JPH01279379A - Pattern collating device - Google Patents

Pattern collating device

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JPH01279379A
JPH01279379A JP10884188A JP10884188A JPH01279379A JP H01279379 A JPH01279379 A JP H01279379A JP 10884188 A JP10884188 A JP 10884188A JP 10884188 A JP10884188 A JP 10884188A JP H01279379 A JPH01279379 A JP H01279379A
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JP
Japan
Prior art keywords
pattern
window
cutting
circuit
patterns
Prior art date
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Pending
Application number
JP10884188A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshimichi Masaki
俊道 政木
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Priority to JP10884188A priority Critical patent/JPH01279379A/en
Publication of JPH01279379A publication Critical patent/JPH01279379A/en
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Abstract

PURPOSE:To realize the real-time collation of patterns with use of a small- capacity table and a simple circuit constitution by performing the fragmentary collation between an input pattern included in an input picture and a reference pattern set previously. CONSTITUTION:Plural cut patterns obtained by setting the horizontal cutting lines at the prescribed positions of a reference pattern are previously registered into a cut pattern table 23. A window setting circuit 18 sets the windows at the collating areas between an input picture and those cut patterns. Then a position checking circuit 24 decides the coincidence or discordance between the pattern in each window and each cut pattern. This deciding action is repeated together with shift of the windows. When the pattern of the window is coincident with either one of cut patterns, the result of collation is decided and delivered. Thus it is possible to perform the real-time collation of patterns with use of a small-capacity table and a sample circuit constitution.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、例えば入力画像の中に所定のパターンが存
在するか否かを判別するのに用いられるパターン照合装
置に関連し、殊にこの発明は、入力画像中の入力パター
ンを予め設定された基準パターンと照合して、両パター
ンの一致。
Detailed Description of the Invention <Industrial Application Field> The present invention relates to a pattern matching device used, for example, to determine whether or not a predetermined pattern exists in an input image, and particularly relates to a pattern matching device used for determining whether or not a predetermined pattern exists in an input image. The invention compares an input pattern in an input image with a preset reference pattern to find a match between the two patterns.

不一致を判別するためのパターン照合装置に関する。The present invention relates to a pattern matching device for determining mismatch.

〈従来の技術〉 従来のこの種パターン照合装置は、第6図に示す如く、
基準パターン1を予め基準パターンテーブルに登録して
おき、この基準パターン1に対応する大きさのウィンド
ウ2を入力画像3上に設定して移行させつつウィンドウ
2内のパターンを前記基準パターン1と照合して両者め
一致、不一致を判別し、これにより入力画像3の中に基
準パターン1と一致する犬カバターン4が存在するか否
かを判断している。
<Prior art> As shown in FIG. 6, a conventional pattern matching device of this type
A reference pattern 1 is registered in the reference pattern table in advance, and a window 2 of a size corresponding to the reference pattern 1 is set on the input image 3 and the pattern in the window 2 is compared with the reference pattern 1 while being moved. Then, it is determined whether the two patterns match or do not match, and thereby it is determined whether or not there is a dog covert turn 4 that matches the reference pattern 1 in the input image 3.

第7図は、上記の動作をリアルタイムで実現するための
装置例を示している。図中、テレビカメラ5は上記の入
力画像3を得るためのもの、二値化回路6はテレビカメ
ラ5よりビデオ信号を入力してこれを二値化するための
ものであり、この二値画像データはウィンドウ設定回路
7に与えられる。このウィンドウ設定回路7は、多数段
のシフトレジスタ8と、複数の遅延回路9と、同期信号
発生回路IOとから成るもので、シフトレジスタ8は前
記ウィンドウ2の横長さに相当するビットを有しかつウ
ィンドウ2の縦長さに相当する段数だけ用いである。各
遅延回路9は各段のシフトレジスタ8に与える二値画像
データを1水平走査期間に相当するビットづつ順次遅延
させて、各段のシフトレジスタ8に各行間位置の二値画
像データを設定する。
FIG. 7 shows an example of a device for realizing the above operation in real time. In the figure, a television camera 5 is used to obtain the above-mentioned input image 3, and a binarization circuit 6 is used to input a video signal from the television camera 5 and binarize it. The data is given to window setting circuit 7. This window setting circuit 7 consists of a multi-stage shift register 8, a plurality of delay circuits 9, and a synchronization signal generation circuit IO, and the shift register 8 has a bit corresponding to the horizontal length of the window 2. In addition, only the number of stages corresponding to the vertical length of the window 2 is used. Each delay circuit 9 sequentially delays the binary image data given to the shift register 8 at each stage by bits corresponding to one horizontal scanning period, and sets the binary image data at each inter-row position in the shift register 8 at each stage. .

各段のシフトレジスタ8の各ビットデータは基準パター
ンテーブル11に与えられ、ここでウィンドウ2内のパ
ターンと基準パターン1との照合を次々に行って両者の
一致、不−敗を判別し、これにより入力画像3の中に基
準パターン1と一致する入力パターン4が存在するか否
かを判断してゆく。
Each bit data of the shift register 8 of each stage is given to the reference pattern table 11, where the pattern in the window 2 and the reference pattern 1 are compared one after another to determine whether they match or not. It is then determined whether or not there is an input pattern 4 that matches the reference pattern 1 in the input image 3.

〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら上記のパターン照合装置では、例えばウィ
ンドウ2が第8図に示す如く、縦横各10ビットである
と仮定すると、基準パターンテーブル11は少なくとも
2100ビツトの容量をもたせる必要があり、しかもパ
ターン照合をリアルタイムで実現するためには、100
エレメントのシフトレジスタ8と9段の遅延回路9が必
要となる。特に基準パターンテーブル11として膨大な
容量のものが必要であるため、照合すべきパターンが大
きくなれば、リアルタイムでのパターン照合は事実上不
可能となる。
<Problems to be Solved by the Invention> However, in the above-mentioned pattern matching device, assuming that the window 2 has 10 bits each in the vertical and horizontal directions as shown in FIG. 8, the reference pattern table 11 has a capacity of at least 2100 bits. Moreover, in order to realize pattern matching in real time, 100
An elemental shift register 8 and a nine-stage delay circuit 9 are required. In particular, since the reference pattern table 11 requires a huge capacity, if the pattern to be matched becomes large, pattern matching in real time becomes virtually impossible.

この発明は、上記問題に着目してなされたもので、パタ
ーン照合を断片的に行うことにより、小容量のテーブル
と簡易な回路構成とでリアルタイムのパターン照合を実
現できる新規なパターン照合装置を提供することを目的
とする。
This invention was made with attention to the above problem, and provides a new pattern matching device that can realize real-time pattern matching using a small-capacity table and a simple circuit configuration by performing pattern matching piecemeal. The purpose is to

く問題点を解決するための手段〉 上記目的を達成するため、この発明のパターン照合装置
では、基準パターンの所定位置に横方向の切断線を設定
して得た複数個の切断パターンを登録するための手段と
、入力画像の前記切断パターンとの照合箇所にウィンド
ウを設定して移行させるための手段と、ウィンドウ内の
パターンと各切断パターンとの一致、不一致を判別する
ための手段と、一致判別されたウィンドウ内の各パター
ンと各切断パターンとの位置関係に基づき入力パターン
の基準パターンに対する照合結果を判定して出力する手
段とを具備させている。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the pattern matching device of the present invention registers a plurality of cutting patterns obtained by setting horizontal cutting lines at predetermined positions of the reference pattern. means for setting and transitioning a window at a matching portion of the input image with the cutting pattern; means for determining whether a pattern in the window matches each cutting pattern; The apparatus includes means for determining and outputting the result of matching the input pattern against the reference pattern based on the positional relationship between each pattern in the determined window and each cutting pattern.

〈作用〉 パターン照合に先立ち、基準パターンの複数箇所に横方
向の切断線を設定して複数の切断パターンを求め、これ
ら切断パターンを予めメモリに登録しておく。
<Operation> Prior to pattern matching, horizontal cutting lines are set at a plurality of locations on the reference pattern to obtain a plurality of cutting patterns, and these cutting patterns are registered in the memory in advance.

つぎに入力画像が与えられると、この入力画像の前記切
断パターンとの照合箇所にウィンドウを設定してウィン
ドウ内のパターンと各切断パターンとの一致、不一致を
判別する。この判別動作はウィンドウを移行させつつ繰
り返し行う。ウィンドウ内のパターンがいずれか切断パ
ターンと一致すると判断されると、一致判別されたウィ
ンドウ内の各パターンと各切断パターンとの位置関係に
基づき入力パターンの基準パターンに対する照合結果を
判定して出力する。
Next, when an input image is given, a window is set at a portion of the input image that matches the cutting pattern, and it is determined whether the pattern in the window matches or does not match each cutting pattern. This determination operation is repeated while moving the window. When it is determined that any pattern in the window matches a cutting pattern, the result of matching the input pattern against the reference pattern is determined and output based on the positional relationship between each pattern in the window that has been determined to be a match and each cutting pattern. .

このような断片的な照合方法であると、小容量のテーブ
ルと簡易な回路構成などリアルタイムのパターン照合を
実現できる。
With such a fragmentary matching method, real-time pattern matching can be realized using a small-capacity table and a simple circuit configuration.

〈実施例〉 第1図および第2図は、この発明の一実施例にかかるパ
ターン照合装置の構成例を示し、また第3図および第4
図は、この発明のパターン照合装置の原理を示している
<Embodiment> FIGS. 1 and 2 show an example of the configuration of a pattern matching device according to an embodiment of the present invention, and FIGS.
The figure shows the principle of the pattern matching device of the present invention.

図示例のパターン照合装置は、第3図に示す如く、基準
パターンI2の所定箇所に横方向の切断線10〜12を
設定し、各切断線に沿う複数個の切断パターン−〇、 
Wl、 W2を求めて、これら切断パターン−0,Wl
、 W2を後記する切断パターンテーブルに予め登録す
るものである。
As shown in FIG. 3, the illustrated pattern matching device sets horizontal cutting lines 10 to 12 at predetermined locations of the reference pattern I2, and creates a plurality of cutting patterns -〇, 〇,
Find Wl, W2 and use these cutting patterns -0, Wl
, W2 are registered in advance in the cutting pattern table to be described later.

つぎに第4図に示すような入力画像13が与えられると
、この入力画像13上に前記切断パターンとの照合を行
うためのウィンドウ14を設定して、このウィンドウ1
4内のパターンがいずれか切断パターンWO,Wl、 
W2と一致するか否かを判別する。この判別動作はウィ
ンドウ14を図中、矢印で示す方向に移行させつつ繰り
返し行うもので、その結果、(Xa ’+ Yo )の
位置でウィンドウ14内のパターンPOが第1の切断パ
ターンWOと、また(X、、Y、)の位置でウィンドウ
14内のパターンP1が第2の切断パターンW1と、さ
らに(Xo、Yz )の位置でウィンドウ14内のパタ
ーンP2が第3の切断パターン−2と、それぞれ一致す
ることになる。この一致判別が行われると、各パターン
PO,PI、 P2間の位置関係と各切断パターンWO
,Wl、 W2間の位置関係とが同じであるか否かを判
別し、これが同じであれば、入力パターン15は基準パ
ターン12と一致する旨の判定を行ってその判定結果を
出力する。
Next, when an input image 13 as shown in FIG. 4 is given, a window 14 is set on this input image 13 for comparison with the cutting pattern, and this
Any of the patterns in 4 is the cutting pattern WO, Wl,
It is determined whether or not it matches W2. This discrimination operation is repeatedly performed while moving the window 14 in the direction shown by the arrow in the figure, and as a result, at the position (Xa'+Yo), the pattern PO in the window 14 becomes the first cutting pattern WO, and Further, at the position (X,,Y,), the pattern P1 in the window 14 becomes the second cutting pattern W1, and furthermore, at the position (Xo, Yz), the pattern P2 in the window 14 becomes the third cutting pattern-2. , each will match. When this match determination is performed, the positional relationship between each pattern PO, PI, and P2 and each cutting pattern WO are determined.
, Wl, and W2 are the same, and if they are the same, it is determined that the input pattern 15 matches the reference pattern 12, and the determination result is output.

なお、入力パターン15の基準パターン12との照合は
、入力パターン15が回転した状態であっても可能であ
る。このような回転パターンの照合を行うには、第5図
に示す如く、基準パターン12をその重心Gに対してを
所定角度θ(例えば1°)毎に回転させ、その時々の切
断パターンWO,Wl、 W2を切断パターンテーブル
に予め登録しておくことになる。
Note that the input pattern 15 can be compared with the reference pattern 12 even when the input pattern 15 is rotated. In order to perform such rotation pattern matching, as shown in FIG. Wl and W2 must be registered in the cutting pattern table in advance.

第1図は、上記の照合動作をリアルタイムで実現するだ
めのパターン照合装置の一例を示している。
FIG. 1 shows an example of a pattern matching device that realizes the above matching operation in real time.

図中、テレビカメラ16は照合対象を撮像して上記の入
力画像13を生成する。二値化回路17はテレビカメラ
16よりビデオ信号を入力してこれを二値化し、その二
値画像データをウィンドウ設定回路18へ出力する。こ
のウィンドウ設定回路18は、前記ウィン1つ14の長
さに相当するビットを有するシフトレジスタ19と、こ
のシフトレジスタ19やX座標カウンタ20およびY座
標カウンタ21へ同期クロックを与える同期信号発生回
路22とから成るもので、前記シフトレジスタ19には
入力画像13のウィンドウ14内に含まれる二値画像デ
ータがセットされる。なおシフトレジスタ19の1ビツ
トは入力画像13の1画素に相当する。
In the figure, a television camera 16 images the object to be matched and generates the input image 13 described above. The binarization circuit 17 inputs a video signal from the television camera 16, binarizes it, and outputs the binary image data to the window setting circuit 18. This window setting circuit 18 includes a shift register 19 having bits corresponding to the length of one win 14, and a synchronization signal generation circuit 22 which supplies a synchronization clock to this shift register 19, an X coordinate counter 20, and a Y coordinate counter 21. Binary image data contained within the window 14 of the input image 13 is set in the shift register 19. Note that one bit of the shift register 19 corresponds to one pixel of the input image 13.

切断パターンテーブル23は、前記切断パターンWO,
Wl、 W2を予め登録してお(ためのもので、前記シ
フトレジスタ19の各ビットデータ、すなわちウィンド
ウ14内のパターンがこの切断パターンテーブル23に
与えられると、前記パターンと各切断パターンWO,W
l、 W2との照合が行われて両者の一致、不一致が判
別される。
The cutting pattern table 23 includes the cutting patterns WO,
Wl, W2 are registered in advance (this is for the purpose of registering each bit data of the shift register 19, that is, the pattern in the window 14, to this cutting pattern table 23, the pattern and each cutting pattern WO, W
1 and W2 are performed to determine whether they match or do not match.

その結果、ウィンドウ14内のパターンがいずれか切断
パターンWO,Wl、 W2と一致するとき、その旨の
結果出力が位置検査回路24に与えられる。
As a result, when the pattern within the window 14 matches any of the cutting patterns WO, Wl, W2, a result output to that effect is provided to the position inspection circuit 24.

位置検査回路24は、一致判別にかかるパターン間の位
置関係と各切断パターンWO,Wl、 W2間の位置関
係とが同じか否かを、X座標カウンタ20およびY座標
カウンタ21より与えられる位置データを用いて検査す
るためのもので、これが同じであれば、入力パターン1
5は基準パターン12と一致する旨の判定を行ってその
判定結果を出力する。
The position inspection circuit 24 uses position data provided by the X coordinate counter 20 and the Y coordinate counter 21 to determine whether or not the positional relationship between the patterns for matching determination is the same as the positional relationship between the cutting patterns WO, Wl, and W2. If they are the same, input pattern 1
5 determines whether the pattern matches the reference pattern 12 and outputs the determination result.

第2図は、上記位置検査回路24の具体例を示しており
、二個のラッチ回路25,26、二個の加算器27.2
B、三個のコンパレータ29゜30.31、三個のD−
ラッチ回路32,33゜34、三個の論理積回路35,
36.37を含んでいる。このうちラッチ回路25,2
6、加算器27.28、コンパレータ29,30.31
および、論理積回路35.36は、各切断パターンー帆
Wl、 W2間の位置関係を表す基準信号を生成するた
めのものであり、D−ラッチ回路32゜33.34はこ
の基準信号を用いて一致判別にかかるパターン間の位置
関係と各切断パターンWO,kl、 W2間の位置関係
とが同じ力Z否か判別するためのものである。論理積回
路37はD−ラッチ回路32,33.34の判断結果を
総合して入力パターンと基準パターンとの一致判別を行
うためのものである。
FIG. 2 shows a specific example of the position inspection circuit 24, which includes two latch circuits 25, 26 and two adders 27.2.
B, three comparators 29°30.31, three D-
Latch circuits 32, 33° 34, three AND circuits 35,
Contains 36.37. Of these, latch circuits 25, 2
6, adder 27.28, comparator 29, 30.31
The AND circuits 35 and 36 are for generating a reference signal representing the positional relationship between each cutting pattern and the sails Wl and W2, and the D-latch circuits 32, 33 and 34 use this reference signal. This is to determine whether or not the force Z is the same between the positional relationship between the patterns related to the coincidence determination and the positional relationship between the cutting patterns WO, kl, and W2. The AND circuit 37 is for integrating the judgment results of the D-latch circuits 32, 33, and 34 and determining whether the input pattern matches the reference pattern.

つぎに第1図および第2図の回路動作を説明すると、ウ
ィンドウ14はシフトレジスタ19のシフト動作により
入力画像13上を移行動作するもので、各移行位置での
ウィンドウ14内のパターンがいずれか切断パターン−
〇、 Wl、 W2と一致するか否かが切断パターンテ
ーブル23を参照しつつその都度判断される。
Next, to explain the circuit operation of FIGS. 1 and 2, the window 14 moves on the input image 13 by the shift operation of the shift register 19, and the pattern within the window 14 at each shift position is Cutting pattern
It is determined each time with reference to the cutting pattern table 23 whether or not they match with 〇, Wl, and W2.

いまウィンドウ14内のパターンが第1の切断パターン
WOと一致するとき、切断パターンテーブル23ば一致
出力10を位置検査回路24へ出力する。この−散出力
i。が位置検査回路24の各ラッチ回路25.26に与
えられると、そのときのX座標カウンタ20の計数値X
およびX座標カウンタ21の計数値Yがそれぞれラッチ
される。前記−散出力i。はD−ラッチ回路32のクロ
ック入力としても与えられ、これによりこのD−ラッチ
回路32はrlJの固定データ人力をラッチして、第1
の切断パターン−〇を検出した旨の検出結果を論理積回
路37へ出力する。
When the pattern in the window 14 matches the first cutting pattern WO, the cutting pattern table 23 outputs a matching output 10 to the position inspection circuit 24. This − scattered power i. is given to each latch circuit 25 and 26 of the position inspection circuit 24, the count value X of the X coordinate counter 20 at that time
and the count value Y of the X coordinate counter 21 are latched. Said-dispersed power i. is also given as a clock input to the D-latch circuit 32, which causes the D-latch circuit 32 to latch the fixed data input of rlJ and
The detection result indicating that the cutting pattern -〇 has been detected is output to the AND circuit 37.

前記ラッチ回路25によるラッチデータはコンパレーク
29に与えられる。このコンパレータ29は、X座標カ
ウンタ20の計数値がランチデータに一致するか否かを
判断し、両者が一致するとき、−散出力を論理積回路3
5.36に与える。
The data latched by the latch circuit 25 is provided to a comparator 29. This comparator 29 judges whether the counted value of the X coordinate counter 20 matches the launch data or not, and when both match, the -spread output is sent to the AND circuit 3.
5.36.

二個の各加算器27.28に前記ラッチ回路26のラッ
チデータが与えられると、一方の加算器27は第2の切
断パターンWlの第1の切断パターン同上のY方向のオ
フセント値(位置ずれ量)をこれに加算する。また他方
の加算器28は、ラッチ回路26のラッチデータに第3
の切断パターン−2の第1の切断パターンWOとのY方
向のオフセット値を加算し、各加算出力が二個の各コン
パレータ30,31へ与えられる。
When the latch data of the latch circuit 26 is given to each of the two adders 27 and 28, one of the adders 27 calculates the Y-direction offset value (positional deviation) of the first cutting pattern of the second cutting pattern Wl. amount) is added to this. Further, the other adder 28 adds a third value to the latch data of the latch circuit 26.
The Y-direction offset value of cutting pattern-2 with respect to the first cutting pattern WO is added, and each addition output is given to two comparators 30 and 31.

各コンパレータ30,31は、Y゛座標カウンタ21の
計数値Yと各加算器27.28による加算出力とが一致
するか否かを判断し、両者が一致するとき、それぞれ−
散出力を論理積回路35.36に与える。そして一方の
論理積回路35は、コンパレータ29,30より一致出
力を入力したとき、また他方の論理積回路36は、コン
パレータ30,31より一致出力を入力したとき、それ
ぞれ出力が「1」となり、この出力信号はD−ラッチ回
路33.34へデータ入力として与えられる。
Each comparator 30, 31 determines whether the counted value Y of the Y' coordinate counter 21 and the addition output from each adder 27, 28 match, and when they match, each -
The scattered output is given to AND circuits 35 and 36. When one of the AND circuits 35 receives the matching outputs from the comparators 29 and 30, and the other AND circuit 36 receives the matching outputs from the comparators 30 and 31, the output becomes "1". This output signal is provided as a data input to D-latch circuits 33 and 34.

いまX座標カウンタ20の計数値Xがラッチ回路25の
ラッチデータと一致し、かつX座標カウンタ21の計数
値Yが加算器27による加算出力と一致するとき、コン
パレータ29.30はともに一致出力を論理積回路35
に与えて、その出力は「1」となる。このとき切断パタ
ーンテーブル23が、ウィンドウ14内のパターンが第
2の切断パターンW1と一致すると判断して、−散出力
11をD−ラッチ回路33にクロック入力として与える
と、論理積回路35からの「1」のデータ入力がラッチ
されて、第2の切断パターンWlを検出した旨の検出結
果が論理積回路37へ出力される。
Now, when the counted value X of the X-coordinate counter 20 matches the latch data of the latch circuit 25, and the counted value Y of the X-coordinate counter 21 matches the addition output of the adder 27, both the comparators 29 and 30 output a matching output. AND circuit 35
, the output will be "1". At this time, when the cutting pattern table 23 determines that the pattern in the window 14 matches the second cutting pattern W1 and provides the -spread output 11 to the D-latch circuit 33 as a clock input, the output from the AND circuit 35 is The data input of “1” is latched, and a detection result indicating that the second cutting pattern Wl has been detected is output to the AND circuit 37.

つぎにX座標カウンタ20の計数値がラッチ回路25に
よるランチデータと一致し、かつX座標カウンタ21の
計数値が加算器28の加算出力と一致するとき、コンパ
レータ29,31はともに一致出力を論理積回路36に
与えて、その出力はrlJとなる。このとき切断パター
ンテーブル23が、ウィンドウ14内のパターンが第3
の切断パターンW2と一致すると判断して、−散出力1
2をD−ラッチ回路34にクロック人力として与えると
、論理積回路36からの「1」のデータ人力がラッチさ
れて、第3の切断パターン讐2を検出した旨の検出結果
が論理積回路37へ出力される。
Next, when the counted value of the X-coordinate counter 20 matches the launch data from the latch circuit 25, and the counted value of the X-coordinate counter 21 matches the addition output of the adder 28, both the comparators 29 and 31 output the matching output as a logic signal. It is applied to the product circuit 36, and its output becomes rlJ. At this time, the cutting pattern table 23 indicates that the pattern in the window 14 is the third
It is determined that the cutting pattern W2 matches the cutting pattern W2, and the -spread force 1
2 as a clock input to the D-latch circuit 34, the data input of "1" from the AND circuit 36 is latched, and the detection result indicating that the third cutting pattern 2 has been detected is output to the AND circuit 37. Output to.

その結果、論理積回路37は、3人力が共に「1」であ
るとき、入力画像13の中に基準パターン12と一致す
る入カバクーン15が存在することを示す結果出力を送
出する。
As a result, the AND circuit 37 sends out a result output indicating that the input image 13 has an input cover coin 15 that matches the reference pattern 12 when the three inputs are all "1".

〈発明の効果〉 この発明は上記の如く、基準パターンの所定位置に横方
向の切断線を設定して得た複数個の切断パターンを予め
登録しておき、入力画像の前記切断パターンとの照合箇
所にウィンドウを設定して移行しつつウィンドウ内のパ
ターンと各切断パターンとの一致、不一致を判別すると
共に、一致判別されたウィンドウ内の各パターンと各切
断パターンとの位置関係に基づき入力パターンの基準パ
ターンに対する照合結果を判定して出力するようにした
から、小さい容量のテーブルと節易な回路構成とでリア
ルタイムのパターン照合を実現でき、たとえ照合パター
ンが大きくても、リアルタイムのパターン照合が可能と
なるなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏する。
<Effects of the Invention> As described above, the present invention registers in advance a plurality of cutting patterns obtained by setting horizontal cutting lines at predetermined positions of a reference pattern, and compares the input image with the cutting patterns. While setting a window at a location and moving, it is determined whether the pattern in the window matches or does not match each cutting pattern, and the input pattern is Since the matching results against the reference pattern are determined and output, real-time pattern matching can be achieved with a small capacity table and simple circuit configuration, and even if the matching pattern is large, real-time pattern matching is possible. It has a remarkable effect of achieving the purpose of the invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例にかかるパターン照合装置
の回路構成を示すブロック図、第2図は位置検査回路の
具体例を示すブロック図、第3図〜第5図はこの発明の
原理を示す原理説明図、第6図は従来例の原理を示す原
理説明図、第7図は従来例の回路構成を示すブロック図
、第8図は基準パターンテーブルの容量を説明するため
の説明図である。 12・・・・基準パターン  13・・・・入力画像1
4・・・・ウィンドウ   15・・・・入力パターン
19・・・・シフトレジスタ 23・・・・切断パターンテーブル 24・・・・位置検査回路
FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of a pattern matching device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a specific example of a position inspection circuit, and FIGS. 3 to 5 are principles of the present invention. 6 is a principle explanatory diagram showing the principle of the conventional example, FIG. 7 is a block diagram showing the circuit configuration of the conventional example, and FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating the capacity of the reference pattern table. It is. 12...Reference pattern 13...Input image 1
4... Window 15... Input pattern 19... Shift register 23... Cutting pattern table 24... Position inspection circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】  入力画像中の入力パターンを基準パターンと照合する
ためのパターン照合装置であって、基準パターンの所定
位置に横方向の切断線を設定して得た複数個の切断パタ
ーンを登録するための手段と、 入力画像の前記切断パターンとの照合箇所にウィンドウ
を設定して移行させるための手段と、ウィンドウ内のパ
ターンと各切断パターンとの一致、不一致を判別するた
めの手段と、 一致判別されたウィンドウ内の各パターンと各切断パタ
ーンとの位置関係に基づき入力パターンの基準パターン
に対する照合結果を判定して出力する手段とを備えたパ
ターン照合装置。
[Scope of Claims] A pattern matching device for matching an input pattern in an input image with a reference pattern, wherein a plurality of cutting patterns obtained by setting horizontal cutting lines at predetermined positions of the reference pattern are provided. means for registering; means for setting and transitioning a window at a matching location of the input image with the cutting pattern; and means for determining whether a pattern in the window matches or does not match each cutting pattern; . A pattern matching device comprising: means for determining and outputting a matching result of an input pattern against a reference pattern based on the positional relationship between each pattern in the window and each cutting pattern that has been determined to be a match.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730085A (en) * 1980-07-30 1982-02-18 Fujitsu Ltd Matching control circuit
JPS63282889A (en) * 1987-05-15 1988-11-18 Nichiden Mach Ltd Image processing method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730085A (en) * 1980-07-30 1982-02-18 Fujitsu Ltd Matching control circuit
JPS63282889A (en) * 1987-05-15 1988-11-18 Nichiden Mach Ltd Image processing method

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