JPH01267402A - Position detector - Google Patents

Position detector

Info

Publication number
JPH01267402A
JPH01267402A JP9441688A JP9441688A JPH01267402A JP H01267402 A JPH01267402 A JP H01267402A JP 9441688 A JP9441688 A JP 9441688A JP 9441688 A JP9441688 A JP 9441688A JP H01267402 A JPH01267402 A JP H01267402A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
camera
image
exposure time
light pattern
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9441688A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2502119B2 (en
Inventor
Yuji Takagi
裕治 高木
Daisuke Katsuta
大輔 勝田
Seiji Hata
清治 秦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63094416A priority Critical patent/JP2502119B2/en
Priority to DE3850840T priority patent/DE3850840T2/en
Priority to EP88117015A priority patent/EP0312046B1/en
Priority to US07/257,969 priority patent/US5076697A/en
Publication of JPH01267402A publication Critical patent/JPH01267402A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2502119B2 publication Critical patent/JP2502119B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To facilitate the extraction of a linear light pattern, by directing a slit light only for a shorter time than the exposure time of a camera while the camera is exposed. CONSTITUTION:An exposure time of a TV camera 50 is reduced, yet with no emission of a strobe lamp 52 and the surface of a printed substrate 1 is taken with the TV camera 50 to store an image thereof into an image processing system 53. Then, the exposure time of the TV camera 50 is made the same as mentioned above; while the TV camera 50 is exposed, the strobe lamp 52 is made to flash only for a shorter time than the exposure time thereto to take the surface of the printed circuit board 1 with the TV camera 50 to store an image thereof into an image processing system 53. A linear light pattern is extracted by subtraction of the former image from the latter image, thereby enabling detection of mounted positions of electronic components 2 depending on the geometry of the linear light pattern.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は面上の形状変化が存在する部分の位置1面上
に設けられた物の位置等を検出する位置検出装置、たと
えばプリント基板上に実装された電子部品の実装位置を
検出する位置検出装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a position detection device for detecting the position of an object provided on a surface, such as the position of a portion where a shape change exists on a surface, such as a printed circuit board. The present invention relates to a position detection device that detects the mounting position of electronic components mounted on a device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

最近においては、特開昭55−30659号公報に示さ
れるように、プリント基板上に実装された電子部品の実
装位置を検出するために位置検出装置力1用いられてい
る。
Recently, as shown in Japanese Unexamined Patent Publication No. 55-30659, a position detection device 1 has been used to detect the mounting position of electronic components mounted on a printed circuit board.

従来の位置検出装置においては、プリント基板上にTV
カメラの撮映方向と異なる方向からスリット光を照射し
、プリント基板上に線光ノ(ターンを形成し、第2図(
2a)に示すような線光ノ(ターンを有する画像をTV
カメラで撮映し、その画像から線光パターンを抽出し、
線光パターンの形状により電子部品の実装位置を検出し
ている。
In conventional position detection devices, the TV is mounted on a printed circuit board.
The slit light is irradiated from a direction different from the shooting direction of the camera to form a linear light turn on the printed circuit board, as shown in Figure 2 (
An image with a line light (turn) as shown in 2a) is displayed on the TV.
Take a picture with a camera, extract a line light pattern from the image,
The mounting position of electronic components is detected based on the shape of the line light pattern.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、このような位置検出装置においては、線光パタ
ーンを抽出するのが困難である。すなわち、第2図(1
a)はプリント基板上にスリット光を照射しないで、プ
リント基板をTVカメラで撮映した画像を示す図、第2
図(1b)、(2b)は第2図(1a)、(2a)に示
される画像のJ=J、における工方向線上の明るさを示
すグラフであるが、これらのグラフから明らかなようば
、元々明るい部分にスリット光が照射された場合には、
線光パターンの明るさとスリット光を照射しない場合の
同一個所の明るさとの変化が乏しいので、線光パターン
を抽出するのが困難である。
However, in such a position detection device, it is difficult to extract a line light pattern. In other words, Figure 2 (1
a) is a diagram showing an image taken of the printed circuit board with a TV camera without irradiating the printed circuit board with slit light;
Figures (1b) and (2b) are graphs showing the brightness on the construction direction line at J = J of the images shown in Figures 2 (1a) and (2a). , when the slit light is applied to an originally bright area,
It is difficult to extract the line light pattern because there is little variation between the brightness of the line light pattern and the brightness of the same spot when slit light is not irradiated.

この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、線光パターンを容易に抽出することができる位置検出
装置を提供することを目的とする。
This invention was made to solve the above-mentioned problem, and an object thereof is to provide a position detection device that can easily extract a line light pattern.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この目的を達成するため、この発明においては、面上に
カメラの撮映方向と異なる方向からスリット光を照射し
、上記面上に線光パターンを形成し、上記線光パターン
を有する画像を上記カメラで撮映し、上記画像から上記
線光パターンを抽出し、上記線光パターンの形状により
検出対象の位置を検出する位置検出装置において、上記
カメラを露光している間に、上記カメラの露光時間より
も短い時間だけ上記スリット光を照射することを指令す
る光照射制御手段を設ける。
In order to achieve this object, in the present invention, a slit light is irradiated onto a surface from a direction different from the imaging direction of the camera, a line light pattern is formed on the surface, and an image having the line light pattern is In a position detection device that captures an image with a camera, extracts the line light pattern from the image, and detects the position of the detection target based on the shape of the line light pattern, while the camera is exposing the camera, the exposure time of the camera is A light irradiation control means is provided that instructs to irradiate the slit light for a shorter time than the slit light.

〔作用〕[Effect]

この位置検出装置においては、カメラの露光時間を短く
すれば、カメラで撮映した画像の線光パターン以外の部
分を暗くすることができるとともに、スリット光の光量
を大きくすれば、カメラで撮映した画像の線光パターン
を明るくすることができる。
In this position detection device, by shortening the exposure time of the camera, it is possible to darken the parts of the image taken by the camera other than the line light pattern, and by increasing the light intensity of the slit light, the parts of the image taken by the camera can be darkened. The line light pattern of the image can be brightened.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明に係る位置検出装置を示す図である0
図において、5はテーブル、3.4はテーブル5に設け
られたガイドレール、1はガイドレール3.4に取り付
けられたプリント基板、2はプリント基板1上に実装さ
れた電子部品、6.7はテーブル5をxjfi向、Y方
向に移動するテーブル駆動機、8.9はテーブル駆動機
6.7を制御する駆動回路、5oはTVカメラ、52は
ストロボランプ、51はストロボランプ52から照射さ
れた光をスリット光とするスリット光プロジェクタ、5
3は駆動回路8.9、TVカメラ50、ストロボランプ
52を制御するとともに、TVカメラ50で撮映した線
光パターンを有する画像から線光パターンを抽出し、線
光パターンの形状により電子部品2の位置を検出する画
像処理システムで、画像処理システム53はTVカメラ
50を露光している間にTVカメラ50の露光時間より
も短い時間だけストロボランプ52を発光することを指
令する光照射制御手段を有している。
FIG. 1 is a diagram showing a position detection device according to the present invention.
In the figure, 5 is a table, 3.4 is a guide rail provided on the table 5, 1 is a printed circuit board attached to the guide rail 3.4, 2 is an electronic component mounted on the printed circuit board 1, 6.7 is a table drive device that moves the table 5 in the xjfi and Y directions; 8.9 is a drive circuit that controls the table drive device 6.7; 5o is a TV camera; 52 is a strobe lamp; A slit light projector that converts the light into slit light, 5
3 controls the drive circuit 8.9, the TV camera 50, and the strobe lamp 52, extracts a line light pattern from an image having the line light pattern taken by the TV camera 50, and controls the electronic component 2 according to the shape of the line light pattern. The image processing system 53 is a light irradiation control means that instructs the strobe lamp 52 to emit light for a shorter time than the exposure time of the TV camera 50 while the TV camera 50 is being exposed. have.

この位置検出装置においては、まずガイドレール3.4
にプリント基板1を取り付け、テーブル駆動機6.7に
よりテーブル5を移動することにより、電子部品2がT
V子テレビ0の撮映領域に入るようにし、TVカメラ5
oの露光時間を短くし、しかもストロボランプ52を発
光させないで、TVカメラ50でプリント基板1の表面
を撮映し、この画像(第2図(3a))を画像処理シス
テム53に記憶し、つぎにTVカメラ50の露光時間を
同一とし、TVカメラ50を露光している間にTVカメ
ラ50の露光時間よりも短い時間だけストロボランプ5
2を発光させて、TVカメラ5゜でプリント基板1の表
面を撮映し、この画像(第2図(4a))を画像処理シ
ステム53に記憶し、画像処理システム53で第2図(
4a)に示す画像から第2図(3a)に示す画像を画像
減算することにより、線光パターンを抽出し、線光パタ
ーンの形状により電子部品2の実装位置を検出する。
In this position detection device, first, the guide rail 3.4
By attaching the printed circuit board 1 to and moving the table 5 by the table drive device 6.7, the electronic component 2 is moved to the T.
Enter the shooting area of V-child TV 0, and move TV camera 5.
o shorten the exposure time and without emitting light from the strobe lamp 52, the surface of the printed circuit board 1 is photographed with the TV camera 50, this image (FIG. 2 (3a)) is stored in the image processing system 53, and then The exposure time of the TV camera 50 is the same, and while the TV camera 50 is being exposed, the strobe lamp 5 is turned on for a shorter time than the exposure time of the TV camera 50.
2 to emit light, the surface of the printed circuit board 1 is photographed with a TV camera at 5 degrees, and this image (FIG. 2 (4a)) is stored in the image processing system 53.
By subtracting the image shown in FIG. 2 (3a) from the image shown in 4a), a line light pattern is extracted, and the mounting position of the electronic component 2 is detected based on the shape of the line light pattern.

なお、上述実施例においては、画像減算により線光パタ
ーンを抽出したが、第2図(4a)に示す画像を2値化
することにより、線光パターンを抽出してもよい。
In the above embodiment, the line light pattern was extracted by image subtraction, but the line light pattern may also be extracted by binarizing the image shown in FIG. 2 (4a).

このように、この位置検出装置においては、TVカメラ
50の露光時間を短くすれば、TVカメラ50で撮映し
た画像の線光パターン以外の部分が暗くなるとともに、
ストロボランプ52の光量を大きくすれば、TVカメラ
50で撮映した画像の線光パターンが明るくなるから、
線光パターンを容易に抽出することができるにのことは
第2図(3a)、(4a)に示される画像のJ=J、に
おける工方向線上の明るさを示すグラフ(第2図(3b
)、(4b))からも明らかである。
In this way, in this position detection device, if the exposure time of the TV camera 50 is shortened, the portions other than the line light pattern of the image captured by the TV camera 50 become dark, and
If the light intensity of the strobe lamp 52 is increased, the line light pattern of the image captured by the TV camera 50 will become brighter.
In order to be able to easily extract the line light pattern, the graph showing the brightness on the work direction line at J=J of the images shown in Fig. 2 (3a) and (4a) (Fig. 2 (3b)
), (4b)).

第3図はこの発明に係る他の位置検出装置を示す図であ
る。図において、10は外部から電気的に露光時間を制
御することのできgccDシャッタTVカメラ(たとえ
ば日立電子製のに、P−180)で、TVカメラ10は
第4図(a)に示すような通常の露光時間で撮映する通
常モードと第4図(b)に示すような通常の露光時間よ
りも短縮した露光時間で撮映する短縮モードとを選択可
能である。
FIG. 3 is a diagram showing another position detection device according to the present invention. In the figure, 10 is a GCCD shutter TV camera (for example, Hitachi Electronics's P-180) that can electrically control the exposure time from the outside, and the TV camera 10 is of the type shown in FIG. 4(a). It is possible to select between a normal mode in which images are taken with a normal exposure time and a shortened mode in which images are taken with an exposure time shorter than the normal exposure time as shown in FIG. 4(b).

12はストロボランプ、11はストロボランプ12から
照射された光をスリット光とするスリット光プロジェク
タ、21は駆動回路8.9、TVカメラ10、ストロボ
ランプ12を制御するとともに、TVカメラ10で撮映
した画像を処理して電子部品2の位置等を検出する画像
処理システム、13はCPU、14はメモリ、15は駆
動回路8.9を制御するテーブル制御回路、16はスト
ロボランプ12の発光タイミングを制御する光照射制御
回路、17はTVカメラ10を通常モードと短縮モード
とに切り換える露光時間制御回路で、露光時間制御回路
17はTVカメラ10のモードを第6図(b)に示すよ
うに切り換え、第1フイールドでは通常モードとし、第
2.第3フイールドでは短縮モードとする。、18はT
Vカメラ10がら出力された画像信号を入力する画像入
力回路、19は画像入力回路18に入力された画像を入
力して、線光パターン抽出処理、濃淡画像処理等を行な
う画像処理回路、20はCPU13.メモリ14等を結
合するシステムバスで、CPUl3、メモリ14等で画
像処理システム21を構成している。
12 is a strobe lamp; 11 is a slit light projector that uses the light emitted from the strobe lamp 12 as slit light; 21 is a drive circuit 8.9 that controls the TV camera 10 and the strobe lamp 12; 13 is a CPU, 14 is a memory, 15 is a table control circuit for controlling the drive circuit 8.9, and 16 is for controlling the light emission timing of the strobe lamp 12. The light irradiation control circuit 17 is an exposure time control circuit that switches the TV camera 10 between the normal mode and the shortened mode, and the exposure time control circuit 17 switches the mode of the TV camera 10 as shown in FIG. 6(b). , the first field is in normal mode, and the second field is in normal mode. The third field is a shortened mode. , 18 is T
An image input circuit 19 inputs the image signal output from the V camera 10, an image processing circuit 19 inputs the image input to the image input circuit 18, and performs line light pattern extraction processing, gray scale image processing, etc.; CPU13. A system bus connects the memory 14, etc., and the CPU 13, the memory 14, etc. constitute an image processing system 21.

第5図は第3図に示した位置検出装置の光照射制御回路
16の回路構成図である。図において。
FIG. 5 is a circuit diagram of the light irradiation control circuit 16 of the position detection device shown in FIG. 3. In fig.

22はシステムバス20のアドレスバス、23はスイッ
チ、24は比較器で、比較器24はスイッチ23により
設定されたアドレスとアドレスバス22から送信された
アドレスとが一致したときにのみ信号を出力する。25
は比較器24から出力された信号を保持するラッチ回路
である。そして、スイッチ23には第6図(d)に示す
ように第3フイールドの始めにラッチ回路25から信号
が出力され始めるようにアドレスが設定されている。す
なわち、第3フイールドにおいてのみストロボランプ1
2を発光することつまりスリット光を照射することが可
能である。28は画像入力1回路18から画像の垂直同
期信号26、水平同期信号27を入力し、水平同期信号
27によりカウントアツプし、垂直同期信号26により
リセットされるカウンタで、カウンタ28は一画面内の
水平走査回数を出力する。29はスイッチ、30は比較
器で、比較器30はスイッチ29により設定された値と
カウンタ28から出力された値とが一致したときにのみ
信号を出力する。そして、スイッチ29にはTVカメラ
10が短縮モードのときの露光時間内に比較器30から
信号が出力されるように値が設定されている。31はラ
ッチ回路25および比較器30から信号が出力されてい
るときに信号を出力するANDゲートで、ANDゲート
31から信号が出力されたとき、ラッチ回路25がリセ
ットされる。32はANDゲート31から信号が出力さ
れたときストロボランプ12を発光する制御回路である
22 is an address bus of the system bus 20, 23 is a switch, and 24 is a comparator. The comparator 24 outputs a signal only when the address set by the switch 23 and the address transmitted from the address bus 22 match. . 25
is a latch circuit that holds the signal output from the comparator 24. An address is set in the switch 23 so that the latch circuit 25 starts outputting a signal at the beginning of the third field, as shown in FIG. 6(d). That is, strobe lamp 1 is used only in the third field.
2, that is, it is possible to emit slit light. Reference numeral 28 denotes a counter that inputs the image vertical synchronization signal 26 and horizontal synchronization signal 27 from the image input 1 circuit 18, counts up by the horizontal synchronization signal 27, and is reset by the vertical synchronization signal 26. Outputs the number of horizontal scans. 29 is a switch, 30 is a comparator, and the comparator 30 outputs a signal only when the value set by the switch 29 and the value output from the counter 28 match. A value is set in the switch 29 so that the signal is output from the comparator 30 within the exposure time when the TV camera 10 is in the shortening mode. Reference numeral 31 denotes an AND gate that outputs a signal when the latch circuit 25 and comparator 30 output a signal. When the AND gate 31 outputs a signal, the latch circuit 25 is reset. 32 is a control circuit that causes the strobe lamp 12 to emit light when a signal is output from the AND gate 31.

この位置検出装置においては、TVカメラ10のモード
が第6図(b)に示すように切り換えられるから、TV
カメラ10の露光時間は第6図(c)に示すようになる
。また、ラッチ回路25からは第6図(d)に示すよう
に信号が出力され、また比較器3oからはTVカメラ1
0が短縮モードのときの露光時間内に信号が出力される
から、ANDゲート31からは第6図(e)に示すよう
に第3フイールドのTVカメラ10の露光時間内に信号
が出力される。このため、第3フイールドのTVカメラ
10の露光時間内にストロボランプ12が発光され、ス
リット光が照射される。したがって、第1フイールドに
おいては、TVカメラ10の露光時間が長く、スリット
光が照射されないから、TVカメラ10で撮映した画像
は第2図(1a)に示すようになり、また第2フイール
ドにおいては、TVカメラ10の露光時間が短く、スリ
ット光が照射されないから、TVカメラ10で撮映した
画像は第2図(3a)に示すようになり、さらに第3フ
ィールドにおいては、TVカメラ10の露光時間が短く
、スリット光が照射されるから、TVカメラ10で撮映
した画像は第2図(4a)に示すようになる。そして、
画像処理回路19に、TVカメラ10で撮映した第1フ
イールドの画像を入力して、濃淡画像処理を行なえば、
電子部品2上のマーク、文字等を検出することができ、
また画像処理回路19において第3フイールドの画像か
ら第2フイールドの画像を画像減算することにより、線
光パターンを抽出すれば、線光パターンの形状から電子
部品2の実装位置を検出することができる。
In this position detection device, since the mode of the TV camera 10 is switched as shown in FIG.
The exposure time of the camera 10 is as shown in FIG. 6(c). Further, the latch circuit 25 outputs a signal as shown in FIG. 6(d), and the comparator 3o outputs a signal from the TV camera 1.
Since a signal is output within the exposure time when 0 is in the shortening mode, a signal is output from the AND gate 31 within the exposure time of the TV camera 10 in the third field, as shown in FIG. 6(e). . Therefore, the strobe lamp 12 emits light within the exposure time of the TV camera 10 of the third field, and slit light is irradiated. Therefore, in the first field, the exposure time of the TV camera 10 is long and the slit light is not irradiated, so the image taken by the TV camera 10 becomes as shown in FIG. 2 (1a), and in the second field. Since the exposure time of the TV camera 10 is short and the slit light is not irradiated, the image taken by the TV camera 10 becomes as shown in FIG. 2 (3a). Since the exposure time is short and the slit light is irradiated, the image taken by the TV camera 10 is as shown in FIG. 2 (4a). and,
If the image of the first field taken by the TV camera 10 is input to the image processing circuit 19 and gray scale image processing is performed,
Marks, characters, etc. on electronic components 2 can be detected,
Furthermore, by subtracting the image of the second field from the image of the third field in the image processing circuit 19 to extract the line light pattern, the mounting position of the electronic component 2 can be detected from the shape of the line light pattern. .

つぎに、線光パターンの形状検出について説明する。ま
ず、第7図(a)に示す線光パターンを有する画像から
第7図(b)に示す線光パターンを有しない画像を画像
減算することにより、第7図(c)に示す差画像を求め
る。つぎに、差画像の1方向線上の明るさF(I)を検
出する。つぎに、明るさF(I)が第8図に示すしきい
値THとなる工座標工。、■、を検出する。つぎに、次
式によす第8図に示すような明るさ分布の中心位置M(
J)を求める。
Next, detection of the shape of a line light pattern will be explained. First, by subtracting the image without the line pattern shown in Figure 7(b) from the image with the line pattern shown in Figure 7(a), the difference image shown in Figure 7(c) is obtained. demand. Next, the brightness F(I) on the one-direction line of the difference image is detected. Next, a coordinate machining process in which the brightness F(I) becomes the threshold value TH shown in FIG. ,■, is detected. Next, the center position M(
Find J).

■。■.

I=I。I=I.

そして、垂直画素数をNとすると、こような操作をN回
だけ行ない、J=0,1.・・・、Nにおける中心位置
M(J)を求めれば、線光パターンの形状を検出するこ
とができる。
Then, assuming that the number of vertical pixels is N, such an operation is performed N times, and J=0, 1, . . . , by finding the center position M(J) at N, the shape of the line light pattern can be detected.

第9図はこの発明に係る他の位置検出装置の一部を示す
図である6図において、34はX方向のスリット光を照
射するスリット光照射器、35はスリット光照射器34
から照射されたスリット光を反射するガルバノミラ−で
、ガルバノミラ−35の反射部の角度を変えることによ
り、スリット光照射器34からプリント基板1上に照射
されたスリット光の位置をY方向に移動することができ
る。36はY方向のスリット光を照射するスリット光照
射器、37はスリット光照射器36から照射されたスリ
ット光を反射するガルバノミラ−で、ガルバノミラ−3
7の反射部の角度を変えることにより、スリット光照射
器36からプリント基板1上に照射されたスリット光の
位置をX方向に移動することができる。
FIG. 9 is a diagram showing a part of another position detection device according to the present invention. In FIG. 6, 34 is a slit light irradiator that irradiates slit light in the
By changing the angle of the reflecting part of the galvano mirror 35, the position of the slit light irradiated onto the printed circuit board 1 from the slit light irradiator 34 is moved in the Y direction. be able to. 36 is a slit light irradiator that irradiates slit light in the Y direction; 37 is a galvano mirror that reflects the slit light irradiated from the slit light irradiator 36;
By changing the angle of the reflecting portion 7, the position of the slit light irradiated onto the printed circuit board 1 from the slit light irradiator 36 can be moved in the X direction.

この位置検出装置においては、TVカメラ1゜の露光時
間内に、ガルバノミラ−35の反射部の角度を所定角度
として、スリット光照射器34からプリント基板1上に
スリット光を照射したのち、ガルバノミラ−35の反射
部の角度を変えて、スリット光照射器34からプリント
基板1上にスリット光を照射するとともに、スリット光
照射器36からガルバノミラ−37を介してプリント基
板1上にスリット光を照射すれば、第10図に示すよう
な3本の線光パターンを有する画像が得られる。そして
、3本の線光パターンの端点39〜44を検出すれば、
画像内での電子部品2のX方向およびY方向の位置を検
出することができ、この検出結果に基づいて電子部品2
が存在する領域に対して濃淡画像処理を行なえば、電子
部品2上のマーク、文字等を精度よく検出することがで
きる。
In this position detection device, the slit light is irradiated onto the printed circuit board 1 from the slit light irradiator 34 with the reflection part of the galvano mirror 35 at a predetermined angle within the exposure time of the TV camera 1°. By changing the angle of the reflecting section 35, the slit light irradiator 34 irradiates the printed circuit board 1 with slit light, and the slit light irradiator 36 irradiates the printed circuit board 1 with the slit light through the galvanometer mirror 37. For example, an image having three line light patterns as shown in FIG. 10 can be obtained. Then, if the end points 39 to 44 of the three line light patterns are detected,
The position of the electronic component 2 in the X direction and Y direction within the image can be detected, and based on this detection result, the position of the electronic component 2 can be detected.
By performing grayscale image processing on the area where , marks, characters, etc. on the electronic component 2 can be detected with high accuracy.

なお、上述実施例においては、プリント基板上に実装さ
れた電子部品の実装位置を検出する位置検出装置につい
て説明したが、この発明は面上の形状変化が存在する部
分の位置、面上に設けられた物の位置等を検出する位置
検出装置に適用することができる。
In the above-mentioned embodiment, a position detection device for detecting the mounting position of an electronic component mounted on a printed circuit board has been described. The present invention can be applied to a position detection device that detects the position of an object, etc.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、この発明に係る位置検出装置にお
いては、カメラで撮映した画像の線光パターン以外の部
分を暗くすることができ、しかもカメラで撮映した画像
の線光パターンを明るくすることができるから、線光パ
ターンを容易に抽出することができる。このように、こ
の発明の効果は顕著である。
As explained above, in the position detection device according to the present invention, it is possible to darken the part other than the line light pattern of the image taken by the camera, and also brighten the line light pattern of the image taken by the camera. Therefore, line light patterns can be easily extracted. As described above, the effects of this invention are remarkable.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明に係る位置検出装置を示す図、第2図
は画像処理を説明するための図、第3図はこの発明に係
る他の位置検出装置を示す図、第4図はTVカメラの撮
映モードを示すグラフ、第5図は第3図に示した位置検
出装置の光照射制御回路の回路構成図、第6図は第3図
1ミ示した位置検出装置の動作を説明するためのタイム
チャート、第7図、第8図は線光パターンの形状検出を
説明するための図、第9図はこの発明に係る他の位置検
出装置の一部を示す図、第10図は第9図に示した位置
検出装置の画像処理を説明するための図である。 1・・・プリント基板 2・・・電子部品 10・・・TVカメラ 11・・・スリット光プロジェクタ 12・・・ストロボランプ 16・・・光照射制御回路 21・・・画像処理システム 34.36・・・スリット光照射器 50・・・TVカメラ 51・・・スリット光プロジェクタ 52・・・ストロボランプ 53・・・画像処理システム 代理人  弁理士 中 村 純之助 第1因 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 (C) 第7図 第8@ 第10図
FIG. 1 is a diagram showing a position detecting device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining image processing, FIG. 3 is a diagram showing another position detecting device according to the present invention, and FIG. 4 is a diagram showing a TV. A graph showing the shooting mode of the camera, Fig. 5 is a circuit diagram of the light irradiation control circuit of the position detection device shown in Fig. 3, and Fig. 6 explains the operation of the position detection device shown in Fig. 3.1. FIG. 7 and FIG. 8 are diagrams for explaining shape detection of a line light pattern, FIG. 9 is a diagram showing a part of another position detection device according to the present invention, and FIG. 10 9 is a diagram for explaining image processing of the position detection device shown in FIG. 9. FIG. 1... Printed circuit board 2... Electronic component 10... TV camera 11... Slit light projector 12... Strobe lamp 16... Light irradiation control circuit 21... Image processing system 34.36. ...Slit light irradiator 50...TV camera 51...Slit light projector 52...Strobe lamp 53...Image processing system agent Patent attorney Junnosuke Nakamura 1st cause 2nd figure 3rd figure 4 Figure 5 Figure 6 (C) Figure 7 Figure 8 @ Figure 10

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、面上にカメラの撮映方向と異なる方向からスリット
光を照射し、上記面上に線光パターンを形成し、上記線
光パターンを有する画像を上記カメラで撮映し、上記画
像から上記線光パターンを抽出し、上記線光パターンの
形状により検出対象の位置を検出する位置検出装置にお
いて、上記カメラを露光している間に、上記カメラの露
光時間よりも短い時間だけ上記スリット光を照射するこ
とを指令する光照射制御手段を具備することを特徴とす
る位置検出装置。
1. Slit light is irradiated onto the surface from a direction different from the shooting direction of the camera to form a line light pattern on the surface, an image having the line light pattern is captured by the camera, and the line light is extracted from the image. In a position detection device that extracts a light pattern and detects the position of a detection target based on the shape of the line light pattern, the slit light is irradiated for a shorter time than the exposure time of the camera while the camera is being exposed. 1. A position detection device comprising a light irradiation control means for instructing a position detection device.
JP63094416A 1987-10-14 1988-04-19 Object state detection method and apparatus Expired - Lifetime JP2502119B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63094416A JP2502119B2 (en) 1988-04-19 1988-04-19 Object state detection method and apparatus
DE3850840T DE3850840T2 (en) 1987-10-14 1988-10-13 Device and method for fault inspection in fastened components, using a light slot.
EP88117015A EP0312046B1 (en) 1987-10-14 1988-10-13 Apparatus and method for inspecting defect of mounted component with slit light
US07/257,969 US5076697A (en) 1987-10-14 1988-10-14 Apparatus and method for inspecting defect of mounted component with slit light

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63094416A JP2502119B2 (en) 1988-04-19 1988-04-19 Object state detection method and apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01267402A true JPH01267402A (en) 1989-10-25
JP2502119B2 JP2502119B2 (en) 1996-05-29

Family

ID=14109635

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63094416A Expired - Lifetime JP2502119B2 (en) 1987-10-14 1988-04-19 Object state detection method and apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2502119B2 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58150876A (en) * 1982-03-03 1983-09-07 Mitsubishi Electric Corp Reflecting type light sensor
JPS59210309A (en) * 1983-05-13 1984-11-29 Shin Meiwa Ind Co Ltd Optical sensor
JPS6298202A (en) * 1985-10-25 1987-05-07 Nippon Kokan Kk <Nkk> Detecting device for crack tip position of fatigue test piece
JPS62201309A (en) * 1986-02-28 1987-09-05 Komatsu Ltd Road nature measurement system using ccd camera

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58150876A (en) * 1982-03-03 1983-09-07 Mitsubishi Electric Corp Reflecting type light sensor
JPS59210309A (en) * 1983-05-13 1984-11-29 Shin Meiwa Ind Co Ltd Optical sensor
JPS6298202A (en) * 1985-10-25 1987-05-07 Nippon Kokan Kk <Nkk> Detecting device for crack tip position of fatigue test piece
JPS62201309A (en) * 1986-02-28 1987-09-05 Komatsu Ltd Road nature measurement system using ccd camera

Also Published As

Publication number Publication date
JP2502119B2 (en) 1996-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5076697A (en) Apparatus and method for inspecting defect of mounted component with slit light
JPS61290311A (en) Apparatus and method for inspecting soldered zone
WO2006003863A1 (en) Exposure equipment
JP2005049221A (en) Inspection device and inspection method
US4672209A (en) Component alignment method
JPH1096605A (en) Position measuring method and device with image processing
JPH01282410A (en) Curved surface nature inspection device
JP4084383B2 (en) Vision inspection apparatus and vision inspection method using a total reflection mirror
JP2000124683A (en) Image pickup of electronic component and electronic component mounting equipment
JPH01267402A (en) Position detector
JP5235062B2 (en) Exposure equipment
WO1995029035A1 (en) Laser beam machining apparatus and laser beam machining method and dam bar machining method
JPH11280378A (en) Method and device for measuring clearance of tail section in shield machine
JP4011228B2 (en) Electronic component mounting method
JP3309420B2 (en) Inspection method of solder bridge
JP4641275B2 (en) Automatic visual inspection apparatus and automatic visual inspection method
JP2000114619A (en) Laser marking system
JP4123447B2 (en) Electronic component imaging method and electronic component mounting apparatus
JP2008217303A (en) Image acquisition method, image acquisition device, and article testing device
JP2003008295A (en) Method for mounting electronic component and electronic component mounter
KR100473404B1 (en) A marking location auto tracking method
JP2000277999A5 (en)
JP5930284B2 (en) Illumination apparatus, imaging apparatus, screen printing apparatus, alignment method, and substrate manufacturing method
JP2610295B2 (en) Position recognition device
JP2008160136A (en) Image pickup method of electronic component and electronic component mounting apparatus