JPH0128616Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は回路遮断器のテスト回路の改良に関
し、特に電子回路によつて制御される引外しコイ
ルを備えた回路遮断器のためのテスト回路の改良
に関する。

この考案の背景となる従来の回路遮断器および
そのテスト回路として、第１図に示すものがあつ
た。第１図を参照して、従来の回路遮断器および
そのテスト回路の構成と動作を簡単に説明する。

電源と負荷とが接続された電路１に開閉部２が
挿入されている。また、電路１には、該電路１に
流れる負荷電流を検出する変流器３が結合され、
その出力は整流ブリツジ４で整流され、ダイオー
ド５を経て引外し制御回路６（電子回路）に入力
される。引外し制御回路６では所定値以上の入力
が前記変流器３から入力されるとサイリスタ７の
ゲートＧに電圧を印加する。よつてサイリスタ７
はオンする。

テスト回路８がテスト動作を行なつていないと
きには、切換スイツチ９は引外しコイル側接点９
ａに接続されている。よつて、このときサイリス
タ７がオンすると引外し制御回路６から引外しコ
イル１０に電流が流れて、開閉部２をトリツプさ
せる。

次に、テスト回路８がテスト動作を行なう場合
には、切換スイツチ９の接続が点検表示回路側接
点９ｂに切換えられる。そしてダイオード５と並
列に接続されたテスト回路８から引外し制御回路
６にテスト信号が印加される。すると引外し制御
回路６は前記所定の値以上の入力があつたときと
同様に動作してサイリスタ７をオンする。そして
点検表示回路１２に設けられたたとえば発光ダイ
オード１１が発光し、開閉部２をトリツプさせる
ことなく引外し制御回路６が正常に動作している
こと、つまり引外し制御回路６から引外しコイル
を動作させる電流が出力されていることが確認で
きる。

ところで、上述のような従来の回路遮断器Ａお
よびそのテスト回路８では、開閉部２の引外しコ
イル１０と並列に点検表示回路１２が設けられ、
引外しコイル１０と点検表示回路１２とは点検を
行なうか否かによつて切換スイツチ９で切換えら
れるよう構成されている。すなわち、引外し制御
回路６に接続された引外しコイル１０の回路中に
機械的接点９ａを有する切換スイツチ９が直列に
挿入されているのである。それゆえに、開閉部２
がトリツプしたときのシヨツクや振動等により切
換スイツチ９とその接点９ａの接触が不良となる
ことも少なくない。そして、そうなつたときに
は、回路遮断器Ａは過電流保護機能を果たし得な
くなるという欠点があつた。

また、回路遮断器Ａに、付加的に切換スイツチ
９、点検表示回路１２等の回路を設けなければな
らず、回路遮断器Ａの回路構成が複雑になり、そ
のために回路遮断器の故障を誘発することにもな
りかねないという欠点もあつた。

それゆえに、この考案の主たる目的は、上記欠
点を解消した、回路遮断器のためのテスト回路を
提供することである。

この考案を要約すれば、変流器を介して所定値
以上の電流が引外し制御回路に入力されたことに
応じて、サイリスタのゲートに電圧を印加して引
外しコイルを駆動するような回路遮断器のための
テスト回路において、引外し制御回路にテスト電
流を供給するためのテスト電流供給端子と、引外
しコイルの両端に接続されるべき２つの端子と、
２つの端子間に接続されるかつスイツチング手段
と抵抗との直列接続を含む分流回路と、分流回路
における電圧降下に基づいて引外しコイルへの電
流の流れを検出する電流検出手段とを設け、スイ
チツング手段の開閉に応じて引外し制御回路によ
る引外しコイルへの電流量を制御するようにした
ものである。

この考案の上述の目的およびその他の目的と特
徴は、以下の図面を参照して行なう一実施例の説
明により、より具体的かつ明確になるであろう。

第２図は回路遮断器A′およびそのテスト回路
８′の接続関係を示すブロツク図である。

第２図を第１図と比較してみると、最大の違い
は、第１図の従来装置では、引外しコイル１０と
点検表示回路１２とが並列に接続され、かつ切換
スイツチ９によつてそれぞれ引外しコイル１０と
点検表示回路１２とが切換えられるのに対し、第
２図に示すこの考案にかかる実施例では引外しコ
イル１０は恒常的に引外し制御回路６と接続され
ていて、引外しコイル１０と引外し制御回路６と
の回路中に切換スイツチ９のような機械的接点は
挿入されていないということである。

しかも、このように引外しコイル１０が引外し
制御回路６と恒常的に接続されているにもかかわ
らず、テスト回路８′のテスト電流供給端子１３，
１４からテスト電流を流出して引外し制御回路６
をテストする場合において、引外しコイル１０に
よつて開閉部２をトリツプさせないようにするこ
とができるのである。この原理を明らかにするに
は、テスト回路８′の内部回路を説明しなければ
ならない。

第３図にこのテスト回路８′の具体的内部回路
を示す。なお、特にこの考案の要旨と関係の少な
い回路についてはブロツクで示している。これら
ブロツクで示された回路については、一般に公知
の回路と同じ構成である。まず、第３図を参照し
てテスト回路８′の構成を詳しく説明する。

テスト回路８′は、このテスト回路８′の各部に
電源を供給するための電源回路１５、電源回路１
５に接続され、テスト電流をテスト電流供給端子
１３，１４から供給するためのテスト電流供給回
路１６、引外しコイルの両端に接続されるべき端
子１７，１８を備え、この引外しコイルに流れる
電流を分流し、制御し、かつ流れる電流を検出す
る検出制御回路１９、およびテスト回路８′の全
体的な動作を制御するテストシーケンス回路２０
とで構成されている。

この考案の特徴として特に興味深い検出制御回
路１９は、前述のように引外しコイルの両端に接
続されるべき端子１７，１８を備えていて、これ
ら２つの端子間はスイツチ２１と抵抗２２との直
列接続で構成される引外しコイルに流れる電流を
分流するための分流回路２３が接続されている。
そしてさらにこの分流回路２３には、並列に、電
流検出回路２４が接続されている。電流検出回路
２４は抵抗２５とフオトカプラ２６とで構成され
ている。

次に、第２図および第３図を参照して、テスト
回路８′の動作を順を追つて説明してみよう。こ
のテスト回路８′を動作させて回路遮断器A′のテ
ストをするには、まず、第２図に示すようにテス
ト回路８′の各端子を回路遮断器A′に接続しなけ
ればならない。端子２７は回路遮断器A′のサイ
リスタ７のカソードに接続する。その後、第３図
に示すテストシーケンス回路２０に設けられた常
開しているテスト開始押し釦２８を押すと電源回
路１５からテスト開始押し釦２８を通つて電流が
流れる。このときテスト終了押し釦２９は常開し
ているので、電源回路１５からタイマコイル３０
に電流が流れて、タイマコイル３０が励磁され
る。すると該タイマコイル３０によつてテスト開
始押し釦２８に並列接続された瞬時タイマ接点３
１が閉じ、そのまま保持される。ゆえにテスト開
始押し釦２８を離してもタイマコイル３０には電
流が流れ続ける。一定時間経過後タイマコイル３
０により遅延タイマ接点３２が接続して保持され
る。そして、遅延タイマ接点３２の接続により、
リレーコイル３３が励磁される。するとこのリレ
ーコイル３３に応答して動作する第１のリレー接
点３４および第２のリレー接点３５がそれぞれ接
続される。第１のリレー接点３４の接続によつて
テスト電流供給回路１６から第１のリレー接点３
４を介してテスト電流供給端子１４へとテスト電
流が流れ、テスト電流供給端子１４に接続された
回路遮断器A′へと流れるのである。

ここで第２図を主として参照して、テスト電流
が流れたときの回路遮断器A′の動作を簡単に述
べる。引外し制御回路６にテスト電流が入力され
ると、引外し制御回路６は所定の動作によつてサ
イリスタ７のゲート端子Ｇに電圧を印加する。す
るとサイリスタ７はオンし、引外し制御回路６に
接続された引外しコイル１０とサイリスタ７の直
列回路に電流が流れることとなる。このとき、引
外しコイル１０の両端にはテスト回路８′の端子
１７および１８が接続されている。

再び主として第３図を参照して、端子１７およ
び１８によつて引外しコイル１０に並列に接続さ
れた分流回路２３および電流検出回路２４にもこ
のとき電流が流れることになる。このとき分流回
路２３のスイツチ２１は接続状態にあるものとす
る。すると、引外しコイル１０に流れようとする
電流は分流回路２３によつて分流される。分流回
路２３を構成する抵抗２２の抵抗値を引外しコイ
ル１０が含む抵抗値に対して適当な値、すなわち
分流回路２３を構成する抵抗２２を引外しコイル
１０に流れる電流が分流回路２３によつて分流さ
れ、引外しコイル１０に流れる分流後の電流では
開閉部２をトリツプさせられないように引外しコ
イル１０の含む抵抗値と分流回路２３の抵抗値を
決めておけばよい。そうすると引外しコイル１０
はほとんど励磁されず、開閉部２をトリツプする
ことができない。

さてこのとき、分流回路２３は抵抗２２によつ
て電圧降下を生じさせる。このため並列に接続さ
れた電流検出回路２４にも電流が分流される。そ
して電流検出回路２４のフオトカプラ２６を構成
する発光ダイオード３６が発光する。発光ダイオ
ード３６の発光を受光素子３７が受光し、その信
号がテストシーケンス回路２０に設けられたサイ
リスタ３８のゲートＧに印加される。するとサイ
リスタ３８はオンし、このサイリスタ３８と直列
に接続された発光ダイオード３９に電源回路１５
からの電流が流れて、該ダイオードが発光し、引
外し制御回路６が正常に動作していることを知ら
せる。

なおこのように電流検出回路２４に設けられた
発光ダイオード３６によつて、直接引外し制御回
路６の正常動作検出表示をせず、該発光ダイオー
ド３６の発光する光を受光素子３７によつて受光
し、これに基づいて別の発光ダイオード３９を発
光させるようにしたのは、発光ダイオード３６の
発光が微弱だからである。すなわち、電流検出回
路２４に流れる電流は分流回路２３の電圧降下に
比例するため非常に少なく、したがつて発光ダイ
オード３６に流れる電流も少ない。よつて、この
発光ダイオード３６の発光は肉眼では捉えにく
い。ゆえにこの発光ダイオード３６が発光する光
を受光素子３７で電子的に捉え、それに応答して
電源回路１８に接続された発光ダイオード３９を
発光させる。このようにすると、発光が増幅さ
れ、肉眼で確実に捉えることのできる信号を得る
ことができる。

もし、分流回路２３を構成するスイツチ２１を
開いておけば、引外しコイル１０に流れる電流が
分流回路２３によつて分流されないため、テスト
電流供給回路１６からテスト電流を回路遮断器
A′に印加した場合には引外しコイル１０が動作
する。つまり、テスト電流によつて開閉部２を実
際にトリツプさせ、引外し制御回路６の正常動作
を確認することができる。

テスト回路８′によるテストを終了する場合に
は、テスト終了押し釦２９を押す。テスト終了押
し釦２９は前述のように常閉接点を有する押し釦
である。このテスト終了押し釦２９を押すことに
より、電源回路１５からタイマコイル３０に供給
される電流がしや断される。するとこのタイマコ
イル３０により保持されていた瞬時タイマ接点３
１が開き、テスト終了押し釦２９を元に戻して
も、すなわちテスト終了押し釦２９を押すことを
やめてもタイマコイル３０には電流が流れない。
このとき遅延タイマ接点３２の保持も解除されて
遅延タイマ接点３２が開く。そしてリレーコイル
３３の励磁もなくなりこのリレーコイル３３によ
つて保持されていた第１のリレー接点３４および
第２のリレー接点３５が開く。第１のリレー接点
３４が開くことによりテスト電流供給回路１６か
ら回路遮断器A′の引外し制御回路６へのテスト
電流の供給が停止する。また第２のリレー接点35
が開くことにより電流検出回路２４からサイリス
タ３８のゲートＧに加えられる電圧もなくなつて
サイリスタ３８はオフする。

テスト終了押し釦２９を押すと、この押し釦２
９に連動した常開接点である終了押し釦連動接点
４０が閉じる。該接点４０の接続により第２図に
示すサイリスタ７のアノードおよびカソード端子
間が短絡されることになつてサイリスタ７はター
ンオフする。

そして回路遮断器A′は通常の状態に戻る。

以上のように、この考案によれば、回路遮断器
に備えられた引外しコイルの両端に接続されるべ
き２つの端子と、前記２つの端子間に接続される
かつスイツチング手段と抵抗との直列接続を含む
分流回路と、前記分流回路における電圧降下に基
づいて前記引外しコイルへの電流の流れを検出す
る電流検出回路とを備え、前記スイツチング手段
の開閉に応じて回路遮断器制御回路による前記引
外しコイルへの電流量を制御するようにしたこと
により、 回路遮断器を通電中に、回路遮断器にテスト回
路を接続し、テスト信号を印加しても、回路遮断
器をトリツプさせることなく回路遮断器の制御用
電子回路の点検を行なうことができる。さらに回
路遮断器のテストのために回路遮断器内部の回路
に機械的接点を設けていないため、回路遮断器の
回路構成が複雑化せず、回路遮断器自体の信頼性
を高めることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の回路遮断器とそのテスト回路の
回路図である。第２図は回路遮断器およびこの考
案の一実施例のテスト回路の接続を示すブロツク
図である。第３図はこの考案の一実施例の回路遮
断器テスト回路の回路図である。 図において、Ａ，A′は回路遮断器、８，８′は
テスト回路、９は切換スイツチ、１０は引外しコ
イル、１３，１４はテスト電流供給端子、１７，
１８は引外しコイルの両端に接続されるべき端
子、１９は検出制御回路、２３は分流回路、２４
は電流検出回路、２６はフオトカプラ、３６は発
光ダイオード、３７は受光素子、３８はサイリス
タ、３９は発光ダイオードを示す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 変流器を介して所定値以上の電流が引外し制
   御回路に入力されたことに応じて、サイリスタ
   のゲートに電圧を印加して引外しコイルを駆動
   するような回路遮断器のためのテスト回路にお
   いて、 前記引外し制御回路にテスト電流を供給する
   ためのテスト電流供給端子、 前記引外しコイルの両端に接続されるべき２
   つの端子、 前記２つの端子間に接続されるかつスイツチ
   ング手段と抵抗との直列接続を含む分流回路、 前記分流回路における電圧降下に基づいて前
   記引外し制御回路から前記引外しコイルへ与え
   られる電流を検出する電流検出手段を備え、 前記スイツチング手段の開閉に応じて前記引
   外し制御回路による前記引外しコイルへの電流
   量を制御する回路遮断器のテスト回路。 (2) 前記電流検出手段は、 前記分流回路に並列接続された発光素子、 前記発光素子に光結合された受光素子、およ
   び 前記受光素子に応答する別の発光素子を備え
   たことを特徴とする、実用新案登録請求の範囲
   第１項記載の回路遮断器のテスト回路。