JPH01284005A - Current mirror circuit - Google Patents

Current mirror circuit

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JPH01284005A
JPH01284005A JP63112838A JP11283888A JPH01284005A JP H01284005 A JPH01284005 A JP H01284005A JP 63112838 A JP63112838 A JP 63112838A JP 11283888 A JP11283888 A JP 11283888A JP H01284005 A JPH01284005 A JP H01284005A
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JP
Japan
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transistor
voltage
size
transistors
current
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Application number
JP63112838A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiromi Shimada
宏美 島田
Harufusa Kondo
晴房 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH01284005A publication Critical patent/JPH01284005A/en
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Abstract

PURPOSE:To keep the operating state of transistors(TR) being components of the current mirror circuit in the saturation region even if a power voltage and a threshold voltage are fluctuated and to apply mirror operation of current with fidelity by providing a bias voltage generating circuit where the ratio of the size of TRs is limited. CONSTITUTION:A ratio of a size (where size is referred to as a ratio of a channel length to a channel width) S3 of a TR M3 being a component of a bias voltage generating circuit 2 and a size S4 of a TR M4 is limited within a range given by the inequality shown. In the inequality, V1 is a gate voltage of TRs M1a, M1b, M3, V+h1 is a threshold voltage of the TRs M1a, M1b, M3, M4, V+h2 is a threshold voltage of the TR M2a and a function of a source voltage V4 of the TR, the TRs M1a-M2b are of the same side and the TRs M5a, M5b are also of the same size. Even in the presence of a flucturation of the power voltage, if the amplitude of the current flowing to the current mirror circuit 1 is unchanged, the gate voltage V1, that is, the current flowing to the bias voltage generating circuit 2 is also unchanged and the gate voltage V2 of the TR M4 is unchanged, then the TRs being the components of the current mirror circuit 1 is kept in the saturation region.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野J この発明は電源電圧及びしきい値の変動があっても忠*
に電流をミラーするカレントミラー回路に関するもので
ある。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application J] This invention provides reliable performance even when there are fluctuations in power supply voltage and threshold value.
This relates to a current mirror circuit that mirrors a current to a current.

〔従来の技術J 従来のバイアス電圧発生回路を備えたカレント;ツー回
路を差動増幅器に適用した例について説明する。第3図
において、α)はカレントミラー回路、(2)はバイア
ス電圧発生回路、(3)は差動増幅器、(Mla) 〜
(M2b)と(%14)と(Miaンはコチャネルトラ
ンジスタ、(M5b)はpチャネルトランジスタであ、
9.viとvlは入力、Voは出力、VRI 〜VR3
はバイアス電圧、Vlはトランジスタ(Mia )のゲ
ート電圧、v2はトランジスタ(MZa)のゲート電圧
、v3はトランジスタ(MZa)のソース電圧である。
[Prior Art J] An example in which a current/two circuit equipped with a conventional bias voltage generation circuit is applied to a differential amplifier will be described. In Figure 3, α) is a current mirror circuit, (2) is a bias voltage generation circuit, (3) is a differential amplifier, (Mla) ~
(M2b), (%14) and (Mian are co-channel transistors, (M5b) is a p-channel transistor,
9. vi and vl are inputs, Vo is output, VRI ~ VR3
is the bias voltage, Vl is the gate voltage of the transistor (Mia), v2 is the gate voltage of the transistor (MZa), and v3 is the source voltage of the transistor (MZa).

次に動作について説明する。カレントミラー回路(1)
が忠実に電流をミラーしていれば、差動増幅n (3)
 (D入力、dEVi>Vi(Dとき、) ヲンvスP
 (Mlb)はトランジスタ(Mla)と同じ電流しか
流さないので出力に[浣が流れ込むため出力Voは上が
シ、入力がVi (Vi Oときトランジスタ(Mib
)はトランジスタ(Mla )と同じだけ電流を流すの
で、出力から電流を引き込む丸め出力Voは下がる。ミ
ラー率が悪ければ、入力がvf’>viのときトランジ
スタ(mlb)はトランジスタ(Miaンよシミ流を流
すので、出力に流れ込む電流が減るため出力vOは上記
はど上がらず、入力がvr<vrのとき、トランジスタ
(ulb)はトランジスタ(mia)はど電流を流さな
いので、出力から引き込む電流が減るため出力Voは上
記はど下がらない。即ち電圧利得が減少する。ミラー率
の良いカレントミツ−を得るためにはカレントミラー回
路a)を構成するトランジスタ(Mla)〜(nzb)
をすべて飽和領域で動作させる必要があるので、この条
件を満たすバイアス電圧V2を決めてバイアス電圧発生
回路(2)において発生させる。
Next, the operation will be explained. Current mirror circuit (1)
If mirrors the current faithfully, then the differential amplification n (3)
(D input, dEVi>Vi (when D,) Won vs P
(Mlb) flows only the same current as the transistor (Mla), so the output Vo is high because the current flows into the output, and when the input is Vi (Vi O, the transistor (Mib)
) flows the same amount of current as the transistor (Mla), so the rounding output Vo that draws current from the output decreases. If the mirror ratio is bad, when the input is vf'>vi, the transistor (mlb) will flow a stain current as compared to the transistor (mia), so the current flowing into the output will decrease, so the output vO will not rise as much as above, and the input will become vr< When vr, the transistor (ulb) does not allow current to flow through the transistor (mia), so the current drawn from the output decreases, so the output Vo does not drop as much as above.In other words, the voltage gain decreases. - In order to obtain
It is necessary to operate all of them in the saturation region, so a bias voltage V2 that satisfies this condition is determined and generated in the bias voltage generation circuit (2).

電源電圧の変動があった場合について考える。Consider the case where there is a fluctuation in the power supply voltage.

差動増幅器(3)において通常バイアス電圧VRI 、
 VH2は一定電流を流すように与えられておシ回路を
流れる電流の大きさは変わらないとする。カレントミラ
ー回路a)を流れる電流の大きさは変わらないので、ト
ランジスタ(Mla)のゲート電圧v1は変化しないが
、バイアス発生回路(2)の出力となるバイアス電圧v
2は電源電圧の変動に伴なって変化する。
In the differential amplifier (3), the normal bias voltage VRI,
It is assumed that VH2 is applied so that a constant current flows, and the magnitude of the current flowing through the VH circuit does not change. Since the magnitude of the current flowing through the current mirror circuit a) does not change, the gate voltage v1 of the transistor (Mla) does not change, but the bias voltage v which becomes the output of the bias generation circuit (2)
2 changes with fluctuations in the power supply voltage.

トランジスタ(MZa)のドレイン電圧v1は変化せず
、ゲート電圧v2は変化するので、この値がある値を越
えて大きくなると、トランジスタ(MZa)は飽和領域
からはずれる。
Since the drain voltage v1 of the transistor (MZa) does not change and the gate voltage v2 changes, when this value increases beyond a certain value, the transistor (MZa) deviates from the saturation region.

また、しきい値の変動があった場合について考える。n
fヤネyトランジスタのしきい値はffi化せず、pf
ヤネルトランジスタのしきい値が変動したとする。カレ
ントミラー回路α)を流れる電流の大きさが変わらない
のでトランジスタ(Mla)のゲート電圧Vlは変化し
ないが、バイアス発生回路(2)の出力となるバイアス
電圧v2はPfヤネ〃トランジスタのしきい値が大きく
なれば下がシ、しきい値が小さくなれば上がシ、ある値
を越えるとトランジスタ(&1za)は飽和領域からは
ずれる。
Also, consider the case where there is a change in the threshold value. n
The threshold value of the f-y transistor is not changed to ffi, but pf
Suppose that the threshold value of the Yanel transistor changes. Since the magnitude of the current flowing through the current mirror circuit α) does not change, the gate voltage Vl of the transistor (Mla) does not change, but the bias voltage v2, which is the output of the bias generation circuit (2), is the threshold value of the transistor (Pf). If the threshold value becomes large, the lower value becomes ``high'', and if the threshold value becomes small, the upper value becomes ``high'', and when the threshold value exceeds a certain value, the transistor (&1za) goes out of the saturation region.

〔発明が解決しようとする課題J 従来のカレントミラー回路は′に源電圧及びしきい値の
変動があればカレントミツ−を構成するトランジスタが
飽和領域からはずれるためミラー率が悪くなシカレント
ミラーとしての性能が落ちるという問題点があった。
[Problem to be solved by the invention J] In conventional current mirror circuits, if there are fluctuations in the source voltage and threshold value, the transistors that make up the current will move out of the saturation region, so the mirror efficiency is poor. There was a problem that the performance of

この発明は上記のような問題点を解消するため罠なされ
たもので、電源電圧及びしきい値の変動があってもトラ
ンジスタを飽和領域に保ち、忠実に電流をミラーするカ
レントミラー回路を得ることを目的とする。
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and provides a current mirror circuit that keeps the transistor in the saturation region and faithfully mirrors the current even if there are fluctuations in the power supply voltage and threshold value. With the goal.

〔課題を解決するための手段J この発明に係る第1導を型トランジスタからなるカレン
トミラー回路は、バイアス電圧発生回路として同一のL
SI内に第2導を型トランジスタからなる別のカレント
ミラー回路に接続され、トランジスタサイズの比が V+hz(73)   P l +              く       
 〈  2 +7+h(vリ −’q+hxVl−V+
hl       Vl−■+111で制限される2つ
の第1導を型トランジスタラmえたものである。
[Means for Solving the Problems J] A current mirror circuit comprising a first conductor type transistor according to the present invention uses the same L transistor as a bias voltage generating circuit.
Inside the SI, the second conductor is connected to another current mirror circuit consisting of type transistors, and the transistor size ratio is V+hz(73) P l + .
〈 2 +7+h(vli −'q+hxVl−V+
The two first conductors limited by hl Vl-■+111 are arranged as type transistors.

C作用j この発明におけるカレントミラー回路は、バイアス電圧
発生回路を構成するトランジスタのサイズの比を規制し
たので、バイアス電圧は2v1−2V’−1−hl+V
+h2(Vi) < V2 <V1+V+h2(Vi)
の範囲内となシ、カレントミラー回路のトランジスタを
飽和領域で動作させ電源電圧及びしきい値の変動があっ
てもトランジスタを飽和領域に保1〔実施例J 以下、この発明を差動増幅器に適用した例について説明
する。第1図において(M3)はnチャネルトランジス
タ、(M5a)はp?ヤネ〜トヲンジスタである。
C effect j Since the current mirror circuit in this invention regulates the size ratio of the transistors constituting the bias voltage generation circuit, the bias voltage is 2v1-2V'-1-hl+V
+h2(Vi) <V2 <V1+V+h2(Vi)
Within the range of , the transistor of the current mirror circuit is operated in the saturation region and the transistor is maintained in the saturation region even if the power supply voltage and threshold value fluctuate. An example of application will be explained. In FIG. 1, (M3) is an n-channel transistor, and (M5a) is a p? It's Yane~Towonjista.

トランジスタサイズをtヤネμ長とtヤネlv@の比と
し、トランジスタ(M3)のサイズS3と、トランジス
タ(M4)のサイズS4の比は で与えられる範囲内に制限されている。
The transistor size is defined as the ratio of the t-yen μ length and the t-yen lv@, and the ratio between the size S3 of the transistor (M3) and the size S4 of the transistor (M4) is limited within the range given by.

ただし”ilはトランジスタ(1!la) s (Ml
b)、(M3)のゲート電圧であり、V+hlはトラン
ジスタ(Mla)、(Mlb)、(M3)、(M4)の
しきい値電圧であり、V+112はトランジスタ(vz
a)のしきい値電圧でこのトランジスタのソース電圧v
3の関数となっておシ、トランジスタ(Mla)〜(M
2b)は同じサイズとし、トランジスタ(M5a) 、
(M5b)も同じサイズとする。
However, “il” is a transistor (1!la) s (Ml
b), (M3), V+hl is the threshold voltage of transistors (Mla), (Mlb), (M3), (M4), and V+112 is the transistor (vz
The source voltage v of this transistor at the threshold voltage of a)
As a function of 3, transistor (Mla) ~ (M
2b) are the same size, transistors (M5a),
(M5b) is also the same size.

次に動作について説明する。カレントミツ−回路α)に
おいてトランジスタ(Mla)と(M2a)の飽和の条
件は Mla  二V  1−V+hx  < Vs    
                      −(p
M2a :V 2−V s−v+hz(Vs) < V
l−Vl       −■であり、トランジスタ(M
2a )のしきいat圧v+qsは基板効果を考慮に入
れた次式で与えられる。
Next, the operation will be explained. In the current circuit α), the conditions for saturation of transistors (Mla) and (M2a) are Mla2V1-V+hx<Vs
−(p
M2a:V2-Vs-v+hz(Vs)<V
l-Vl-■, and the transistor (M
The threshold at pressure v+qs in 2a) is given by the following equation taking into account the substrate effect.

V +h 2 (Vす=V+h1+T(lり丁70− 
vza)   −■ここでTは基板効果係数、−Fはフ
ェルミポテンシャルである。
V + h 2 (Vsu = V + h1 + T (170-
vza) -■Here, T is the substrate effect coefficient and -F is the Fermi potential.

トランジスタ(Mla) 、(M2a)に流れる飽和電
流は等しいので、これらのトランジスタサイズを同じに
すれば0式の左辺と0式の左辺は等しくなシ、バイアス
電圧v2の範囲は 2vs−2v+hx +v+hz(vs) < vz 
< v1+y+hz(vリー■に制限される。
The saturation currents flowing through transistors (Mla) and (M2a) are equal, so if these transistor sizes are made the same, the left side of equation 0 will be equal to the left side of equation 0, and the range of bias voltage v2 will be 2vs-2v+hx +v+hz( vs) < vz
< v1+y+hz (limited to v Lee ■.

バイアス電圧発生回路(2)においてトランジスタ(M
5a)と(M5b)は通常のカレントミツ−を構成して
お9両側に流れる電流即ちトランジスタ(M3)と(M
4)の飽和電流は等しいので 8m(Vl−V+hl)”=i94(V2−V+hり”
となる。従ってバイアス電圧v2は次式のように決まる
In the bias voltage generation circuit (2), a transistor (M
5a) and (M5b) constitute a normal current transistor, and the current flowing on both sides of the transistor (M3) and (M5b) constitute a normal current transistor.
4) The saturation currents are the same, so 8m(Vl-V+hl)"=i94(V2-V+hl)
becomes. Therefore, the bias voltage v2 is determined as shown in the following equation.

■式と0式よシトランジスタ(M3)と(M4)のサイ
ズS3と84の比は の範囲に規制される〇 バイアス電圧発生回路2)を構成するトランジスタ(l
i13)と(M4)を0式の範囲を満たすように設計す
るとバイアス電圧V2は0式によって・決まる。
■ According to formula and formula 0, the ratio of sizes S3 and 84 of transistors (M3) and (M4) is regulated within the range of 〇 The transistor (l
If i13) and (M4) are designed to satisfy the range of formula 0, the bias voltage V2 is determined by formula 0.

この値は■式の範囲を満たしておシ、カレントミツ−回
路α)を構成する4つの同じサイズのトランジスタ(v
ia)〜(M2b)は飽和領域で動作する。
If this value satisfies the range of formula ■, the four transistors of the same size (v
ia) to (M2b) operate in the saturation region.

電源電圧の変動があってもカレントミツ−回路α)を流
れる電流の大きさが変わらなければ、トランジスタ(M
la )のゲート電圧v1は変化しないのでバイアス電
圧発生回路(2)を流れる電流の大きさも変化しない。
Even if the power supply voltage fluctuates, if the magnitude of the current flowing through the current circuit α) does not change, the transistor (M
Since the gate voltage v1 of the bias voltage generating circuit (2) does not change, the magnitude of the current flowing through the bias voltage generating circuit (2) also does not change.

従ってトランジスタ(M4)のゲート電圧v2は変化し
ないため、カレントミラー回路Q)を構成するトランジ
スタは飽和領域に保たれる。
Therefore, since the gate voltage v2 of the transistor (M4) does not change, the transistor constituting the current mirror circuit Q) is kept in the saturation region.

しきい値の変動があった場合を考える。pfヤネルトヲ
ンジスタのしきい値の変動があっても、上記と同様にし
て、トランジスタは飽和領域に保九れる。rJf、ヤネ
μトランジスタのしきい値V+hlの変動があればV 
1 * V 3 、 via 1に伴って変化する。
Consider the case where the threshold value fluctuates. Even if there is a variation in the threshold value of the pf transistor, the transistor is kept in the saturation region in the same manner as described above. rJf, if there is a change in the threshold value V + hl of the Jane μ transistor, V
1 * V 3 , changes with via 1.

このときバイアス電圧v2も0式に従って変化するので
、変化後も■式が満たされる@シトランジスタは飽和領
域に保たれる。
At this time, the bias voltage v2 also changes according to the equation 0, so even after the change, the @si transistor that satisfies the equation (2) is maintained in the saturation region.

また、カレントミツ−回路を流れる電流の大きさが変化
したとすると、Vl、 V3. V+h!が変化するが
、vzも0式に従って変化するため、■式を満たす限シ
、トランジスタは飽和領域に保たれる。
Also, if the magnitude of the current flowing through the current circuit changes, Vl, V3. V+h! changes, but vz also changes according to equation 0, so as long as equation (2) is satisfied, the transistor is kept in the saturation region.

また、この発明をバンド・ギャップ・リファレンス基準
電圧源に適用した例について説明する。
Further, an example in which the present invention is applied to a band gap reference reference voltage source will be described.

バンド・ギャップ・リファレンス基準電圧源は、電源電
圧及び温度の変動に対して一定の出方を得るものであり
、差動増幅器の基準電圧源などに用いられる。第2図に
おいて、(4)はバンド・ギャップ・リファレンス基準
電圧源、 (M6a)〜(MIO)はpfヤネ〜トラン
ジスタ、(Mlla)〜(M12d)はnチャネルトラ
ンジスタ、(Bl)〜(B3)はpnp)フンジスタで
ある。V4. V5はそれぞれトランジスタ(v7a)
 、(M8a)のゲート電圧、v6はトランジスタ(1
8a)のソース電圧、V7〜V12はそれぞれトランジ
スタ(Mla)、(Mlb )、(M3)、(M4)、
(Mlla)、(Mllb)のソース電圧である。通常
のウィルソン型カレントミフーはバイアス電圧を与える
必要なくしてトランジスタが飽和領域で動作するが、バ
ンド・ギャップ・リファレンス基準電圧源においてはM
OSトランジスタ4つと温度補償のためのパイボーフト
ランジスタが直列に接続されているため、しきい値がか
さみ電源電圧5vではトランジスタは動作しない。カレ
ントミツ−回路q)は、適当なバイアス電圧を与えれば
、電源電圧5vでもトランジスタを飽和領域で動作させ
ることができる。
A band gap reference reference voltage source obtains a constant output against fluctuations in power supply voltage and temperature, and is used as a reference voltage source for a differential amplifier. In Figure 2, (4) is a band gap reference reference voltage source, (M6a) to (MIO) are pf transistors, (Mlla) to (M12d) are n-channel transistors, (Bl) to (B3) is pnp) Funjista. V4. V5 is each transistor (v7a)
, (M8a) gate voltage, v6 is the transistor (1
The source voltages of 8a), V7 to V12, are transistors (Mla), (Mlb), (M3), (M4), respectively.
This is the source voltage of (Mlla) and (Mllb). In a normal Wilson-type current Mif, the transistor operates in the saturation region without the need to apply a bias voltage, but in a band gap reference reference voltage source, M
Since the four OS transistors and the Paibov transistor for temperature compensation are connected in series, the threshold value increases and the transistors do not operate at a power supply voltage of 5V. The current circuit q) can operate the transistor in the saturation region even at a power supply voltage of 5 V if an appropriate bias voltage is applied.

pfヤネ〃トツンジスタ(M7a)〜(M8b)によっ
て構成されるカレントミラーは上記実施例の!lIfヤ
ネ〃トランジスタをpf″ヤネyトランジスタに置き換
えたものである。rJfヤネルトランジスタ(Mla)
〜(M2b)によって構成されるカレントミラーはトラ
ンジスタ(Mla)、(Mlb)のソースがGND電源
に接続されておらず、定電圧V7. V8がソース電圧
となっておシ、この2つのトランジスタサイズが等しい
のでV7とv8は同電位となる。バイアス電圧発生回路
(2)において、トランジスタ(M12a)〜(M12
d)はカレントミラーとなっておυ、4つとモ同シトラ
ンジスタサイズにすれば、それらのドレイン電圧v9〜
V12は同電位となるのでこれをv7ト等シくなるよう
にトランジスタサイズを選べばトランジスタ(MIJl
)、(uxb)、(M3) 、(M4)のソース電圧V
7〜v10は同電位となシ、上記実施例と同様の効果を
もたらす@ 〔発明の効果] 以上のように、この発明によれば、トランジスタサイズ
の比を制限したバイアス電圧発生回路を備えたので、電
源電圧及びしきい値電圧の変動があってもカレントミラ
ー回路を構成するトランジスタを飽和領域に保つことが
でき忠実に電流をミラーする効果がある。
The current mirror constituted by the pf cylinder transistors (M7a) to (M8b) is the same as in the above embodiment! This is a replacement of the lIf transistor with a pf'' Yanel transistor.rJf Yanel transistor (Mla)
~ (M2b), the sources of the transistors (Mla) and (Mlb) are not connected to the GND power supply, and a constant voltage V7. V8 becomes the source voltage, and since the sizes of these two transistors are equal, V7 and v8 have the same potential. In the bias voltage generation circuit (2), transistors (M12a) to (M12
d) becomes a current mirror, υ, and if it is made into four transistors, their drain voltage v9 ~
V12 has the same potential, so if you choose the transistor size so that it is equal to V7, you can create a transistor (MIJl).
), (uxb), (M3), (M4) source voltage V
7 to v10 are at the same potential, producing the same effect as the above embodiment. [Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a bias voltage generation circuit with a limited transistor size ratio is provided. Therefore, even if there are fluctuations in the power supply voltage and threshold voltage, the transistors constituting the current mirror circuit can be kept in the saturation region, resulting in the effect of faithfully mirroring the current.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一夾施例による差動増幅器の回路図
、第2図はこの発明の他の実施例を示すバンド・ギャッ
プ・リファレンス基準電圧源の回路図、第3図は従来の
差動増幅器の回路図である。 (1)カレントミラー回路、c2)はバイアス電圧発生
回路、〈3)は差動増幅器、(4)はバンド・ギャップ
・リファレンス基準電圧源、(Mla)〜(M4)と(
Mlla)〜(Mla)はr1fヤネρトツンジスタ、
  (M5a) 〜(MIOンはpチャネ〜トランジス
タ、(B1)〜(B3)はpnp)フンジスタ。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代 理 人  大  岩   増  雄l      
                         
         J手続補正書(自発) 昭和  年  月  日 2、発明の名称 カレントミラー回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所     東京都千代田区丸の内二丁目2番3号
名 称  (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号5
、補正の対象 明細書の持′許請求の範囲の欄、発明の詳細な説明の欄
、および図面。 6、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり訂正する。 (2)明細書の第6頁第9行に、 とあるのを、 に訂正する。 (3)明細書の第7頁第8行に、 とあるのを、 に訂正する。 (4)明細書の第7頁第20行に、 Mla :Vr−Vlht < Vs        
   −■とあるのを、 旧、a :V 1−Vklil (Vl       
      −■に訂正する。 (5)明細書の第8頁第1行に、 142a  : V  2−V  3− Vlh2(V
l)  <  V  r−V 3          
− ■とあるのを、 M2R:V2−v3−vth2(v3)<vl−Vl 
    −■に訂正する。  。 (6)明細書の第8頁第2行に[しき(1値電圧゛v・
1・It2とあるのを[しきい値電圧vzhz  に訂
正する。 (7)明細書の第8頁第4行に、 vlh2(v:+)=vnu+丁 (νl]5[丁7「
1rコ−v′ri7)     −(,3)とあるのを
、 vbz(v3)=vch++r(lり7vr−V占u)
  −(3)に訂正する。 (8)明細書の第8頁第11行に、 2Vニー2V−14u  トy+11z(V:+)< 
 Vz  <  Vl4−Vlh2(Vl)   (a
とあるのを、 2V1−2V ・hl +Vthz(v3) < V2
 < Vt4−VD112(V:5)−QDに訂正する
。 (9ン明細書の第8頁第17行に、 S s (V r−V−1(1す2=S’(v2−V4
hl)2とあるのを、 S 3(Vl−Vht)2= S4 (V2−vt11
+)2に訂正する。 OQ明細書の第8頁第20行に、 V 2 ;■W 旧” 5  (V r  V + k
1’ )             −〇とあるのを、 V 2 =vt h’ +5 (V ’ Vt1i ’
 )       −■に訂正する。 θp明細書の第9頁第3行に、 とあるのを、 に訂正する。 (2)明細書の第10頁第2行に Vl、 Vl、 V
l111  に伴ッテトあるのを Vl、 Vl、 V
tbzは’Itt It 1 に伴って に訂正する。 01図面中@2図を別紙のとおり訂正する。 7、添付書類の目録 (1)訂正後の特許請求の範囲を記載した書面1通 (2)訂正図面(第2図)        1通以上 特許請求の範囲 ソース電圧が一定の第1の第1導電型トランジスタに直
列に接続された第2の第1導電型トランジスタのドレイ
ンに、前記第1のトランジスタのゲートが接続されたカ
レントミラー回路において、第2のトランジスタのゲー
トに与えるバイアス電圧の発生回路として、同一のLS
I内に、ソースが電源に接続された2つの第2導電型ト
ランジスタからなる別のカレントミラーの電流をミラー
する側tこ接続された第3の第1導電型トランジスタの
ゲートが、前記第1のトランジスタのゲートに接続され
、電流がミラーされる側に接続された第4の第1導電型
トランジスタのゲートとドレインが、前記第2のトラン
ジスタのゲートに接続され、第3と第4のトランジスタ
のソースは前記第1のトランジスタのソースと同電位で
あり、第3と第4のトランジスタのサイズの比を次の範
囲内に制限したバイアス電圧発生回路を備えたカレント
ミラー回路。 トランジスタサイズはチャネル長とチャネル幅の比であ
り、第3のトランジスタのサイズを83、第4のトラン
ジスタのサイズを84としてV+b+(Vs) 臣V+
hz(Vl、)−V+h+1+−<<2+□ v、−v十り、            vl−v+h
。 ただし、■、は第1のトランジスタのゲート電圧、v+
h、は第1、第3、第4のトランジスタのしきい値電圧
、v+h2 は第2のトランジスタのしきい値電圧でこ
のトランジスタのソース電圧v3の関数となっており、
第1と第2のトランジスタは同じサイズとし、第2導型
の2つのトランジスタも同じサイズとする。
Fig. 1 is a circuit diagram of a differential amplifier according to one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a circuit diagram of a band gap reference reference voltage source showing another embodiment of the invention, and Fig. 3 is a circuit diagram of a conventional differential amplifier. FIG. 2 is a circuit diagram of a differential amplifier. (1) Current mirror circuit, c2) is bias voltage generation circuit, <3) is differential amplifier, (4) is band gap reference reference voltage source, (Mla) to (M4) and (
Mlla) ~ (Mla) is r1f yane ρtotsunzista,
(M5a) - (MIO are p-channel transistors, (B1) - (B3) are pnp) fungistors. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts. Agent Masuo Oiwa

J procedural amendment (voluntary) Showa year, month, day 2, name of the invention Current mirror circuit 3, relationship to the case of the person making the amendment Patent applicant address 2-2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Name (601) Mitsubishi Electric Corporation Representative: Moriya Shiki 4, Agent Address: 2-2-3-5 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo
, the scope of claims, detailed description of the invention, and drawings of the specification to be amended. 6. Contents of amendment (1) The scope of claims is amended as shown in the attached sheet. (2) On page 6, line 9 of the specification, the following is corrected to: (3) On page 7, line 8 of the specification, the following is corrected to: (4) On page 7, line 20 of the specification, Mla:Vr-Vlht<Vs
-■ means old, a :V 1-Vklil (Vl
−Correct to ■■. (5) In the first line of page 8 of the specification, 142a: V2-V3-Vlh2(V
l) < V r−V 3
-■, M2R:V2-v3-vth2(v3)<vl-Vl
−Correct to ■■. . (6) In the second line of page 8 of the specification, [Shiki(monovoltage ゛v・
1・It2 is corrected to [threshold voltage vzhz]. (7) On page 8, line 4 of the specification, vlh2(v:+)=vnu+Ding (νl)5[Ding7"
1r co-v'ri7) -(,3), vbz(v3)=vch++r(lri7vr-V fortune u)
- Correct (3). (8) On page 8, line 11 of the specification, 2V knee 2V-14u toy+11z (V:+)<
Vz < Vl4-Vlh2(Vl) (a
It says, 2V1-2V ・hl +Vthz (v3) < V2
< Correct to Vt4-VD112 (V:5)-QD. (On page 8, line 17 of the 9th specification, S s (V r-V-1(1s2=S'(v2-V4
hl)2, S3(Vl-Vht)2=S4 (V2-vt11
+) Correct to 2. On page 8, line 20 of the OQ specification, V 2 ;■W old” 5 (V r V + k
1') -〇, V 2 =vt h' +5 (V'Vt1i'
) −Correct to ■■. On page 9, line 3 of the θp specification, the following is corrected to: (2) Vl, Vl, V on page 10, line 2 of the specification
Vl, Vl, V
tbz is corrected to 'Itt It 1'. Figure @2 in the 01 drawing is corrected as shown in the attached sheet. 7. List of attached documents (1) One document stating the corrected claims (2) One or more corrected drawings (Figure 2) Claims First first conductive device with constant source voltage As a circuit for generating a bias voltage to be applied to the gate of a second transistor in a current mirror circuit in which the gate of the first transistor is connected to the drain of a second transistor of the first conductivity type connected in series with the transistor. , the same LS
The gate of a third transistor of the first conductivity type connected to the side mirrors the current of another current mirror consisting of two transistors of the second conductivity type, the source of which is connected to the power supply, the gate and drain of a fourth first conductivity type transistor connected to the side where the current is mirrored; the gate and drain of a fourth transistor of the first conductivity type connected to the gate of the second transistor; A current mirror circuit comprising a bias voltage generating circuit, the source of which is at the same potential as the source of the first transistor, and the size ratio of the third and fourth transistors is limited within the following range. Transistor size is the ratio of channel length to channel width, and assuming the size of the third transistor is 83 and the size of the fourth transistor is 84, V+b+(Vs) V+
hz (Vl,)-V+h+1+-<<2+□ v, -v ten, vl-v+h
. However, ■ is the gate voltage of the first transistor, v+
h, is the threshold voltage of the first, third, and fourth transistors, and v+h2 is the threshold voltage of the second transistor, which is a function of the source voltage v3 of this transistor,
The first and second transistors are the same size, and the two transistors of the second conductivity type are also the same size.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ソース電圧が一定の第1の第1導電型トランジスタに直
列に接続された第2の第1導電型トランジスタのドレイ
ンに、前記第1のトランジスタのゲートが接続されたカ
レントミラー回路において、第2のトランジスタのゲー
トに与えるバイアス電圧の発生回路として、同一のLS
I内に、ソースが電源に接続された2つの第2導電型ト
ランジスタからなる別のカレントミラーの電流をミラー
する側に接続された第3の第1導電型トランジスタのゲ
ートが、前記第1のトランジスタのゲートに接続され、
電流がミラーされる側に接続された第4の第1導電圧ト
ランジスタのゲートとドレインが、前記第2のトランジ
スタのゲートに接続され、第3と第4のトランジスタの
ソースは前記第1のトランジスタのソースと同電位であ
り、第3と第4のトランジスタのサイズの比を次の範囲
内に制限したバイアス電圧発生回路を備えたカレントミ
ラー回路。 トランジスタサイズはチャネル長とチャネル幅の比であ
り、第3のトランジスタのサイズをS3、第4のトラン
ジスタのサイズをS4として ▲数式、化学式、表等があります▼ ただし、V1は第1のトランジスタのゲート電圧、V+
h1は第1、第3、第4のトランジスタのしきい値電圧
、V+h2は第2のトランジスタのしきい値電圧でこの
トランジスタのソース電圧V3の関数となっており、第
1と第2のトランジスタは同じサイズとし、第2導型の
2つのトランジスタも同じサイズとする。
[Scope of Claims] A current mirror in which the gate of the first transistor is connected to the drain of a second first conductivity type transistor connected in series to the first first conductivity type transistor whose source voltage is constant. In the circuit, the same LS is used as a bias voltage generation circuit to be applied to the gate of the second transistor.
I, the gate of a third transistor of the first conductivity type connected to the side that mirrors the current of another current mirror consisting of two transistors of the second conductivity type, the source of which is connected to the power supply; connected to the gate of the transistor,
The gate and drain of a fourth first conductive voltage transistor connected to the side on which the current is mirrored are connected to the gate of said second transistor, and the sources of the third and fourth transistors are connected to said first transistor. A current mirror circuit including a bias voltage generating circuit that has the same potential as the source of the transistor and limits the size ratio of the third and fourth transistors to within the following range. Transistor size is the ratio of channel length to channel width, and the size of the third transistor is S3 and the size of the fourth transistor is S4. ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼ However, V1 is the ratio of the first transistor. Gate voltage, V+
h1 is the threshold voltage of the first, third, and fourth transistors, and V+h2 is the threshold voltage of the second transistor, which is a function of the source voltage V3 of this transistor. are the same size, and the two transistors of the second conductivity type are also the same size.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5386200A (en) * 1993-12-14 1995-01-31 Samsung Electronics Co., Ltd. IGFET current mirror amplifiers with nested-cascode input and output stages

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5386200A (en) * 1993-12-14 1995-01-31 Samsung Electronics Co., Ltd. IGFET current mirror amplifiers with nested-cascode input and output stages

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