JPH01296680A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は相補型MOS)ランジスタ回路を発光素子の
駆動用として使用する時に発生する輝度のばらつきを集
積回路内部で調整し安定した輝度の供給を実現するとと
もに、外部素子に対して可変で高精度の電流源を供給可
能とした半導体集積回路装置に関するものでちる。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] This invention provides stable brightness by adjusting within the integrated circuit the variations in brightness that occur when a complementary MOS (MOS) transistor circuit is used to drive a light emitting element. The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device which is capable of realizing a variable current source and supplying a variable and highly accurate current source to external elements.
第3図は従来のMOS)ランジスタ回路とカソードコモ
ンLEDと外部抵抗との回路構成図である。FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a conventional MOS transistor circuit, a cathode common LED, and an external resistor.
図において、(1)はPチャネル形出力トランジスタを
駆動させる為の入力信号を入力するゲート部で、内部ロ
ジック回路の出力前段トランジスタのドレイン部分と接
続されている。(2)はPチャネル形出力トランジスタ
で、そのドレイン部分はPN接合型ダイオードのN側と
外けけの抵抗に接続されている。(3)は出力トランジ
スタ(2)のドレイン部とGND部(7)との間に構成
されるPN接合型ダイオード、(4)は出力トランジス
タ(2)と発光ダイオード(5)のP側との間に接続さ
れる外付は抵抗、(5)はPチャネル形出力トランジス
タ(2)の動作により点灯する発光ダイオードである。In the figure, (1) is a gate portion into which an input signal for driving a P-channel type output transistor is input, and is connected to a drain portion of a pre-output transistor of an internal logic circuit. (2) is a P-channel type output transistor, the drain portion of which is connected to the N side of a PN junction diode and an external resistor. (3) is a PN junction diode configured between the drain part of the output transistor (2) and the GND part (7), and (4) is the connection between the output transistor (2) and the P side of the light emitting diode (5). The external device connected between them is a resistor, and (5) is a light emitting diode that is turned on by the operation of the P-channel type output transistor (2).
次に動作について説明する。内部ロジック回路からPチ
ャネルMOS出力トランジスタのゲート部(1)にSS
L//の電圧が加わった場合、Pチャネル出力トラン
ジスタ(2)はON状態になり、そのドレイン部は”H
IIの電位となる。このため電源(6)から外けけ抵抗
(4)と発光ダイオード(5)を介してG N D (
71の方向へ電流が流れる。このように電源(6)から
G N D (7)に流れる電流を利用して、Pチャネ
ルMOS出力トランジスタ(2)がON状態の間はIC
外部に外付けされた発光ダイオード(5)を点灯させる
ことができる。Next, the operation will be explained. SS is connected from the internal logic circuit to the gate part (1) of the P-channel MOS output transistor.
When a voltage of L// is applied, the P-channel output transistor (2) turns on and its drain becomes “H
The potential becomes II. Therefore, GND (
Current flows in the direction of 71. In this way, by using the current flowing from the power supply (6) to GND (7), while the P-channel MOS output transistor (2) is in the ON state, the IC
A light emitting diode (5) attached externally can be turned on.
逆に、内部ロジック回路からPチャネル出力トランジス
タ(2)のゲート部(1)にゝゝH“の電圧が加わった
場合、Pチャネル出力トランジスタ(2)はOFF状態
であシ、電流経路が構成されないため外けけされた発光
ダイオード(5)は消灯した状態にある。Conversely, when a voltage of "H" is applied from the internal logic circuit to the gate part (1) of the P-channel output transistor (2), the P-channel output transistor (2) is in the OFF state and the current path is configured. The light-emitting diode (5) that was removed is in an off state because it is not lit.
上記が発光ダイオード責5)を駆動させる基本動作であ
る。この時、Pチャネル出力トランジスタ(2)の出力
電流(IoM)と出力電圧(VoIりの特性は第4図の
(a)の曲線に示すような特性を利用している。The above is the basic operation for driving the light emitting diode 5). At this time, the characteristics of the output current (IoM) and output voltage (VoI) of the P-channel output transistor (2) are as shown in the curve of FIG. 4(a).
だが、実際LED駆動用として使用する場合にはウェハ
プロセス等による出力電圧特性のばらつきを考慮して、
Pチャネル出力トランジスタ端子の外部に外付は抵抗(
4)を付加する事によ#)3極管領域で使用でき、工O
の出力特性のばらつきによるLEDの輝度のばらつきを
小さく抑えている。However, when actually used for driving LEDs, it is necessary to take into account variations in output voltage characteristics due to wafer processing, etc.
An external resistor (
By adding 4), it can be used in the triode region, and the
Variations in LED brightness due to variations in output characteristics of the LEDs are suppressed to a small level.
従来の半導体集積回路装置はウェハプロセスにおける写
X製版技術やイオン注入量等のばらつきが原因でロット
毎に出力電Bl:特性が異なってしまい、ロット構成が
異なった半導体集積回路装置を発光素子の駆動用として
使用する場合には、どうしても発光素子の輝度がばらつ
くという課題があった。また、このような発光素子の輝
にのばらつきを抑えるためには出力電圧特性を3極管領
域でしか使用できなかった。また、3極管領域で使用す
る場合には外付は抵抗が必ず必要であり、ユーザー側で
も基板の実装面積が大きくなり、コスト高になるという
課題があった。Conventional semiconductor integrated circuit devices have different output voltage Bl characteristics from lot to lot due to variations in copying technology and ion implantation amount during the wafer process. When used for driving purposes, there is a problem in that the brightness of the light emitting elements inevitably varies. Furthermore, in order to suppress such variations in brightness of light emitting elements, the output voltage characteristics can only be used in the triode region. Furthermore, when used in the triode region, an external resistor is always required, which poses a problem for the user in that the mounting area of the board becomes large, leading to high costs.
この発明は上記のような問題点を解消する為釦なされた
もので、工0のばらつきが原因で生じる発光素子の輝就
のばらつきを半導体装置内部で調整できると共に、今ま
で必ず必要とされていた出力電圧特性制限用の外寸は抵
抗を省略できる半導体集積回路装置を得る事を目的とし
、また、出力トランジスタ素子にバックゲートバイアス
を印加する事により、今1で発光素子の、駆動には直接
利用されていなかった5極管領域の出力室EE特性に抑
える事により、効率的でしかも高精度の電流源としての
役目をはたす半導体集積回路装置を得ることを目的とす
る。This invention was developed to solve the above-mentioned problems, and it is possible to adjust the variations in brightness of light-emitting elements caused by variations in process time inside a semiconductor device, and it is also possible to adjust the variations in brightness of light-emitting elements caused by variations in process time. The purpose of the external dimensions for limiting the output voltage characteristics is to obtain a semiconductor integrated circuit device in which a resistor can be omitted, and by applying a back gate bias to the output transistor element, it is possible to easily drive the light emitting element. The object of the present invention is to obtain a semiconductor integrated circuit device that functions as an efficient and highly accurate current source by suppressing the output chamber EE characteristics of the pentode region, which has not been directly used.
この発明に係る半導体集積回路装置は相補型MOS集積
回路の出力トランジスタ素子内部に可変抵抗素子機能を
11加し、今まで3極管領域で使用する場合に省略不可
とされていた外けけ抵抗を省略可能とすると共に今まで
は集積回路内部では調整不可能とされていた発光素子の
輝度のばらつきを内部の出力トランジスタ素子部に付加
した可変抵抗素子をトリミングする事によシ調整可能と
し、外部素子に対する安定した電流源を供給可能とした
ものである。また、出力トランジスタ素子自身にバンク
ゲートバイアスを印加する事により、発光素子の駆動用
としては安定でなおかつ効率的な出力トランジスタ特性
が得られる。The semiconductor integrated circuit device according to the present invention adds a variable resistance element function to the inside of the output transistor element of the complementary MOS integrated circuit, and eliminates the external resistance that has been considered indispensable when used in the triode region. In addition to making it possible to omit it, variations in the brightness of the light emitting elements, which until now were thought to be impossible to adjust inside the integrated circuit, can now be adjusted by trimming the variable resistance element added to the internal output transistor element. This makes it possible to supply a stable current source to the element. Further, by applying a bank gate bias to the output transistor element itself, stable and efficient output transistor characteristics for driving a light emitting element can be obtained.
この発明における出力トランジスタ素子構成によれば、
メーカー側が可変抵抗素子をトリミングできるため、I
C毎の出力特性のばらつきを小さく抑えることができ、
外部に対して高精度の電流源素子を実現できる。またこ
れにより出力トランジスタの出力電圧特性を制限してい
た外付は抵抗を省略することができる。According to the output transistor element configuration in this invention,
Since the manufacturer can trim the variable resistance element, I
Variations in output characteristics for each C can be suppressed to a small level,
A highly accurate current source element can be realized externally. Additionally, this allows the elimination of external resistors that limit the output voltage characteristics of the output transistor.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図の出力部の回路構成図において、(1)はPチャネル
出力トランジスタを駆動させる為の入力信号を入力する
ゲート部で、内部ロジック回路の出力前段トランジスタ
のドレイン部分と接続されている。(2)はPチャネル
出力トランジスタで、そのドレイン部分は、PN接合型
ダイオードのN側と発光ダイオード素子(5)に接続さ
れている。(3)はPチャネル出力トランジスタ(2)
のドレイン部とG N D (71との間に構成されだ
PN接合型ダイオード、(5)はPチャネル出力トラン
ジスタ(2)のドレイン部に接読され、出力トランジス
タの応動によシ、点灯する発光ダイオードである。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
In the circuit configuration diagram of the output section shown in the figure, (1) is a gate section into which an input signal for driving the P-channel output transistor is input, and is connected to the drain section of the output pre-stage transistor of the internal logic circuit. (2) is a P-channel output transistor, the drain portion of which is connected to the N side of the PN junction diode and the light emitting diode element (5). (3) is a P-channel output transistor (2)
A PN junction diode (5) is constructed between the drain of the P-channel output transistor (2) and GND (71), and is turned on in response to the output transistor. It is a light emitting diode.
また(8a)〜(8C)Fiこの発明の特徴というべき
トリミング可能な内部抵抗素子で、自由に抵抗成分をト
リミングできるような構成になっている。この内部抵抗
素子から出した端子は必ずPチャネル出力トランジスタ
(2)のバルク部とつながった構造となっている。(9
)はPチャネル出力トランジスタ(2)がOFF した
場合に寄生ダイオードを介してt11源からGNDへの
電流経路を遮断する為に設けられ九NチャネルMOS)
ランジスタで、そのゲート部はインバータ1段を介して
Pチャネル出力トランジスタ(2)のゲート部(1)と
接続されている。αlはこの回路構成を実施する際にP
チャネル出力トランジスタ(2)のソース部とバルク間
に生じる寄生ダイオードである。Further, (8a) to (8C)Fi are internal resistance elements that can be trimmed, which is a feature of the present invention, and are structured so that the resistance component can be trimmed freely. The terminal from this internal resistance element is always connected to the bulk part of the P-channel output transistor (2). (9
) is provided to cut off the current path from the t11 source to GND via the parasitic diode when the P-channel output transistor (2) is turned off (N-channel MOS)
A transistor whose gate portion is connected to the gate portion (1) of a P-channel output transistor (2) via one stage of inverter. αl is P when implementing this circuit configuration
This is a parasitic diode that occurs between the source part and the bulk of the channel output transistor (2).
第2図はこの発明の一実施例の具体的回路構成を示す構
造断面図である。第2図において基板はN−基板を使用
している。図中、(8a )〜(8C)はこの発明の特
徴とも言うべきトリミング可能な内部抵抗素子部で、P
−well中にN+拡散を注入することで端子機能をつ
くシ、内部抵抗素子自体はp”■all内のアイランド
抵抗で構成している。(9)は第1図のような回路構成
をとることによシ、Pチャネル出力トランジスタ(2)
がOFFした場合にソースとバルク間に生じる寄生ダイ
オードを介して電源(6)からラダー抵抗(8a〜8c
)を通シ、GND(71への貫通電流の経路を遮断する
ためのNチャネルMOSトランジスタで、ソース部はG
N D (7)にドレイン部は(8C)の抵抗の端子
部とつながっている◇α〔はPチャネル出力トランジス
タ(2)のソース部とバルク間に生じる寄生ダイオード
である。(ロ)はフィールド酸化膜である0
以下、この発明の動作、作用について説明する0第1図
に示すような回路構成を用いてPチャネル出力トランジ
スタのバルク部にノくツクゲートノ(イアスミ圧を印加
し第5図に示すように、)くツクゲートバイアス電圧を
上げるとPチャネル出力トランジスタのV?ilOを上
げることができる。また、■?floを可変することに
より第4図の曲線(1))に示すように出力電流をコン
トロールすることができる0このような特性を利用し5
極管領域でのドレイン電流を考察してみると、ドレイン
電流ID8の式は以下のように表わされる0
この時υPβはロット毎のウエノ1プロセス時の写真製
版技術やイオン注入量のばらつきにより多少ばらつき出
力特性を変動させる直接原因となる。また、VosはP
チャネル及びNチャネル出力トランジスタのどちらがC
AM状態になっているかで決まる一定値(V ccかG
ND)である。これにより、ドレイン電流Inを一定値
に調整し安定した出力特性を得る為にはインラインのυ
Pβが大きいロットの場合は(Vas −V?IIO)
”の値を小さく設定するようにトリミングによ)ラダ
ー抵抗の任意の1つの端子をPチャネル出力トランジス
タのバルク部に接続し逆にインラインのυPβが小さい
場合は(Vos−Vtwo )2の値を大きく設定する
ようにラダー抵抗をトリミングし、バックゲートバイア
ス電圧を変動させることで実現が可能となる。このよう
に、ラダー抵抗をトリミングし、出力電圧特性のばらつ
きを抑え、外部素子に対し安定した電流源を実現するこ
とによシ外寸は抵抗が省略できる。FIG. 2 is a structural sectional view showing a specific circuit configuration of an embodiment of the present invention. In FIG. 2, an N-substrate is used as the substrate. In the figure, (8a) to (8C) are trimmable internal resistance element parts, which can be said to be a feature of this invention.
-The terminal function is created by injecting N+ diffusion into the well, and the internal resistance element itself is composed of an island resistor in the p"■all. (9) takes the circuit configuration as shown in Figure 1. Especially P-channel output transistor (2)
When the ladder resistor (8a to 8c
) is an N-channel MOS transistor for cutting off the path of through current to GND (71), and the source part is connected to GND (71).
The drain part of N D (7) is connected to the terminal part of the resistor (8C). ◇α[ is a parasitic diode generated between the source part and the bulk of the P-channel output transistor (2). (B) is a field oxide film. The operation and effect of the present invention will be explained below. Using a circuit configuration as shown in FIG. As shown in Figure 5, when the gate bias voltage is increased, the V? of the P-channel output transistor increases. It is possible to increase ilO. Also ■? By varying flo, the output current can be controlled as shown in curve (1) in Figure 4.Using these characteristics,
Considering the drain current in the tube region, the equation for the drain current ID8 is expressed as follows: 0 At this time, υPβ varies somewhat due to variations in photolithography technology and ion implantation amount during the Ueno 1 process for each lot. Variations are a direct cause of fluctuations in output characteristics. Also, Vos is P
Which of the channel and N-channel output transistors is C?
A fixed value determined depending on whether it is in the AM state (V cc or G
ND). As a result, in order to adjust the drain current In to a constant value and obtain stable output characteristics, the in-line υ
For lots with large Pβ, (Vas −V?IIO)
By trimming to set the value of `` to a small value), connect any one terminal of the ladder resistor to the bulk part of the P-channel output transistor, and conversely, if the inline υPβ is small, set the value of (Vos - Vtwo )2. This can be achieved by trimming the ladder resistance so that it is set to a large value and varying the back gate bias voltage.In this way, by trimming the ladder resistance, the variation in the output voltage characteristics can be suppressed, and the voltage can be stabilized against external elements. By realizing a current source, a resistor can be omitted from the outside dimensions.
また、第1因、第2図に示すようにこの発明を実施した
場合には、デバイス構造上Pチャネル出力トランジスタ
のソース部とバルク部に寄生ダイオードができ、Pチャ
ネル出力トランジスタがOFF状態でもこの寄生ダイオ
ードによシラダー抵抗を介して電源からGNDへ電流の
抜ける経路が生じる。これをラダー抵抗の端とGNDと
の間に構成したNチャネルトランジスタによυ遮断し、
Pチヤネル出力トランジスタがOFF時のIC内部での
消費電力を抑えている。In addition, when the present invention is implemented as shown in the first cause, FIG. 2, a parasitic diode is created in the source and bulk parts of the P-channel output transistor due to the device structure, and this occurs even when the P-channel output transistor is in the OFF state. The parasitic diode creates a path for current to flow from the power supply to GND via the Shiradder resistor. This is blocked by an N-channel transistor configured between the end of the ladder resistor and GND,
The P-channel output transistor suppresses power consumption inside the IC when it is off.
なお、上記実施例ではPチャネル出力トランジスタによ
るカソードコモンLED駆動についてのみ説明したが、
これはNチャネル出力トランジスタによるアノードコモ
ンLEE駆動の場合でもよく、出力部の構造をNチャネ
ル出力トランジスタ用に変更すれば基本概念はPチャネ
ル出力トランジスタの場合と同様でよい。また、LED
の駆動のみならず安定した出力特性を得たい半導体集積
回路装置には総べて適用できる。Note that in the above embodiment, only the cathode common LED drive using the P-channel output transistor was explained.
This may be an anode common LEE drive using an N-channel output transistor, and the basic concept may be the same as that for a P-channel output transistor if the structure of the output section is changed to an N-channel output transistor. Also, LED
The present invention can be applied not only to driving but also to any semiconductor integrated circuit device in which stable output characteristics are desired.
また、上記実施例の場合にはバックゲートバイアスを印
加するためのアイランドで構成した抵抗素子をトリミン
グすることによシ出力特性が抑えられ外付は抵抗は省略
可能となったが、この他の抵抗素子でも実施可能である
0
また、Pチャネル出力トランジスタのバルク部とラダー
抵抗の一端間に抵抗素子を付加することにより、出力O
N時のIC内部の消費電力を抑えることも可能でちる。In addition, in the case of the above embodiment, the output characteristics were suppressed by trimming the resistor element composed of islands for applying back gate bias, and the external resistor could be omitted. It can also be implemented with a resistor element.0 Also, by adding a resistor element between the bulk part of the P-channel output transistor and one end of the ladder resistor, the output O
It is also possible to suppress the power consumption inside the IC during N-time.
以上のようにこの発明によれば、Pチャネル出力トラン
ジスタのバルク部にトリミング可能な抵抗素子成分を構
成し°Cやることで、出力トランジスタ1つに対し1つ
つけている外けけ抵抗を省略できるため、基板実装面積
やコストを大幅に低減できる効果がある。As described above, according to the present invention, by configuring a trimmable resistance element component in the bulk part of the P-channel output transistor and heating it at °C, it is possible to omit one external resistor for each output transistor. This has the effect of significantly reducing board mounting area and cost.
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路装置
を示す回路構成図、第2図はこの発明の一実施例による
半導体集積回路装置を示す断面構造図、第3図は従来の
LED駆動用半導体集積回路装置の回路構成図である。
また、第4図は本発明による出力特性0)と従来の出力
特性(a)の違いを表わしたグラフ、第5図は出力トラ
ンジスタのバルク部に印加するバックゲートバイアスを
変化させた時のV?!10の変化を示したグラフである
。
図において、(1)はPチャネル出力トランジスタのゲ
ート部、(2)はPチャネルMOS)ランジスタ構造の
出力トランジスタ、(3)はPN接合型ダイオード、(
5)は発光ダイオード、(8a)〜(8C)はアイラン
ドで構成したトリミング可能な抵抗素子、(9)はNチ
ャネルMOS)ランジスタである。
なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional structural diagram showing a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the invention, and FIG. 3 is a conventional LED drive FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a semiconductor integrated circuit device for use in the semiconductor integrated circuit device. In addition, Fig. 4 is a graph showing the difference between the output characteristic 0) according to the present invention and the conventional output characteristic (a), and Fig. 5 shows the VV when changing the back gate bias applied to the bulk part of the output transistor. ? ! It is a graph showing changes in 10. In the figure, (1) is the gate part of a P-channel output transistor, (2) is a P-channel MOS) transistor structure output transistor, (3) is a PN junction diode, (
5) is a light emitting diode, (8a) to (8C) are trimmable resistive elements configured as islands, and (9) is an N-channel MOS transistor. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
とNチャネルMOSトランジスタとを形成し、これらト
ランジスタを直列に接続して相補型MOS集積回路を構
成する半導体集積回路装置において、この半導体集積回
路装置を発光ダイオード駆動用として使用する場合、カ
ソードコモンタイプにおいては出力Pチャネルトランジ
スタのバルク部、またアノードコモンタイプにおいては
出力Nチャネルトランジスタのバルク部を回路内の最高
電位と回路内の最低電位間に直列接続されたラダー抵抗
の一端に接続し、また上記ラダー抵抗の一端を回路内の
最高電位に、他の一端をNチャネルMOSトランジスタ
のドレインに、NチャネルMOSトランジスタのソース
を回路内の最低電位に接続し、NチャネルMOSトラン
ジスタのゲート部には出力Pチャネルトランジスタのゲ
ート部の逆方向の電位が加わることを特徴とする半導体
集積回路装置。In a semiconductor integrated circuit device in which a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor are formed in a single semiconductor substrate and these transistors are connected in series to form a complementary MOS integrated circuit, this semiconductor integrated circuit device emits light. When used as a diode driver, connect the bulk part of the output P-channel transistor in the common cathode type, or the bulk part of the output N-channel transistor in the common anode type, in series between the highest potential in the circuit and the lowest potential in the circuit. Connect one end of the ladder resistor to the highest potential in the circuit, the other end to the drain of the N-channel MOS transistor, and connect the source of the N-channel MOS transistor to the lowest potential in the circuit. A semiconductor integrated circuit device characterized in that a potential in a direction opposite to that of the gate portion of the output P-channel transistor is applied to the gate portion of the N-channel MOS transistor.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP12746488A JPH0728054B2 (en) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | Semiconductor integrated circuit device |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH01296680A true JPH01296680A (en) | 1989-11-30 |
JPH0728054B2 JPH0728054B2 (en) | 1995-03-29 |
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ID=14960576
Family Applications (1)
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JP12746488A Expired - Lifetime JPH0728054B2 (en) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | Semiconductor integrated circuit device |
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JP (1) | JPH0728054B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003133592A (en) * | 2001-10-24 | 2003-05-09 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | Led drive circuit and light emitting device |
JP2006071208A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Noritz Corp | Switch control system |
-
1988
- 1988-05-24 JP JP12746488A patent/JPH0728054B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003133592A (en) * | 2001-10-24 | 2003-05-09 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | Led drive circuit and light emitting device |
JP2006071208A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Noritz Corp | Switch control system |
JP4747239B2 (en) * | 2004-09-03 | 2011-08-17 | 株式会社ノーリツ | Switch control system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0728054B2 (en) | 1995-03-29 |
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