JPH01274073A - Resistance measuring apparatus - Google Patents

Resistance measuring apparatus

Info

Publication number
JPH01274073A
JPH01274073A JP10237088A JP10237088A JPH01274073A JP H01274073 A JPH01274073 A JP H01274073A JP 10237088 A JP10237088 A JP 10237088A JP 10237088 A JP10237088 A JP 10237088A JP H01274073 A JPH01274073 A JP H01274073A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
base
temperature
resistance measuring
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10237088A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2664929B2 (en
Inventor
Toshibumi Nishii
俊文 西井
Shoji Yamaguchi
祥司 山口
Hideo Enjoji
円城寺 英夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Petrochemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Petrochemical Co Ltd filed Critical Mitsubishi Petrochemical Co Ltd
Priority to JP10237088A priority Critical patent/JP2664929B2/en
Publication of JPH01274073A publication Critical patent/JPH01274073A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2664929B2 publication Critical patent/JP2664929B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve reliability of a measured value, by forming an apparatus of a highly heat-conductive insulator, and forming a recess part in which a body to be measured is housed at one side of the apparatus. CONSTITUTION:When the surface resistance of a body to be measured is measured, at first, said body to be measured is housed in a recess part 12 of a base stage 14. The recess part 12 of the base stage 14 is coupled with a protruding part 18 which is formed on a mounting stage 16. A temperature measuring sensor is further attached. Under the state wherein the base stage 14 and the mounting stage 16 are assembled, the base stage 14 and the mounting stage 16 are assembled into a temperature control apparatus. Thus, the temperature of the body to be measured can be made uniform. Since the temperature of the body to be measured, the mounting stage 16 and the base stage 14 is uniform, the sensor which is attached to the base stage 14 indicates the temperature of the body to be measured without directly measuring the body to be measured. In this way, the body to be measured can be measured at the uniform temperature all the time, and the reliability of the measured value is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、導電性材料や半導電性材料等の表面抵抗・
抵抗率及び温度の同時測定に用いられる抵抗計測器、特
に、導電性材料や半導電性材料等の表面抵抗・抵抗率温
度特性を被破壊で測定することの出来る抵抗計測器に関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention relates to surface resistance and
The present invention relates to a resistance measuring instrument used for simultaneous measurement of resistivity and temperature, and in particular to a resistance measuring instrument capable of measuring surface resistance/resistivity-temperature characteristics of conductive materials, semiconductive materials, etc. without destruction.

[従来の技術] 一般に、半導体における成長層や拡散層、金属蒸着膜、
又は、導電性塗膜等の抵抗率は、その材料の電気的特性
を表わす重要なパラメータの一つである。特に、導電性
塗膜の原料となる導電性高分子材料の導電レベルの尺度
としては、−船釣に、単位面積当りの抵抗である表面抵
抗が用いられることが多い。ここで、表面抵抗は、単位
正方形の相対する一辺の間の電気抵抗値から規定されて
いる。
[Prior art] In general, growth layers and diffusion layers in semiconductors, metal vapor deposition films,
Alternatively, the resistivity of a conductive coating film or the like is one of the important parameters representing the electrical characteristics of the material. In particular, surface resistance, which is resistance per unit area, is often used for boat fishing as a measure of the conductivity level of a conductive polymer material that is a raw material for a conductive coating film. Here, the surface resistance is defined from the electrical resistance value between opposing sides of a unit square.

更に、各種材料の電気的特性を詳細に調べるために抵抗
−温度特性が重要である。即ち、抵抗−温度特性を調べ
ることにより、絶縁体、半導体。
Furthermore, resistance-temperature characteristics are important for investigating the electrical characteristics of various materials in detail. That is, by examining the resistance-temperature characteristics, insulators and semiconductors.

半金属、金属、超電導体等の区別が可能になり、このこ
とから材料の電子状態が推定され、材料の評価に有効で
ある。
It becomes possible to distinguish between metalloids, metals, superconductors, etc., and from this, the electronic state of the material can be estimated, which is effective in evaluating the material.

このような導電性塗膜の表面抵抗の測定に関しては、本
願出願人により、安価で、簡単にして、しかも非破壊で
被計測体の表面抵抗を測定することが出来る簡易表面抵
抗測定機として、昭和60年5月14日付けで、特願昭
60−71797号として既に出願されている。
Regarding the measurement of the surface resistance of such a conductive coating film, the applicant of the present application has developed a simple surface resistance measuring device that is inexpensive, simple, and non-destructive and can measure the surface resistance of the object to be measured. It has already been filed as Japanese Patent Application No. 1988-71797 on May 14, 1985.

この出願による簡易表面抵抗測定機は、電気絶縁材料に
よって架台を構成し、この架台の頂面には、4本のスプ
リングコンタクトプローブを一定距離離間させて固定し
、これらスプリングコンタクトプローブの下端の接触子
は、スプリングの弾力により架台の両脚部の下面より僅
かに突出するよう弾発せしめるように構成されている。
The simple surface resistance measuring device according to this application has a pedestal made of an electrically insulating material, and four spring contact probes are fixed to the top surface of the pedestal at a fixed distance apart, and the lower ends of these spring contact probes are fixed to the top surface of the pedestal. The child is configured so that it is caused to spring out slightly from the lower surface of both legs of the pedestal due to the elasticity of the spring.

このように簡易表面抵抗測定機は、電気絶縁体よりなる
架台上に4本のスプリングコンタクトプローブを設ける
ように構成しているので、本測定機だけでその接触をス
プリングの弾力により常に一定の角度と圧力で被計測体
に当接し、正確に、また、非破壊で被計測体の表面抵抗
を測定することが出来ることになる。
In this way, the simple surface resistance measuring device is configured with four spring contact probes mounted on a stand made of electrical insulators, so this measuring device can always maintain the contact at a constant angle using the elasticity of the springs. The surface resistance of the object to be measured can be measured accurately and non-destructively by contacting the object to be measured with pressure.

[本発明が解決しようとする課題] ここで、このような簡易表面抵抗測定機を用いて抵抗、
温度同時測定により抵抗−温度特性を測定する場合にお
いて、被計測体の温度が均一に保たれる必要がある。即
ち、被計測体内部に温度分布があると、この温度分布に
基づき熱起電力が発生し、被計測体の温度はもちろん抵
抗値も真の値と異なり信頼性に問題が生ずる。
[Problems to be solved by the present invention] Here, resistance,
When measuring resistance-temperature characteristics by simultaneous temperature measurement, the temperature of the object to be measured needs to be kept uniform. That is, if there is a temperature distribution inside the object to be measured, thermoelectromotive force is generated based on this temperature distribution, and not only the temperature but also the resistance value of the object to be measured differs from the true value, causing a problem in reliability.

この発明は上述した課題に鑑みてなされたもので、この
発明の目的は、計測時において、常に被計測体が一様の
温度で計測出来るようにして、同一温度で同一の被計測
体に何回計測動作を繰り返しても同一の測定結果が得ら
れて、計測値に対する信頼性を向上させることが可能で
あると共に、温度依存性を測定することのできる抵抗計
測器を提供することである。
This invention was made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to always measure the object to be measured at a uniform temperature during measurement, and to It is an object of the present invention to provide a resistance measuring instrument capable of obtaining the same measurement result even after repeated measurement operations, improving reliability of measured values, and capable of measuring temperature dependence.

[課題を解決するための手段] 上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明
の抵抗計測器は、高熱伝導性の絶縁体から形成され、一
側に被計測体が収納される凹部が形成されかつ温度測定
用センサ用の穴が形成された基台と、高熱伝導性絶縁体
から形成され、この基台に形成された凹部と相補的に嵌
合するように形成された凸部を一側に有した架台と、こ
の凸部と凹部とが互いに嵌合されて架台と基台とが合体
された状態で、凹部に収納された被計測体の表面に接触
するよう、凸部の表面に起立して設けられた複数の接触
探針とを具備する事を特徴としている。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-mentioned problems and achieve the objectives, the resistance measuring instrument of the present invention is formed from a highly thermally conductive insulator, and a measuring object is housed on one side. A base having a recess formed therein and a hole for a temperature measurement sensor, and a protrusion formed from a highly thermally conductive insulator to complementarily fit into the recess formed in the base. The pedestal has a convex portion on one side, and the convex portion and the concave portion are fitted together so that the pedestal and the base are combined. It is characterized by comprising a plurality of contact probes provided upright on the surface of the part.

また、前記接触探針は、凸部内に押し込み可能に取付け
られると共に、付勢部材により凸部表面から突出するよ
うに付勢されている事を特徴としている。
Further, the contact probe is attached so as to be able to be pushed into the convex portion, and is urged by a biasing member so as to protrude from the surface of the convex portion.

また、前記接触探針は4本備えられ、これらは直線上に
沿って配設されている事を特徴としている。
Further, the present invention is characterized in that four contact probes are provided, and these are arranged along a straight line.

また、前記基台には、ヒータ用の穴が形成されている事
を特徴としている。
Further, the base is characterized in that a hole for a heater is formed.

ここでいう絶縁体とは体積固有抵抗で1012Ω・cm
以上であり、それ以下では被計測体と基台との間で電気
的に短絡が生じてしまい、抵抗測定が困難になる。但し
、被計測体の体積固有抵抗が小さい場合には、基台及び
架台の体積固有抵抗との差がIO1′Ω・cm以上であ
れば計測に際し何ら問題は生じないものである。
The insulator here has a volume resistivity of 1012Ω・cm
If it is less than that, an electrical short circuit will occur between the object to be measured and the base, making it difficult to measure the resistance. However, if the volume resistivity of the object to be measured is small, no problem will occur during measurement if the difference between the volume resistivity of the base and the mount is IO1'Ω·cm or more.

また、高熱伝導体とは、熱伝導率で0.1cal/cm
sec’c以上であり、それ以下では被計測体と基台と
の間での熱の移動が充分に行われなくなり被計測体内に
温度分布が生ずることになる。ここで、この高熱伝導性
をもつ電気絶縁体は、窒化アルミニウム、炭化ケイ素、
窒化ホウ素、酸化ベリリウム等のセラミックあるいはダ
イヤモンド他の。
In addition, a high thermal conductor has a thermal conductivity of 0.1 cal/cm.
sec'c or more, and if it is less than that, heat will not be transferred sufficiently between the object to be measured and the base, and a temperature distribution will occur within the object to be measured. Here, this electrical insulator with high thermal conductivity is aluminum nitride, silicon carbide,
Ceramics such as boron nitride, beryllium oxide, or diamond.

高熱伝導性電気絶縁材料で形成された部材から構成され
ている。
It is constructed from a member made of a highly thermally conductive electrically insulating material.

[作用] 以上のように構成される抵抗計測器を用いて被計測体の
表面抵抗を測定する場合には、先ず、この被計測体を基
台の凹部内に収納し、次に、この基台の凹部と架台に形
成された凸部とを互いに嵌合させるように挿入する。更
に、温度測定用センサを取付ける。そして、基台と架台
とを組合わせたまま、温度制御装置に組み込みことによ
り、被計測体の温度を均一にすることが可能になる。ま
た。被計測体、架台、基台の温度が均一になっているた
め、直接、被計測体の温度を測ることなく、基台に取付
けたセンサが被計測体の温度を示すことになる。このよ
うにして、比計測体が常に均一な温度で計測できるよう
になり、計測値に対する信頼性が向上することになる。
[Operation] When measuring the surface resistance of an object to be measured using the resistance measuring instrument configured as described above, the object to be measured is first placed in the recess of the base, and then the object is placed in the recess of the base. The concave portion of the stand and the convex portion formed on the stand are inserted so as to fit into each other. Furthermore, a temperature measurement sensor is installed. Then, by incorporating the base and the mount in a combination into a temperature control device, it becomes possible to make the temperature of the object to be measured uniform. Also. Since the temperature of the object to be measured, the mount, and the base are uniform, the temperature of the object to be measured is not measured directly, but the sensor attached to the base indicates the temperature of the object to be measured. In this way, the ratio measuring body can always measure at a uniform temperature, and the reliability of the measured values is improved.

[実施例] 以下に、この発明の抵抗計測器の一実施例の構成を添付
図面を参照して、詳細に説明する。
[Embodiment] Below, the configuration of an embodiment of the resistance measuring instrument of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

この発明の一実施例に係わる抵抗計測器1゜は、第1図
に示すように、高熱伝導性をもつ電気絶縁体から形成さ
れ、一側に被計測体が収納される矩形状の凹部12が形
成されさらに温度センサ及びヒータ用の穴13.15が
形成された基台14を備えている。ここで、この高熱伝
導性をもつ電気絶縁体は、石原薬品(株)製マシナブル
セラミックHタイプで形成された部材から構成されてい
る。ここで、凹部12は、基台14の一側(上面)の略
中央部に形成され、この凹部12の底面は、シート状の
被計測体が載置される載置面として規定されている。
As shown in FIG. 1, a resistance measuring instrument 1° according to an embodiment of the present invention is made of an electrical insulator with high thermal conductivity, and has a rectangular recess 12 in which an object to be measured is housed on one side. The base 14 is provided with a hole 13.15 for a temperature sensor and a heater. Here, this electrical insulator with high thermal conductivity is composed of a member made of machinable ceramic H type manufactured by Ishihara Yakuhin Co., Ltd. Here, the recess 12 is formed approximately at the center of one side (upper surface) of the base 14, and the bottom surface of the recess 12 is defined as a mounting surface on which a sheet-shaped object to be measured is mounted. .

一方、この抵抗計測器10は、基台14と同様に高熱伝
導性絶縁体から形成された直方体状の架台16を備えて
いる。この架台16の、基台14の一側に対向する面(
下面)には、基台14に形成された凹部12と相補的に
嵌合するように形成された凸部18が形成されている。
On the other hand, this resistance measuring instrument 10 includes a rectangular parallelepiped-shaped pedestal 16 made of a highly thermally conductive insulator, similar to the base 14. The surface of this pedestal 16 that faces one side of the base 14 (
A protrusion 18 is formed on the lower surface of the base 14 to complementarily fit into the recess 12 formed on the base 14.

即ち、この凸部18は、凹部12の対応する各内側面に
摺接する外側面を有した矩形状に形成されている。ここ
で、この凸部18の突出面と凹部12の底面とは、基台
14に架台16が嵌合された状態で、第2図に示すよう
に、互いに所定距離だけ離間するように設定されている
That is, the convex portion 18 is formed in a rectangular shape having an outer surface that slides into contact with each corresponding inner surface of the recess 12 . Here, the protruding surface of the convex portion 18 and the bottom surface of the recessed portion 12 are set to be spaced apart from each other by a predetermined distance as shown in FIG. 2 when the pedestal 16 is fitted to the base 14. ing.

尚、このように基台14に架台16が嵌合された状態に
おいては、基台14の凹部12の各内側面と、架台16
の凸部18の対応する外側面とが、互いに摺接すること
になるので、凹部12の内部空間は、均一な温度で密閉
されると共に、互いの平面内における移動、即ち、横方
向のガタ付は、確実に防止されることになるので、嵌合
状態が良好に維持されることになる。また、基台14に
架台16が嵌合された状態で、基台14の上面の周囲部
分に、架台16の下面の周囲部分が当接することにより
、凸部18の吐出面と凹部12の底面とは、一定の離間
距離に離間保持されることになる。
In addition, in the state in which the pedestal 16 is fitted to the base 14 in this way, each inner surface of the recess 12 of the base 14 and the pedestal 16
Since the corresponding outer surfaces of the convex portions 18 of the convex portions 18 come into sliding contact with each other, the internal space of the concave portions 12 is sealed at a uniform temperature, and there is no movement within the mutual plane, that is, lateral play. Since this is reliably prevented, the fitted state is maintained well. In addition, when the pedestal 16 is fitted to the base 14, the peripheral part of the lower surface of the pedestal 16 comes into contact with the peripheral part of the upper surface of the base 14, so that the discharge surface of the convex part 18 and the bottom surface of the recessed part 12 This means that they are kept at a constant distance.

ここで、上述した架台16には、再び、第1図に示すよ
うに、上下両端が、夫々、上面及び下面から垂直方向に
沿って上方及び下方に突出した状態で、4本のスプリン
グコンタクトプローブ22.24.26.28が同一直
線上を一列状に、互いに等間隔で並設された状態で設け
られている。各スプリングコンタクトプローブ22゜2
4.26.28は、架台16内において、垂直状態に埋
設されたスリーブ22a、24a。
Here, as shown in FIG. 1 again, the above-mentioned pedestal 16 has four spring contact probes with the upper and lower ends protruding upward and downward along the vertical direction from the upper surface and the lower surface, respectively. 22, 24, 26, and 28 are provided in a line on the same straight line and arranged in parallel at equal intervals. Each spring contact probe 22゜2
4.26.28 are sleeves 22a and 24a buried vertically within the frame 16.

26a、28aと、各スリーブ22a、24a。26a, 28a and each sleeve 22a, 24a.

26a、28a内を上下方向に沿って摺動可能に設けら
れたプローブ本体22b、24b。
Probe bodies 22b and 24b are provided to be slidable in the vertical direction within 26a and 28a.

26b、28bと、各スリーブ22a、24a。26b, 28b and each sleeve 22a, 24a.

26a、28a内に配設され、対応するプローブ本体2
2b、24b、26b、28bを下方に突出するように
付勢するコイルスプリング22c。
26a, 28a and corresponding probe bodies 2
A coil spring 22c biases 2b, 24b, 26b, and 28b to protrude downward.

24c、26c、28cとから構成されている。It is composed of 24c, 26c, and 28c.

ここで、プローブ本体22b、24b、26b。Here, the probe bodies 22b, 24b, 26b.

28bとコイルスプリング22c、24c。28b and coil springs 22c and 24c.

26c、28cとは、互いに電気的に接続された状態に
設定されている。
26c and 28c are set to be electrically connected to each other.

尚、全てのスリーブ22a、24a、26a。In addition, all the sleeves 22a, 24a, 26a.

28aの夫々の下端には、内方フランジ22d。At the lower end of each of 28a is an inner flange 22d.

24d、26d、28dが一体に形成さ・れており、ま
た、各プローブ本体22b、24b。
24d, 26d, and 28d are integrally formed, and each probe body 22b and 24b.

26b、28bの上端には、対応する内方フランジ22
d、24d、26d、28dに係合可能に外方フランジ
22e、24e、26e、28eが一体に形成されてい
る。このような内方フランジ22d、24d、26d、
28dと外方 フランジ22e、24e、26e、28
eとの係合により、各プローブ本体22b、24b、2
6b。
The upper ends of 26b and 28b have corresponding inner flanges 22
Outer flanges 22e, 24e, 26e, and 28e are integrally formed so as to be engageable with the outer flanges d, 24d, 26d, and 28d. Such inner flanges 22d, 24d, 26d,
28d and outer flanges 22e, 24e, 26e, 28
e, each probe body 22b, 24b, 2
6b.

28bは下方への脱落を防止されると共に、この係合し
た位置で、下方へのそれ以上の突出が制限されるよう構
成されることになる。
28b will be prevented from falling off downwardly and will be configured such that further downward protrusion is limited in this engaged position.

また、夫々の各プローブ本体22b、24b。Also, each probe body 22b, 24b.

26b、28bの下端の先端部は、逆円錐形状に形成さ
れ、夫々の尖端は、所定の一定の微小面積(ビンポイン
ト)で被計測体の表面に当接するよう設定されている。
The tips of the lower ends of 26b and 28b are formed into an inverted conical shape, and each tip is set to abut on the surface of the object to be measured at a predetermined constant minute area (bin point).

この一実施例においては、互いに隣接するスプリングコ
ンタクトプローブ22,24,26゜28の離間距離d
は、0.05〜1.Ocm、好ましくは、0.15cm
に設定されている。また、各プローブ本体22b、24
b、26b、28bに同等外力が作用しない状態におけ
る下方への突出量は、0.5〜5.0mmに設定されて
いる。
In this embodiment, the distance d between adjacent spring contact probes 22, 24, 26°28
is 0.05 to 1. Ocm, preferably 0.15cm
is set to . In addition, each probe body 22b, 24
The amount of downward protrusion in a state where no equivalent external force is applied to b, 26b, and 28b is set to 0.5 to 5.0 mm.

また、コイルスプリング22c、24c。Also, coil springs 22c and 24c.

26c、28cのばね定数は、出来るだけ大きい値が良
く、その値は、各々のコイルスプリングにつき10g以
上、好ましくは、100g以上が好適する。更に、各コ
イルスプリング22c。
The spring constants of 26c and 28c are preferably as large as possible, and the value is preferably 10 g or more, preferably 100 g or more for each coil spring. Furthermore, each coil spring 22c.

24c、26c、28cの上端は、夫々導線22f、2
4f、26f、28fを介して、図示しない演算機に電
気的に接続されている。詳細には、外側のコイルスプリ
ング22c、28Cに接続された導線22f、28fは
定電流電源に、また、内側のコイルスプリング24c、
26cに接続された導線24f、26fは電圧計に、夫
々接続されている。
The upper ends of 24c, 26c, and 28c are connected to conductive wires 22f and 2, respectively.
It is electrically connected to a computing machine (not shown) via 4f, 26f, and 28f. Specifically, the conductors 22f and 28f connected to the outer coil springs 22c and 28C are connected to a constant current power source, and the inner coil springs 24c and
Conductive wires 24f and 26f connected to 26c are connected to voltmeters, respectively.

以上のように構成される抵抗測定器10を用いて、シー
ト状の被計測体の抵抗−温度特性を測定する場合につき
、以下に説明する。
The case where the resistance-temperature characteristics of a sheet-shaped object to be measured is measured using the resistance measuring device 10 configured as described above will be described below.

先ず、被計測体を基台14の凹部12内に収納し得るサ
ンプル形状に形成する。そして、このようなサンプルを
基台14の凹部12の底面上に載置する。このように、
サンプルを基台14に設置した後、架台16を、これの
凸部18が基台14の凹部12に嵌合するように、基台
14に取付け、ビス等で固定する。
First, the object to be measured is formed into a sample shape that can be accommodated in the recess 12 of the base 14. Then, such a sample is placed on the bottom surface of the recess 12 of the base 14. in this way,
After the sample is placed on the base 14, the mount 16 is attached to the base 14 so that the protrusion 18 of the mount 16 fits into the recess 12 of the base 14, and fixed with screws or the like.

又、温度センサをセンサ取付は穴13に、ヒータをヒー
タ取付は穴15に、夫々固定する。
Further, the temperature sensor is fixed in the hole 13 for mounting the sensor, and the heater is fixed in the hole 15 for mounting the heater.

このように、架台16を基台14に取付けることにより
、前述したように、基台14の凹部12の各内側面と、
架台16の凸部18の対応する外側面とが、互いに摺接
することになるので、互いの、平面内における移動、即
ち、横方向のガタ付は、確実に防止され、また、基台1
4の上面の周囲部分に、架台16の下面の周囲部分が当
接することにより、凸部18の突出面と凹部12の底面
とは、一定の離間距離に離間保持されることになり、こ
のようにして、基台14と架台16との間の位置関係が
正確に規定されることになる。
By attaching the frame 16 to the base 14 in this manner, as described above, each inner surface of the recess 12 of the base 14,
Since the corresponding outer surfaces of the convex portions 18 of the pedestal 16 come into sliding contact with each other, mutual movement within the plane, that is, lateral wobbling, is reliably prevented, and the pedestal 1
By contacting the peripheral portion of the lower surface of the frame 16 with the peripheral portion of the upper surface of the mount 4, the protruding surface of the convex portion 18 and the bottom surface of the recessed portion 12 are maintained at a constant distance. Thus, the positional relationship between the base 14 and the mount 16 is accurately defined.

また、この嵌合動作に応じて、基台14の上面の周囲部
分に、架台16の下面の周囲部分が当接する前に、4本
のスプリングコンタクトプローブ22.24,26.2
8の夫々の尖端は、サンプルの表面に当接することにな
る。そして、この当接動作後、基台14の上面の周囲部
分に、架台16の下面の周囲部分が当接するまでの間、
夫々のスプリングコンタクトプローブ22,24゜26
.28は、対応するコイルスプリングコイルスプリング
22c、24c、26c、28cの付勢力に抗して、押
し上げられることになる。
In addition, in response to this fitting operation, before the peripheral portion of the lower surface of the pedestal 16 comes into contact with the peripheral portion of the upper surface of the base 14, the four spring contact probes 22.24, 26.2
8 will abut the surface of the sample. After this contact operation, until the peripheral portion of the lower surface of the pedestal 16 comes into contact with the peripheral portion of the upper surface of the base 14,
Each spring contact probe 22, 24゜26
.. 28 will be pushed up against the urging force of the corresponding coil springs 22c, 24c, 26c, and 28c.

この結果、4本のスプリングコンタクトプローブ22.
24.26.28は、凹部12の底面上に載置されたサ
ンプルに対して、常に一定圧力で、しかも、一定の角度
で当接することになる。
As a result, four spring contact probes 22.
24, 26, and 28 always come into contact with the sample placed on the bottom surface of the recess 12 at a constant pressure and at a constant angle.

このようにして、この一実施例の抵抗測定器1゜を用い
ることにより、計測時において、常にサンプルに対して
、一定の姿勢で計測出来るようにして、同一のサンプル
に何回計測動作を繰り返しても同一の測定結果が得られ
て、計測値に対する信頼性を向上させることが出来るこ
とになる。
In this way, by using the resistance measuring device 1° of this embodiment, it is possible to always measure the sample in a fixed posture during measurement, and the measurement operation can be repeated several times on the same sample. The same measurement results can be obtained regardless of the measurement, and the reliability of the measurement values can be improved.

次に、この抵抗測定器10を恒温槽内に設置し、この恒
温槽を所定の低温から高温まで変化させることにより、
あるいは、抵抗測定器10に組み込んだヒーターで加熱
することにより、抵抗の温度特性を正確に測定すること
が可能となる。即ち、計測しようとする被計測体(サン
プル)は、従来においては熱伝導性の悪い基板(例えば
、エポキシ基板、熱伝導率0.0001cal /cm
 sec℃以下)上に設定されていたので、基板からの
熱の伝わり方が一様でなく、被計測体内部に温度分布が
生じやすく温度の検出に問題があった。
Next, this resistance measuring device 10 is installed in a thermostatic oven, and the thermostatic oven is changed from a predetermined low temperature to a high temperature.
Alternatively, by heating with a heater built into the resistance measuring device 10, it is possible to accurately measure the temperature characteristics of the resistance. That is, the object (sample) to be measured is conventionally made of a substrate with poor thermal conductivity (for example, an epoxy substrate, with a thermal conductivity of 0.0001 cal/cm).
sec° C. or less), the way the heat is transferred from the substrate is not uniform, and temperature distribution tends to occur inside the object to be measured, causing problems in temperature detection.

しかしながら、この一実施例においては、上述したよう
に、測定時においてサンプルは高熱伝導性の基台14に
周囲を囲まれており、周囲から素早く均等に熱が伝わる
ため、サンプルの温度分布が少なくなり、更に、架台、
基台、サンプルの温度が短時間で一定になるため、基台
に設定した温度センサによってサンプルの温度を読みと
ることが可能になる。かくして、安定に抵抗−温度特性
が測定可能となるものである。
However, in this embodiment, as mentioned above, the sample is surrounded by the highly thermally conductive base 14 during measurement, and heat is quickly and evenly transferred from the surroundings, so the temperature distribution of the sample is small. In addition, the trestle,
Since the temperature of the base and sample becomes constant in a short time, it becomes possible to read the temperature of the sample using a temperature sensor set on the base. In this way, resistance-temperature characteristics can be measured stably.

本発明は、上述した一実施例の構成に限定されることな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であ
ることは言うまでもない。
It goes without saying that the present invention is not limited to the configuration of the one embodiment described above, and can be modified in various ways without departing from the gist of the present invention.

例えば、上述した一実施例の構成においては、基台14
の凹部12の形状を矩形として説明したが、これに限定
されることなく、例えば、基台を円筒体から形成し、凹
部を円柱状の内部空間から規定するように構成しても良
い。
For example, in the configuration of the embodiment described above, the base 14
Although the shape of the recessed portion 12 has been described as being rectangular, the present invention is not limited to this. For example, the base may be formed from a cylindrical body and the recessed portion may be defined from a cylindrical internal space.

また、冷却速度を速く設定したい場合には、基台14の
側壁に切り欠き、または、貫通孔を設けて、冷却ガスが
被計測体に直接接触するようにしても良い。
Furthermore, if it is desired to set the cooling rate quickly, a notch or a through hole may be provided in the side wall of the base 14 so that the cooling gas directly contacts the object to be measured.

[本発明の効果] 以上詳述したように、本発明の抵抗計測器は、高熱伝導
性の絶縁体から形成され、一側に被計測体が収納される
凹部が形成されかつ温度測定用センサ用の穴が形成され
た基台と、高熱伝導性の絶縁体から形成され、この基台
に形成された凹部と相補的に嵌合するように形成された
凸部な一側に有した架台と、この凸部と凹部とが互いに
嵌合されて架台と基台とが合体された状態で、凹部に収
納された被計測体の表面に接触するよう、凸部の表面に
起立して設けられた複数の接触探針とを具備する事を特
徴としている。
[Effects of the present invention] As detailed above, the resistance measuring instrument of the present invention is made of a highly thermally conductive insulator, has a recessed portion on one side in which the object to be measured is housed, and has a temperature measurement sensor. a base with a hole formed therein, and a pedestal made of a highly thermally conductive insulator and having a convex portion on one side formed to complementarily fit into a recess formed in the base. Then, when the convex part and the concave part are fitted to each other and the mount and the base are combined, a piece of paper is provided so as to stand up on the surface of the convex part so as to come into contact with the surface of the object to be measured housed in the concave part. It is characterized by comprising a plurality of contact probes.

また、前記接触探針は、凸部内に押し込み可能に取付け
られると共に、付勢部材により凸部表面から突出するよ
うに付勢されている事を特徴としている。
Further, the contact probe is attached so as to be able to be pushed into the convex portion, and is urged by a biasing member so as to protrude from the surface of the convex portion.

また、前記接触探針は4本備えられ、これらは直線上に
沿って配設されている事を特徴としている。
Further, the present invention is characterized in that four contact probes are provided, and these are arranged along a straight line.

また、前記基台には、ヒータ用の穴が形成されている事
を特徴としている。
Further, the base is characterized in that a hole for a heater is formed.

従って、本発明によれば、計測時において、常に被計測
体が一様の温度で計測出来るようにして、同一温度で同
一の被計測体に何回計測動作を繰り返しても同一の測定
結果が得られて、計測値に対する信頼性を向上させるこ
とが可能であると共に、温度依存性の測定を可能とする
抵抗計測器が提供されることになる。
Therefore, according to the present invention, the object to be measured can always be measured at a uniform temperature during measurement, and no matter how many times the measurement operation is repeated on the same object at the same temperature, the same measurement result will be obtained. As a result, a resistance measuring instrument is provided that can improve the reliability of measured values and also enables temperature-dependent measurements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明に係わる抵抗計測器の一実施例の構成
を示す斜視図; 第2図は一実施例の抵抗計測器における基台と架台との
嵌合状態を示す断面図:そして、第3図は各スプリング
コンタクトプローブの構成を示す正面図である。 図中、10・・・抵抗計測器、12・・・凹部、13・
・・温度センサ用穴、14・・・基台、15・・・ヒー
タ用穴、16・・・架台、18・・・凸部、22 、2
4 、26;28・・・スプリングコンタクトプローブ
、22a; 24a ; 26a ; 28a・・・ス
リーブ、22b:24b 、26b 、2.8b・・・
プローブ本体、22c; 24c ; 26c ; 2
8c・・・コイルスプリング、22d 、24d 、2
6d : 28d・・・内方フランジ、22e ; 2
4e ; 26e ; 28e・・・外方フランジ、2
2 f 、24f 、26f 、28f・・・導線であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of an embodiment of a resistance measuring instrument according to the present invention; FIG. 2 is a sectional view showing a fitted state of a base and a mount in an embodiment of the resistance measuring instrument; FIG. 3 is a front view showing the structure of each spring contact probe. In the figure, 10... resistance measuring device, 12... recess, 13...
... Temperature sensor hole, 14 ... Base, 15 ... Heater hole, 16 ... Mount, 18 ... Convex part, 22 , 2
4, 26; 28... Spring contact probe, 22a; 24a; 26a; 28a... Sleeve, 22b: 24b, 26b, 2.8b...
Probe body, 22c; 24c; 26c; 2
8c...Coil spring, 22d, 24d, 2
6d: 28d...inner flange, 22e; 2
4e; 26e; 28e...outer flange, 2
2f, 24f, 26f, 28f... are conducting wires.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)高熱伝導性の絶縁体から形成され、一側に被計測
体が収納される凹部が形成され、かつ温度測定用のセン
サ用の穴が形成された基台と、高熱伝導性の絶縁体から
形成され、この基台に形成された凹部と相補的に嵌合す
るように形成された凸部を一側に有した架台と、 この凸部と凹部とが互いに嵌合されて架台と基台とが合
体された状態で、凹部に収納された被計測体の表面に接
触するよう、凸部の表面に起立して設けられた複数の接
触探針とを具備する事を特徴とする抵抗計測器。 (2)前記接触探針は、凸部内に押し込み可能に取付け
られると共に、付勢部材により凸部表面から突出するよ
うに付勢されている事を特徴とする請求項1に記載の抵
抗計測器。(3)前記接触探針は4本備えられ、これら
は直線上に沿つて配設されている事を特徴とする請求1
又は2に記載の抵抗計測器。 (4)前記基台には、ヒータ用の穴が形成されている事
を特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の抵抗
計測器。
[Scope of Claims] (1) A base made of a highly thermally conductive insulator, having a recess on one side for storing the object to be measured, and a hole for a sensor for temperature measurement; , a pedestal made of a highly thermally conductive insulator and having a protrusion on one side formed to complementarily fit into a recess formed in the base; A plurality of contact probes are provided upright on the surface of the convex portion so as to contact the surface of the object to be measured housed in the concave portion when the mount and the base are fitted together. A resistance measuring instrument characterized by: (2) The resistance measuring device according to claim 1, wherein the contact probe is attached so as to be able to be pushed into the convex portion, and is urged by a biasing member so as to protrude from the surface of the convex portion. . (3) Claim 1 characterized in that the contact probe is provided with four pieces, and these are arranged along a straight line.
Or the resistance measuring device according to 2. (4) The resistance measuring instrument according to any one of claims 1 to 3, wherein the base has a hole for a heater formed therein.
JP10237088A 1988-04-27 1988-04-27 Resistance measuring instrument Expired - Lifetime JP2664929B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10237088A JP2664929B2 (en) 1988-04-27 1988-04-27 Resistance measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10237088A JP2664929B2 (en) 1988-04-27 1988-04-27 Resistance measuring instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01274073A true JPH01274073A (en) 1989-11-01
JP2664929B2 JP2664929B2 (en) 1997-10-22

Family

ID=14325574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10237088A Expired - Lifetime JP2664929B2 (en) 1988-04-27 1988-04-27 Resistance measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2664929B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014167394A (en) * 2013-02-28 2014-09-11 Avc Co Ltd Four point resistance measurement instrument and four point measurement probe
CN108362743A (en) * 2018-04-03 2018-08-03 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 Low-temperature resistivity measuring device and its installation method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014167394A (en) * 2013-02-28 2014-09-11 Avc Co Ltd Four point resistance measurement instrument and four point measurement probe
CN108362743A (en) * 2018-04-03 2018-08-03 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 Low-temperature resistivity measuring device and its installation method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2664929B2 (en) 1997-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7473031B2 (en) Resistive thermal sensing
Pope et al. Apparatus for the rapid measurement of electrical transport properties for both “needle-like” and bulk materials
KR0145027B1 (en) Measuring thermal conductivity and apparatus therefor
KR20020032316A (en) Method and apparatus for measuring heat conductivity, and method for an insulating material
JPH0634311A (en) Capacitive probe
US20030169798A1 (en) Scanning heat flow probe
US2750791A (en) Thermoelectric instrument for testing materials
CN109725183B (en) Probe for portable thermoelectric potential detector
US3393101A (en) Thermocouple probe with plural junctions
JPH01274073A (en) Resistance measuring apparatus
US3716417A (en) Profile thermocouple
JP4982766B2 (en) Sensor for thermoelectric property measurement
KR101662713B1 (en) Thermal properties measurement sensors for thermoelectric thin film in cross-plane direction
KR100845343B1 (en) A miniature electrical conductance sensor using dual concentric ring-disk electrodes with a flat face
Nordmann et al. Sub-kelvin temperature management in ion traps for optical clocks
JPH0634697Y2 (en) Resistance measuring instrument
Edler et al. Reference material for Seebeck coefficients
JP3380023B2 (en) Temperature reference device
CN110430625A (en) Aerosol generating system, heating module, temperature checking method and device
GB2273990A (en) Surface resistivity measurements
JPH05505886A (en) Device for continuously monitoring the concentration of gaseous components in a gas mixture
US5356216A (en) Apparatus for measuring heat of circuit module
US6864676B2 (en) Substrate-holding device for testing circuit arrangements on substrates
US6145371A (en) Gas sensor
JPH0616015B2 (en) Thermal analyzer

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term