JPH01287427A - レーザー波長検出装置 - Google Patents
レーザー波長検出装置Info
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- JPH01287427A JPH01287427A JP11853188A JP11853188A JPH01287427A JP H01287427 A JPH01287427 A JP H01287427A JP 11853188 A JP11853188 A JP 11853188A JP 11853188 A JP11853188 A JP 11853188A JP H01287427 A JPH01287427 A JP H01287427A
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- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、レーザー光の発振線のピーク波長を精度よく
検出するレーザー波長検出装置に関するものである。レ
ーザー波長検出装置は、レーザー光の発振波長のチュー
ニングや較正などに利用することができる。
検出するレーザー波長検出装置に関するものである。レ
ーザー波長検出装置は、レーザー光の発振波長のチュー
ニングや較正などに利用することができる。
従来の技術
従来、レーザー発振線のピーク波長を決定する手段とし
て、プリズムや回折格子などの波長分散素子を具備した
分光器を用いる方法がある。
て、プリズムや回折格子などの波長分散素子を具備した
分光器を用いる方法がある。
たとえば、極度に単色化されたレーザー光のように線幅
の狭いスペクトルのピーク波長を観測するには、まず、
そのスペクトルを分離できるだけの分解能を有する分光
器が必要である。たとえば248、4 nmの近傍にピ
ーク波長があり、発振線の半値幅が0.005nm 程
度までに単色化されたKrFエキシマ・レーザーの発振
スペクトルを観測するには0.002nm 程度の分解
能が必要であり、標準的なツエルニ・ターナ型分光器で
は1m以上の焦点距離を有する大型のものが必要である
。これに加えて、分光器自体の検出波長較正を行うため
の参照標準光源が必要である。248.4 nm近傍に
線スペクトルを有する標準光源として、たとえばFe
アークランプ(248,3270nm )や低圧Hqラ
ンプ(248,3829nm )が用いられる。これら
の既知の線スペクトルによって分光器の波長較正を行っ
た後、レーザー光の発振スペクトルを観測することにな
る。
の狭いスペクトルのピーク波長を観測するには、まず、
そのスペクトルを分離できるだけの分解能を有する分光
器が必要である。たとえば248、4 nmの近傍にピ
ーク波長があり、発振線の半値幅が0.005nm 程
度までに単色化されたKrFエキシマ・レーザーの発振
スペクトルを観測するには0.002nm 程度の分解
能が必要であり、標準的なツエルニ・ターナ型分光器で
は1m以上の焦点距離を有する大型のものが必要である
。これに加えて、分光器自体の検出波長較正を行うため
の参照標準光源が必要である。248.4 nm近傍に
線スペクトルを有する標準光源として、たとえばFe
アークランプ(248,3270nm )や低圧Hqラ
ンプ(248,3829nm )が用いられる。これら
の既知の線スペクトルによって分光器の波長較正を行っ
た後、レーザー光の発振スペクトルを観測することにな
る。
ところで、レーザー装置が工業上多様な分野で活用され
るに至った現在では、レーザー装置の発振スペクトルの
検出や較正・調整を様々な装置設置場所で行うことが必
要となってきた。特に、エキシマ・レーザーのように利
得バンド幅の広いレーザーは、広い利得バンド内におい
て発振波長が変動しうるので、レーザー装置を定期・不
定期に較正することが不可欠である。
るに至った現在では、レーザー装置の発振スペクトルの
検出や較正・調整を様々な装置設置場所で行うことが必
要となってきた。特に、エキシマ・レーザーのように利
得バンド幅の広いレーザーは、広い利得バンド内におい
て発振波長が変動しうるので、レーザー装置を定期・不
定期に較正することが不可欠である。
しかしながら、上述したようにレーザーの発振スペクト
ルが極度に単色化されている場合には、その発振波長の
決定には著しく大型で高価な分光器を用意する必要があ
るが、これらを個々のレーザー装置に具備することは工
業上有用とはいえない。あるいは、レーザー装置の発振
波長の較正の度に大型の分光器を持ち込み、その都度分
光器を標準光源で較正した後、レーザー装置の発振波長
を較正する手段もあるが、分光器の運搬や波長較正の手
順が極めて繁雑な作業となる。
ルが極度に単色化されている場合には、その発振波長の
決定には著しく大型で高価な分光器を用意する必要があ
るが、これらを個々のレーザー装置に具備することは工
業上有用とはいえない。あるいは、レーザー装置の発振
波長の較正の度に大型の分光器を持ち込み、その都度分
光器を標準光源で較正した後、レーザー装置の発振波長
を較正する手段もあるが、分光器の運搬や波長較正の手
順が極めて繁雑な作業となる。
一方、レーザーの発振スペクトルのように、ある単波長
にスペクトルのピーク波長を固定して使用する単色光源
については、発振スペクトルのピーク波長が所望の波長
にあるかどうかだけ知れればよい場合が少くない。した
がってこのような場合には、分光器のように広い波長領
域にわたって波長走査しながらスペクトルを調べる必要
はなく、所望の波長の近傍にスペクトルのピークがある
かどうかだけ知れれば十分である。
にスペクトルのピーク波長を固定して使用する単色光源
については、発振スペクトルのピーク波長が所望の波長
にあるかどうかだけ知れればよい場合が少くない。した
がってこのような場合には、分光器のように広い波長領
域にわたって波長走査しながらスペクトルを調べる必要
はなく、所望の波長の近傍にスペクトルのピークがある
かどうかだけ知れれば十分である。
たとえばKrFエキシマ・レーザーの発振スペクトルの
ピークを248.4 nmに±0.001nmの精度で
固定したければ、248.399 amから248.4
01nmまでの光だけを透過し検出する光検出装置があ
ればよい。すなわち、この光検出装置の応答が最大とな
るようにレーザー装置を調整すれば、レーザーの発振波
長のピークを前記光検出装置の感度幅内に入れることが
できる。
ピークを248.4 nmに±0.001nmの精度で
固定したければ、248.399 amから248.4
01nmまでの光だけを透過し検出する光検出装置があ
ればよい。すなわち、この光検出装置の応答が最大とな
るようにレーザー装置を調整すれば、レーザーの発振波
長のピークを前記光検出装置の感度幅内に入れることが
できる。
上述のように、任意の波長の光のみを選択的に透過させ
る波長選択素子としてファプリー・ペロー・エタロン(
以下、v−pエタロンという)がある。F−Pエタロン
は、比較的高い反射率を持った2枚の平行平板で、第2
図すおよび第2図Cに示すように特定の波長(または周
波数)間隔をおいて光を鋭く透過する。この透過曲線の
透過ピークから隣シの透過ピークまでの波長間隔を自由
スペクトル領域(以下、FSRという)という。
る波長選択素子としてファプリー・ペロー・エタロン(
以下、v−pエタロンという)がある。F−Pエタロン
は、比較的高い反射率を持った2枚の平行平板で、第2
図すおよび第2図Cに示すように特定の波長(または周
波数)間隔をおいて光を鋭く透過する。この透過曲線の
透過ピークから隣シの透過ピークまでの波長間隔を自由
スペクトル領域(以下、FSRという)という。
F−Pエタロンを透過できる光の波長λは、上述の透過
ピークの波長に一致し、次式の干渉条件を満す。
ピークの波長に一致し、次式の干渉条件を満す。
2nh θ=mλ ・・・・・・(1)c
ow m ここでhはF−Pエタロンの2枚の反射面の間隔、nは
2枚の反射板の間隔を満す物質の屈折率、θはF−Pエ
タロンの法線に対する入射光のなす角、mは任意の整数
で干渉次数を表わす。
ow m ここでhはF−Pエタロンの2枚の反射面の間隔、nは
2枚の反射板の間隔を満す物質の屈折率、θはF−Pエ
タロンの法線に対する入射光のなす角、mは任意の整数
で干渉次数を表わす。
発明が解決しようとする課題
上記のF−Pエタロンに観測するレーザー光の一部また
は全部を入射させ、その透過光を集光レンズで結像させ
ると、集光レンズの焦点面にフリンジパターンと呼ばれ
る環状の干渉縞が現われる。
は全部を入射させ、その透過光を集光レンズで結像させ
ると、集光レンズの焦点面にフリンジパターンと呼ばれ
る環状の干渉縞が現われる。
入射光線であるレーザー光が完全に平行光束である場合
には、式(1)においてθが一意に固定されるので、原
理的にはフリンジパターンは現われないが、実際のレー
ザー光は、その光束取り出し開口や、光路上の光学開口
によって回折を受け、完全な平行光束ではないからであ
シ、このため、式(1)でhが既知であっても波長λを
決定できないという欠点があった。さらに、各θ毎のフ
リンジそれぞれには、m −1次2m次1m+1次、・
・・・・・に対応して式(1)を満す波長λ λ
λ ・・・・・・なm−1、m、 m+1 どが1FSR毎に重って混在しているので、波長を決定
できない。これに加えて、F−Pエタロンの雰囲気の温
度や圧力の変化によって平行平板の間隔の気体密度が変
化し、フリンジパターンがシフトするので、波長の決定
をさらに困難にしていた。
には、式(1)においてθが一意に固定されるので、原
理的にはフリンジパターンは現われないが、実際のレー
ザー光は、その光束取り出し開口や、光路上の光学開口
によって回折を受け、完全な平行光束ではないからであ
シ、このため、式(1)でhが既知であっても波長λを
決定できないという欠点があった。さらに、各θ毎のフ
リンジそれぞれには、m −1次2m次1m+1次、・
・・・・・に対応して式(1)を満す波長λ λ
λ ・・・・・・なm−1、m、 m+1 どが1FSR毎に重って混在しているので、波長を決定
できない。これに加えて、F−Pエタロンの雰囲気の温
度や圧力の変化によって平行平板の間隔の気体密度が変
化し、フリンジパターンがシフトするので、波長の決定
をさらに困難にしていた。
課題を解決するための手段
上記の課題を解決するために、本発明のレーザ−波長検
出装置は、1つまたは複数のF−Pエタロンの透過ピー
クを重ね合せ、レーザー利得バンド幅内にただ1つの透
過ピークのみを有するようにし、透過光を集光する集光
レンズの焦点面近傍に光検出器を設けたものである。さ
らに、前記F−Pエタロンの一部または全部を気密室内
に設置し、気密室内の気体密度を固定または可変とする
手段を設けて構成される。
出装置は、1つまたは複数のF−Pエタロンの透過ピー
クを重ね合せ、レーザー利得バンド幅内にただ1つの透
過ピークのみを有するようにし、透過光を集光する集光
レンズの焦点面近傍に光検出器を設けたものである。さ
らに、前記F−Pエタロンの一部または全部を気密室内
に設置し、気密室内の気体密度を固定または可変とする
手段を設けて構成される。
作 用
この構成により、レーザー利得バンド幅内で、F−Pエ
タロンを透過できる光は1つの次数を持つものだけであ
る。すなわち、式(1)において次数mが固定される。
タロンを透過できる光は1つの次数を持つものだけであ
る。すなわち、式(1)において次数mが固定される。
また、ピンホールによって光軸上に集光された光だけを
検出するので、光軸と平行にF−Pエタロンに入射した
光しか検出されない。すなわち、式(1)においてF−
Pエタロンの法線と入射光とのなす角θが固定される。
検出するので、光軸と平行にF−Pエタロンに入射した
光しか検出されない。すなわち、式(1)においてF−
Pエタロンの法線と入射光とのなす角θが固定される。
したがって、F−Pエタロンを設置した気密容器を封じ
切シにしておけば、気密容器内の気体密度が固定され、
式(1)において、屈折率nが固定される。F−Pエタ
ロンの間隔りは既知であるから以上によって、式(1)
中のパラメータh 、 m 、θおよびnが固定され、
光検出器によって検出される波長は、レーザー利得バン
ド幅内でただ1つだけであシ、その分解能はF−Pエタ
ロンの透過ピークの鋭さ、すなわちフィネスで決定され
る。この単一の透過ピークを、標準光源と分光器を用い
て較正すれば、検出されるレーザー光の波長を決定でき
る。
切シにしておけば、気密容器内の気体密度が固定され、
式(1)において、屈折率nが固定される。F−Pエタ
ロンの間隔りは既知であるから以上によって、式(1)
中のパラメータh 、 m 、θおよびnが固定され、
光検出器によって検出される波長は、レーザー利得バン
ド幅内でただ1つだけであシ、その分解能はF−Pエタ
ロンの透過ピークの鋭さ、すなわちフィネスで決定され
る。この単一の透過ピークを、標準光源と分光器を用い
て較正すれば、検出されるレーザー光の波長を決定でき
る。
さらに、気体密度の変化による屈折率の変化を積極的に
利用し、前記気密室内の気体密度を走査する手段を設け
ることによシ、レーザー光の波長検出を可変とすること
ができる。
利用し、前記気密室内の気体密度を走査する手段を設け
ることによシ、レーザー光の波長検出を可変とすること
ができる。
実施例
以下、本発明の第1の実施例について、図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第1図は本発明の第1の実施例におけるレーザー波長検
出装置である。第1図において、1は第1のF−Pエタ
ロンで、平行平板の間隔が60μmであって、FSRは
0.5om程度であり、フィネスは20としである。し
たがって、半値幅0.025omを持った透過ピークが
0.5om毎に存在する。
出装置である。第1図において、1は第1のF−Pエタ
ロンで、平行平板の間隔が60μmであって、FSRは
0.5om程度であり、フィネスは20としである。し
たがって、半値幅0.025omを持った透過ピークが
0.5om毎に存在する。
2は、第20F−Pエタロンで、平行平板の間隔が88
0 pmであって、FSRはα035 nm程度であり
、フィネスは2oである。したがって、半値幅0.00
2omを持った透過ピークが0.035 nm毎に存在
する。3は、前記F−Pエタロンを通過した光を集光す
る集光レンズである。4は、集光レンズ3の焦点面に位
置し、光軸上に小径の穴の空いたピンホールである。6
は、前記F−Pエタロン1および2の透過光を検出する
光検出器である。6は、気密容器で、レーザー光の入射
窓7を具備している。11は、レーザー波長検出装置に
導入されるKrFエキシマ・レーザーのレーザー光束で
あって、248.2 nmから248.7 nmまでの
レーザー利得バンド幅のうち、いづれかの波長を中心に
0.005 nm の半値幅まで発振スペクトルが狭
帯域化されている。
0 pmであって、FSRはα035 nm程度であり
、フィネスは2oである。したがって、半値幅0.00
2omを持った透過ピークが0.035 nm毎に存在
する。3は、前記F−Pエタロンを通過した光を集光す
る集光レンズである。4は、集光レンズ3の焦点面に位
置し、光軸上に小径の穴の空いたピンホールである。6
は、前記F−Pエタロン1および2の透過光を検出する
光検出器である。6は、気密容器で、レーザー光の入射
窓7を具備している。11は、レーザー波長検出装置に
導入されるKrFエキシマ・レーザーのレーザー光束で
あって、248.2 nmから248.7 nmまでの
レーザー利得バンド幅のうち、いづれかの波長を中心に
0.005 nm の半値幅まで発振スペクトルが狭
帯域化されている。
以上のように構成されたレーザー波長検出装置について
、以下、その動作を説明する。まず、第10F−P工p
oン1のFSRは0.5omであるから、0.025
nmの半値幅を持った透過ピークがKrFエキシマ・レ
ーザーのレーザー利得ハ:/)”II内に1つだけ存在
する。次に、第2のF−Pエタロン2のFSRは0.0
35 nmであるから、0.002omの半値幅を持っ
た透過ピークがKrFエキシマ・レーザーの利得バンド
幅内に、およそ14本存在する。ここで、標準光源と分
光器を用いて前記第1のF−Pエタロン1の透過ピーク
と、前記第20F−Pエタロンの透過ピークのうちいづ
れか1つとを重ね合せ、さらに、重なった透過ピークヲ
KrFエキシマ・レーザーのレーザー利得バンド内の所
望の波長に整合させる。上記一連の透過波長の調整は、
F−Pエタロン1および2の傾斜角を微調整することに
よって行う。以上によって、F−Pエタロン1および2
によって結合された透過特性は、KrFエキシマ・レー
ザーのレーザー利得バンド幅内の1つの波長を中心とし
て、半値幅0、002 nm を持つことになる。こ
の様子を第2図に示す。第2図aはKrFエキシマ・レ
ーザーのレーザー利得バンドを表わし、第2図すは第1
のF−Pエタロンの透過特性、第2図Cは前記第2のF
−Pエタロンの透過特性、第2図dは前記レーザー利得
バンド幅内で結合された前記第1のF−Pエタロン1と
前記第2のF−Pエタロン2を重ね合せた透過特性であ
る。
、以下、その動作を説明する。まず、第10F−P工p
oン1のFSRは0.5omであるから、0.025
nmの半値幅を持った透過ピークがKrFエキシマ・レ
ーザーのレーザー利得ハ:/)”II内に1つだけ存在
する。次に、第2のF−Pエタロン2のFSRは0.0
35 nmであるから、0.002omの半値幅を持っ
た透過ピークがKrFエキシマ・レーザーの利得バンド
幅内に、およそ14本存在する。ここで、標準光源と分
光器を用いて前記第1のF−Pエタロン1の透過ピーク
と、前記第20F−Pエタロンの透過ピークのうちいづ
れか1つとを重ね合せ、さらに、重なった透過ピークヲ
KrFエキシマ・レーザーのレーザー利得バンド内の所
望の波長に整合させる。上記一連の透過波長の調整は、
F−Pエタロン1および2の傾斜角を微調整することに
よって行う。以上によって、F−Pエタロン1および2
によって結合された透過特性は、KrFエキシマ・レー
ザーのレーザー利得バンド幅内の1つの波長を中心とし
て、半値幅0、002 nm を持つことになる。こ
の様子を第2図に示す。第2図aはKrFエキシマ・レ
ーザーのレーザー利得バンドを表わし、第2図すは第1
のF−Pエタロンの透過特性、第2図Cは前記第2のF
−Pエタロンの透過特性、第2図dは前記レーザー利得
バンド幅内で結合された前記第1のF−Pエタロン1と
前記第2のF−Pエタロン2を重ね合せた透過特性であ
る。
さて、 KrFエキシマ・レーザーのレーザー光束11
を、入射窓7からレーザー波長検出装置内に導入する。
を、入射窓7からレーザー波長検出装置内に導入する。
前記F−Pエタロン1および2を透過シタレーザー光は
、集光レンズ3およびピンホール4によって、レーザー
波長検出装置の光軸と平行に入射したレーザー光のみが
選択され、ピンホール4の後方にある光検出器6に入射
する。前記F−Pエタロン1と2を結合した透過ピーク
の波長と、前記KrFエキシマ・レーザーの発振波長の
中心が一致するのは光検出器6の応答が最大となるとき
であるから、前記KrFエキシマ・レーザーの発振波長
の中心が、前記透過ピークの波長と±0.001 nm
の精度で一致しているかどうかを知ることができる
。また、前記KrFエキシマ・レーザーの装置内に波長
選択素子があれば、これを操作して、前記透過ピークの
波長に前記KrFエキシマ・レーザーの発振波調の中心
を同調させることができる。さらに、本発明のレーザー
波長検出装置は、前記F−Pエタロン1および2を気密
容器6の中に設置しであるので、雰囲気の圧力や温度変
化による屈折率の変化の影響を受けることなく、長期に
わたって再現性のよいレーザー波長の検出が可能である
。
、集光レンズ3およびピンホール4によって、レーザー
波長検出装置の光軸と平行に入射したレーザー光のみが
選択され、ピンホール4の後方にある光検出器6に入射
する。前記F−Pエタロン1と2を結合した透過ピーク
の波長と、前記KrFエキシマ・レーザーの発振波長の
中心が一致するのは光検出器6の応答が最大となるとき
であるから、前記KrFエキシマ・レーザーの発振波長
の中心が、前記透過ピークの波長と±0.001 nm
の精度で一致しているかどうかを知ることができる
。また、前記KrFエキシマ・レーザーの装置内に波長
選択素子があれば、これを操作して、前記透過ピークの
波長に前記KrFエキシマ・レーザーの発振波調の中心
を同調させることができる。さらに、本発明のレーザー
波長検出装置は、前記F−Pエタロン1および2を気密
容器6の中に設置しであるので、雰囲気の圧力や温度変
化による屈折率の変化の影響を受けることなく、長期に
わたって再現性のよいレーザー波長の検出が可能である
。
次に、本発明の第2の実施例について、図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第3図は本発明の第2の実施例におけるレーザー波長検
出装置である。第3図において、1は第1のF−Pエタ
ロンで、平行平板の間隔が60μmであって、フィネス
は20である。2は第2のF−Pエタロンで、平行平板
の間隔が880μmであって、フィネスは20である。
出装置である。第3図において、1は第1のF−Pエタ
ロンで、平行平板の間隔が60μmであって、フィネス
は20である。2は第2のF−Pエタロンで、平行平板
の間隔が880μmであって、フィネスは20である。
3は前記F−Pエタロンを通過した光を集光する集光レ
ンズである。4は、集光レンズ3の焦点面に位置し、光
軸上に小径の穴の空いたピンホールである。6は、前記
F−Pエタロン1および2の透過光を検出する光検出器
である。6は気密容器で、レーザー光の入射窓7と気体
人口8および気体出口9を具備している。1oは、気体
の出入を調節する弁である。11は、レーザー波長検出
装置に導入されるKrFエキシマ・レーザーのレーザー
光束であって、248、2 nmから248.7 nm
までのレーザー利得バンド幅のうち、いづれかの波長を
中心に0.005nmの半値幅まで発振スペクトルが狭
帯域化されている。
ンズである。4は、集光レンズ3の焦点面に位置し、光
軸上に小径の穴の空いたピンホールである。6は、前記
F−Pエタロン1および2の透過光を検出する光検出器
である。6は気密容器で、レーザー光の入射窓7と気体
人口8および気体出口9を具備している。1oは、気体
の出入を調節する弁である。11は、レーザー波長検出
装置に導入されるKrFエキシマ・レーザーのレーザー
光束であって、248、2 nmから248.7 nm
までのレーザー利得バンド幅のうち、いづれかの波長を
中心に0.005nmの半値幅まで発振スペクトルが狭
帯域化されている。
以上のように構成されたレーザー波長検出装置について
、以下、その動作を説明する。第3図中、第1のF二P
エタロン1から入射窓7までは、第1の実施例と同じ構
成であるので、前記KrFエキシマ・レーザーの利得バ
ンド幅内の1つの波長を中心として、半値幅0.002
nm の透過ピークを有するレーザー波長検出装置
となっている。ここで、気密容器6を低圧の窒素ガスで
満し、気体人口8よシ高圧の窒素ガスを徐々に導入して
いくと、気密容器内の屈折率が徐々に上昇し、式(1)
において、干渉条件を満足する波長が徐々に長波長側へ
変位する。このとき、窒素ガスの圧力変化による透過ピ
ーク波長の変位は理論的に予測でき、窒素ガスの圧力が
10 torr変化したときの透過ピーク波長の変位は
0.96 pm であシ、これは発明者らの実験結果
ともよく一致した。この結果を用いて、前記KrFエキ
シマ・レーザーのレーザー利得バンド幅全域にわたって
前記F−Pエタロン1と2を結合した透過ピークを走査
することができ、このとき挿引する窒素ガスの圧力変化
は500 torr程度でよいことがわかる。窒素ガス
の圧力と、透過ピーク波長の関係は一次相関であるので
、窒素ガスの圧力を検知しておけば透過ピーク波長を知
ることができる。したがって、前記レーザー利得バンド
幅全域にわたってレーザーの発振波長を検出できる。
、以下、その動作を説明する。第3図中、第1のF二P
エタロン1から入射窓7までは、第1の実施例と同じ構
成であるので、前記KrFエキシマ・レーザーの利得バ
ンド幅内の1つの波長を中心として、半値幅0.002
nm の透過ピークを有するレーザー波長検出装置
となっている。ここで、気密容器6を低圧の窒素ガスで
満し、気体人口8よシ高圧の窒素ガスを徐々に導入して
いくと、気密容器内の屈折率が徐々に上昇し、式(1)
において、干渉条件を満足する波長が徐々に長波長側へ
変位する。このとき、窒素ガスの圧力変化による透過ピ
ーク波長の変位は理論的に予測でき、窒素ガスの圧力が
10 torr変化したときの透過ピーク波長の変位は
0.96 pm であシ、これは発明者らの実験結果
ともよく一致した。この結果を用いて、前記KrFエキ
シマ・レーザーのレーザー利得バンド幅全域にわたって
前記F−Pエタロン1と2を結合した透過ピークを走査
することができ、このとき挿引する窒素ガスの圧力変化
は500 torr程度でよいことがわかる。窒素ガス
の圧力と、透過ピーク波長の関係は一次相関であるので
、窒素ガスの圧力を検知しておけば透過ピーク波長を知
ることができる。したがって、前記レーザー利得バンド
幅全域にわたってレーザーの発振波長を検出できる。
なお、第1および第2の実施例においては、F−Pエタ
ロンを2個用いたが、検出レーザー光の発振波長、発振
スペクトルの半値幅およびレーザー利得バンド幅によっ
ては1個あるいは3個以上使用してもよい。また、F−
Pエタロンの平行平板間隔は検出精度に応じて任意に設
定してよい。
ロンを2個用いたが、検出レーザー光の発振波長、発振
スペクトルの半値幅およびレーザー利得バンド幅によっ
ては1個あるいは3個以上使用してもよい。また、F−
Pエタロンの平行平板間隔は検出精度に応じて任意に設
定してよい。
また、第2の実施例では、気密容器6内の挿引ガスとし
て窒素ガスを用いたが、どのようなガスを用いてもよい
ことは言うまでもない。さらに第1の実施例において、
気密容器e内は任意のガスを充てんしてよく、真空であ
ってもよい。
て窒素ガスを用いたが、どのようなガスを用いてもよい
ことは言うまでもない。さらに第1の実施例において、
気密容器e内は任意のガスを充てんしてよく、真空であ
ってもよい。
発明の効果
以上のように本発明は、レーザー光の発振波長を精度よ
くかつ再現性よく検出することができる。
くかつ再現性よく検出することができる。
さらに、検出波長を走査することが可能であるので、広
範囲にわたってレーザー光の発振波長を検出できるので
、レーザー光の発振波長の較正や調整に最適なレーザー
波長検出装置を提供するものである。さらに、本発明の
レーザー波長検出装置は、分光器に比べ格段に小型であ
り、かつ容易に作製できるので、工業的に寄与するとこ
ろ大である。
範囲にわたってレーザー光の発振波長を検出できるので
、レーザー光の発振波長の較正や調整に最適なレーザー
波長検出装置を提供するものである。さらに、本発明の
レーザー波長検出装置は、分光器に比べ格段に小型であ
り、かつ容易に作製できるので、工業的に寄与するとこ
ろ大である。
第1図は本発明の第1の実施例におけるレーザー波長検
出装置の構成図、第2図aは本発明の第1および第2の
実施例においてレーザー波長検出第2図dは、本発明の
第1および第2の実施例で用いた前記第1のF−Pエタ
ロンと前記第2の実施例におけるレーザー波長検出装置
の構成図である。 1・・・・・・第1のF−Pエタロン、2・・・・・・
第2のF−Pエタロン、3・・・・・・集光レンズ、4
・・・・・・ピンホール、6・・・・・・光検出器、6
・・・・・・気密容器、7・・・・・・入射窓、8・・
・・・・気体入口、9・・・・・・気体出口、10・・
・・・−弁、11・・・・・・KrFエキシマ・レーザ
ー光束。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名1−
m−¥−1のF−Pエタロン 2−一苓2/17−pエタロソ 5−尤砿ツ巻 C−緻著客告 7・−八h8 1r−−−khFIvシマ1−デー、1122・・−L
4−亮工良スベフLル 24−11j+’Jt’Lr=FfXり0シミM!−と
°り′+l(+(Q+’nン
出装置の構成図、第2図aは本発明の第1および第2の
実施例においてレーザー波長検出第2図dは、本発明の
第1および第2の実施例で用いた前記第1のF−Pエタ
ロンと前記第2の実施例におけるレーザー波長検出装置
の構成図である。 1・・・・・・第1のF−Pエタロン、2・・・・・・
第2のF−Pエタロン、3・・・・・・集光レンズ、4
・・・・・・ピンホール、6・・・・・・光検出器、6
・・・・・・気密容器、7・・・・・・入射窓、8・・
・・・・気体入口、9・・・・・・気体出口、10・・
・・・−弁、11・・・・・・KrFエキシマ・レーザ
ー光束。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名1−
m−¥−1のF−Pエタロン 2−一苓2/17−pエタロソ 5−尤砿ツ巻 C−緻著客告 7・−八h8 1r−−−khFIvシマ1−デー、1122・・−L
4−亮工良スベフLル 24−11j+’Jt’Lr=FfXり0シミM!−と
°り′+l(+(Q+’nン
Claims (3)
- (1)1つまたは複数のファプリー・ペロー・エタロン
の光軸後方に集光レンズを設け、前記集光レンズの焦点
近傍に光検出器を設けたことを特徴とするレーザー波長
検出装置。 - (2)ファプリー・ペロー・エタロンの雰囲気の気体密
度を一定に保つようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載のレーザー波長検出装置。 - (3)ファプリー・ペロー・エタロンの雰囲気の気体密
度を調整して検出波長を可変としたことを特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載のレーザー波長検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11853188A JPH01287427A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | レーザー波長検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11853188A JPH01287427A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | レーザー波長検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01287427A true JPH01287427A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14738901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11853188A Pending JPH01287427A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | レーザー波長検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01287427A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017215343A (ja) * | 2008-10-27 | 2017-12-07 | ジェナリーテ, インコーポレイテッド | 光学的な探査及び検知に基づくバイオセンサ |
US10365224B2 (en) | 2007-12-06 | 2019-07-30 | Genalyte, Inc. | Label-free optical sensors |
JP2020067344A (ja) * | 2018-10-23 | 2020-04-30 | 国立大学法人埼玉大学 | 光学特性測定装置 |
CN116260028A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-06-13 | 深圳英谷激光有限公司 | 一种激光折射率调谐方法、系统、装置及激光器 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS515583A (ja) * | 1974-07-05 | 1976-01-17 | Hitachi Ltd | |
JPS52127377A (en) * | 1976-04-19 | 1977-10-25 | Hitoshi Kanamori | Light source having spectral distribution roughly indicating sine wave in optical system and measuring instrument related to optical transmission using same |
JPS5423598A (en) * | 1977-07-22 | 1979-02-22 | Japanese National Railways<Jnr> | Punching mechanism of automatic ticket examining apparatus |
JPS5744823A (en) * | 1980-08-30 | 1982-03-13 | Shimadzu Corp | Fourier spectroscope device |
JPS6216589A (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-24 | Toshiba Corp | 同位体分離用レ−ザ装置 |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP11853188A patent/JPH01287427A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS515583A (ja) * | 1974-07-05 | 1976-01-17 | Hitachi Ltd | |
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US10365224B2 (en) | 2007-12-06 | 2019-07-30 | Genalyte, Inc. | Label-free optical sensors |
JP2017215343A (ja) * | 2008-10-27 | 2017-12-07 | ジェナリーテ, インコーポレイテッド | 光学的な探査及び検知に基づくバイオセンサ |
US11041811B2 (en) | 2008-10-27 | 2021-06-22 | Genalyte, Inc. | Biosensors based on optical probing and sensing |
JP2020067344A (ja) * | 2018-10-23 | 2020-04-30 | 国立大学法人埼玉大学 | 光学特性測定装置 |
CN116260028A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-06-13 | 深圳英谷激光有限公司 | 一种激光折射率调谐方法、系统、装置及激光器 |
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