JPH01296545A - イオンビーム中性化装置 - Google Patents

イオンビーム中性化装置

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JPH01296545A
JPH01296545A JP12494088A JP12494088A JPH01296545A JP H01296545 A JPH01296545 A JP H01296545A JP 12494088 A JP12494088 A JP 12494088A JP 12494088 A JP12494088 A JP 12494088A JP H01296545 A JPH01296545 A JP H01296545A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion beam
shield electrode
interrupting
ion
electrons
Prior art date
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Pending
Application number
JP12494088A
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English (en)
Inventor
Yasushi Matsumura
寧 松村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH01296545A publication Critical patent/JPH01296545A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は原子もしくは分子イオンビームの電荷を中性
化するイオンビーム中性化装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は例えば特願昭62−55303号明細書図面に
示された先行技術になるイオンビームを中和する装置(
以後、中和器と呼ぶ)の構成断面図であり、図において
、(1)は熱電子放出源としてのフィラメントであり、
第1電源(2)で加熱され、第2を源(3)により所定
の電位が与えられる。
(4)はフィラメント(1)から放電された熱電子が外
周部に拡散するのを、防止する遮蔽手段としての電子シ
ールド電極であり、イオンビーム(1o)の上流側(1
0a)に配設された第1の開口部(4A)、下流側に配
設された第2の開口部(4B)を有している。このシー
ルド電極(4)には第3電源(5)Kより負電位が与え
られる。(6)はイオンビーム軸道内で電子が試料(7
)とは逆方向に拡散するのを防止するシールド電極であ
り、第4電源(8)により負電位が与えられる。(9)
は試料台、(1o)はイオンピームチする。(11)は
試料表面におけるイオンの電荷を中和する中和器である
。(12)はイオンビーム用アパーチャである。
次に動作について説明する。中和器(11)に入射した
イオンビーム(10)は極く近接して設けられたフィラ
メント(1)から放出された電子を、両者の電位差が零
になるまでイオンビーム(10’)内に引き込み、中和
器(11)近傍のイオンビーム(10)は中性化される
。この場合の中性化とは、イオンビーム(10)内の個
々のイオンが電子と結合し完全な中性粒子になっている
ことではない。イオンビーム(10)内でのイオン密度
と電子密度が等しい状態にあり、イオンビームとして動
作し、電子は電子として動作しながら、電子はイオンビ
ーム自身が形成する正電場中で捕獲さ牙1だ状態(以後
、プラズマ状態と呼ぶ)を言う。
内部がプラズマ状態にある中和器(11)に第2電源(
3)で負電位を与えると、試料(7)との間に)[位勾
配が生じ、プラズマ内の電子は試料(7)方向に移動す
る。今、イオンビーム(10)内のイオン密度と電子密
度が等しいので、試料(7)への電子の移動速度とイオ
ンビームの入射速度を同じになるように第2暇源(3)
で電子の移動速度をコントロールすれば、試料(7) 
K到達するイオンとは子の数が等しくなり、試料(7)
表面で中和される。この現象を数式で簡単に表わすと、
中和に必要な電子の移動エネルギーEe、電子の質量m
、電子の移動速度Ve、イオンの入射エネルギーE1、
イオンの質jtM。
イオンの入射速度v1とすルト、Ee = 女mv;、
Ei−壺MVi  であり、Ve −Vi f7)条件
からEe−冑E lが成立つ。即ち入射イオン糧が変っ
ても上式の関係が成立つため、中和が可能である。
又、イオン照射に伴なう試料(7)からの2次電子放出
で生ずる試料(7)の正帯電も、電子の移動エネルギー
を高くし、放出される2次電子量と同量の電子を中和器
(11)から供給することにより解消され、試料(7)
表面の中和が保たれる。
更に、試料(7)に正帯電による電位変動が生じた場合
、電位変動に応じて電子の移動エネルギーも変化し、常
に自動的KW子量が調整される。
なお、電子シールド電極(4)は、フィラメント(1)
に対し負電位を印加しているので、電子が外周囲へ拡散
することを防止し、効率良くイオンビーム(10)へ電
子を供給するととも1(、試料(7)へ直接電子が入射
することを防止する。そしてシールド電極(6)はイオ
ンビーム(10)内の電子がイオン源(10a)方向に
移動するのを防止するとともに、イオンビーム(10)
内の電子を効率良く試料(7)方向へ供給する役目を持
つ。
(12)はイオンビームが中和器に直接当らないように
さえぎるアパーチャである。
〔発明が解決しようとする課題〕
先行発明のイオンビーム中性化装置は以上のように構成
されているのでイオンビームの中性化しか行えずイオン
ビームの電流量は中和器の前段に配置したファラデーカ
ップか、あるいはターゲット上に配置したファラデーカ
ップ(何れも図示省略)を用いて計測しなければならず
、装置の構成が大きく複雑になるという問題点があった
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、イオンビームの中性化をできるとともに、イ
オンビーム覗流量の計測も行える構成が簡単で小形のイ
オンビーム中性化装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るイオンビーム中性化装置は、遮蔽手段に
おけるイオンビームの出口部である第2の開口部弁H庁
もしくはその近傍に設けられたイオンビームを流断し得
る遮蔽部材を備えたものである。
〔作 用〕
この発明における遮蔽部材は、第2の開口部を閉じるこ
とによりイオンビームをイオンビーム中性化装置の内に
とじ込め、ファラデーカップとして作用する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、(13)は電子シールド電極(4)と試料
(7)の闇にイオンビーム(10)をさえぎるように出
し入れ可能に電子シールド電極(4)に電気的に同電位
に取り付けられた1枚の板状体からなる遮蔽部材、(1
4)は第2電極(3)のアース側に接続された電流計で
ある。
なお、上記遮蔽部材(13)の移動機構は、特別なもの
ではなく、公知の従来技術は何れも用いることができる
ものであるので、その詳細は図示を省略している。
−“    第1図にお いて遮蔽部材(13)が、イオンビーム(10)ヲ遮断
する位置にあるとき、第1電源(2)、第2覗源(3)
、第3電源(5)は、切られ、第4電源(8)はイオン
ビーム(10)のエネルギーに対応するように負の電位
を、シールド電極(6)に印加する。
イオンビーム(1o)は遮蔽部材(13)に衝突し、2
次電子を発生するがシールド電極(6)の電位により中
和器(11)の外部へは拡散しない。
遮蔽部材(12)は電気的に電子シールド電極(4)と
接続されているため、この遮蔽部材(13)から発生し
た2次電子は再びフィラメント(1)及び電子シールド
電極(4)を通って遮蔽部材(13)にもどる。
遮蔽部材(13)に衝突したイオンビーム(1o)は、
電子シールド電極(4)を介してアースに流れるため、
電流計(14)によって、イオンビーム(1o)の電流
値が計測できる。
なお上記実施例では、遮蔽部材(13)を−枚の板状体
によって構成すると共に出し入れできる構造のものを示
したが、これに限定されるものではない。例えば複数枚
の板状体によってカメラのシャッター状に形成したしば
り構造としてもよい。
また、遮蔽部材(13)の設置位置も実施例のものに限
定されるものではなく、第2の開口部(4A)に接して
設け、もしくはその近傍に設けることができる。さらに
、熱電子放出源(1)としてフィラメントを用いたが、
これに限定されるものではない。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば遮蔽手段の第2の開口
部もしくはその近傍に設けられたイオンビームを遮断し
得る遮蔽部材を備えるように構成したので、中和器自体
をファラデーカップとして用いることができ、簡単な構
成で、小形のイオンビーム中性化装置が得られる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるイオンビーム中性化
装置の要部を示す構成図、第2図は先行発明のイオンビ
ーム中性化装置の要部を示す構成図である。 図中、(1)は熱電子放出源(フィラメント)、(4)
は遮蔽手段(電子シールド電極)、(4A)は第2の開
口部、(13)は遮蔽部材である。 なお図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 心1図 L賽外電達放出グ猷(フィラメント) 4:置市(午投(電子シールド電極り 4A:第2の開ば部 13:」緊請筺濱p卑↑

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. イオンビームの流れに対向するように配設された熱電子
    放出源と、この熱電子放出源のまわりを包囲すると共に
    、上記イオンビームの通過を許す上記イオンビームの上
    流側に配設された第1の開口部及び下流側に配設された
    第2の開口部を有する遮蔽手段とを備えたイオンビーム
    中性化装置において、上記遮蔽手段の第2の開口部もし
    くはその近傍に設けられ、上記イオンビームを遮断し得
    る遮蔽部材を備えたことを特徴とするイオンビーム中性
    化装置。
JP12494088A 1988-05-24 1988-05-24 イオンビーム中性化装置 Pending JPH01296545A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05205691A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Nec Yamagata Ltd イオン注入装置
KR20010071719A (ko) * 1999-05-03 2001-07-31 추후제출 기판 상의 전하 축적을 감소시키기 위한 장치 및 방법

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JPH05205691A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Nec Yamagata Ltd イオン注入装置
KR20010071719A (ko) * 1999-05-03 2001-07-31 추후제출 기판 상의 전하 축적을 감소시키기 위한 장치 및 방법

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