JPH01262453A - Method of reading diffracted x-ray intensity of x-ray diffraction device using accumulation type fluorescent plate - Google Patents

Method of reading diffracted x-ray intensity of x-ray diffraction device using accumulation type fluorescent plate

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JPH01262453A
JPH01262453A JP63088999A JP8899988A JPH01262453A JP H01262453 A JPH01262453 A JP H01262453A JP 63088999 A JP63088999 A JP 63088999A JP 8899988 A JP8899988 A JP 8899988A JP H01262453 A JPH01262453 A JP H01262453A
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Japan
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intensity
calibration curve
value
ray
measured
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JP63088999A
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Japanese (ja)
Inventor
Keizo Ogawa
恵三 小川
Yutaka Yokozawa
横沢 裕
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Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To minimize the influence of the fluctuation of a fluorescent reader by determining a calibration curve just prior to reading of an accumulation type fluorescent plate. CONSTITUTION:Several kinds of absorption plates, the transmittances of which to excitation rays to be cast to the accumulation type fluorescent plate are known, are first prepd. and the excitation rays are transmitted to these absorption plates. The intensities of the transmitted light rays thereof are measured by a fluorescent intensity measuring instrument. The calibration curve is then determined by corresponding the measured values of the transmitted light intensities and the transmittances of the absorption plates. On the other hand, the calibration curve of the accumulation type fluorescent plate on which the X-ray diffracted image from a sample to be measured is recorded as a latent image is determined and said plate is projected by the excitation rays right thereafter. The fluorescence generated from the accumulation type fluorescent plate is measured by the fluorescent intensity measuring instrument. The measured value of the fluorescent intensity is taken on the coordinate aces for the measured value of the fluorescent intensity in the calibration curve and the value of the transmittance corresponding there to is determined. This value is determined as the relative value of the diffracted X-ray intensity.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、蓄積性蛍光板を利用したX線回折装置におけ
る回折X線強度の読取り方法に関し、1bに、読取り賃
首の較正方法に特徴のめる読取り方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for reading the intensity of diffracted X-rays in an X-ray diffraction apparatus using a stimulable fluorescent screen, and is characterized in 1b as a method for calibrating the reading rate. Regarding reading method.

[従来の技術1 蓄積性蛍光板は、従来のX線フィルムよりも侵れた特性
を有するX線用二次元検出器として、最近脚光を浴びて
いるものである。その特徴は、感度の一様性と位置分解
能がX線フィルムと同程度に優れている上に、感度がX
線フィルムの10倍以上あることである。したがって、
この蓄積性蛍光板を利用したX線回折装置が既に提案さ
れている(特開昭59−15843>。
[Prior Art 1] A stimulable phosphor screen has recently been in the spotlight as a two-dimensional X-ray detector that has more advanced characteristics than conventional X-ray films. Its features include sensitivity uniformity and positional resolution that are as good as those of X-ray film;
This is more than 10 times that of line film. therefore,
An X-ray diffraction device using this stimulable fluorescent screen has already been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 59-15843).

蓄積性蛍光板に記録された回折像は、レーザ光を照射す
ることによって発生する蛍光として読み出され、この蛍
光強度を測定することによって、回折X線の強度が求め
られる。すなわち、蓄積性蛍光板に記録されたX線強度
は、照射するレーザ光の強度と、発生する蛍光の強度と
の比から求めることができる。蛍光強度の測定には、通
常、光電子増倍管を利用している。
The diffraction image recorded on the stimulable fluorescent screen is read out as fluorescence generated by irradiation with laser light, and by measuring the intensity of this fluorescence, the intensity of the diffracted X-rays is determined. That is, the X-ray intensity recorded on the stimulable fluorescent screen can be determined from the ratio of the intensity of the irradiated laser light to the intensity of the generated fluorescence. A photomultiplier tube is usually used to measure fluorescence intensity.

このような蓄積性蛍光板を利用して、回折X線の強度を
求める場合は、あらかじめ、所定の条件の下で、蛍光強
度測定装置の出力と、X線強度との関係を、較正曲線と
して求めておくことになる。
When determining the intensity of diffracted X-rays using such a stimulable fluorescent screen, the relationship between the output of the fluorescence intensity measuring device and the X-ray intensity must be determined in advance as a calibration curve under predetermined conditions. I will keep it.

そして、この較正曲線を利用して、蛍光強度測定装置の
出力から、X線強度を締出している。
Using this calibration curve, X-ray intensity is excluded from the output of the fluorescence intensity measuring device.

[発明が解決しようとする課題] このようにしてX線強度を口出する場合、較正曲線を求
めた条件と、実際の測定条件とが異なれば、当然、測定
誤差が生じることになる。たとえば、レーザ光強度が変
動すると、同じX線強度に対しても、蛍光の強度が変化
してしまう。また、光電子増倍管の感度が変動すれば、
当然、同じ蛍光強度に対しても、出力が異なってしまう
[Problems to be Solved by the Invention] When determining the X-ray intensity in this way, if the conditions under which the calibration curve was obtained differ from the actual measurement conditions, a measurement error will naturally occur. For example, if the laser light intensity fluctuates, the fluorescence intensity will change even for the same X-ray intensity. Also, if the sensitivity of the photomultiplier tube changes,
Naturally, the output will differ even for the same fluorescence intensity.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり
、その目的は、蛍光読取装置の変動の影響をできるだけ
少なくした、回折X線強度の読取り方法を提供すること
にある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a method for reading diffracted X-ray intensity in which the influence of fluctuations in a fluorescence reading device is minimized.

1課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本考案による回折X線強度の
読取り方法は、次の各段階を有する。
Means for Solving 1 Problem] In order to achieve the above object, the method for reading diffraction X-ray intensity according to the present invention has the following steps.

(a)蓄積性蛍光板に照射する励起光線、に対する透過
率が知られている吸収板を複数種類用意して、これらの
吸収板に前記励起光線を通過させ、その透過光の強度を
蛍光強度測定装置で測定する段階。
(a) Prepare multiple types of absorption plates with known transmittance for the excitation light irradiated onto the stimulable fluorescent screen, let the excitation light pass through these absorption plates, and measure the fluorescence intensity of the transmitted light. The stage of measuring with a device.

(b)前記透過光強度の測定値と、前記吸収板の透過率
とを対応づけて、較正曲線を求める段階。
(b) determining a calibration curve by associating the measured value of the transmitted light intensity with the transmittance of the absorption plate;

(c)被測定試料からのX線回折像を潜像として記録し
ている蓄積性蛍光板に対して、前記較正曲線を求めた直
後に、前記励起光線を照射する段階。
(c) Immediately after determining the calibration curve, irradiating the excitation light beam onto a stimulable fluorescent screen that records the X-ray diffraction image from the sample to be measured as a latent image.

(d)前記蓄積性蛍光板から発生した蛍光を前記蛍光強
度測定装置で測定する段階。
(d) measuring the fluorescence generated from the stimulable fluorescent screen with the fluorescence intensity measuring device;

(e)前記較正曲線において、前記透過光強度測定値の
座標軸上に、前記蛍光強度測定値をあてはめ、これに対
応する前記透過率の値を求めて、これを回折X線強度の
相対値とする段階。
(e) In the calibration curve, fit the measured fluorescence intensity value onto the coordinate axis of the measured transmitted light intensity value, find the corresponding transmittance value, and calculate this as the relative value of the diffracted X-ray intensity. stage.

前記透過光強度を測定する際には、前記蓄積性蛍光板に
近接して配置した反射ミラーで、前記励起光線を反射ざ
ぜるのが便利である。その後、この励起光線を前記吸収
板に通過させてから前記蛍光強度測定装置に入射させる
ことになる。
When measuring the transmitted light intensity, it is convenient to reflect the excitation light beam with a reflection mirror placed close to the stimulable fluorescent screen. Thereafter, this excitation light beam is passed through the absorption plate and then made to enter the fluorescence intensity measuring device.

[作用コ 較正曲線を求める場合は、励起光線を吸収板に通して、
その透過光を蛍光強度測定装置で測定する。透過率の異
なる複数の吸収板に対して、この作業を行い、蛍光強度
測定装置の出力と、透過率との関係を求めて、これを較
正曲線とする。この較正曲線を求めた直後に、励起光線
を蓄積性蛍光板に照射して、発生した蛍光を蛍光強度測
定装置で測定する。この出力を、既に求めた較正曲線に
おいて、透過光強度測定値の座標軸上に当てはめて、対
応する透過率を求める。この直が、測定すべきX線強度
の相対値となる。そして、励起光線を、蓄積性蛍光板上
で走査すれば、回折パターンが得られることになる。
[If you want to find the effect calibration curve, pass the excitation light through an absorption plate,
The transmitted light is measured with a fluorescence intensity measuring device. This operation is performed for a plurality of absorption plates having different transmittances, and the relationship between the output of the fluorescence intensity measuring device and the transmittance is determined, and this is used as a calibration curve. Immediately after obtaining this calibration curve, the stimulable fluorescent screen is irradiated with excitation light and the generated fluorescence is measured using a fluorescence intensity measuring device. This output is applied to the coordinate axis of the transmitted light intensity measurement value in the previously determined calibration curve to determine the corresponding transmittance. This axis becomes the relative value of the X-ray intensity to be measured. Then, if the excitation light beam is scanned over the stimulable fluorescent screen, a diffraction pattern will be obtained.

このような回折パターンを蓄積性蛍光板から読み取る毎
に、その直前に上述の較正曲線を求めれば、励起光線の
強度の変動や、光電子増倍管の感度の変動などにより、
測定結果が影響を受けることがなくなる。
If the above-mentioned calibration curve is obtained immediately before each reading of such a diffraction pattern from a stimulable fluorescent screen, it will be possible to calculate the
Measurement results will no longer be affected.

上述の透過光強度を測定する際に、蓄積性蛍光仮に近接
して配置した反則ミラーで、励起光線を反射させれば、
便利−である。ずなわら、励起光線の走査機構によって
、励起光線をこの反則ミラーまでもってくることができ
る。
When measuring the above-mentioned transmitted light intensity, if the excitation light is reflected by a fouling mirror placed close to the stimulable fluorescence,
It's convenient. However, the excitation beam can be brought to this mirror by the excitation beam scanning mechanism.

[実施例1 次に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。[Example 1 Next, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の読取り方法の一実施例で使用する読取
り装置の斜視図である。Xステージ10は、蓄積性蛍光
板13に沿って、垂直方向に移動できる。Yステージ1
2は、Xステージ10i、:載っていて、Xステージ1
0に対して水平方向に移動できる。Yステージ12には
、第1反射ミラー14(プリズムの内面で形成される)
と、対物レンズ16が固定されている。Xステージ10
には、第2反割ミラー18が固定されている。
FIG. 1 is a perspective view of a reading device used in an embodiment of the reading method of the present invention. The X stage 10 can move vertically along the stimulable fluorescent screen 13. Y stage 1
2 is on the X stage 10i: on the X stage 1
Can move horizontally relative to 0. The Y stage 12 includes a first reflection mirror 14 (formed by the inner surface of a prism).
The objective lens 16 is fixed. X stage 10
A second reversible mirror 18 is fixed to.

レーザ光発生装置22は、第3反射ミラー2Qの下に配
置され、発射されたレーザ光は、第3反射ミラー20に
形成された孔21を通過できるようになっている。この
読取装置には、蛍光強度検出装置として、二つの光電子
増倍管24.26が工装置されている。第1の光電子増
倍管24は水平に配置され、第2の光電子増倍管26は
垂直に配置されている。二つの光電子増倍管を92けた
のは、次の理由による。蓄積性蛍光板は、ダイナミック
レンジが106以上おり、これを有効に活用するために
、このダイナミックレンジを二つの光電子増倍管で分担
させている。これらの光電子増(8管24.26と、前
述の第3反則ミラー20との間には、ハーフミラ−27
が配置されている。
The laser beam generator 22 is arranged under the third reflecting mirror 2Q, and the emitted laser beam can pass through the hole 21 formed in the third reflecting mirror 20. This reading device is equipped with two photomultiplier tubes 24 and 26 as fluorescence intensity detection devices. The first photomultiplier tube 24 is arranged horizontally, and the second photomultiplier tube 26 is arranged vertically. The reason why the two photomultiplier tubes have 92 digits is as follows. The stimulable fluorescent screen has a dynamic range of 106 or more, and in order to make effective use of this dynamic range, this dynamic range is shared between two photomultiplier tubes. A half mirror 27 is connected between these photoelectron multipliers (8 tubes 24, 26 and the third anti-fouling mirror 20).
is located.

ハーフミラ−27と第3反射ミラー20との間には、吸
収板28.30.32を挿入できるようになっている。
Absorption plates 28, 30, and 32 can be inserted between the half mirror 27 and the third reflecting mirror 20.

図面では、3枚の吸収板を描いであるが、これは必要最
小限の数であり、実際は、5〜10枚使用するのが好ま
しい。これらの吸収板は、レーザ光に対する透過率が正
確に求められてあり、互いにその吸収率が異なっている
。この実施例では、3枚の吸収板28,30.32は回
転円板に固定されていて、切り替えて使用できるように
なっている。また、この回転円板は、吸収板の存在しな
い位置にセットすることもできる。
Although three absorption plates are shown in the drawing, this is the minimum necessary number, and in reality, it is preferable to use 5 to 10 absorption plates. The transmittance of these absorption plates for laser light is determined accurately, and their absorption rates are different from each other. In this embodiment, the three absorption plates 28, 30, and 32 are fixed to a rotating disk and can be used selectively. Moreover, this rotating disk can also be set at a position where no absorbing plate is present.

実際に使用された吸収板は、厚さ1mmのガラス板にク
ロムを種々の厚さで蒸着したものを用いでいる。5枚の
吸収板を利用した例を説明すると、レーザ光(波長63
3nm)に対1゛る透過率は、(1,110)〜(1/
105)の範囲で、10倍ずつ5段階に変化させである
The absorption plate actually used was a 1 mm thick glass plate on which chromium was vapor-deposited in various thicknesses. To explain an example using five absorption plates, laser light (wavelength 63
The transmittance for 3 nm) is (1,110) to (1/
105) in 5 steps in 10 times increments.

蓄積性蛍光板13の下方には、これに隣接して、第4反
射ミラー34が配置されている。このミラー34は、較
正曲線を求める際に、レーザ光を反則するために利用さ
れる。この位置に第4反則ミラー34I2けることによ
り、レーザ光の走査機構をそのまま流用して、レーザ光
を第4反射ミラー34の位置まで持ってくることができ
る。
A fourth reflective mirror 34 is arranged below and adjacent to the stimulable fluorescent screen 13. This mirror 34 is used to reflect the laser beam when determining the calibration curve. By placing the fourth reflection mirror 34I2 at this position, the laser beam can be brought to the position of the fourth reflection mirror 34 by using the laser beam scanning mechanism as is.

第2図は、この読取り装置のブロック回路図である。第
1の光電子増倍管24の出力は、アナログ・ディジタル
変′4%器36を介して、コンピュータ40に接続され
、同様に、第2の光電子増倍管26の出力は、別のアナ
ログ・ディジタル変換器38を介して、コンピュータ4
0に接続される。
FIG. 2 is a block circuit diagram of this reading device. The output of the first photomultiplier tube 24 is connected to a computer 40 via an analog-to-digital converter 36; similarly, the output of the second photomultiplier tube 26 is connected to another analog The computer 4 via the digital converter 38
Connected to 0.

コンピュータ40では、アナログ・ディジタル変換器3
6の出力に対しては、所定のディジタル値(以下、境界
値という)以上の値のみを受は取るようにし、それ未満
の値をカットしている。一方、アナログ・ディジタル変
換器38の出力に対しては、上述の境界値未満の値のみ
を受は取るようにし、それ以上の値をカットしている。
In the computer 40, the analog-to-digital converter 3
For the output of No. 6, only values greater than a predetermined digital value (hereinafter referred to as a boundary value) are accepted, and values less than that are cut. On the other hand, for the output of the analog-to-digital converter 38, only values below the above-mentioned boundary value are accepted, and values above this are cut off.

こうすることにより、コンピュータ40の内部では、デ
ィジタル値と光電子増倍管とが1対1に対応している。
By doing this, inside the computer 40, there is a one-to-one correspondence between digital values and photomultiplier tubes.

このコンピュータ40は、後述の較正曲線を求めるのに
利用され、また、この較正曲線に基づいてX線強度を算
出するのに利用される。コンピュータ40の出力は、デ
イスプレィ42と、プリンタ44と、磁気テープ46番
こ、接続されている。
This computer 40 is used to obtain a calibration curve, which will be described later, and is also used to calculate X-ray intensity based on this calibration curve. The output of the computer 40 is connected to a display 42, a printer 44, and a magnetic tape 46.

次に、この読取装置を使って蓄積性蛍光板を読み取る方
法を説明する。なお、蓄積性蛍光板13には、すでに被
測定試料からの回折X線が記憶されているものとする。
Next, a method of reading a stimulable fluorescent screen using this reading device will be explained. It is assumed that the stimulable fluorescent screen 13 has already stored the diffracted X-rays from the sample to be measured.

この読取り動作の前には、その都度、読取り装置の較正
を行う。すなわち、読取り装置の出力と、X線強度との
対応関係を表す較正曲線を作成する。
Before each reading operation, the reading device is calibrated. That is, a calibration curve representing the correspondence between the output of the reading device and the X-ray intensity is created.

まず、Xステージ10とYステージ12とを動かして、
第4反射ミラー34の正面に対物レンズ16をもってく
る。そして、レーザ光発生装置22でレーザ光を発ui
′?Jる。レーザ光23は、第3反射ミラー20の孔2
1を通過して、第2反射ミラー18と第1反則ミラー1
4と対物レンズ16とを経て、第4反射ミラー34に達
する。この第4反射ミラー341よ、入射レーザ光に対
して垂直かられずかに傾斜している。したがって、反射
し〜ザ光は、入射レーザ光とはわずかに異なる光路を戻
っていく。反射レーザ光は、対物レンズ16と第1反射
ミラー14と第2反射ミラー18とを経由して、第3反
則ミラー20まで戻ってくる。このとぎ、反射レーザ光
は、孔21に入ること無く、121の近くで反射して、
吸収板2Bに進む。吸収板28では、反射レーザ光の一
部が吸収され、透過したレーザ光はハーフミラ−27に
進む。ここでレーザ光1訳二つに分かれて、第1の光電
子増倍管24と第2の光電子増倍管26に入る。
First, move the X stage 10 and Y stage 12,
The objective lens 16 is brought in front of the fourth reflecting mirror 34. Then, the laser beam generator 22 emits a laser beam.
′? Jru. The laser beam 23 is transmitted through the hole 2 of the third reflecting mirror 20.
1, the second reflecting mirror 18 and the first fouling mirror 1
4 and the objective lens 16, it reaches the fourth reflection mirror 34. This fourth reflecting mirror 341 is slightly inclined from perpendicular to the incident laser beam. Therefore, the reflected light travels back along a slightly different optical path than the incident laser light. The reflected laser beam returns to the third deflection mirror 20 via the objective lens 16, the first reflection mirror 14, and the second reflection mirror 18. At this point, the reflected laser beam does not enter the hole 21 and is reflected near the hole 121.
Proceed to absorption plate 2B. A portion of the reflected laser light is absorbed by the absorption plate 28, and the transmitted laser light advances to the half mirror 27. Here, the laser beam is split into two parts and enters the first photomultiplier tube 24 and the second photomultiplier tube 26.

第1の光電子増倍管24の出力(ま、アナログ・ディジ
タル変換器36でディジタル信号に変換されて、コンピ
ュータ40に入力される。同様に、第2の光電子増倍管
24の出力も、アナログ・ディジタル変換器38でディ
ジタル信号に変換されて、コンピュータ40に入力され
る。ところで、二つの光電子増倍管は、感度の高い方と
感度の低い方を別個に分担しているので、どちらかの出
力が有効なものとなる。そこで、コンピュータ40では
、上述のように、二つのディジタル出力と、所定の境界
値とを比較して、有効な光電子増倍管の方を選択してい
る。
The output of the first photomultiplier tube 24 (which is converted into a digital signal by the analog-to-digital converter 36 and inputted to the computer 40).Similarly, the output of the second photomultiplier tube 24 is also converted into an analog - It is converted into a digital signal by the digital converter 38 and inputted to the computer 40.By the way, since the two photomultiplier tubes have separate roles for the one with higher sensitivity and the one with lower sensitivity, either Therefore, as described above, the computer 40 compares the two digital outputs with a predetermined boundary value and selects the effective photomultiplier tube.

コンピュータ40では、(qられたディジタル1直を塁
にして、較正曲線を作成する。第3図はこの較正曲線を
示す。まず、第1図の吸収板28の透過率T1を横軸上
にとる。この透過率T1は、使用するレーザ光に対して
あらかじめ知られている。
In the computer 40, a calibration curve is created based on the digital 1st shift obtained by q. FIG. 3 shows this calibration curve. First, the transmittance T1 of the absorption plate 28 in FIG. This transmittance T1 is known in advance for the laser beam used.

ここで、透過率とは、吸収板に入射する前のレーザ光の
強度に対する、通過後のレーザ光の強度の比をいう。こ
の吸収板28を通過してきたレーザ光の強度を、光電子
増倍管で検出したときのディジタル出力がDlとなる。
Here, the transmittance refers to the ratio of the intensity of the laser beam after passing through the absorption plate to the intensity of the laser beam before entering the absorption plate. The digital output when the intensity of the laser beam that has passed through the absorption plate 28 is detected by a photomultiplier tube is Dl.

これを、縦軸上にとる。This is plotted on the vertical axis.

づると、81点が求まる。If you do that, you will get 81 points.

次に、吸収板28を30に:切り替えて同様にレーザ強
度を測定する。吸収板30の透過率丁2をtW f’l
ll上(とり、そのときのディジタル出力D2を縦軸[
にとると、P2が求まる。この透過率Tzは、ディジタ
ル出力D2がちょうど上)ホの境界値となるように選択
されている。
Next, the absorption plate 28 is switched to 30: and the laser intensity is measured in the same manner. The transmittance of the absorption plate 30 is tW f'l
ll (taken, and the digital output D2 at that time is plotted on the vertical axis [
Then, P2 can be found. This transmittance Tz is selected so that the digital output D2 is just above the boundary value.

さらに、吸収130を32に切り替えて同様にレーザ強
度を測定する。吸収板32の透過率T3を横軸上にとり
、そのときのディジタル出力D3を縦軸上にとると、P
3が求まる。
Furthermore, absorption 130 is switched to 32 and the laser intensity is measured in the same manner. If the transmittance T3 of the absorption plate 32 is plotted on the horizontal axis and the digital output D3 at that time is plotted on the vertical axis, then P
3 is found.

この実施例では、吸収板を3種類としたので、二つの光
電子増倍管に対してそれぞれ一つの直線が求まる。すな
わら、高感度の光電子増倍管24に対しては、直線の較
正曲線48aが求まり、低感度の光電子増倍管26に対
しては、直線の較正曲線48bが求まる。もちろん、吸
収板の数を増ヤぜば、プロットする点の数が増えて、較
正曲線の精度が高まることになるし、較正曲線が直線か
らずれていたとしてちこれを表すことができる。
In this embodiment, three types of absorption plates are used, so one straight line is found for each of the two photomultiplier tubes. That is, a linear calibration curve 48a is obtained for the photomultiplier tube 24 with high sensitivity, and a linear calibration curve 48b is obtained for the photomultiplier tube 26 with low sensitivity. Of course, increasing the number of absorbing plates increases the number of points to be plotted, increasing the accuracy of the calibration curve, and can also represent deviations of the calibration curve from a straight line.

なあ、較正曲線48を求める際の、上述のディジタル出
力D2を求める手続きは、実際はもう少し複雑である。
Incidentally, the procedure for determining the above-mentioned digital output D2 when determining the calibration curve 48 is actually a little more complicated.

この点を、第3図の中央部分を拡大した第4図を用いて
説明する。まず、透過率T2に対重る測定のときだけ、
コンピュータ40の働きを少し変えて、境界値による光
電子増倍管の選択を無くす。そして、この透過率T2に
対して、第1の光電子増倍管24によるディジタル出力
D21と、第2の光電子増倍管26によるディジタル出
力D22とを求める。これにより、T2とD21からP
21点が求まり、T2とD22がら222点が求まる。
This point will be explained using FIG. 4, which is an enlarged view of the central portion of FIG. First, only when measuring transmittance T2,
The operation of the computer 40 is slightly changed to eliminate the selection of photomultiplier tubes based on boundary values. Then, for this transmittance T2, a digital output D21 from the first photomultiplier tube 24 and a digital output D22 from the second photomultiplier tube 26 are determined. This allows P from T2 and D21.
21 points are found, and 222 points are found from T2 and D22.

そして、第3図のPlと第4図のP21とを結んで較正
曲線48aが求まり、第3図のP2と第4図のP22と
を結んで較正曲線48bが求まる。これにより、二つの
光電子増倍管に対して、それぞれ正しい較正曲線が求ま
ることになる。
A calibration curve 48a is obtained by connecting Pl in FIG. 3 and P21 in FIG. 4, and a calibration curve 48b is obtained by connecting P2 in FIG. 3 and P22 in FIG. As a result, correct calibration curves are determined for each of the two photomultiplier tubes.

その後、コンピュータ40の内部で、上述のディジタル
出力D21の値を、境界(iffl D zの新たな値
とする。すなわら、境!11il値未満では較正曲線4
8bが利用され、境界値以上では較正曲線48aが利用
される。
Thereafter, inside the computer 40, the above-mentioned value of the digital output D21 is set as a new value of the boundary (iffl D z. In other words, below the boundary !11il value, the calibration curve 4
8b is used, and above the boundary value, the calibration curve 48a is used.

以−[説明したような較正曲線は、実際は、コンピュー
タ40の中の)寅障によって数値的に求められてあり、
その結果はコンピュータ40の内部に記憶される。
Hereinafter, the calibration curve as described is actually determined numerically by a controller (in the computer 40);
The results are stored within computer 40.

このようにして較正曲線を求めたら、その直後に、蓄積
性蛍光板13の読取り動作に入る。まず、3種類の吸収
板28.30.32を、光路から退避させてJ><。そ
して、Xステージ10とYステージ12を動かして、蓄
積性蛍光板の全面に亘ってレーザ光を走査し、そのとき
に発生する蛍光を、光電子増倍管24.26で検出する
。この出力はディジタル値に変iIAされて、コンピュ
ータ40に人力される。もし、このディジタル値Daが
、境界値D2よりも小さければ、低感度の光電子増倍管
24の方の較正曲線48bl、:基づいて、コンピュー
タ40により、透過率Taff14Wられる。この透過
率丁aが、蓄積性蛍光板に記録されたX線強度に相当す
る。透過率とX線強度との関係については、以下に詳し
く説明する。
Immediately after obtaining the calibration curve in this manner, the reading operation of the stimulable fluorescent screen 13 begins. First, the three types of absorption plates 28, 30, and 32 are evacuated from the optical path and J><. Then, the X stage 10 and the Y stage 12 are moved to scan the laser beam over the entire surface of the stimulable fluorescent screen, and the fluorescence generated at this time is detected by the photomultiplier tubes 24 and 26. This output is converted into a digital value and inputted to the computer 40. If this digital value Da is smaller than the boundary value D2, the transmittance Taff14W is determined by the computer 40 based on the calibration curve 48bl for the photomultiplier tube 24 with low sensitivity. This transmittance D a corresponds to the X-ray intensity recorded on the stimulable fluorescent screen. The relationship between transmittance and X-ray intensity will be explained in detail below.

光電子増倍管に入射する蛍光強度をLとし、光電子増倍
管の出力のディジタル変換値をDとすると、光電子増倍
管の感度Sは、 S−D/L        ・・・(1)で表される。
When the fluorescence intensity incident on the photomultiplier tube is L, and the digital conversion value of the output of the photomultiplier tube is D, the sensitivity S of the photomultiplier tube is expressed as S-D/L (1). be done.

一方、蓄積性蛍光板に記録された相対X線強度■は、入
射したレーザ光強度Rに対する、発生する蛍光強度りの
割合であるから、I=L/R・・・(2) となる。蓄積性蛍光板の読取りとは、ディジタル値りを
測定して、X線強度Iを知ることであるから、IとDの
関係が明らかとなっていればよい。
On the other hand, the relative X-ray intensity (2) recorded on the stimulable fluorescent screen is the ratio of the generated fluorescence intensity to the incident laser light intensity R, so that I=L/R (2). Reading a stimulable fluorescent screen means measuring the digital value and knowing the X-ray intensity I, so it is sufficient if the relationship between I and D is clear.

そこで、(1) (2)式より、 D=(R−3)I     ・・・(3)が(qられる
Therefore, from equations (1) and (2), D=(R-3)I...(3) is (q).

一方で、吸収板の透過率Tは、入射レーザ光の強度Rに
対する、透過レーザ光の強度Rtの割合であるから、 T=Rt /R・・・(4) となる。(2)式と(4)式を比較すれば、分母のレー
ザ光強度Rが同じであり、X線強度Iと、吸収板の透過
S$1−とは、同一の座標軸上に表すことができる。し
たがって、X線強度Iのための較正曲線を(qるために
、透過率の明らかとなっている吸収板を利用することが
できるのである。
On the other hand, since the transmittance T of the absorption plate is the ratio of the intensity Rt of the transmitted laser beam to the intensity R of the incident laser beam, T=Rt/R (4). Comparing equations (2) and (4), the denominator laser light intensity R is the same, and the X-ray intensity I and absorption plate transmission S$1- can be expressed on the same coordinate axis. can. Therefore, in order to create a calibration curve for the X-ray intensity I, an absorption plate with a known transmittance can be used.

ところで、上述の(3)式によれば、ディジタル値りと
、X線強度Iとの関係は、R−3に依存してJ′3つ、
この関係が較正曲線となる。すなわち、較正曲線は、レ
ーザ光強度Rと、光電子増倍管の感1uSとに依存して
いる。本発明では、この較正曲線を、蓄積性蛍光板の読
取り動作の直前に、その都度求めているので、レーザ光
強度Rの変動と、光電子増倍管の感度Sの変動とが、す
でに、較正曲線の中に組み込まれている。したがって、
X線強度の決定が精度良く行われる。
By the way, according to the above equation (3), the relationship between the digital value and the X-ray intensity I is J′3 depending on R-3,
This relationship becomes the calibration curve. That is, the calibration curve depends on the laser light intensity R and the sensitivity of the photomultiplier tube, 1 uS. In the present invention, this calibration curve is obtained each time immediately before the reading operation of the stimulable fluorescent screen, so that the fluctuations in the laser light intensity R and the fluctuations in the sensitivity S of the photomultiplier tube are already reflected in the calibration curve. is incorporated within. therefore,
Determination of X-ray intensity is performed with high precision.

レーザ光強度の変動について説明すると、この実施例で
は、He−Neレーザを利用してあり、このレーザは、
長時間に亘っての強度の変動が知られている。例えば、
24時間で10%程度の強度の低下が認められる。一方
で、光電子増倍管では、周囲温度によってその感度が変
化することが知られている。いずれにしても、本発明で
は、このような変動があっても、その影響をほとんど受
けずにX線強度を決定することができる。
To explain the fluctuation in laser light intensity, this example uses a He-Ne laser, and this laser has the following characteristics:
It is known that the intensity fluctuates over a long period of time. for example,
A decrease in strength of about 10% is observed in 24 hours. On the other hand, it is known that the sensitivity of photomultiplier tubes changes depending on the ambient temperature. In any case, in the present invention, even if there is such a variation, the X-ray intensity can be determined with almost no influence thereof.

この実施例での読取り所要時間を説明すると、200m
mx200mmの寸法の蓄積性蛍光板を画素数2000
x2000で読み取るのに、5分程度の時間がかかる。
To explain the time required for reading in this example, the reading time is 200 m.
A stimulable fluorescent screen with dimensions of m x 200 mm and a pixel count of 2000.
It takes about 5 minutes to read with x2000.

そして、その直前に較正曲線を作成するのは、1〜2分
の時間で済む。結局、読取りの1サイクルは10分以内
に終了舊る。
And it only takes 1 to 2 minutes to create a calibration curve just before that. In the end, one cycle of reading is completed within 10 minutes.

[発明の効果] 以上説明したように本発明は、蓄積性蛍光板の読取りの
直前に較正曲線を求めているので、励起光線の強度の変
動や、蛍光強度測定装置の感度の変動などの影響をほと
んど受けること無く、X線強度を求めることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, in the present invention, the calibration curve is obtained immediately before reading the stimulable fluorescent screen, so the effects of fluctuations in the intensity of the excitation light beam and fluctuations in the sensitivity of the fluorescence intensity measuring device can be avoided. X-ray intensity can be determined with almost no radiation.

また、較正曲線を求めるに当たって、蓄積性蛍光板に近
接して配置した反射ミラーで、励起光線を反射させるよ
うにすれば、励起光線のための従来の走査機構を利用し
て、レーザ光を反射ミラーのところに持ってくることが
できる。
In addition, when determining the calibration curve, if the excitation beam is reflected by a reflective mirror placed close to the stimulable phosphor screen, a conventional scanning mechanism for the excitation beam can be used to direct the laser beam to the reflective mirror. You can bring it to.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の方法を実施する読取り装置の一例を示
した斜視図、 第2図はこの読取り装置のブロック回路図、第3図は較
正曲線を示すグラフ、 第4図は較正曲線の一部を拡大したグラフである。 13・・・蓄積性蛍光板 23・・・励起光線としてのレーザ光 24.26・・・蛍光強度測定装置としての光電子増倍
管 28.30.32・・・吸収板 34・・・較正曲線を求めるための反射ミラー48・・
・較正曲線
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a reading device for carrying out the method of the present invention, FIG. 2 is a block circuit diagram of this reading device, FIG. 3 is a graph showing a calibration curve, and FIG. 4 is a graph showing a calibration curve. This is a partially enlarged graph. 13...Stormative fluorescent plate 23...Laser light as an excitation beam 24.26...Photomultiplier tube 28 as a fluorescence intensity measuring device 30.32...Absorption plate 34...Calibration curve Reflection mirror 48 for finding...
・Calibration curve

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)蓄積性蛍光板を利用したX線回折装置において、
以下の各段階を有する、回折X線強度の読取り方法。 (a)蓄積性蛍光板に照射する励起光線、に対する透過
率が知られている吸収板を複数種類用意して、これらの
吸収板に前記励起光線を通過させ、その透過光の強度を
蛍光強度測定装置で測定する段階。 (b)前記透過光強度の測定値と、前記吸収板の透過率
とを対応づけて、較正曲線を求める段階。 (c)被測定試料からのX線回折像を潜像として記録し
ている蓄積性蛍光板に対して、前記較正曲線を求めた直
後に、前記励起光線を照射する段階。 (d)前記蓄積性蛍光板から発生した蛍光を前記蛍光強
度測定装置で測定する段階。 (e)前記較正曲線において、前記透過光強度測定値の
座標軸上に、前記蛍光強度測定値をとり、これに対応す
る前記透過率の値を求めて、これを回折X線強度の相対
値とする段階。
(1) In an X-ray diffraction device using a stimulable fluorescent screen,
A method for reading diffraction X-ray intensity, which has the following steps. (a) Prepare multiple types of absorption plates with known transmittance for the excitation light irradiated onto the stimulable fluorescent screen, let the excitation light pass through these absorption plates, and measure the fluorescence intensity of the transmitted light. The stage of measuring with a device. (b) determining a calibration curve by associating the measured value of the transmitted light intensity with the transmittance of the absorption plate; (c) Immediately after determining the calibration curve, irradiating the excitation light beam onto a stimulable fluorescent screen that records the X-ray diffraction image from the sample to be measured as a latent image. (d) measuring the fluorescence generated from the stimulable fluorescent screen with the fluorescence intensity measuring device; (e) In the calibration curve, take the fluorescence intensity measurement value on the coordinate axis of the transmitted light intensity measurement value, find the corresponding transmittance value, and calculate this as the relative value of the diffracted X-ray intensity. stage.
(2)前記透過光強度を測定する際に、前記蓄積性蛍光
板に近接して配置した反射ミラーで、前記励起光線を反
射させ、その後、この励起光線を前記吸収板に通過させ
てから前記蛍光強度測定装置に入射させる、ことを特徴
とする請求項1記載の読取り方法。
(2) When measuring the intensity of the transmitted light, the excitation light beam is reflected by a reflection mirror placed close to the stimulable fluorescent plate, and then the excitation light beam is passed through the absorption plate, and then the fluorescence 2. The reading method according to claim 1, further comprising making the light incident on an intensity measuring device.
JP63088999A 1988-04-13 1988-04-13 Method of reading diffracted x-ray intensity of x-ray diffraction device using accumulation type fluorescent plate Pending JPH01262453A (en)

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