JPH01287761A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

Info

Publication number
JPH01287761A
JPH01287761A JP63115986A JP11598688A JPH01287761A JP H01287761 A JPH01287761 A JP H01287761A JP 63115986 A JP63115986 A JP 63115986A JP 11598688 A JP11598688 A JP 11598688A JP H01287761 A JPH01287761 A JP H01287761A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
data storage
storage area
write
fixed data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63115986A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Hanawa
花輪 哲也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP63115986A priority Critical patent/JPH01287761A/en
Publication of JPH01287761A publication Critical patent/JPH01287761A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To make ID data nonvolatile and normally rewritable, and to prevent the ID data from being destroyed owing to malfunction by making a static RAM nonvolatile and adapting memory protection to a fixed data storage data area. CONSTITUTION:This device is equipped with the static RAM (SRAM) 4, a power source backup means 5 which backs up a power source when the normal power line to the SRAM is disconnected, an address decoder 3, and a write protection control circuit 7. Then the SRAM 4 is made nonvolatile by the backup means 5 and used while classified into a fixed data storage area 41 and a normal data storage area 42. Fixed data such as ID data which are made nonvolatile and memory-protected are stored in this fixed data in the fixed data storage area 42, normal data are read out and written in the normal data storage area 42. The need for a dedicated memory for fixed data storage is therefore eliminated. Consequently, the fixed data are held and normal writing is enabled.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 記憶装置に関し、 自動車電話等に用いられるIDの不揮発化を図ると共に
正常な書き替えを可能にする一方で、誤動作によってI
Dが破壊されないようにすることを目的とし、 固定データ記憶領域と通常のデータ記憶領域とに区分し
て使用するスタティックRAMと、該スタティックRA
Mの電源をバックアップする電源バックアップ手段と、
前記スタティックRAMへの書込アドレスに基いて、前
記固定データ記憶領域への書込を示す固定アドレスデコ
ード信号、および書込制御信号を出力するアドレスデコ
ーダと、該アドレスデコーダから正常な固定アドレスデ
コード信号および正常な書込制御信号が出力された場合
のみ書込データを前記固定データ記憶領域の所定のアド
レスに記憶させる書込保護制御回路とを備え、前記スタ
ティックRAMを不揮発化すると共に、前記固定データ
記憶データ領域のメモリプロテクトを行うように構成す
る。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding storage devices, while it is possible to make IDs used in car phones etc. non-volatile and to enable normal rewriting,
A static RAM that is divided into a fixed data storage area and a normal data storage area for the purpose of preventing D from being destroyed, and the static RAM.
a power supply backup means for backing up the power supply of M;
an address decoder that outputs a fixed address decode signal indicating writing to the fixed data storage area and a write control signal based on the write address to the static RAM; and a normal fixed address decode signal from the address decoder. and a write protection control circuit that stores the write data at a predetermined address of the fixed data storage area only when a normal write control signal is output, and makes the static RAM non-volatile and the fixed data Configure to perform memory protection of storage data area.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は半導体記憶装置に関するものであり、特に、固
定データを不揮発化し電源断によっても消滅させないよ
うにすると共に、必要に応じて書換え可能にする一方、
CPU側のプログラム暴走などによって固定データが破
壊されないようにメモリプロテクトを行う半導体記憶装
置に関する。
The present invention relates to a semiconductor memory device, and in particular, it makes fixed data nonvolatile so that it does not disappear even when the power is cut off, and makes it rewritable as necessary.
The present invention relates to a semiconductor memory device that protects fixed data from being destroyed due to program runaway on the CPU side.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

例えば自動車電話、ファクシミリ等において固有の番号
、情報といった、いわゆるI D (Tdenti−f
ication)データが固定のデータとしてメモリに
記憶させて用いている。これらIDデータは、電源が断
になっても維持されている必要がある。−方、IDデー
タは一旦セットされるとひんばんには変更されないが、
必要に応じて変更される場合がある。このようにIDデ
ータは、不揮発性を有すると共に、書き換え可能なメモ
リに記憶されているのが望ましい。
For example, so-called ID (Tdenti-f
cation) The data is stored in memory as fixed data and used. These ID data need to be maintained even if the power is turned off. -On the other hand, once the ID data is set, it is not changed every day.
It may be changed as necessary. In this way, the ID data is preferably nonvolatile and stored in a rewritable memory.

従来、IDデータは、PROM 、 E”(Elect
ricallyErasable) ROMといった不
揮発性メモリ、又はスタティックRAM (SRAM)
を電源バックアップするようにして不揮発化したSRA
Mに記憶させている。
Conventionally, ID data is stored in PROM, E” (Elect
Non-volatile memory such as ROM or static RAM (SRAM)
SRA that has been made non-volatile by providing power backup
I have M memorize it.

[発明が解決しようとする課題〕 FROMを用いた場合、不揮発性の面では問題ないが、
10データを変更する場合、P)IOMを一旦自動車電
話等から外し、データを変更したPRO?lと変換する
必要が生じ、装着したまま、容易にIDデータの変更が
できないという問題がある。
[Problem to be solved by the invention] When FROM is used, there is no problem in terms of non-volatility, but
10 When changing data, P) Remove the IOM from the car phone, etc., and change the data on the PRO? There is a problem in that the ID data cannot be easily changed while the device is being worn.

f!”ROMは不揮発性、データの変更容易性ですぐれ
ているが、価格が高くなるという問題がある。
f! ``ROM is excellent in its non-volatility and ease of changing data, but it has the problem of being expensive.

不揮発化したSRAMを用いた場合、不揮発性データの
変更容易性は満足されるが、外乱その他によりCPUが
誤動作すること等により、IDデータが破壊されてしま
うことがある。すなわち、誤動作などに対するプロテク
ションが行なわれていない。
When a non-volatile SRAM is used, the ease of changing non-volatile data is satisfied, but the ID data may be destroyed due to malfunction of the CPU due to external disturbances or the like. In other words, protection against malfunctions and the like is not provided.

メモリプロテクションとしては、すでに種々のものが知
られている。磁気ディスク、磁気ドラム等では、シリン
ダ毎(トラック毎)にスイッチ又はピンをセットするこ
とで、書込を不能にしている。しかしながら、この種の
メモリプロテクションは半導体メモリには通用できない
。半導体メモリのメモリブロチクシジンは、プログラム
とハードウェアとの組合せにより、ある領域を書込禁止
にしている。しかしながら、この方法は、プログラム自
身が暴走した場合、メモリプロチク機能が働かないとい
う問題がある。
Various types of memory protection are already known. In magnetic disks, magnetic drums, etc., writing is disabled by setting a switch or pin for each cylinder (for each track). However, this type of memory protection cannot be applied to semiconductor memories. A memory block in a semiconductor memory is a write-protected area in a certain area by a combination of a program and hardware. However, this method has a problem in that the memory protection function does not work if the program itself goes out of control.

〔課題を解決する手段〕[Means to solve problems]

上記問題を解決する本発明の原理ブロック図を第1図に
示す。
FIG. 1 shows a block diagram of the principle of the present invention that solves the above problem.

本発明の半導体記憶装置は、スタティックRAM(SR
AM) 4、該SRAMへの通常電源が断になった場合
電源をバックアップする電源バックアップ手段5、アド
レスデコーダ3、および書込保護制御回路7から成る。
The semiconductor memory device of the present invention is a static RAM (SR).
AM) 4. Consists of power backup means 5 for backing up the power when the normal power supply to the SRAM is cut off, an address decoder 3, and a write protection control circuit 7.

SRAM 4は電源バックアップ手段5によって不揮発
化される。
The SRAM 4 is made non-volatile by the power backup means 5.

SRAM 4は、固定データ記憶領域41と通常データ
記憶領域42とに区分けして使用される。固定データ記
憶領域41には、IDデータ等、不揮発化と共にメモリ
プロテクトされるべき固定的なデータが記憶される。通
常データ記憶領域には、通常のデータが続出、書込され
る。SRAM 4をこのように共有することで、固定デ
ータ記憶用の専用のメモリが不要となる。
The SRAM 4 is divided into a fixed data storage area 41 and a normal data storage area 42 for use. The fixed data storage area 41 stores fixed data such as ID data that should be made nonvolatile and memory protected. Normal data is successively written to the normal data storage area. Sharing SRAM 4 in this manner eliminates the need for dedicated memory for fixed data storage.

(作 用〕 アドレスデコーダ3は、CPU等(図示せず)からのデ
ータ続出命令に対しては何らの制限を行なわず、データ
書込であっても、通常データ記憶領域への書込アドレス
WR−Anである場合は、通常データアドレスデコード
信号NDADDおよび書込制御信号WRCNTを出力す
る。書込保護制御回路7は、かかる書込については、S
RAM 4に書込アドレスWR−ADに書込データーR
−DATが記憶されるようにする。・ 一方、固定データ記憶領域へのデータ書込の場合、CP
U等から、−旦、メモリプロテクト解除用のデータMP
rをアドレスデコーダ3に出力する。アドレスデコーダ
3はメモリプロテクト解除用データMPrをデコードし
、書込保護制御回路7内のプロテクトレジスタをリセッ
トする信号を出力する。プロテクトレジスタはこれによ
りリセットされ、固定データ記憶領域41へのデータ書
込を許可する。次いで、CPU等から、固定データ記憶
領域41へのデータ書込を行う、この書込アドレス−R
−ADがアドレスデコーダ3に入力され、アドレスデコ
ーダ3は固定アドレスデコード信号FDADDを出力す
る。書込保護制御回路7は固定アドレスデコード信号F
DADDとプロテクトレジスタのリセット状態により、
SRAM 4の固定データ記憶領域41へのデータ書込
みを行なわせる。1つのデータ書込が終了すると、プロ
テクトレジスタはリセットされ、固定データ記憶領域4
1へのデータ書込を禁止する。
(Function) The address decoder 3 does not impose any restrictions on data succession commands from the CPU, etc. (not shown), and even when writing data, the address decoder 3 normally sets the write address WR to the data storage area. -An, the normal data address decode signal NDADD and the write control signal WRCNT are output.The write protection control circuit 7 outputs the normal data address decode signal NDADD and the write control signal WRCNT.
Write data R to write address WR-AD to RAM 4
-Enable DAT to be stored. - On the other hand, when writing data to a fixed data storage area, the CP
From U etc., data MP for canceling memory protection
r is output to the address decoder 3. The address decoder 3 decodes the memory protection release data MPr and outputs a signal for resetting the protect register in the write protection control circuit 7. The protect register is thereby reset and data writing to the fixed data storage area 41 is permitted. Next, this write address -R is used to write data from the CPU etc. to the fixed data storage area 41.
-AD is input to the address decoder 3, and the address decoder 3 outputs a fixed address decode signal FDADD. Write protection control circuit 7 receives fixed address decode signal F.
Depending on the reset state of DADD and protect register,
Data is written to the fixed data storage area 41 of the SRAM 4. When one data write is completed, the protect register is reset and the fixed data storage area 4
Prohibits writing data to 1.

従って、更に、固定データ記憶領域41へのデータ書込
を行うには、CPU等は、メモリプロテクト解除用デー
タMPrを出力した後、ひき続いて固定データ領域41
へのデータ書込要求を、データ毎に行う、このように、
固定データ記憶領域41へのデータ書込を2段階操作と
し、しかも1度データ書込が終了すると自動的にメモリ
プロテクトが復活するようにしているので、CPU等に
おけるプログラム暴走が生じたとしても、単なる固定デ
ータ記憶領域41への書込データは禁止されるから、固
定データ領域41内のデータは保護される。
Therefore, in order to further write data to the fixed data storage area 41, the CPU etc. outputs the memory protection release data MPr and then writes data to the fixed data storage area 41.
In this way, a data write request is made for each data item.
Data writing to the fixed data storage area 41 is a two-step operation, and memory protection is automatically restored once data writing is completed, so even if a program runaway occurs in the CPU, etc. Mere writing of data to the fixed data storage area 41 is prohibited, so the data within the fixed data area 41 is protected.

〔実施例〕〔Example〕

第2図は、本発明の1実施例として、自動車電話機に用
いられる制御装置を示す。
FIG. 2 shows a control device used in a car telephone as an embodiment of the present invention.

同図において、制御装置は、CPU 1、プログラム記
憶用ROM 2、アドレスデコーダ3、SRAM 4、
電源バックアップ手段5、I10ユニット6、および書
込保護制御回路7から成る0本発明の半導体記憶装置は
、アドレスデコーダ3、SRAM 4、電源バックアッ
プ手段5、および書込保護制御回路7から成る。
In the figure, the control device includes a CPU 1, a program storage ROM 2, an address decoder 3, an SRAM 4,
The semiconductor memory device of the present invention is comprised of a power supply backup means 5, an I10 unit 6, and a write protection control circuit 7.

第3図に、本発明の実施例の半導体記憶装置の回路図を
示す。
FIG. 3 shows a circuit diagram of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention.

同図において、アドレスデコーダ3は、制御デコーダ3
1およびアドレスデコーダ32から成る。
In the figure, the address decoder 3 is the control decoder 3.
1 and an address decoder 32.

アドレスデコーダ3は、ROM 2に対するチップセレ
クト(C3)信号、アトウブットイネーブル(OE)信
号、SRAM 4に対するCS信号を出力するが、これ
らの回路は省略している。制御デコーダ31は、CP[
I 1からのクロックCKCFOおよび、書込制御信号
5CNTに基いて、書込クロックCKwmおよび書込制
御パルスCNTwmを出力する。また、制御デコーダ3
1は、CPU 1からのアドレス5ADRが固定データ
記憶領域を示しており、データ5DATAが固定データ
記憶領域への書込許可を求める内容になっているとき、
プロテクト解除パルスRPRTを出力する。アドレスデ
コーダ32はCPU 1からのアドレス5ADRが通常
データ記憶領域内であるとき通常データアドレスデコー
ドパルスNDADDPヲ出力し、固定データ記憶領域内
であるとき固定データアドレスデコードパルスFDAD
DPを出力する0本実施例は、SRAM d内は、第1
図に図示の如く、通常データ記憶領域42、固定データ
記憶領域42の順でアドレスがつけられている。従って
、アドレスデコーダ32は、通常データ記憶領域42内
のアドレスの場合は、通常データアドレスデコードパル
スNDADDPのみ、固定データ記憶領域41内のアド
レスの場合は、通常データアドレスデコードハ)L/ス
NDADDPと固定データアドレスデコードパルスFD
ADDPの両パルスを出力する。
The address decoder 3 outputs a chip select (C3) signal for the ROM 2, an output enable (OE) signal, and a CS signal for the SRAM 4, but these circuits are omitted. The control decoder 31 has CP[
A write clock CKwm and a write control pulse CNTwm are output based on the clock CKCFO from I1 and the write control signal 5CNT. In addition, the control decoder 3
1 indicates that address 5ADR from CPU 1 indicates a fixed data storage area, and data 5DATA requests permission to write to the fixed data storage area;
Outputs protection release pulse RPRT. The address decoder 32 outputs a normal data address decode pulse NDADDP when the address 5ADR from the CPU 1 is within the normal data storage area, and outputs a fixed data address decode pulse FDAD when it is within the fixed data storage area.
In this embodiment, the SRAM d has the first
As shown in the figure, addresses are assigned in the order of normal data storage area 42 and fixed data storage area 42. Therefore, the address decoder 32 decodes only the normal data address decode pulse NDADDP in the case of an address in the normal data storage area 42, and the normal data address decode pulse NDADDP in the case of an address in the fixed data storage area 41. Fixed data address decode pulse FD
Outputs both ADDP pulses.

書込保護制御回路7は、D形フリップフロップ(以下、
D−FF) 71 、72、NANDゲート73、AN
Dゲート74、NANOゲート75およびインバータ7
6が図示の如く接続されている。D−FF 71はメモ
リプロテクト制御レジスタ、D−FF 72はそのリセ
ットレジスタである。NANDゲート75がSRAM 
4のうイトイネーブル端子WE、インバータ76がチッ
プイネーブル端子CEに接続されている。SRAM 4
はCPU 1からアトL、 ス5ADRおよびデータ5
DATAを入力する。
The write protection control circuit 7 is a D-type flip-flop (hereinafter referred to as
D-FF) 71, 72, NAND gate 73, AN
D gate 74, NANO gate 75 and inverter 7
6 are connected as shown. D-FF 71 is a memory protection control register, and D-FF 72 is its reset register. NAND gate 75 is SRAM
The chip enable terminal WE of No. 4 and the inverter 76 are connected to the chip enable terminal CE. SRAM 4
is CPU 1 to AT L, S5 ADR and data 5
Enter DATA.

SRAM 4は、通常、電源10、ダイオード53を介
して電源供給されている。またSRAM 4は、コンデ
ンサ51、逆流防止用ダイオード52〜53から成る電
源バックアップ手段5から、電源10が断になった場合
、電源バックアップ手段5から電源供給されて不揮発化
される。電源10、ダイオード53から電源供給されて
いる場合、コンデンサ51にダイオード54を介して充
電されている。
The SRAM 4 is normally supplied with power via a power supply 10 and a diode 53. Further, when the power supply 10 is cut off, the SRAM 4 is supplied with power from the power supply backup means 5 consisting of a capacitor 51 and backflow prevention diodes 52 to 53, and is rendered non-volatile. When power is supplied from the power supply 10 and the diode 53, the capacitor 51 is charged via the diode 54.

従って、電源10が断となった場合、コンデンサ51、
ダイオード52から電源がバックアップされる。SRA
M 4をCMO3形SRAMを用いれば、コンデンサ5
1でも長期間の電源バックアップが可能である。
Therefore, when the power supply 10 is cut off, the capacitor 51,
Power is backed up from the diode 52. S.R.A.
If M4 is used as CMO3 type SRAM, capacitor 5
1 can provide long-term power backup.

電源バックアップ手段5としては図示の例の他、コンデ
ンサ51をバッテリに代え、ダイオード54を削除し、
バッテリバックアップ形にする等、種々の手段をとるこ
とができる。
In addition to the illustrated example, the power supply backup means 5 may include replacing the capacitor 51 with a battery, omitting the diode 54,
Various measures can be taken, such as using a battery backup type.

以下、第3図回路のメモリプロテクト動作を述べる。The memory protect operation of the circuit shown in FIG. 3 will be described below.

第4図(a)〜(i)は、通常データ記憶領域への正常
なデータ書込動作タイミング図を示す。
FIGS. 4(a) to 4(i) show timing diagrams of normal data writing operations to the normal data storage area.

通常データ記憶領域42への書込は、書込アドレス5A
DRと書込データ5DATAのみがCPU 1から出力
されるから、メモリプロテクトレジスタとして機能する
D−FF 71の出力INHはハイレベル、すなわち、
固定データ領域41へのデータ書込禁止状態である(第
4図(a))。但し、アドレスデコーダ3から書込制御
パルスCNT□(第4図(g))、および通常データア
ドレスデコードパルスNDADDP(第4図(b))が
出力される。固定データアドレスデコードパルスFDA
DDP (第4図(C))はローレベルであり、メモリ
書込禁止パルスINHはハイレベルであるからNAND
ゲート73の固定データ書込イネーブルパルスFDWR
,はハイレベル(第4図(e))、よってNANDゲー
ト75は、書込制御パルスCNTw* (第4図(g)
)に応じて、ライトイネーブル信号SWE (第4図(
h))をローイネーブルにする。また、インバータ76
を介して通常データアドレスデコードパルスNDADD
Pの反転パルスがチップイネーブル信号SCEとしてS
RAM 4に印加される。これにより、SRAM 4の
通常データ記憶領域42ヘデータ書込みが行なわれる。
Writing to the normal data storage area 42 is performed at write address 5A.
Since only DR and write data 5DATA are output from the CPU 1, the output INH of the D-FF 71, which functions as a memory protect register, is at a high level, that is,
Data writing to the fixed data area 41 is prohibited (FIG. 4(a)). However, the address decoder 3 outputs a write control pulse CNT□ (FIG. 4(g)) and a normal data address decode pulse NDADDP (FIG. 4(b)). Fixed data address decode pulse FDA
Since DDP (Fig. 4(C)) is at low level and memory write inhibit pulse INH is at high level, NAND
Fixed data write enable pulse FDWR of gate 73
, are high level (FIG. 4(e)), so the NAND gate 75 outputs the write control pulse CNTw* (FIG. 4(g)).
), the write enable signal SWE (Fig. 4 (
h))) is low enabled. In addition, the inverter 76
Normal data address decode pulse NDADD via
The inverted pulse of P is used as the chip enable signal SCE.
Applied to RAM 4. As a result, data is written into the normal data storage area 42 of the SRAM 4.

データ書込後、D−PF 72を介してD−FF 71
がクリアされるが、この場合、D−FF 71はリセッ
トのままであるから、変化はない。
After writing data, D-FF 71 via D-PF 72
is cleared, but in this case, there is no change since the D-FF 71 remains reset.

第5図(a)〜(i)は固定データ記憶領域41への正
常なデータ書込動作タイミング図を示す。
FIGS. 5(a) to 5(i) show timing diagrams of normal data writing operations to the fixed data storage area 41. FIG.

CPU 1は、書込データ5DATAとして固定データ
記憶領域41への書込禁止を解除するデータをアドレス
デコーダ3の制御デコーダ31に出力する。
The CPU 1 outputs data for canceling write inhibition to the fixed data storage area 41 to the control decoder 31 of the address decoder 3 as write data 5DATA.

これによりメロテクト解除パルスRPRTがD−PF 
71に印加され、D−FF 71のメモリ書込禁止パル
スINHがローレベル、すなわち書込許可状態になる(
第5図(d))、次いで、CPU 1は固定データ記憶
領域41をアドレスとする書込アドレス5ADRおよび
書込データ5DATAを出力する。アドレスデコーダ3
2は通常データアドレスデコードパルスNDADDPお
よび固定データアドレスデコードパルスFDADDPを
出力する(第5図(b)(c))。NANOゲート73
の出力FDWR,はハイレベルのままであるので、AN
Dゲート74からライトイネーブルパルスWR,が出力
される(第5図(e)(f))、以上により、ライトイ
ネーブル信号SWE、チップイネーブル信号SCEがロ
ーイネーブルとなり、SRAM 4の固定データ領域4
1へのデータ書込が行なわれる。
This causes the merotect release pulse RPRT to become D-PF.
71, and the memory write inhibit pulse INH of D-FF 71 becomes low level, that is, the write enable state (
5(d)), the CPU 1 then outputs a write address 5ADR and write data 5DATA with the fixed data storage area 41 as the address. Address decoder 3
2 outputs a normal data address decode pulse NDADDP and a fixed data address decode pulse FDADDP (FIGS. 5(b) and 5(c)). NANO gate 73
Since the output FDWR, remains at high level, AN
A write enable pulse WR is output from the D gate 74 (FIGS. 5(e) and 5(f)). As a result, the write enable signal SWE and the chip enable signal SCE become low enabled, and the fixed data area 4 of the SRAM 4 is enabled.
Data is written to 1.

上記書込後、D−FF 72からクリアパルス5CLR
が出力され、D−FF 71がリセットされ書込禁止パ
ルスINHがハイレベルになる(第5図(i)(d))
After writing the above, clear pulse 5CLR from D-FF 72
is output, the D-FF 71 is reset, and the write inhibit pulse INH becomes high level (Fig. 5(i)(d))
.

書込禁止パルスINHがハイレベルになることにより、
次に、固定データ記憶領域41への書込禁止を解除する
データを出力することなしに、固定データ記憶領域41
ヘデータ書込を行っても、書込は行なわれなくなる。
When the write inhibit pulse INH becomes high level,
Next, the fixed data storage area 41 is written to the fixed data storage area 41 without outputting data for canceling write protection to the fixed data storage area 41.
Even if data is written to the file, the data will not be written.

その異常書込動作は第6図(a)〜(i)を参照して述
べる。通常データアドレスデコードパルスNDADDP
および固定データアドレスデコードパルスFDADDP
が出力された時点において、正常動作ならば書込禁止パ
ルスINHは第6図(d)に図示破線の如くローレベル
であるべきがハイレベルである。よってNANDゲート
73の出力FDWRtは第6図(e)実線の如くローレ
ベルになる。その結果、ライトイネーブルパルスW R
tは第6図(f)実線の如くローレベルのま−であるか
ら、書込制御パルスCNT□が出力されても(第6図(
g))、ライトイネーブル信号SWEはローイネーブル
とならない(第6図(h))。よって、固定データ記憶
領域41へのデータ書込は行なわれない。
The abnormal write operation will be described with reference to FIGS. 6(a) to (i). Normal data address decode pulse NDADDP
and fixed data address decode pulse FDADDP
At the time when is output, the write inhibit pulse INH should be at a low level as shown by the broken line in FIG. 6(d) under normal operation, but it is at a high level. Therefore, the output FDWRt of the NAND gate 73 becomes low level as shown by the solid line in FIG. 6(e). As a result, the write enable pulse W R
Since t is at a low level as shown by the solid line in Fig. 6(f), even if the write control pulse CNT□ is output (Fig. 6(f)
g)), the write enable signal SWE does not become low enable (FIG. 6(h)). Therefore, no data is written to the fixed data storage area 41.

このように、−旦、固定データ記憶領域41への書込禁
止を解除した後でないと、固定データ記憶領域41への
データ書込は行なわれないので、誤って、通常データ記
憶領域41へ書込べき場合、固定データ記憶領域41内
のアドレスを指定したような場合、あるいは、プラグラ
ム暴走により、固定データ記憶領域41への書込アドレ
スが生じてしまったような場合でも、固定データ記憶領
域41へのデータ書込は行なわれない。
In this way, since data cannot be written to the fixed data storage area 41 until after the write protection to the fixed data storage area 41 has been lifted, it is possible to write data to the normal data storage area 41 by mistake. If the fixed data storage area 41 should be written to, an address within the fixed data storage area 41 is specified, or a program runaway causes a write address to the fixed data storage area 41, the fixed data storage area 41 No data is written to.

第7図(a)〜(i)に、通常データ記憶領域42にデ
ータ書込をする場合、誤って、固定データ記憶領域41
への書込禁止を解除するデータを出力し、書込禁止パル
スINHを許可を示すローレベルにした場合の動作タイ
ミング図を示す、この場合、アドレス5ADRは通常デ
ータ記憶領域42を示すので、通常データアドレスデコ
ードパルスNDADDPは出力されるが、(第7図(b
))、固定データアドレスデコードパルスFDADDP
は出力されない(第7図(C))。従って、NANDゲ
ート73の出力FDWREはハイレベルのま−であり(
第7図(e))、ライトイネーブルパルスWRえが出力
される(第7図(f))。よって、ライトイネーブル信
号swEがローイネーブルとなり(第7図(h))、無
駄を書込禁止解除が行なわれたとしても、通常データ記
憶領域42へのデータ書込は行なわれる。−方、データ
書込後D−FF 71はリセットされる。よって引き続
いて、書込禁止解除なしに固定データ記憶領域41への
データ書込要求があっても実行されない。
7(a) to (i), when writing data to the normal data storage area 42, the fixed data storage area 42
The figure shows an operation timing diagram when data is output to release the write prohibition to Although the data address decode pulse NDADDP is output, (Fig. 7(b)
)), fixed data address decode pulse FDADDP
is not output (FIG. 7(C)). Therefore, the output FDWRE of the NAND gate 73 remains at high level (
FIG. 7(e)), and a write enable pulse WR is output (FIG. 7(f)). Therefore, even if the write enable signal swE becomes low enable (FIG. 7(h)) and the write prohibition is canceled, data is written to the normal data storage area 42. - On the other hand, the D-FF 71 is reset after data writing. Therefore, even if there is a subsequent request to write data to the fixed data storage area 41 without releasing the write protection, it will not be executed.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上に述べたように、本発明にれば、簡単な回路構成で
、固定データの電源断に対する保持(不揮発性)を達す
ると共に、異常動作に対するメモリプロテクションをか
ける一方で正常動作においては固定データの変更を可能
にする。
As described above, according to the present invention, with a simple circuit configuration, fixed data can be retained (non-volatility) even when the power is turned off, and while memory protection is applied against abnormal operation, the fixed data can be maintained during normal operation. enable change.

また本発明においては、SRAMを固定データ記憶、通
常データ記憶に共用しているので、低価格且つスペース
を外にすることができる上、固定データの続出又は書込
スピードが通常データと同じ高速にできる。
In addition, in the present invention, since SRAM is shared for fixed data storage and normal data storage, the cost is low and space can be saved, and fixed data can be written at the same speed as normal data. can.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の半導体記憶装置の原理ブロック図、 第2図は本発明の実施例の制御回路図、第3図は本発明
の実施例の半導体記憶装置の回路図、 第4図(a)〜(i)〜第7図(a)〜(i)は第3図
回路の動作タイミング図、である。 (符号の説明) l・・・CP U。 2・・・プログラムROM。 3・・・アドレスデコーダ、 4・・・スタティックRAM。 5・・・電源バックアップ手段、 6・・・I10ユニット、 7・・・書込保護制御回路。
FIG. 1 is a principle block diagram of a semiconductor memory device of the present invention, FIG. 2 is a control circuit diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a circuit diagram of a semiconductor memory device of an embodiment of the present invention, and FIG. a)-(i)--FIGS. 7(a)-(i) are operation timing diagrams of the circuit of FIG. 3. (Explanation of symbols) l...CPU. 2...Program ROM. 3... Address decoder, 4... Static RAM. 5... Power backup means, 6... I10 unit, 7... Write protection control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、固定データ記憶領域(41)と通常のデータ記憶領
域(42)とに区分して使用するスタティックRAM(
4)と、 該スタティックRAMの電源をバックアップする電源バ
ックアップ手段(5)と、 前記スタティックRAMへの書込アドレス(WR−AD
)に基いて、前記固定データ記憶領域への書込を示す固
定アドレスデコード信号(FDADD)、および書込制
御信号(WRCNT)を出力するアドレスデコーダ(3
)と、 該アドレスデコーダから正常な固定アドレスデコード信
号および正常な書込制御信号が出力された場合のみ書込
データ(WR−DAT)を前記固定データ記憶領域の所
定のアドレスに記憶させる書込保護制御回路(7)とを
備え、前記スタティックRAMを不揮発化すると共に、
前記固定データ記憶データ領域のメモリプロテクトを行
うように構成したことを特徴とする、記憶装置。
[Claims] 1. Static RAM (41) and regular data storage area (42) that are used separately.
4), a power backup means (5) for backing up the power of the static RAM, and a write address (WR-AD) for the static RAM.
), an address decoder (3) outputs a fixed address decode signal (FDADD) indicating writing to the fixed data storage area and a write control signal (WRCNT).
), and write protection that stores write data (WR-DAT) at a predetermined address in the fixed data storage area only when a normal fixed address decode signal and a normal write control signal are output from the address decoder. a control circuit (7) to make the static RAM non-volatile;
A storage device, characterized in that the storage device is configured to perform memory protection of the fixed data storage data area.
JP63115986A 1988-05-14 1988-05-14 Semiconductor storage device Pending JPH01287761A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63115986A JPH01287761A (en) 1988-05-14 1988-05-14 Semiconductor storage device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63115986A JPH01287761A (en) 1988-05-14 1988-05-14 Semiconductor storage device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01287761A true JPH01287761A (en) 1989-11-20

Family

ID=14676047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63115986A Pending JPH01287761A (en) 1988-05-14 1988-05-14 Semiconductor storage device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01287761A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03246739A (en) * 1990-02-26 1991-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Data protecting device for portable terminal equipment
KR100854032B1 (en) * 2007-02-09 2008-08-26 삼성전자주식회사 Memory system and data storaging method thereof

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6329859A (en) * 1986-07-23 1988-02-08 Sony Tektronix Corp Memory protection circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6329859A (en) * 1986-07-23 1988-02-08 Sony Tektronix Corp Memory protection circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03246739A (en) * 1990-02-26 1991-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Data protecting device for portable terminal equipment
KR100854032B1 (en) * 2007-02-09 2008-08-26 삼성전자주식회사 Memory system and data storaging method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09160838A (en) Cache memory backup device
JPH0364960B2 (en)
JPH08249244A (en) Data holding circuit
JPH06202762A (en) Reset signal generating circuit with write data protecting function
US5016219A (en) Computer memory write protection circuit
JPH01287761A (en) Semiconductor storage device
CN110647764A (en) Protection method and system for user-mode nonvolatile memory file system
US4651323A (en) Fault protection flip flop
JPH0822422A (en) Memory device
US20190212930A1 (en) Data storage chip and data access method
JP2809752B2 (en) Memory access circuit
JPH022435A (en) Semiconductor non-volatile memory device
JP2713317B2 (en) Write data protection method for momentary power interruption in disk drive
JPS6329859A (en) Memory protection circuit
JPS6158064A (en) Micorprocessor control system having memory writing protecting function
JPS62286143A (en) Semiconductor memory device
JPH06259337A (en) Data protection system
JPS58208999A (en) Memory device
JPS63266562A (en) Semiconductor integrated circuit
WO2024009064A1 (en) Data erasure system
JPS60163597A (en) Memory backup device of electronic exchange
JP2002099468A (en) Writing control circuit
JP2602909B2 (en) Write-protection method during CPU runaway
JPH05241966A (en) Memory controller
JPS62184554A (en) Memory protection circuit