JPH0129570Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0129570Y2 JPH0129570Y2 JP1982133867U JP13386782U JPH0129570Y2 JP H0129570 Y2 JPH0129570 Y2 JP H0129570Y2 JP 1982133867 U JP1982133867 U JP 1982133867U JP 13386782 U JP13386782 U JP 13386782U JP H0129570 Y2 JPH0129570 Y2 JP H0129570Y2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 8
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- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は金属や非金属等固体の非破壊検査の
一手段である超音波探傷に供される装置の改良に
関するものである。
一手段である超音波探傷に供される装置の改良に
関するものである。
超音波を利用した非破壊検査装置として、従来
より最も多く採用されてきたと考えられる超音波
探傷装置の探傷図形表示手段としてはブラウン管
（以下CRT）にＡスコープビデオ表示を行つてい
たと云つても過言ではあるまい。CRTではヒー
タを含む電子銃の部分から発射された電子ビーム
を電子レンズ部分で集束させ縦方向と横方向の偏
向部分を通過させた後、加速電極に印加されたプ
ラスの高電圧で加速させてCRT前面の螢光面に
衝突させることによつて、上記螢光面を発光さ
せ、上記偏向部の偏向板に印加された電気信号の
時間に対する変化をCRT前面より観測すること
が出来る。超音波探傷装置はCRTの上記性質を
利用して超音波を被検材の中へ入射させて、上記
被検材中からの反射波や透過波をとらえ、電気信
号に変換させて上記CRTの偏向板に印加させる
ことにより、上記反射波や透過波強さの時間に対
する変化を観測し、上記被検材中の内部状態たと
えば欠陥の有無を予測することが可能である。第
１図はCRT画面に表示されたＡスコープビデオ
表示の例である。図においてＴは送信パルスを示
し、Ｆは被検材内部の欠陥等からの反射波、Ｂは
被検材の超音波入射面と対向する面からの反射波
を示している。さて、以上説明したようにCRT
は電子ビームを偏向させたり加速させたりする為
に一定以上の電子ビーム通過経路長さが必要であ
り、したがつてCRT全体の長さを短くすること
には限界があり、一例として３・５吋角形観測用
CRTは全長約270mmである。CRT画面を大きく
すると当然のことながら、CRTの全長は更に大
きくする必要がある。
より最も多く採用されてきたと考えられる超音波
探傷装置の探傷図形表示手段としてはブラウン管
（以下CRT）にＡスコープビデオ表示を行つてい
たと云つても過言ではあるまい。CRTではヒー
タを含む電子銃の部分から発射された電子ビーム
を電子レンズ部分で集束させ縦方向と横方向の偏
向部分を通過させた後、加速電極に印加されたプ
ラスの高電圧で加速させてCRT前面の螢光面に
衝突させることによつて、上記螢光面を発光さ
せ、上記偏向部の偏向板に印加された電気信号の
時間に対する変化をCRT前面より観測すること
が出来る。超音波探傷装置はCRTの上記性質を
利用して超音波を被検材の中へ入射させて、上記
被検材中からの反射波や透過波をとらえ、電気信
号に変換させて上記CRTの偏向板に印加させる
ことにより、上記反射波や透過波強さの時間に対
する変化を観測し、上記被検材中の内部状態たと
えば欠陥の有無を予測することが可能である。第
１図はCRT画面に表示されたＡスコープビデオ
表示の例である。図においてＴは送信パルスを示
し、Ｆは被検材内部の欠陥等からの反射波、Ｂは
被検材の超音波入射面と対向する面からの反射波
を示している。さて、以上説明したようにCRT
は電子ビームを偏向させたり加速させたりする為
に一定以上の電子ビーム通過経路長さが必要であ
り、したがつてCRT全体の長さを短くすること
には限界があり、一例として３・５吋角形観測用
CRTは全長約270mmである。CRT画面を大きく
すると当然のことながら、CRTの全長は更に大
きくする必要がある。
CRTを使用した超音波探傷装置は装置全体の
奥行寸法が、CRTの長さで支配される実態であ
る為、上記装置の小形化には、自ずと限界があつ
た。なお、超音波探傷装置を用いる現場は一般に
狭い場所や足場の悪い場所であり、取扱い者の安
全を考えると、使用する装置には可能な限り小形
軽量であることが要求されている。
奥行寸法が、CRTの長さで支配される実態であ
る為、上記装置の小形化には、自ずと限界があつ
た。なお、超音波探傷装置を用いる現場は一般に
狭い場所や足場の悪い場所であり、取扱い者の安
全を考えると、使用する装置には可能な限り小形
軽量であることが要求されている。
この考案は上記の欠点即ちCRTを使用する為
に決定される超音波探傷装置の小形化の限界を打
破する為に成されたもので、その手段はドツトマ
トリクスで構成されたフラツト形表示パネルを用
いたところにある。第２図はこの考案による装置
の一実施例を示す図、第３図は第２図の各部波形
は示す図であり、１は同期部、２は送信部、３は
探触子、４は受信部、５はサンプルホールド回
路、６はサンプルパルス発生器、７はAD変換
器、８はメモリ、９はカウンタ、１０は表示コン
トローラ、１１はＸドライバ、１２はＹドライ
バ、１３はドツトマトリクス表示器である。同期
部１の出力CLSの繰返し周波数に同期して送信部
２を駆動し、電気パルスeTを発生させて探触子３
へ印加させる。探触子３では上記電気パルスeTを
圧電逆効果によつて超音波に変換させ被検材Ｓへ
入射させ、上記被検材Ｓ内の欠陥Ｆや底面Ｂから
の反射波を再度探触子３で受信し、圧電効果によ
つて電気パルスに変換させて受信部４へ送る。受
信部４では上記電気パルスを電圧増幅して信号eR
としサンプルホールド回路５へ送る。尚第３図の
信号eRはAC波形を検波した後の波形で示してあ
る。一方サンプルパルス発生器６は同期部１の出
力CLSの繰返し周期に同期してサンプリングパル
スeSを発生させ、上記サンプルホールド回路５へ
サンプリングタイミング信号として接続させる。
サンプリングパルスeSは第３図に示すように、繰
返し周期が図で右へ移動すると共に同期信号CLS
の立上がり時刻からの遅延時間tdがtd1，td2，…
tdo（td1＜td2…＜tdo）、（のように順次遅れて発生
するようにしてある。サンプルホールド回路５で
は上記信号eRとeSを入力として動作し、サンプリ
ングパルスeSの幅だけ信号eRの電圧をホールド
し、AD変換器７へ接続されて、上記AD変換器
７にてデイジタル化され信号DYとなる。上記信
号DYは、カウンタ９の出力即ち遅延時間tdoのｎ
値つまり信号eRに示したＸ方向の位置信号DXと
共に、メモリ８にて記憶される。以上のようにし
て記憶されたデータDY，DXは表示コントロー
ラ１０で適宜読出してＸドライバ１１とＹドライ
バ１２へ導入し、ドツトマトリクスで構成された
表示器１３へ表示される。第４図は第２図で説明
したこの考案による構成例の表示器１３への表示
図形の一例である。図中Ｔ，Ｆ，Ｂは第１図で説
明した波形例に対応させて表示してある。
に決定される超音波探傷装置の小形化の限界を打
破する為に成されたもので、その手段はドツトマ
トリクスで構成されたフラツト形表示パネルを用
いたところにある。第２図はこの考案による装置
の一実施例を示す図、第３図は第２図の各部波形
は示す図であり、１は同期部、２は送信部、３は
探触子、４は受信部、５はサンプルホールド回
路、６はサンプルパルス発生器、７はAD変換
器、８はメモリ、９はカウンタ、１０は表示コン
トローラ、１１はＸドライバ、１２はＹドライ
バ、１３はドツトマトリクス表示器である。同期
部１の出力CLSの繰返し周波数に同期して送信部
２を駆動し、電気パルスeTを発生させて探触子３
へ印加させる。探触子３では上記電気パルスeTを
圧電逆効果によつて超音波に変換させ被検材Ｓへ
入射させ、上記被検材Ｓ内の欠陥Ｆや底面Ｂから
の反射波を再度探触子３で受信し、圧電効果によ
つて電気パルスに変換させて受信部４へ送る。受
信部４では上記電気パルスを電圧増幅して信号eR
としサンプルホールド回路５へ送る。尚第３図の
信号eRはAC波形を検波した後の波形で示してあ
る。一方サンプルパルス発生器６は同期部１の出
力CLSの繰返し周期に同期してサンプリングパル
スeSを発生させ、上記サンプルホールド回路５へ
サンプリングタイミング信号として接続させる。
サンプリングパルスeSは第３図に示すように、繰
返し周期が図で右へ移動すると共に同期信号CLS
の立上がり時刻からの遅延時間tdがtd1，td2，…
tdo（td1＜td2…＜tdo）、（のように順次遅れて発生
するようにしてある。サンプルホールド回路５で
は上記信号eRとeSを入力として動作し、サンプリ
ングパルスeSの幅だけ信号eRの電圧をホールド
し、AD変換器７へ接続されて、上記AD変換器
７にてデイジタル化され信号DYとなる。上記信
号DYは、カウンタ９の出力即ち遅延時間tdoのｎ
値つまり信号eRに示したＸ方向の位置信号DXと
共に、メモリ８にて記憶される。以上のようにし
て記憶されたデータDY，DXは表示コントロー
ラ１０で適宜読出してＸドライバ１１とＹドライ
バ１２へ導入し、ドツトマトリクスで構成された
表示器１３へ表示される。第４図は第２図で説明
したこの考案による構成例の表示器１３への表示
図形の一例である。図中Ｔ，Ｆ，Ｂは第１図で説
明した波形例に対応させて表示してある。
以上説明したようにこの考案によれば、Ａスコ
ープビデオ表示を利用した超音波探傷装置で、そ
の奥行の最大寸法を事実上決定するCRTを用い
ずドツトマトリクスで構成されたフラツト形表示
器を採用したので同じ表示画面寸法であれば確実
にCRTを採用した場合より装置全体の奥行寸法
を小形に出来る特徴がある。
ープビデオ表示を利用した超音波探傷装置で、そ
の奥行の最大寸法を事実上決定するCRTを用い
ずドツトマトリクスで構成されたフラツト形表示
器を採用したので同じ表示画面寸法であれば確実
にCRTを採用した場合より装置全体の奥行寸法
を小形に出来る特徴がある。
またこの考案は送信部の周期が時間とともに移
動するごとに同期部の出力の立上がり時刻からの
遅延時間tdがtd1，td2…tdo（td1＜td2…tdo）のよ
うに順次遅れたサンプリングパルスを用いてAD
変換するようになつているので安価なAD変換器
で良く、従つて装置が安価に構成できるという効
果を有する。
動するごとに同期部の出力の立上がり時刻からの
遅延時間tdがtd1，td2…tdo（td1＜td2…tdo）のよ
うに順次遅れたサンプリングパルスを用いてAD
変換するようになつているので安価なAD変換器
で良く、従つて装置が安価に構成できるという効
果を有する。
第１図はCRT画面に表示されたＡスコープビ
デオ表示の図、第２図はこの考案による超音波探
傷装置の一実施例を示す図、第３図は第２図の各
部波形を示す図、第４図はこの考案の超音波探傷
装置における表示器への表示図形である。図中１
は同期部、２は送信部、３は探触子、４は受信
部、５はサンプルホールド回路、６はサンプリン
グパルス発生器、７はAD変換器、８はメモリ、
９はカウンタ、１０は表示コントローラ、１１は
Ｘドライバ、１２はＹドライバ、１３はドツトマ
トリクス表示器である。 なお、図中同一あるいは相当部分には同一符号
を付して示してある。
デオ表示の図、第２図はこの考案による超音波探
傷装置の一実施例を示す図、第３図は第２図の各
部波形を示す図、第４図はこの考案の超音波探傷
装置における表示器への表示図形である。図中１
は同期部、２は送信部、３は探触子、４は受信
部、５はサンプルホールド回路、６はサンプリン
グパルス発生器、７はAD変換器、８はメモリ、
９はカウンタ、１０は表示コントローラ、１１は
Ｘドライバ、１２はＹドライバ、１３はドツトマ
トリクス表示器である。 なお、図中同一あるいは相当部分には同一符号
を付して示してある。
Claims (1)
- 同期部と、この同期部の出力で駆動される送信
部と、送信部の出力である電気パルスを超音波に
変換すると共に被検材中の反射超音波信号を再度
電気パルスに変換する探触子と、上記探触子から
の出力を増幅する受信部と、上記送信部の出力の
繰返し周期が時間とともに移動するごとに上記周
期部の出力の立上がり時刻からの遅延時間tdが
td1，td2…tdo（td1＜td2…＜tdo）のように順次遅
れたサンプリングパルスを発生するサンプリング
パルス発生器と、上記受信部の出力と上記サンプ
リングパルス発生器の出力とを入力として作動す
るサンプルホールド回路と、上記サンプルホール
ド回路の出力をアナログ−デジタル変換するAD
変換器と、上記AD変換器の出力を記憶するメモ
リと、上記メモリの記憶内容を表示するドツトマ
トリクスで構成されたフラツト形表示器と、上記
表示器を制御する表示コントロール部とから成
り、Ａスコープビデオ表時図形をドツトマトリク
ス上に表示することを特徴とした超音波探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13386782U JPS5937561U (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13386782U JPS5937561U (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937561U JPS5937561U (ja) | 1984-03-09 |
| JPH0129570Y2 true JPH0129570Y2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=30301820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13386782U Granted JPS5937561U (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937561U (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5228368A (en) * | 1975-08-28 | 1977-03-03 | Ichiro Tsunoda | Oscilloscope apparatus using electro-optic display panel |
| JPS5428697A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-03 | Laurel Bank Machine Co | Device of changing over feed and dispensing in paper pieces feed and dispensing machine |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP13386782U patent/JPS5937561U/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5228368A (en) * | 1975-08-28 | 1977-03-03 | Ichiro Tsunoda | Oscilloscope apparatus using electro-optic display panel |
| JPS5428697A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-03 | Laurel Bank Machine Co | Device of changing over feed and dispensing in paper pieces feed and dispensing machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5937561U (ja) | 1984-03-09 |
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