JPH01265437A - 電子ビーム装置 - Google Patents
電子ビーム装置Info
- Publication number
- JPH01265437A JPH01265437A JP1050184A JP5018489A JPH01265437A JP H01265437 A JPH01265437 A JP H01265437A JP 1050184 A JP1050184 A JP 1050184A JP 5018489 A JP5018489 A JP 5018489A JP H01265437 A JPH01265437 A JP H01265437A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- graphite
- shaped groove
- beam device
- block
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims abstract description 18
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 38
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims abstract description 38
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/13—Solid thermionic cathodes
- H01J1/15—Cathodes heated directly by an electric current
- H01J1/18—Supports; Vibration-damping arrangements
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、熱分解グラファイトのブロック間に緊締され
た熱電子放出陰極チップを有する電子ビーム装置に関す
るものである。
た熱電子放出陰極チップを有する電子ビーム装置に関す
るものである。
(従来の技術)
このような装置の陰極構造は米国特許筒3,532゜9
23号明細書に開示されている。
23号明細書に開示されている。
この米国特許明細書に記載された電子エミッタは加熱素
子として作用する熱分解グラファイトの2つのブロック
間に緊締された陰極チップを有している。これらグラフ
ァイトのブロックは支持体上に装着されており、これら
支持体は一端で絶縁材料のブロック中に連結され且つグ
ラファイトのブロックを支持している他端でねし止めに
より陰極チップを緊締している。上記の支持体は電流供
給導体としても作用する。
子として作用する熱分解グラファイトの2つのブロック
間に緊締された陰極チップを有している。これらグラフ
ァイトのブロックは支持体上に装着されており、これら
支持体は一端で絶縁材料のブロック中に連結され且つグ
ラファイトのブロックを支持している他端でねし止めに
より陰極チップを緊締している。上記の支持体は電流供
給導体としても作用する。
(発明が解決しようとする課題)
このような陰極構造を例えば電子ビーム書込み装置に用
いると、陰極によって放出せしめられる電子に電流強度
変化が生じ、この電流強度変化は装置を良好に動作させ
る上で極めて不適切となるという欠点が生じる。
いると、陰極によって放出せしめられる電子に電流強度
変化が生じ、この電流強度変化は装置を良好に動作させ
る上で極めて不適切となるという欠点が生じる。
本発明の目的は、電流強度変化は動作中グラファイトの
ブロックにおける熱伝導率および導電率の双方またはい
ずれか一方が変化することによった生じるという前提か
ら出発して前述した欠点を無くすことにある。
ブロックにおける熱伝導率および導電率の双方またはい
ずれか一方が変化することによった生じるという前提か
ら出発して前述した欠点を無くすことにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は、熱分解グラファイトのブロック間に緊締され
た熱電子放射陰極チップを有する電子ビーム装置におい
て、前記の熱分解グラファイトのブロックの1つが、熱
分解グラファイトの熱による形状変化を補償する調整機
構を有していることを特徴とする。
た熱電子放射陰極チップを有する電子ビーム装置におい
て、前記の熱分解グラファイトのブロックの1つが、熱
分解グラファイトの熱による形状変化を補償する調整機
構を有していることを特徴とする。
本発明によれば、調整機構が、例えば熱膨張等によりグ
ラファイトのブロック中に生じるひずみを補償しうる為
、グラファイトのブロックに熱伝導率および導電率の双
方またはいずれか一方の変化が生じなくなり、従って陰
極チップにおける温度変化が、従って放出すべき電子ビ
ームの電流強度の不所望な変化も生じなくなる。
ラファイトのブロック中に生じるひずみを補償しうる為
、グラファイトのブロックに熱伝導率および導電率の双
方またはいずれか一方の変化が生じなくなり、従って陰
極チップにおける温度変化が、従って放出すべき電子ビ
ームの電流強度の不所望な変化も生じなくなる。
本発明の好適例では、支持体に面するグラファイトのブ
ロックの端面が、動作温度で延伸性に富む金属層を有す
るようにする。このような金属層は多くの分野にとって
有害な形状変化を充分に補償しうる。
ロックの端面が、動作温度で延伸性に富む金属層を有す
るようにする。このような金属層は多くの分野にとって
有害な形状変化を充分に補償しうる。
他の好適例では、グラファイトのブロックを、球状体に
よって結合された直交V字状溝構造を介して支持体に連
結する。この構造は球状体を中心とする揺動運動により
有害な形状変化を補償しうる。
よって結合された直交V字状溝構造を介して支持体に連
結する。この構造は球状体を中心とする揺動運動により
有害な形状変化を補償しうる。
更に他の好適例では、グラファイトブロックの1つに対
する金属中間ブロックをダイアフラムの一端上に装着し
、このダイアフラムの他端を支持体に連結し、金属中間
ブロックを介してダイアフラムを曲げるようにすること
によりグラファイトのブロックを弾性的に緊締するよう
にする。この場合も、弾性力による緊締がグラファイト
のブロックの形状変化を許容しうるようにするとともに
、ダイアフラムの装着によりグラファイトのブロックを
良好な位置に保つ。
する金属中間ブロックをダイアフラムの一端上に装着し
、このダイアフラムの他端を支持体に連結し、金属中間
ブロックを介してダイアフラムを曲げるようにすること
によりグラファイトのブロックを弾性的に緊締するよう
にする。この場合も、弾性力による緊締がグラファイト
のブロックの形状変化を許容しうるようにするとともに
、ダイアフラムの装着によりグラファイトのブロックを
良好な位置に保つ。
(実施例)
以下図面につき説明するに、第1図に示す本発明による
電子ビーム装置は、陰極チップ4、つ工−ネルト電極6
および陽極8を有する電子源2と、ビームアライメント
(調整)コイル10と、絞り11を有するCo−レンズ
9と、ビーム遮断装置12と、コンデンサ絞り16を有
するコンデンサレンズシステム18と、絞り20と、偏
向装置24と、後置集束レンズ26を有する射出レンズ
23と、射出絞り28と、試料面34に試料32を配置
する試料テーブル30とを具えている。
電子ビーム装置は、陰極チップ4、つ工−ネルト電極6
および陽極8を有する電子源2と、ビームアライメント
(調整)コイル10と、絞り11を有するCo−レンズ
9と、ビーム遮断装置12と、コンデンサ絞り16を有
するコンデンサレンズシステム18と、絞り20と、偏
向装置24と、後置集束レンズ26を有する射出レンズ
23と、射出絞り28と、試料面34に試料32を配置
する試料テーブル30とを具えている。
第2a図は、例えばLaB、よりなる陰極チップ4と、
第1グラフアイトブロツク40と、第2グラフアイトブ
ロツク42と、電気絶縁材料より成る組立用ブロック4
8中に嵌入された支持体44および46とを示している
。グラファイトブロック40は(任意ではあるがグラフ
ァイトブロック42も)その支持体に面する側で金属層
50を有する。この金属層50は例えばスパッタリング
その他の容易に接着する任意の方法によりグラファイト
上に設けるものであり、通常の動作温度でグラファイト
の形状変化を補償するのに充分な延伸性があるものとす
る。
第1グラフアイトブロツク40と、第2グラフアイトブ
ロツク42と、電気絶縁材料より成る組立用ブロック4
8中に嵌入された支持体44および46とを示している
。グラファイトブロック40は(任意ではあるがグラフ
ァイトブロック42も)その支持体に面する側で金属層
50を有する。この金属層50は例えばスパッタリング
その他の容易に接着する任意の方法によりグラファイト
上に設けるものであり、通常の動作温度でグラファイト
の形状変化を補償するのに充分な延伸性があるものとす
る。
この金属層は例えば、プラチナ或いはタングステンとし
、その厚さは例えば約0.5 vanとする。
、その厚さは例えば約0.5 vanとする。
第2b図では第2a図と対応する素子に同一符号を付し
てあり、この第2b図はグラファイトブロック42と、
7字状溝52が形成された金属中間部材51を有する調
整機構49と、前記のV字状溝52に対し直角に延在す
る7字状溝54を有する支持体46とを示している。こ
れら双方のV字状溝は球状体56に連結され、陰極を有
するグラファイトブロックがこの球状体の周りで揺動運
動をしてひずみを補償し、陰極の位置をそのまま確保す
る。
てあり、この第2b図はグラファイトブロック42と、
7字状溝52が形成された金属中間部材51を有する調
整機構49と、前記のV字状溝52に対し直角に延在す
る7字状溝54を有する支持体46とを示している。こ
れら双方のV字状溝は球状体56に連結され、陰極を有
するグラファイトブロックがこの球状体の周りで揺動運
動をしてひずみを補償し、陰極の位置をそのまま確保す
る。
第2C図でも第2aおよび2b図と対応する素子には同
一符号を付しである。この第2c図では、この場合ダイ
アフラム62上に装着された金属中間ブロック60によ
り形成された調整機構59がグラファイトブロック42
に加えられている。金属中間ブロック60から離れたダ
イアフラムの一端は組立用ブロック64に連結され、こ
のブロック64上に支持体46が装着されている。グラ
ファイトブロック42、従って陰極チップ4は圧力ばね
機構66により、熱による形状変化を補償しうるように
弾性的に緊締されている。ダイアフラムは陰極チップの
位置を永久的に正確に保つ。
一符号を付しである。この第2c図では、この場合ダイ
アフラム62上に装着された金属中間ブロック60によ
り形成された調整機構59がグラファイトブロック42
に加えられている。金属中間ブロック60から離れたダ
イアフラムの一端は組立用ブロック64に連結され、こ
のブロック64上に支持体46が装着されている。グラ
ファイトブロック42、従って陰極チップ4は圧力ばね
機構66により、熱による形状変化を補償しうるように
弾性的に緊締されている。ダイアフラムは陰極チップの
位置を永久的に正確に保つ。
第1図は、本発明の電子ビーム装置の一例を示す線図、
第2a〜20図は、第1図の電子ビーム装置に用いる陰
極の種々のクランプ装置の例を示す線図である。 2・・・電子源 4・・・陰極チップ6・・・
ウェーネルト電極 8・・・陽極 9・・・Co−レンズ10・
・・ビームアライメントコイル 11.20・・・絞り 12・・・ビーム遮断装
置16・・・コンデンサ絞り 18・・・コンデンサレンズシステム 23・・・射出レンズ 24・・・偏向装置26・
・・後置集束レンズ 28・・・射出絞り30・・・試
料テーブル 32・・・試料34・・・試料面 40.42・・・グラファイトブロック44.46・・
・支持体 48.64・・・組立用ブロック 49.59・・・調整機構 50・・・金属層51・
・・金属中間部材 52.54・・・7字状溝56・
・・球状体 60・・・金属中間ブロック°6
2・・・ダイアフラム 66・・・圧力ばね機構特許
出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイランペ
ンファプリケン
極の種々のクランプ装置の例を示す線図である。 2・・・電子源 4・・・陰極チップ6・・・
ウェーネルト電極 8・・・陽極 9・・・Co−レンズ10・
・・ビームアライメントコイル 11.20・・・絞り 12・・・ビーム遮断装
置16・・・コンデンサ絞り 18・・・コンデンサレンズシステム 23・・・射出レンズ 24・・・偏向装置26・
・・後置集束レンズ 28・・・射出絞り30・・・試
料テーブル 32・・・試料34・・・試料面 40.42・・・グラファイトブロック44.46・・
・支持体 48.64・・・組立用ブロック 49.59・・・調整機構 50・・・金属層51・
・・金属中間部材 52.54・・・7字状溝56・
・・球状体 60・・・金属中間ブロック°6
2・・・ダイアフラム 66・・・圧力ばね機構特許
出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイランペ
ンファプリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、熱分解グラファイトのブロック(40、42)間に
緊締された熱電子放射陰極チップ(4)を有する電子ビ
ーム装置において、前記の熱分解グラファイトのブロッ
ク(40、42)の1つが、熱分解グラファイトの熱に
よる形状変化を補償する調整機構(50、49、59)
を有していることを特徴とする電子ビーム装置。 2、請求項1に記載の電子ビーム装置において、前記の
調整機構が、支持体に隣接する熱分解グラファイトのブ
ロック(40)の側に被着され動作温度で延伸性に富む
金属層(50)を以って構成されていることを特徴とす
る電子ビーム装置。 3、請求項1に記載の電子ビーム装置において、前記の
調整機構はV字状溝(52)を有する金属中間部材であ
り、このV字状溝(52)はこのV字状溝に対し直角を
成して延在するように支持体(46)に形成されたV字
状溝(54)に球状体(56)を介して結合されている
ことを特徴とする電子ビーム装置。 4、請求項1に記載の電子ビーム装置において、前記の
調整機構が、ダイアフラム(62)上に装着された中間
ブロック(60)を有し、この中間ブロックは圧力ばね
機構(66)を介して支持体(46)に結合され、この
支持体(46)は組立用ブロック(64)を介して前記
のダイアフラムに結合されていることを特徴とする電子
ビーム装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8800539A NL8800539A (nl) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Elektronen bundel apparaat. |
NL8800539 | 1988-03-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01265437A true JPH01265437A (ja) | 1989-10-23 |
Family
ID=19851884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1050184A Pending JPH01265437A (ja) | 1988-03-03 | 1989-03-03 | 電子ビーム装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5001385A (ja) |
EP (1) | EP0331258A1 (ja) |
JP (1) | JPH01265437A (ja) |
NL (1) | NL8800539A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008166265A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-07-17 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 電子放出源 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0801811B1 (en) * | 1994-06-28 | 1998-07-22 | Leica Lithography Systems Ltd. | Electron beam lithography machine |
GB2414856B (en) * | 2004-06-03 | 2008-11-12 | Nanobeam Ltd | Charged particle gun |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3532923A (en) * | 1969-03-17 | 1970-10-06 | Ibm | Pyrolytic graphite support for lanthanum hexaboride cathode emitter |
JPS5277661A (en) * | 1975-12-24 | 1977-06-30 | Jeol Ltd | Electron gun |
JPS5598435A (en) * | 1979-01-23 | 1980-07-26 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Hot cathode |
-
1988
- 1988-03-03 NL NL8800539A patent/NL8800539A/nl not_active Application Discontinuation
-
1989
- 1989-02-27 EP EP89200478A patent/EP0331258A1/en not_active Withdrawn
- 1989-02-27 US US07/316,393 patent/US5001385A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-03 JP JP1050184A patent/JPH01265437A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008166265A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-07-17 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 電子放出源 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL8800539A (nl) | 1989-10-02 |
EP0331258A1 (en) | 1989-09-06 |
US5001385A (en) | 1991-03-19 |
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