が抵抗
器R,を介して信号入力4に接続されている第1サンプ
リングダイオードD、と、そのアノードa2が抵抗器R
1を介して信号入力4に接続されている第2サンプリン
グダイオードD2を具えている。ダイオードD1のアノ
ードa1は電荷蓄積要素としてキャパシタC1の接続端
子にβ1に接続され、ダイオードD20カソードに2は
電荷蓄積要素としてキャパシタC2の接続端子k12に
接続されている。
キャパシタC1とC2の接続端子にR3とkL はそれ
ぞれ第1および第2パルス入力5,6に接続れている。
ぞれ第1および第2パルス入力5,6に接続れている。
ダイオードD、と02は抵抗器R2およびR3を介して
電源端子(+、−)に接続され、また第1および第2出
力結合抵抗器R1とR5を介して出力端子7に接続され
ている。もしパルス(示されていない)が反対位相でパ
ルス入力5と6に現れると、パルスの存在しない時に逆
バイアスされているダイオード01と0□はパルスによ
って決められた短時間だけ導通しよう。導通時間は抵抗
器R2からR5を介するダイオードのバイアスおよびパ
ルス形状に依存している。パルスは入力信号をサンプル
するのに用いられ、電荷蓄積要素口と02はサンプリン
グの際の入力信号に比例しているサンプリングの後の電
荷を含んでいる。ダイオードD1と02はいわゆるショ
トキ−ダイオードであり、これは内部電荷蓄積を全く示
さない。パルスはパルス発生回路3で発生され、このパ
ルス発生回路は端子k15とに16の第1および第2階
段状の信号(示されていない)を形成するステップリカ
バリーダイオードD、を具えている。ステップリカバリ
ーダイオードD3のアノードa3は端子kns に接続
され、カソードに3は端子kf、に接続されている。ス
テップリカバリーダイオードD3の直流バイアシンク手
段は電源STRと抵抗器R6によって形成されている。
電源端子(+、−)に接続され、また第1および第2出
力結合抵抗器R1とR5を介して出力端子7に接続され
ている。もしパルス(示されていない)が反対位相でパ
ルス入力5と6に現れると、パルスの存在しない時に逆
バイアスされているダイオード01と0□はパルスによ
って決められた短時間だけ導通しよう。導通時間は抵抗
器R2からR5を介するダイオードのバイアスおよびパ
ルス形状に依存している。パルスは入力信号をサンプル
するのに用いられ、電荷蓄積要素口と02はサンプリン
グの際の入力信号に比例しているサンプリングの後の電
荷を含んでいる。ダイオードD1と02はいわゆるショ
トキ−ダイオードであり、これは内部電荷蓄積を全く示
さない。パルスはパルス発生回路3で発生され、このパ
ルス発生回路は端子k15とに16の第1および第2階
段状の信号(示されていない)を形成するステップリカ
バリーダイオードD、を具えている。ステップリカバリ
ーダイオードD3のアノードa3は端子kns に接続
され、カソードに3は端子kf、に接続されている。ス
テップリカバリーダイオードD3の直流バイアシンク手
段は電源STRと抵抗器R6によって形成されている。
端子kI1.とにR6はサンプリングを開始する目的で
お互いに反対位相である2つのパルスを伝える制御回路
8の各接続端子9と10に接続されている。さらに説明
されるように、制御回路8は相対的にゆっくりしている
。端子klSは第1反射伝送ラインrt Il 、
に(第1直流デカップリングキャパシタC3を介して)
結合され、そして端子にR6は第2反射伝送ラインrt
n2に(第2直流デカップリングキャパシタC4を介し
て)結合されている。
お互いに反対位相である2つのパルスを伝える制御回路
8の各接続端子9と10に接続されている。さらに説明
されるように、制御回路8は相対的にゆっくりしている
。端子klSは第1反射伝送ラインrt Il 、
に(第1直流デカップリングキャパシタC3を介して)
結合され、そして端子にR6は第2反射伝送ラインrt
n2に(第2直流デカップリングキャパシタC4を介し
て)結合されている。
端子kl、とkfsは各出力結合伝送ラインut (1
。
。
とutji!2 に(キャパシタC3とC4を介して)
さらに結合されている。出力結合伝送ラインutj!
+とutβ2はパルス出力11と12を介してパルス入
力5と6に結合されている。制御回路8は変成器TR,
とトランジスタT1を介して階段状信号を伝えるための
電圧源Bを具えている。変成器TR,の−次巻線W1は
電源已に接続され、第2巻線W2はトランジスタT1の
ベースとエミッタに接続されている。トランジスタT1
のコレクタとエミッタはデカップリングキャバシタC5
と06を介して制御変成器TR,に接続され、制御変成
器TR2は接続端子9と10に接続されている。電源B
はパルスの発生を開始するために階段状信号を発生する
。変成器TR2でバランスされている2つのパルス(反
対位相の)がトランジスタT1のエミッタとコレクタに
現れる。バランスされたパルスがステップリカバリーダ
イオードD。
さらに結合されている。出力結合伝送ラインutj!
+とutβ2はパルス出力11と12を介してパルス入
力5と6に結合されている。制御回路8は変成器TR,
とトランジスタT1を介して階段状信号を伝えるための
電圧源Bを具えている。変成器TR,の−次巻線W1は
電源已に接続され、第2巻線W2はトランジスタT1の
ベースとエミッタに接続されている。トランジスタT1
のコレクタとエミッタはデカップリングキャバシタC5
と06を介して制御変成器TR,に接続され、制御変成
器TR2は接続端子9と10に接続されている。電源B
はパルスの発生を開始するために階段状信号を発生する
。変成器TR2でバランスされている2つのパルス(反
対位相の)がトランジスタT1のエミッタとコレクタに
現れる。バランスされたパルスがステップリカバリーダ
イオードD。
に現れ、これはトリガーされた場合に非常に急峻な縁部
を持つ信号を発生することを特徴としている。
を持つ信号を発生することを特徴としている。
パルス発生器回路3の動作はステップリカバリダイオー
ドを示す第2A図と、第1図に示されたサンプリングシ
ステムのステップリカバリダイオードを用いるパルスの
発生を示す第2B図から第2F図を参照して説明されて
いる。ステップリカバリダイオードD3が第2A図に示
されている。第2B図から第2F図は第1図に示された
サンプリングシステムのステップリカバリダイオードD
3を用いるパルスの発生を示している。第2B図は時間
tの関数として電源已によるトランジスタT1のスイッ
チングの結果としてのステップリカバリダイオードD3
による電流Iの階段状電流変化を示し、第2C図はステ
ップリカバリダイオードにわたる電圧Uの階段状変化を
示し、第2D図は反射伝送ラインrt j2 、による
反射の後でステップリカバリダイオードにわたる電圧U
の階段状変化UCを示し、第2E図はパルス出力11に
現れるパルスplrを示し、そして第2F図はダイオー
ドD1の直流電圧バイアス上に重畳されたパルスp1を
示している。もし第1図のステップリカバリダイオード
D3がトリガーされないと、ダイオードD3は順方向に
バイアスされ、そして電流Iは例えば10mAである。
ドを示す第2A図と、第1図に示されたサンプリングシ
ステムのステップリカバリダイオードを用いるパルスの
発生を示す第2B図から第2F図を参照して説明されて
いる。ステップリカバリダイオードD3が第2A図に示
されている。第2B図から第2F図は第1図に示された
サンプリングシステムのステップリカバリダイオードD
3を用いるパルスの発生を示している。第2B図は時間
tの関数として電源已によるトランジスタT1のスイッ
チングの結果としてのステップリカバリダイオードD3
による電流Iの階段状電流変化を示し、第2C図はステ
ップリカバリダイオードにわたる電圧Uの階段状変化を
示し、第2D図は反射伝送ラインrt j2 、による
反射の後でステップリカバリダイオードにわたる電圧U
の階段状変化UCを示し、第2E図はパルス出力11に
現れるパルスplrを示し、そして第2F図はダイオー
ドD1の直流電圧バイアス上に重畳されたパルスp1を
示している。もし第1図のステップリカバリダイオード
D3がトリガーされないと、ダイオードD3は順方向に
バイアスされ、そして電流Iは例えば10mAである。
もしステップリカバリダイオードD3がトランジスタT
。
。
のスイッチングにより発生される2つのバランスした(
位相の反対の)パルスにより制御変成器TR2を介して
トリガーされるなら、トランジスタT1を通る電流は1
0mAより大きく (例えば20mA) 、ダイオー
ドD3を通る電流の方向は変化し、第2B図で1ま1
=1.で10mAから一10mへとなる。スイッチング
の前に、かなりの量の電荷がステップリカバリダイオー
ドD3に蓄積される。ステップリカバリダイオードD3
はすべての電荷がステップリカバリダイオードから流出
した場合にのみそこに掛かる電圧Uが極性を変えると言
う特性を持っている。これは示された実例では1 =1
.においてである。t=t2において、極性の変化の結
果として非常に急峻な階段状信号がダイオードにわたっ
て起こり、階段状信号stの縁部の急峻度はトリガリン
グパルスの急峻度には無関係である。位相が反対であり
かつ非常に急峻な縁部を有する2つの階段状信号St。
位相の反対の)パルスにより制御変成器TR2を介して
トリガーされるなら、トランジスタT1を通る電流は1
0mAより大きく (例えば20mA) 、ダイオー
ドD3を通る電流の方向は変化し、第2B図で1ま1
=1.で10mAから一10mへとなる。スイッチング
の前に、かなりの量の電荷がステップリカバリダイオー
ドD3に蓄積される。ステップリカバリダイオードD3
はすべての電荷がステップリカバリダイオードから流出
した場合にのみそこに掛かる電圧Uが極性を変えると言
う特性を持っている。これは示された実例では1 =1
.においてである。t=t2において、極性の変化の結
果として非常に急峻な階段状信号がダイオードにわたっ
て起こり、階段状信号stの縁部の急峻度はトリガリン
グパルスの急峻度には無関係である。位相が反対であり
かつ非常に急峻な縁部を有する2つの階段状信号St。
とst、(示されていない)は結果として端子にβ5と
にβ6に生成される。階段状信号st、とst2は出力
結合伝送ラインutff+ とutjl!2にわたって
伝播し、また反射伝送ラインrt I 、とrtl!2
にわたって伝播する。反射の後、位相が反対のパルスp
。
にβ6に生成される。階段状信号st、とst2は出力
結合伝送ラインutff+ とutjl!2にわたって
伝播し、また反射伝送ラインrt I 、とrtl!2
にわたって伝播する。反射の後、位相が反対のパルスp
。
とF12 (示されていない)はパルス出力11と12
に現れる。パルスp1とp2は第1図のダイオードD、
とD2の直流バイアス上に重畳され、その結果としてダ
イオードD1とD2はある時間Tgだけ導通しよう。第
2F図にはダイオードD1の直流バイアス上に重畳され
たパルスp1rとしてパルスp、が示されている。
に現れる。パルスp1とp2は第1図のダイオードD、
とD2の直流バイアス上に重畳され、その結果としてダ
イオードD1とD2はある時間Tgだけ導通しよう。第
2F図にはダイオードD1の直流バイアス上に重畳され
たパルスp1rとしてパルスp、が示されている。
時点t3とt、の間の時間間隔TgでダイオードD1の
順方向電圧Lltr(約0.6V)以上にパルスplr
が上昇すると、ダイオードD、は導通し、そしてもし入
力信号が信号入力4に現れると、信号電流は流れること
ができ、かつキャパシタ自を充電する。同様に、キャパ
シタC2は位相が反対であるパルスp2の結果として充
電される。もしパルスletとp2にインバランスが存
在すると、キャパシタ上の電荷は信号入力4上の入力信
号の測度であるのみならず、インバランスをまた表わす
であろう。もしシステムの帯域幅が例えば2 GHzで
あるなら、約175 ピコ秒のパルス幅が要求されよう
。これらの状況の下で、立上がり時間と降下時間は一般
に100 ピコ秒より少ない。従ってパルスp1とp2
は相対的に大きい高周波成分を含むことになる。システ
ムに存在する寄生成分は対称性を乱し、かつインバラン
スを強調する。このように、1mVの入力信号と3Vの
パルス振幅により、1%のインバランスはパルスp1と
p2から発生する30mVの信号寄与となり、測定すべ
き入力信号と比べて大きい寄生を生成しよう。対称性に
関して、サンプリングシステ!−1のクリチカルな部分
はとりわけキャパシタ自と02、およびステップリカバ
リーダイオードD3の環境である。もしパルスp、とp
2がサンプリング回路2に完全に対称に存在するなら、
ダイオード貼とD2のインピーダンスの不等性はインバ
ランスを生成し、その結果としてパルスpIと12はサ
ンプリングの間に信号として部分的に現れるであろう。
順方向電圧Lltr(約0.6V)以上にパルスplr
が上昇すると、ダイオードD、は導通し、そしてもし入
力信号が信号入力4に現れると、信号電流は流れること
ができ、かつキャパシタ自を充電する。同様に、キャパ
シタC2は位相が反対であるパルスp2の結果として充
電される。もしパルスletとp2にインバランスが存
在すると、キャパシタ上の電荷は信号入力4上の入力信
号の測度であるのみならず、インバランスをまた表わす
であろう。もしシステムの帯域幅が例えば2 GHzで
あるなら、約175 ピコ秒のパルス幅が要求されよう
。これらの状況の下で、立上がり時間と降下時間は一般
に100 ピコ秒より少ない。従ってパルスp1とp2
は相対的に大きい高周波成分を含むことになる。システ
ムに存在する寄生成分は対称性を乱し、かつインバラン
スを強調する。このように、1mVの入力信号と3Vの
パルス振幅により、1%のインバランスはパルスp1と
p2から発生する30mVの信号寄与となり、測定すべ
き入力信号と比べて大きい寄生を生成しよう。対称性に
関して、サンプリングシステ!−1のクリチカルな部分
はとりわけキャパシタ自と02、およびステップリカバ
リーダイオードD3の環境である。もしパルスp、とp
2がサンプリング回路2に完全に対称に存在するなら、
ダイオード貼とD2のインピーダンスの不等性はインバ
ランスを生成し、その結果としてパルスpIと12はサ
ンプリングの間に信号として部分的に現れるであろう。
ダイオードD1と02のインピーダンスの不等性はキャ
パシタ自とC2のインバランスによってかなりの程度ま
で決定される。
パシタ自とC2のインバランスによってかなりの程度ま
で決定される。
第3図は本発明によるサンプリングシステムを示し、こ
こで第1図に対応する要素は同様に表示されている。構
成要素の配列cI!yは基盤sb上に示されており、そ
の構成要素はアース平面mに反対な構成要素側面CSに
組立てられている。パルスp+と12を整形し伝送する
伝送ラインは対称的にら結合されたマイクロストリップ
ラインを用いて構成されている。本発明によると、キャ
パシタC3とC2は省略され、かつ電荷蓄積のために対
称的に結合された伝送ラインにより置換されている。第
3図はその端部で、第1結合平面伝送ラインptβ1を
示し、その第1端部e1は第1および第2サンプリング
ダイオードD、、 D、に結合され、その第2端部e2
は第1および第2パルス入力5および6に結合されてい
る。伝送ラインpt (1、は2重の機能を有している
。すなわちパルスを伝送し、かつ電荷蓄積要素となるこ
とである。出力結合抵抗器R4とR6は伝送ラインのト
ラック幅spb と比較して狭い導体トラックgb1
とgb2を用いて伝送う、インptj!+ の第1端部
e1に結合されている。高周波において、導体トラック
gb1 とgb2のインピーダンスは高く、その結果と
して寄生効果は最小であろう。結合平面伝送ラインの一
対のラインの相互間隔aはトラック幅spbと基盤の厚
さsdよりもずっと小さい。出力結合抵抗器R4とR5
はそれぞれ第1および第2出力端子7A、 7Bに接続
されている。本発明によると、ステップリカバリーダイ
オードD3は第1端部e3と第2端部e4の間の第2結
合平面伝送ラインptf、の上に位置し、そしてトリガ
リングと直流バイアシンクは第2平面伝送ラインptI
12の第1端部e3で起こる。同時に、ステップリカバ
リーダイオードD3と第1端部e3の間の第2結合伝送
ラインptj!、の部分は反射伝送ラインrtj!+
とrtj!2 として使用されている。位相が反対であ
り、かつステップリカバリーダイオードD3により発生
される階段状信号はステップリカバリーダイオードD3
からパルス出力11と12の方向に、そして第1端部e
、 (ここで反射が起こる)の方向に伝播するであろう
。位相が反対であり、かつサンプリング回路2に向かっ
て第1結合伝送ラインpt 1 、により伝送されるパ
ルスタイプの信号はパルス入力5と6に現れるよう。第
2結合平面伝送ラインptA2の端部e、は短絡回路キ
ャパシタC1で高周波短絡されている。従ってトリガリ
ングと直流バイアスは電位ノードにおいて、伝送ライン
の短絡端部に結合されている。ステップリカバリーダイ
オードD3はトリガリングと直流バイアシンクにより乱
されない特性環境に位置している。第2伝送ラインpt
1 、上でステップリカバリーダイオードD3の位置
を変更することは反射伝送ラインの長さを変更する。従
ってシステムの帯域幅を変更することは非常に容易であ
る。第1平面伝送ラインptl、は、出力結合伝送ライ
ンutI!+ とutj!2の直接ダウンストリームで
第1直流デカップリングキャパシタC3と第2直流デカ
ップリングキャパシタC1によって直流デカップルされ
ている。伝送ラインpt !! 。
こで第1図に対応する要素は同様に表示されている。構
成要素の配列cI!yは基盤sb上に示されており、そ
の構成要素はアース平面mに反対な構成要素側面CSに
組立てられている。パルスp+と12を整形し伝送する
伝送ラインは対称的にら結合されたマイクロストリップ
ラインを用いて構成されている。本発明によると、キャ
パシタC3とC2は省略され、かつ電荷蓄積のために対
称的に結合された伝送ラインにより置換されている。第
3図はその端部で、第1結合平面伝送ラインptβ1を
示し、その第1端部e1は第1および第2サンプリング
ダイオードD、、 D、に結合され、その第2端部e2
は第1および第2パルス入力5および6に結合されてい
る。伝送ラインpt (1、は2重の機能を有している
。すなわちパルスを伝送し、かつ電荷蓄積要素となるこ
とである。出力結合抵抗器R4とR6は伝送ラインのト
ラック幅spb と比較して狭い導体トラックgb1
とgb2を用いて伝送う、インptj!+ の第1端部
e1に結合されている。高周波において、導体トラック
gb1 とgb2のインピーダンスは高く、その結果と
して寄生効果は最小であろう。結合平面伝送ラインの一
対のラインの相互間隔aはトラック幅spbと基盤の厚
さsdよりもずっと小さい。出力結合抵抗器R4とR5
はそれぞれ第1および第2出力端子7A、 7Bに接続
されている。本発明によると、ステップリカバリーダイ
オードD3は第1端部e3と第2端部e4の間の第2結
合平面伝送ラインptf、の上に位置し、そしてトリガ
リングと直流バイアシンクは第2平面伝送ラインptI
12の第1端部e3で起こる。同時に、ステップリカバ
リーダイオードD3と第1端部e3の間の第2結合伝送
ラインptj!、の部分は反射伝送ラインrtj!+
とrtj!2 として使用されている。位相が反対であ
り、かつステップリカバリーダイオードD3により発生
される階段状信号はステップリカバリーダイオードD3
からパルス出力11と12の方向に、そして第1端部e
、 (ここで反射が起こる)の方向に伝播するであろう
。位相が反対であり、かつサンプリング回路2に向かっ
て第1結合伝送ラインpt 1 、により伝送されるパ
ルスタイプの信号はパルス入力5と6に現れるよう。第
2結合平面伝送ラインptA2の端部e、は短絡回路キ
ャパシタC1で高周波短絡されている。従ってトリガリ
ングと直流バイアスは電位ノードにおいて、伝送ライン
の短絡端部に結合されている。ステップリカバリーダイ
オードD3はトリガリングと直流バイアシンクにより乱
されない特性環境に位置している。第2伝送ラインpt
1 、上でステップリカバリーダイオードD3の位置
を変更することは反射伝送ラインの長さを変更する。従
ってシステムの帯域幅を変更することは非常に容易であ
る。第1平面伝送ラインptl、は、出力結合伝送ライ
ンutI!+ とutj!2の直接ダウンストリームで
第1直流デカップリングキャパシタC3と第2直流デカ
ップリングキャパシタC1によって直流デカップルされ
ている。伝送ラインpt !! 。
はまたある程度それ自身バランシング効果を有している
。長距離ラインの理論から良く知られているように、2
つの長距離ラインのアンバランストリガリングはもし端
部が浮いているならその端部でバランスしよう。
。長距離ラインの理論から良く知られているように、2
つの長距離ラインのアンバランストリガリングはもし端
部が浮いているならその端部でバランスしよう。
本発明をより明確にするために、第4A図と第4B図は
それぞれ「偶数モード」と「奇数モード」の伝送ライン
としての対称結合マイクロストリップラインを示してい
る。第4A図と第4B図は相互間隔a1、トラック幅s
pb、、ストリップ厚さstd。
それぞれ「偶数モード」と「奇数モード」の伝送ライン
としての対称結合マイクロストリップラインを示してい
る。第4A図と第4B図は相互間隔a1、トラック幅s
pb、、ストリップ厚さstd。
および基板厚さsd、を有する2つの対称結合伝送ライ
ンtnl とtβ2の断面を示している。mはアース平
面を表している。それぞれ「偶数モード」と「奇数モー
ド」の伝送ラインとして使用するために、連続な線はい
くらかの電界ラインEを示し、破線はいくらかの磁界ラ
インHを示している。
ンtnl とtβ2の断面を示している。mはアース平
面を表している。それぞれ「偶数モード」と「奇数モー
ド」の伝送ラインとして使用するために、連続な線はい
くらかの電界ラインEを示し、破線はいくらかの磁界ラ
インHを示している。
「偶数モード」では、結合伝送ラインtf、とtβ2は
アース面mに対して特性インピーダンスZ1を有してい
る。「偶数モード」では、伝送ラインtβ1とtβ2の
間に電圧の差は存在せず、そしてアース面mは電流帰路
として役立っている。
アース面mに対して特性インピーダンスZ1を有してい
る。「偶数モード」では、伝送ラインtβ1とtβ2の
間に電圧の差は存在せず、そしてアース面mは電流帰路
として役立っている。
「奇数モード」では、伝送ラインtl、とtβ2はアー
ス面mに対して特性インピーダンスZIを有し、かつお
互いに対して特性インピーダンスZ2を有している。一
般に、Z2はZlより大きい。結合マイクロストリップ
ラインの広範囲にわたる記述は、例えばニス・ヴイ・シ
ュド(S、V、 Judd)等の「マイクロストリップ
伝送ラインパラメータ計算の解析方法(An aral
ytical Method for Calcula
ting!Jicrostrip Transmiss
ion Line Parameters) J、アイ
・イー・イー・イー トランズアクション・オン・マイ
クロウェーブ理論と技術(IEEB Tran−sac
tions on Mlcrowave Theory
and Techniques)、第MTT−18巻
、第2号、1970年2月、頁78−87から見出され
よう。もし「奇数モード」の伝送ラインtl、とt12
の間の間隔a1が基板の厚さsd。
ス面mに対して特性インピーダンスZIを有し、かつお
互いに対して特性インピーダンスZ2を有している。一
般に、Z2はZlより大きい。結合マイクロストリップ
ラインの広範囲にわたる記述は、例えばニス・ヴイ・シ
ュド(S、V、 Judd)等の「マイクロストリップ
伝送ラインパラメータ計算の解析方法(An aral
ytical Method for Calcula
ting!Jicrostrip Transmiss
ion Line Parameters) J、アイ
・イー・イー・イー トランズアクション・オン・マイ
クロウェーブ理論と技術(IEEB Tran−sac
tions on Mlcrowave Theory
and Techniques)、第MTT−18巻
、第2号、1970年2月、頁78−87から見出され
よう。もし「奇数モード」の伝送ラインtl、とt12
の間の間隔a1が基板の厚さsd。
と比べて小さいなら(基板1より大きい誘電率を有する
であろう)、アース面mは「奇数モード」では無視でき
る。伝送ラインtβ1とtI!2の間に電圧差が存在し
、1つの伝送ラインは他の伝送ラインの電流の帰路とし
て役に立っている。本発明によると、パルスp、と12
は「奇数モード」で伝送されている。もし電圧ステップ
がステップリカバリーダイオードD3にわたって起こる
なら、(逆バイアスされた)ステップリカバリーダイオ
ードのインピーダンスは高く、かつ電圧ステップが伝送
ライン間に本質的に現れるであろう。1つの伝送ライン
は他の伝送ラインから異なる電位を有するであろう。サ
ンプリングダイオードD、とD2が導通する場合、サン
プルすべき信号(これは信号入力4にあるのだが)はそ
のマイクロストリップラインとアース面mとの間で第1
平面伝送ラインptj?+ にわたって伝播され、すな
わち「偶数モード」で伝播される。電荷蓄積要素は第1
平面伝送ラインにより形成されている。電荷蓄積要素の
キャパシタンスは伝送ラインt11 とtt!2の全ス
トリップ表面面積と誘電体の厚さsd、および誘電率に
よって決定される。電荷蓄積はまた直流デカップリング
キャパシタC3と04で起こり、その結果として全キャ
パシタンス値はいくらか高いであろう。もし例えば分布
キャパシタンスが20pFであり、そしてデカップリン
グキャパシタc3とC1のキャパシタンスが2I]Fで
あるなら、全キャパシタンスは24pFである。サンプ
リングプロセスは相対的に速く、そしてサンプリングダ
イオードD、と02は非常に短い時間だけ導通ずる。引
き続く処理回路(示されていない)への伝送ラインpt
l 、に蓄積された電荷の伝送はもっとゆっくり起き
ることができる。
であろう)、アース面mは「奇数モード」では無視でき
る。伝送ラインtβ1とtI!2の間に電圧差が存在し
、1つの伝送ラインは他の伝送ラインの電流の帰路とし
て役に立っている。本発明によると、パルスp、と12
は「奇数モード」で伝送されている。もし電圧ステップ
がステップリカバリーダイオードD3にわたって起こる
なら、(逆バイアスされた)ステップリカバリーダイオ
ードのインピーダンスは高く、かつ電圧ステップが伝送
ライン間に本質的に現れるであろう。1つの伝送ライン
は他の伝送ラインから異なる電位を有するであろう。サ
ンプリングダイオードD、とD2が導通する場合、サン
プルすべき信号(これは信号入力4にあるのだが)はそ
のマイクロストリップラインとアース面mとの間で第1
平面伝送ラインptj?+ にわたって伝播され、すな
わち「偶数モード」で伝播される。電荷蓄積要素は第1
平面伝送ラインにより形成されている。電荷蓄積要素の
キャパシタンスは伝送ラインt11 とtt!2の全ス
トリップ表面面積と誘電体の厚さsd、および誘電率に
よって決定される。電荷蓄積はまた直流デカップリング
キャパシタC3と04で起こり、その結果として全キャ
パシタンス値はいくらか高いであろう。もし例えば分布
キャパシタンスが20pFであり、そしてデカップリン
グキャパシタc3とC1のキャパシタンスが2I]Fで
あるなら、全キャパシタンスは24pFである。サンプ
リングプロセスは相対的に速く、そしてサンプリングダ
イオードD、と02は非常に短い時間だけ導通ずる。引
き続く処理回路(示されていない)への伝送ラインpt
l 、に蓄積された電荷の伝送はもっとゆっくり起き
ることができる。
第5図は本発明によるサンプリングシステム1を具える
オシロスコープ13を示し、この線図で第1図と第3図
に対応する要素は同様に示されている。オシロスコープ
13は、第1入力チャネル14、第2入力チャネル15
、及び外部トリガ入力16を具えている。第1入力チャ
ネル14はトリガ信号タッピング回路17と遅延ライン
18を介してサンプリングシステム1に結合されている
。サンプリングシステム1には信号処理回路19が結合
され、信号処理回路19は別の信号処理回路21を介し
て信号表示ユニットの第1入力に結合されているチャネ
ル選択スイッチ20に結合されている。トリガ信号タッ
ピング回路17は前置増幅器23を介してトリが選択回
路24に接続され、チャネル接続回路はタイムベース回
路25を介して信号表示ユニット22に接続されている
。第2入力チャネル15は同様に信号表示ユニット22
()’Jガ信号タッピング回路26、前置増幅器27、
遅延ライン28、サンプリングシステム1′ 〔サンプ
リング回路2’、5’、6’、11’。
オシロスコープ13を示し、この線図で第1図と第3図
に対応する要素は同様に示されている。オシロスコープ
13は、第1入力チャネル14、第2入力チャネル15
、及び外部トリガ入力16を具えている。第1入力チャ
ネル14はトリガ信号タッピング回路17と遅延ライン
18を介してサンプリングシステム1に結合されている
。サンプリングシステム1には信号処理回路19が結合
され、信号処理回路19は別の信号処理回路21を介し
て信号表示ユニットの第1入力に結合されているチャネ
ル選択スイッチ20に結合されている。トリガ信号タッ
ピング回路17は前置増幅器23を介してトリが選択回
路24に接続され、チャネル接続回路はタイムベース回
路25を介して信号表示ユニット22に接続されている
。第2入力チャネル15は同様に信号表示ユニット22
()’Jガ信号タッピング回路26、前置増幅器27、
遅延ライン28、サンプリングシステム1′ 〔サンプ
リング回路2’、5’、6’、11’。
12′を有する〕および信号処理回路29)に結合され
ている。外部トリガ入力16はトリガ選択回路24に接
続されている。オシロスコープ13はなかんずく信号処
理と種々のオシロスコープ機能を制御するだめにマイク
ロプロセッサ30とメモリ31をさらに具えている。
ている。外部トリガ入力16はトリガ選択回路24に接
続されている。オシロスコープ13はなかんずく信号処
理と種々のオシロスコープ機能を制御するだめにマイク
ロプロセッサ30とメモリ31をさらに具えている。
(要約)
サンプリングシステム(1)が提案されており、これは
サンプルすべき信号を供給するサンプリング回路(2)
とサンプリング回路(2)に位相が反対である2つのサ
ンプリングパルスを発生するパルス発生回路(3)を具
え、このシステムでは良好なバランスを可能な限り実現
し、かつバランスに影響する寄生効果による影響を最小
にするために電荷蓄積要素が対称的に結合されたマイク
ロストリップ伝送ライン(st l 、)の分布キャパ
シタンスとして形成され、かつパルス発生回路(3)の
ステップリカバリーダイオード(D3)のトリガリング
と直流バイアシンクが反射伝送ライン(rtj!+。
サンプルすべき信号を供給するサンプリング回路(2)
とサンプリング回路(2)に位相が反対である2つのサ
ンプリングパルスを発生するパルス発生回路(3)を具
え、このシステムでは良好なバランスを可能な限り実現
し、かつバランスに影響する寄生効果による影響を最小
にするために電荷蓄積要素が対称的に結合されたマイク
ロストリップ伝送ライン(st l 、)の分布キャパ
シタンスとして形成され、かつパルス発生回路(3)の
ステップリカバリーダイオード(D3)のトリガリング
と直流バイアシンクが反射伝送ライン(rtj!+。
rtβ2)の電位ノード(e3)でステップリカバリー
ダイオード(D3)の特性環境の外で遂行されている。
ダイオード(D3)の特性環境の外で遂行されている。
第1図はサンプリングシステムを示し、第2A図はステ
ップリカバリーダイオードを示し、第2B図から第2F
図までは第1図に示されたサンプリングシステムのステ
ップリカバリーダイオードによるパルスの発生を示し、 第3図は本発明によるサンプリングシステムを示し、 第4A図と第4B図は本発明をさらに明確にするために
「偶数モード」と「奇数モード」それぞれに対称的に結
合されたマイクロス) IJツブラインを示し、 第5図は本発明によるサンプリングシステムを(mえる
オシススコープのブロック線図を示している。 1.1′・・・サンプリングシステム 2・・・サンプリング回路 2’ 、 5’ 、 6’ 、 11’ 、 12’
・・・サンプリング回路3・・・パルス発生回路
4・・・信号入力5・・・第1パルス入力 6・・
・第2パルス入カフ・・・出力端子 7A・
・・第1出力端子7B・・・第2出力端子 8・
・・制御回路9、lO・・・接続端子 11.1
2・・・パルス出力13・・・オシロスコープ 1
4・・・第1入力チャネル15・・・第2入力チャネル
16・・・外部トリガ入力17・・・トリガ信号タ
ッピング回路 18・・・遅延ライン 19・・・信号処理回
路20・・・チャネル選択スイッチ 21・・・信号処理回路 22・・・信号表示ユ
ニット23・・・前置増幅器 24・・・トリ
ガ選択回路25・・・タイムベース回路 26・・・トリガ信号タッピング回路 27・・・前置増幅器 28・・・遅延ライン
29・・・信号処理回路 30・・・マイクロプロセッサ 31・・・メモリー−
上−一二
ップリカバリーダイオードを示し、第2B図から第2F
図までは第1図に示されたサンプリングシステムのステ
ップリカバリーダイオードによるパルスの発生を示し、 第3図は本発明によるサンプリングシステムを示し、 第4A図と第4B図は本発明をさらに明確にするために
「偶数モード」と「奇数モード」それぞれに対称的に結
合されたマイクロス) IJツブラインを示し、 第5図は本発明によるサンプリングシステムを(mえる
オシススコープのブロック線図を示している。 1.1′・・・サンプリングシステム 2・・・サンプリング回路 2’ 、 5’ 、 6’ 、 11’ 、 12’
・・・サンプリング回路3・・・パルス発生回路
4・・・信号入力5・・・第1パルス入力 6・・
・第2パルス入カフ・・・出力端子 7A・
・・第1出力端子7B・・・第2出力端子 8・
・・制御回路9、lO・・・接続端子 11.1
2・・・パルス出力13・・・オシロスコープ 1
4・・・第1入力チャネル15・・・第2入力チャネル
16・・・外部トリガ入力17・・・トリガ信号タ
ッピング回路 18・・・遅延ライン 19・・・信号処理回
路20・・・チャネル選択スイッチ 21・・・信号処理回路 22・・・信号表示ユ
ニット23・・・前置増幅器 24・・・トリ
ガ選択回路25・・・タイムベース回路 26・・・トリガ信号タッピング回路 27・・・前置増幅器 28・・・遅延ライン
29・・・信号処理回路 30・・・マイクロプロセッサ 31・・・メモリー−
上−一二
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、サンプルすべき信号を供給する信号入力を有し、か
つ第1サンプリングパルスとその位相が第1サンプリン
グパルスの位相と反対である第2サンプリングパルスを
それぞれ供給する第1および第2パルス入力を有するサ
ンプリング回路を具え、さらに第1および第2サンプリ
ングパルスを発生するためにパルス入力を介してサンプ
リング回路に結合されているパルス発生回路を具えるサ
ンプリングシステムにおいて、 サンプリングシステムがサンプリングシステムをバラン
スするバランシング手段を具えること、 を特徴とするサンプリングシステム。 2、信号入力に結合された第1および第2サンプリング
ダイオードと、サンプルすべき信号に対応する電荷を蓄
積するために第1および第2サンプリングダイオードに
結合された第1および第2電荷蓄積要素を具えるサンプ
リング回路において、 バランシング手段が第1結合平面伝送ラインと、第1平
面伝送ラインの反対側に配置されたアース平面により形
成された電荷蓄積要素を具え、第1平面伝送ラインの第
1端部は第1および第2サンプリングダイオードに結合
され、第2端部は第1および第2パルス入力に結合され
ていること、 を特徴とする請求項1記載のサンプリングシステム。 3、サンプリング回路が一端で各サンプリングダイオー
ドに接続されている第1および第2出力結合抵抗器を具
えるものにおいて、 第1および第2出力結合抵抗器が第1平面伝送ラインの
トラック幅に比べて狭い導体トラックを用いて第1平面
伝送ラインに接続されていること、 を特徴とする請求項2記載のサンプリングシステム。 4、パルス発生回路がステップリカバリダイオードを具
え、それが第1および第2階段状信号、階段状信号を反
射するためにステップリカバリダイオードに結合された
第1および第2反射伝送ライン、およびステップリカバ
リダイオードに結合された第1および第2出力結合伝送
ラインを形成する制御回路によってトリガーできるサン
プリングシステムにおいて、 バランシング手段は第2結合平面伝送ラインに接続され
、かつ第2平面伝送ラインの第1端部と第2端部の間に
位置しているステップリカバリダイオードを具え、第2
平面伝送ラインの第1端部は制御回路に結合され、第2
端部は第1および第2パルス出力に結合され、反射伝送
ラインは第1端部とステップリカバリダイオードの間の
第2平面伝送ラインの部分によって形成され、そして出
力結合伝送ラインはステップリカバリダイオードと第2
端部の間の第2平面伝送ラインの部分により形成されて
いること、 を特徴とする請求項1もしくは2もしくは3記載のサン
プリングシステム。 5、ステップリカバリダイオードの直流バイアシンク手
段が第1端部に結合されていることを特徴とする請求項
4記載のサンプリングシステム。 6、第1および第2直流デカップリングキャパシタが出
力結合伝送ラインのダウンストリームに直接に結合され
ていることを特徴とする請求項2から5のいずれか1つ
に記載のサンプリングシステム。 7、請求項2もしくは3もしくは6のいずれか1つによ
るサンプリングシステムでの使用に適したパルス発生回
路。 8、請求項4もしくは5もしくは6のいずれか1つによ
るサンプリングシステムでの使用に適したサンプリング
回路。 9、請求項1から6のいずれか1つによるサンプリング
システムを具えたオシロスコープ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8800696 | 1988-03-21 | ||
NL8800696A NL8800696A (nl) | 1988-03-21 | 1988-03-21 | Bemonsteringssysteem, pulsgeneratiesschakeling en bemonsteringsschakeling geschikt voor toepassing in een bemonsteringssysteem, en oscilloscoop voorzien van een bemonsteringssysteem. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01297561A true JPH01297561A (ja) | 1989-11-30 |
Family
ID=19851968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1066445A Pending JPH01297561A (ja) | 1988-03-21 | 1989-03-20 | サンプリングシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4965467A (ja) |
EP (1) | EP0336470A1 (ja) |
JP (1) | JPH01297561A (ja) |
NL (1) | NL8800696A (ja) |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2808740B2 (ja) * | 1989-10-31 | 1998-10-08 | 横河電機株式会社 | サンプリングヘッド |
US6060915A (en) * | 1998-05-18 | 2000-05-09 | Mcewan; Thomas E. | Charge transfer wideband sample-hold circuit |
US6061551A (en) | 1998-10-21 | 2000-05-09 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting electromagnetic signals |
US7515896B1 (en) | 1998-10-21 | 2009-04-07 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same, and aperture relationships |
US6091940A (en) | 1998-10-21 | 2000-07-18 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion |
US6694128B1 (en) | 1998-08-18 | 2004-02-17 | Parkervision, Inc. | Frequency synthesizer using universal frequency translation technology |
US6560301B1 (en) | 1998-10-21 | 2003-05-06 | Parkervision, Inc. | Integrated frequency translation and selectivity with a variety of filter embodiments |
US6813485B2 (en) | 1998-10-21 | 2004-11-02 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting and up-converting an electromagnetic signal, and transforms for same |
US6370371B1 (en) | 1998-10-21 | 2002-04-09 | Parkervision, Inc. | Applications of universal frequency translation |
US7236754B2 (en) | 1999-08-23 | 2007-06-26 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion |
US6049706A (en) | 1998-10-21 | 2000-04-11 | Parkervision, Inc. | Integrated frequency translation and selectivity |
US6061555A (en) | 1998-10-21 | 2000-05-09 | Parkervision, Inc. | Method and system for ensuring reception of a communications signal |
US6542722B1 (en) | 1998-10-21 | 2003-04-01 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion with variety of transmitter configurations |
US7039372B1 (en) | 1998-10-21 | 2006-05-02 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion with modulation embodiments |
US6704558B1 (en) | 1999-01-22 | 2004-03-09 | Parkervision, Inc. | Image-reject down-converter and embodiments thereof, such as the family radio service |
US6704549B1 (en) | 1999-03-03 | 2004-03-09 | Parkvision, Inc. | Multi-mode, multi-band communication system |
US6879817B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-04-12 | Parkervision, Inc. | DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology |
US6853690B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-02-08 | Parkervision, Inc. | Method, system and apparatus for balanced frequency up-conversion of a baseband signal and 4-phase receiver and transceiver embodiments |
US7065162B1 (en) | 1999-04-16 | 2006-06-20 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same |
US7693230B2 (en) | 1999-04-16 | 2010-04-06 | Parkervision, Inc. | Apparatus and method of differential IQ frequency up-conversion |
US7110444B1 (en) | 1999-08-04 | 2006-09-19 | Parkervision, Inc. | Wireless local area network (WLAN) using universal frequency translation technology including multi-phase embodiments and circuit implementations |
US8295406B1 (en) | 1999-08-04 | 2012-10-23 | Parkervision, Inc. | Universal platform module for a plurality of communication protocols |
US7010286B2 (en) | 2000-04-14 | 2006-03-07 | Parkervision, Inc. | Apparatus, system, and method for down-converting and up-converting electromagnetic signals |
US7454453B2 (en) | 2000-11-14 | 2008-11-18 | Parkervision, Inc. | Methods, systems, and computer program products for parallel correlation and applications thereof |
US6433720B1 (en) | 2001-03-06 | 2002-08-13 | Furaxa, Inc. | Methods, apparatuses, and systems for sampling or pulse generation |
US6642878B2 (en) * | 2001-06-06 | 2003-11-04 | Furaxa, Inc. | Methods and apparatuses for multiple sampling and multiple pulse generation |
US7072427B2 (en) | 2001-11-09 | 2006-07-04 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for reducing DC offsets in a communication system |
US7379883B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-05-27 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
US7460584B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-12-02 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
US8225389B2 (en) * | 2003-04-11 | 2012-07-17 | Broadcom Corporation | Method and system to provide physical port security in a digital communication system |
JP2007074132A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Advantest Corp | サンプリング装置および試験装置 |
CN113113748A (zh) * | 2021-04-09 | 2021-07-13 | 东南大学 | 一种微波取样器电路结构 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3241076A (en) * | 1963-03-18 | 1966-03-15 | Hewlett Packard Co | Signal sampling circuit including a signal conductor disposed in the electromagneticfield of a shorted transmission line |
US3459969A (en) * | 1966-07-01 | 1969-08-05 | Texas Instruments Inc | System for producing equal and opposite pulses on selected channels |
US3584920A (en) * | 1969-05-20 | 1971-06-15 | Us Army | Sampling device |
US3721829A (en) * | 1971-08-23 | 1973-03-20 | Bell Telephone Labor Inc | Autobalanced diode bridge sampling gate |
US4399413A (en) * | 1981-02-10 | 1983-08-16 | Rca Corporation | High speed sampling head |
FR2561449B1 (fr) * | 1984-03-19 | 1988-03-18 | Enertec | Filtre a resonance gyromagnetique et application aux filtres et melangeurs combines |
US4810904A (en) * | 1985-07-17 | 1989-03-07 | Hughes Aircraft Company | Sample-and-hold phase detector circuit |
US4647795A (en) * | 1986-03-28 | 1987-03-03 | Tektronix, Inc. | Travelling wave sampler |
-
1988
- 1988-03-21 NL NL8800696A patent/NL8800696A/nl not_active Application Discontinuation
-
1989
- 1989-03-15 EP EP89200649A patent/EP0336470A1/en not_active Ceased
- 1989-03-16 US US07/324,375 patent/US4965467A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-20 JP JP1066445A patent/JPH01297561A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL8800696A (nl) | 1989-10-16 |
EP0336470A1 (en) | 1989-10-11 |
US4965467A (en) | 1990-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01297561A (ja) | サンプリングシステム | |
US5208564A (en) | Electronic phase shifting circuit for use in a phased radar antenna array | |
US2465840A (en) | Electrical network for forming and shaping electrical waves | |
JP2908823B2 (ja) | サンプラ | |
JP2582258B2 (ja) | 2チャンネル・タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ | |
US4586008A (en) | Fast passive coaxial integrator | |
US3359513A (en) | Strip transmission line having phase trimmer means | |
US3760283A (en) | Sampling device | |
EP0078188B1 (fr) | Dispositif hyperfréquence à large bande générateur des harmoniques d'ordre pair d'un signal incident, et utilisation d'un tel dispositif dans un système hyperfréquence | |
US6037819A (en) | High frequency clock signal generator | |
US3241076A (en) | Signal sampling circuit including a signal conductor disposed in the electromagneticfield of a shorted transmission line | |
US3317830A (en) | Response normalizer delay line input for direct sampling probe | |
US4114051A (en) | Triggered burst generator | |
US4158784A (en) | Pulse train generator | |
US5798722A (en) | UHF digital to analog converter for cryogenic radar system | |
US9335364B2 (en) | SMU RF transistor stability arrangement | |
Tuema et al. | The design and performance of a low-impedance, self-matched transmission line pulse generator | |
Axelrod et al. | Some new high-speed tunnel-diode logic circuits | |
JPS64841B2 (ja) | ||
US3450902A (en) | Structure for reducing mismatch between symmetrical and asymmetrical transmission line and fast rise time generator utilizing same | |
US9819334B1 (en) | Circuit for generating fast rise time pulse using coaxial transmission lines | |
US2712114A (en) | aiken | |
JPH03181165A (ja) | インターデジタルキャパシタ | |
US3778732A (en) | Base band pulse energy storage system | |
JP2800318B2 (ja) | サンプリングヘッド |