JPH01259316A - Light beam scanner - Google Patents

Light beam scanner

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JPH01259316A
JPH01259316A JP8729588A JP8729588A JPH01259316A JP H01259316 A JPH01259316 A JP H01259316A JP 8729588 A JP8729588 A JP 8729588A JP 8729588 A JP8729588 A JP 8729588A JP H01259316 A JPH01259316 A JP H01259316A
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JP
Japan
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signal
light beam
output
time
laser beam
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Application number
JP8729588A
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Japanese (ja)
Inventor
Makoto Abe
誠 阿部
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Canon Inc
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Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To easily judge abnormality of the beam diameter by counting an effective output time of an output signal of a light beam detecting means, comparing its output time with a prescribed time of a reference and outputting an error signal, when said output time is outside of the range. CONSTITUTION:A laser beam 7 is brought to photoelectric conversion by a photodiode of the tip of an optical fiber 14, and brought to current - voltage conversion by an operational amplifier 16 and a feedback resistor 17. A voltage level of this output signal is compared with a reference voltage 19 by a comparator 18, and in case the output signal is higher than the reference voltage 19, a BD signal is outputted. Subsequently, in a timer circuit and a latch circuit 23, a turn-on time (effective output time) of said BD signal is counted, compared with an output time of a reference in case of a normal beam diameter, and when it is outside of the range, an error signal ERR is outputted. Therefore, abnormality of the beam diameter is judged easily and deterioration of an image can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、光ビームの監視機能を有する光ビーム走査装
置に関し、特にレーザビームプリンタ等に用いられて、
光ビームを走査し7て感光体に照射することにより画像
形成をさせる光ビーム走査手段を有する光ビーム走査装
苦に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a light beam scanning device having a light beam monitoring function, and particularly to a light beam scanning device used in a laser beam printer or the like.
The present invention relates to a light beam scanning apparatus having a light beam scanning means for forming an image by scanning a light beam and irradiating the photoreceptor with the light beam.

[従来の技術] 従来、レーザビームプリンタ等において、光ビームを水
平走査するこの種の光ビーム走査装置どしては、一般に
第5図に示すような構成のものが知られている。
[Prior Art] Conventionally, in a laser beam printer or the like, a light beam scanning device of this type that horizontally scans a light beam is generally known to have a configuration as shown in FIG.

第5図において、2は画像信号(VDO信号)1に基づ
いて、レーザビームをオン・オフ変調するレーザユニッ
トである。4は回転多面鏡5を定速回転するモータであ
る。5はレーザユニット2によりオン・オフ変調された
レーザビーム3を偏向する回転多面鏡である。
In FIG. 5, 2 is a laser unit that modulates the laser beam on and off based on the image signal (VDO signal) 1. 4 is a motor that rotates the rotating polygon mirror 5 at a constant speed. Reference numeral 5 denotes a rotating polygon mirror that deflects the laser beam 3 modulated on and off by the laser unit 2.

6は回転多面鏡5により偏向されたレーザビーム7を感
光ドラム8上に結像する結像レンズである。9は回転多
面鏡5により偏向されたレーザビームを検出するビーム
検出器である。ビーム検出器9は、回転ドラムの受光開
始位置Aと回転多面鏡5との光路上に配置され、ビーム
検出器9が1ノ−ザビームを検出すると、ビーム位置検
出43号(BD倍信号11を出力する。
Reference numeral 6 denotes an imaging lens that forms an image of the laser beam 7 deflected by the rotating polygon mirror 5 onto the photosensitive drum 8 . A beam detector 9 detects the laser beam deflected by the rotating polygon mirror 5. The beam detector 9 is arranged on the optical path between the light reception start position A of the rotating drum and the rotating polygon mirror 5. When the beam detector 9 detects the 1 nose beam, it detects the beam position detection No. 43 (BD double signal 11). Output.

ビーム検出器9としてはフォトダイオードのような光電
変換素子を用いることができる。12は感光ドラム8に
形成された潜像を不図示の現像器の現像剤(トナー)を
介して転写する記録媒体としての転写紙である。
As the beam detector 9, a photoelectric conversion element such as a photodiode can be used. Reference numeral 12 denotes a transfer paper serving as a recording medium on which the latent image formed on the photosensitive drum 8 is transferred via developer (toner) of a developing device (not shown).

次に、従来例の動作を説明する。Next, the operation of the conventional example will be explained.

レーザユニット2は画像信号1に応じたレーザビーム3
を発生する。オン・オフの形態に変調されたレーザビー
ム3は回転多面鏡5により偏向され、結像レンズ6を介
して回転ドラム8に結像される。回転多面鏡5はモータ
4により一定速度で回転するので、偏向されたレーザビ
ーム7の結像位置は感光ドラム8上の矢印AA力方向移
動(水平走査)する。
Laser unit 2 emits laser beam 3 according to image signal 1
occurs. The laser beam 3 modulated in an on-off manner is deflected by a rotating polygon mirror 5 and focused on a rotating drum 8 via an imaging lens 6 . Since the rotary polygon mirror 5 is rotated at a constant speed by the motor 4, the imaging position of the deflected laser beam 7 moves in the direction of arrow AA on the photosensitive drum 8 (horizontal scanning).

レーザビーム7の露光により記録媒体としての感光トラ
ム8には潜像が形成される。また、感光トラム8は矢印
BB力方向回転し、感光ドラム8上に形成された潜像が
不図示の現像器により現像されると共に、転写紙12に
現像された画像が転写される。
A latent image is formed on the photosensitive tram 8 as a recording medium by exposure to the laser beam 7. Further, the photosensitive tram 8 rotates in the direction of arrow BB force, and the latent image formed on the photosensitive drum 8 is developed by a developing device (not shown), and the developed image is transferred onto the transfer paper 12.

レーザビーム7の水平走査に先立って、ビーム検出器9
がレーザビーム7を検出すると、ビーム検出器9からB
D信号11を出力する。このBD(i号11に基づいて
、不図示の制御部がVDO侶号1をレーザユニット2へ
転送するタイミングを制御している。このため、BD信
号11に同期して1走査分のVDO信号1がレーザユニ
ット2へ転送され、」二連の動作順序により転写紙12
上に画像が再生される。また、BD信号11により感光
ドラム8上の主走査方向AAの露光開始位置も規定され
ている。
Prior to horizontal scanning of the laser beam 7, the beam detector 9
When B detects the laser beam 7, the beam detector 9 detects the laser beam 7.
A D signal 11 is output. Based on this BD (i number 11), a control unit (not shown) controls the timing of transferring the VDO number 1 to the laser unit 2. Therefore, the VDO signal for one scan is synchronized with the BD signal 11. 1 is transferred to the laser unit 2, and the transfer paper 12 is transferred to the laser unit 2 by a double operation sequence.
The image is played above. Furthermore, the exposure start position on the photosensitive drum 8 in the main scanning direction AA is also defined by the BD signal 11 .

第6図は上記のBD信号11とVDO信号1の発生タイ
ミングを示す。第6図において、タイミングEで、まず
、露光開始位置検出のためのVDO信号1がレーザユニ
ット2に送られる。このvDo信号により発生したレー
ザビームはビーム検出器9により検出され、タイミング
Fで、BD信号11が発生する。
FIG. 6 shows the timing of generation of the above-mentioned BD signal 11 and VDO signal 1. In FIG. 6, at timing E, first, a VDO signal 1 for detecting the exposure start position is sent to the laser unit 2. A laser beam generated by this vDo signal is detected by a beam detector 9, and at timing F, a BD signal 11 is generated.

[ID信号11が制御部(不図示)に転送されると、タ
イミングFから時間T、後に、時間aだけvDo信号1
をレーザユニット2へ転送するように制御部(不図示)
が制御を行う。以下°、時間T2毎に露光開始位置の検
出用パルスEが、水平同期信号として、レーザユニット
2へ転送される。
[When the ID signal 11 is transferred to the control unit (not shown), after a time T from timing F, the vDo signal 1 is transferred for a time a]
A control unit (not shown) transfers the information to the laser unit 2.
takes control. Thereafter, the pulse E for detecting the exposure start position is transferred to the laser unit 2 as a horizontal synchronization signal every time T2.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述のような従来装置においては、水平
走査されるレーザビーム等の光ビームのビーム径に関し
ては何らの検出手段も有していなかったので、例えば、
光学系に生じた歪みゃ、レーザユニットのレーザダイオ
ードの特性の変化(例えば劣化)によりビーム径に異常
を生じても、そのまま画像形成を行ってしまい、再生画
像や記録画像の品質(画質)が著しく低下してしまうな
どの問題点を有していた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the conventional device as described above does not have any means for detecting the beam diameter of a horizontally scanned light beam such as a laser beam.
If distortion occurs in the optical system, even if an abnormality occurs in the beam diameter due to a change in the characteristics of the laser diode in the laser unit (for example, due to deterioration), image formation will continue as is, and the quality of the reproduced image or recorded image will deteriorate. However, there were problems such as a significant drop in performance.

本発明は、上述の問題点に鑑み、光ビームのビーム径の
異常を検出することのできる光ビームの監視機能を有す
る光ビーム走査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems, an object of the present invention is to provide a light beam scanning device having a light beam monitoring function capable of detecting an abnormality in the beam diameter of a light beam.

[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明の第1は、光ビームを
走査して感光体に照射することにより画像形成をさせる
光ビーム走査手段を有する光ビーム走査装置において、
光ビームを検知する光ビーム検知手段と、光ビーム検知
手段の検知信号と基準電圧のレベル比較を行う比較手段
と、比較手段の出力信号の出力時間を計時して出力時間
が所定の許容時間の範囲外である場合はエラー信号を出
力する計時手段とを具備したことを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the first aspect of the present invention is a light beam scanning device having a light beam scanning means for forming an image by scanning a light beam and irradiating the photoreceptor with the light beam. In,
A light beam detection means for detecting the light beam, a comparison means for comparing the level of the detection signal of the light beam detection means and a reference voltage, and a timer for measuring the output time of the output signal of the comparison means and determining that the output time is within a predetermined allowable time. The present invention is characterized by comprising a clock means for outputting an error signal when the time is outside the range.

また、上記目的を達成するため、本発明の第2は、光ビ
ームを走査して感光体に照射することにより画像形成を
させる光ビーム走査手段を有する光ビーム走査装置にお
いて、光ビームを検知する光ビーム検知手段と、光ビー
ム検知手段の検知信号を微分する微分回路と、微分回路
の出力信号と基準電圧のレベル比較を行い、出力信号が
基準電圧に達しない場合はエラー信号を出力する比較手
段とを具備したことを特徴とする。
Further, in order to achieve the above object, a second aspect of the present invention is to detect a light beam in a light beam scanning device having a light beam scanning means for forming an image by scanning the light beam and irradiating the photoreceptor with the light beam. A light beam detection means, a differentiation circuit that differentiates the detection signal of the light beam detection means, and a comparison that compares the level of the output signal of the differentiation circuit and a reference voltage, and outputs an error signal if the output signal does not reach the reference voltage. It is characterized by comprising means.

[作 用コ 本発明は、上記の第1の構成により、水平走査されるビ
ームのビーム径が正常な大きさより拡大したり、縮小し
たりした場合は、光ビーム検知手段の検知信号と基準電
圧のレベル比較を行う比較手段の出力信号の出力時間(
オンとなる時間)が、正常なビーム径の場合の出力時間
を基に設定した所定の許容時間の範囲外となるので、計
時手段からエラー信号が出力され、光ビーム径の異常を
検出することができ、ひいては再生画像や記録画像の画
質の劣化を防止させることができる。
[Function] According to the above-described first configuration, when the beam diameter of the horizontally scanned beam increases or decreases from a normal size, the detection signal of the light beam detection means and the reference voltage The output time of the output signal of the comparing means (
Since the time when the light beam is turned on) is outside the predetermined allowable time range that is set based on the output time for a normal beam diameter, an error signal is output from the timing means and an abnormality in the light beam diameter is detected. This makes it possible to prevent deterioration in the image quality of reproduced images and recorded images.

また、本発明は、上記の第2の構成により、水平走査さ
れるビームのビーム径が正常の大きさより拡大したり、
光量低下した場合は、光ビーム検知手段の検知信号を微
分する微分回路の出力信号のレベルが、正常な光ビーム
の場合を基に定めた基準電圧に達しないので、比較手段
からエラー信号が出力され、光ビーム径の異常や光ビー
ムの光量低下を検出することができ、ひいては再生画像
や記録画像の画質の劣化を防止させることができる。
Further, the present invention provides the above-mentioned second configuration, so that the beam diameter of the horizontally scanned beam is expanded from the normal size,
When the light intensity decreases, the level of the output signal of the differentiating circuit that differentiates the detection signal of the light beam detection means does not reach the reference voltage determined based on the case of a normal light beam, so an error signal is output from the comparison means. Therefore, it is possible to detect an abnormality in the diameter of the light beam or a decrease in the light intensity of the light beam, and it is also possible to prevent deterioration in the quality of reproduced images and recorded images.

[実施例〕 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
[Embodiments] Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図(A)および(B)は、それぞれ本発明実施例の
基本構成を示す。
FIGS. 1(A) and 1(B) each show the basic configuration of an embodiment of the present invention.

本図(A)において、Aは光ビームを走査して感光体に
照射することにより画像形成をさせる光ビーム走査手段
を有する光ビーム走査装置において、上記光ビームを検
知する光ビーム検知手段である。Bは光ビーム検知手段
Aの検知信号と基準電圧のレベル比較を行う比較手段で
ある。
In this figure (A), A is a light beam detection means for detecting the light beam in a light beam scanning device having a light beam scanning means for scanning a light beam and irradiating the photoreceptor to form an image. . Reference numeral B denotes comparison means for comparing the levels of the detection signal of the light beam detection means A and the reference voltage.

Cは比較手段Bの出力信号の出力時間を計時してこの出
力時間が所定の許容時間の範囲外である場合はエラー信
号を出力する計時手段である。
Reference numeral C denotes a timer that measures the output time of the output signal of the comparator B and outputs an error signal if this output time is outside a predetermined allowable time range.

また、本図(B)において、Aは上記と同様な光ビーム
検知手段である。Dは光ビーム検知手段Aの検知信号を
微分する微分回路である。
Further, in this figure (B), A is a light beam detection means similar to the above. D is a differentiation circuit for differentiating the detection signal of the light beam detection means A.

Eは微分回路りの出力信号と基準電圧のレベル比較を行
い、その出力信号が基!!:電圧に達しない場合はエラ
ー信号を出力する比較手段である。
E compares the level of the output signal of the differentiating circuit with the reference voltage, and the output signal is the base! ! : Comparison means that outputs an error signal if the voltage does not reach the voltage.

第2図は本発明の第1実施例の回路構成を示し、第5図
の従来例と同様の箇所には同一符号を付しである。
FIG. 2 shows a circuit configuration of a first embodiment of the present invention, and parts similar to those of the conventional example shown in FIG. 5 are given the same reference numerals.

第2図において、13はレーザビーム7の走査面、すな
わち回転ドラム8の受光開始位置Aと回転多面鏡5との
光路上に配置されたスリットであり、光ファイバ14の
一端面へ入射するレーザビーム7の入射量を制限してい
る。
In FIG. 2, 13 is a slit arranged on the scanning plane of the laser beam 7, that is, on the optical path between the light reception start position A of the rotating drum 8 and the rotating polygon mirror 5, and the laser beam incident on one end surface of the optical fiber 14 The amount of incident beam 7 is limited.

光ファイバ14の他方の端面には、光電変換素子である
フォトダイオード15が配設されている。スリット13
を通過したレーザビーム7は、フォトダイオード15に
より光電変換され、演算増幅器(オペアンプ)16およ
び帰還抵抗器(フィードバック抵抗) Rf17とによ
り電流−電圧変換される。検出信号としての演算増幅器
16の出力信号の電圧レベルはコンパレータ1Bにより
基準電圧19と比較され、その出力信号が基準電圧19
より電位が高い場合にはコンパレータ18からBD(ビ
ーム位置検出信号)11が出力される。
A photodiode 15, which is a photoelectric conversion element, is arranged on the other end face of the optical fiber 14. Slit 13
The laser beam 7 that has passed through is photoelectrically converted by a photodiode 15, and current-voltage converted by an operational amplifier 16 and a feedback resistor Rf17. The voltage level of the output signal of the operational amplifier 16 as a detection signal is compared with the reference voltage 19 by the comparator 1B, and the output signal is the reference voltage 19.
When the potential is higher, a BD (beam position detection signal) 11 is output from the comparator 18.

上記信号BDIIは不図示の制御部へ送出されると同時
に、タイマー回路20のトリガー入力端子と、ラッチ回
路23のデータ入力端子とに人力される。
The signal BDII is sent to a control section (not shown), and at the same time is inputted to the trigger input terminal of the timer circuit 20 and the data input terminal of the latch circuit 23.

タイマー回路20は信号BDIIの立上りエツジにより
計時動作を開始し、抵抗器R21およびコンデンサC2
2で決定される時定数によりその計時動作の終了時間t
0が決まる。そして、タイマー回路20は出力端子Qか
らタイミング信号TMを出力する。このタイミング信号
TMは、ラッチ回路23のトリガー入力端子に入力され
る。ラッチ回路23は、タイミング信号TMの立上りエ
ツジで、データ入力のラッチ動作を行ない、 BD信号
11がH(ハイ)レベルのときには出力端子Qからエラ
ー信号E RRを出力する。
The timer circuit 20 starts timing operation at the rising edge of the signal BDII, and resistor R21 and capacitor C2
The end time t of the timing operation is determined by the time constant determined in step 2.
0 is determined. The timer circuit 20 then outputs a timing signal TM from the output terminal Q. This timing signal TM is input to the trigger input terminal of the latch circuit 23. The latch circuit 23 performs a data input latching operation at the rising edge of the timing signal TM, and outputs an error signal ERR from the output terminal Q when the BD signal 11 is at H (high) level.

次に、第3図および第4図を参照して上記第1実りm個
の動作を更に詳細に説明する。
Next, the operations of the m first fruits will be explained in more detail with reference to FIGS. 3 and 4.

第3図はレーザビーム7のビーム径とスリット13およ
び演算増幅器16から出力される検出波形の関係を示し
ている。本図の(A)は正常なレーザビームAが走査さ
れた場合の状態を示しており、レーザビームAがA′の
位置まで一定速度で移動した時、レーザビームAの光強
度分布と、スリット13の開口面積の関係から、Cで示
すような検出波形が演算増幅器16の出力端から得られ
る。一方、本図の(B)は光学的な歪みや、レーザダイ
オードの故障等の原因によりビーム径の広がったレーザ
ビームBが走査された場合の状態を示しており、上記<
A)の場合と同様に、レーザビームBがB′の位置まで
一定速度で移動した時には、Dのような検出波形が演算
増幅器16の出力端から得られる。
FIG. 3 shows the relationship between the beam diameter of the laser beam 7 and the detected waveforms output from the slit 13 and the operational amplifier 16. (A) in this figure shows the state when the normal laser beam A is scanned. When the laser beam A moves at a constant speed to the position A', the light intensity distribution of the laser beam A and the slit Due to the relationship between the aperture areas 13 and 13, a detected waveform as shown by C is obtained from the output end of the operational amplifier 16. On the other hand, (B) of this figure shows the state when the laser beam B, whose beam diameter has expanded due to optical distortion or failure of the laser diode, is scanned.
As in case A), when the laser beam B moves at a constant speed to the position B', a detected waveform like D is obtained from the output terminal of the operational amplifier 16.

ここで、(八)と(B)の検出波形を比較すると演算増
幅器から得られる2つの検出波形C5Dの面積はレーザ
ダイオードの発光量か所定量に常時制御されているので
、はぼ等しい値となり、レーザビームの完全分布が広い
レーザビームBが走査された場合、の方が、スリット1
3にレーザビームが入射している時間が大きくなる。
Here, comparing the detection waveforms in (8) and (B), the areas of the two detection waveforms C5D obtained from the operational amplifier are constantly controlled to a predetermined amount or the amount of light emitted by the laser diode, so they are approximately equal. , when the laser beam B with a wide complete distribution of the laser beam is scanned, the slit 1
3, the time during which the laser beam is incident becomes longer.

すなわち第3図におい゛て、所定の光量以上(図中の破
線T)lより上)の光がスリット13に入射している時
間tl、hは1.<12となる。そこで、第2図におけ
る基準電圧(E)19の値を第3図中の破線THのレベ
ルと等しくすることにより、第4図に示すような信号B
Dがコンパレータ18から得られる。
That is, in FIG. 3, the time tl and h during which light exceeding a predetermined amount of light (above the broken line T in the figure) is incident on the slit 13 is 1. <12. Therefore, by making the value of the reference voltage (E) 19 in FIG. 2 equal to the level of the broken line TH in FIG. 3, the signal B as shown in FIG.
D is obtained from comparator 18.

第4図の(八)は第3図の(^)における正常なレーザ
ビームAが走査された場合の信号BD、TMおよびER
I(の出力状態を示し、第4図のCB)は第3図の(ロ
)におけるビーム径の広がった異常なレーザビームBが
走査された場合の信号BD、TMおよびERRの出力状
態を示す。信号BDは第3図で上述したようにオン時間
(有効出力時間)が【lとt2で示さねている。タイマ
ー回路20は信号BDIIの立上りに応じて計時を開始
し、抵抗器R21およびコンデンサC22の時定数より
定まる一定時間t0の間だけ、モノマルチバイブレータ
動作させることにより、第4図に示すような波形のタイ
ミング信号TMを出力する。
(8) in Figure 4 shows the signals BD, TM and ER when the normal laser beam A is scanned in (^) in Figure 3.
CB in FIG. 4 shows the output state of the signals BD, TM, and ERR when the abnormal laser beam B with a wide beam diameter in FIG. 3 (B) is scanned. . As described above in FIG. 3, the on time (effective output time) of the signal BD is not shown by [l and t2]. The timer circuit 20 starts measuring time in response to the rising edge of the signal BDII, and operates the mono-multivibrator only for a fixed time t0 determined by the time constant of the resistor R21 and the capacitor C22, thereby generating a waveform as shown in FIG. outputs a timing signal TM.

上記時間L0を正常と認め得るレーザビーム径の許容範
囲(すなわち、正常なビーム径の範囲)として設定し、
上記信号B11に対しラッチ回路23により信号TMの
立上りエツジでラッチ動作させる。第4図においては、
ti < to< hであるので、第4図の(B)の場
合に、エラー信号ERRがラッチ回路23から発生され
る。
The above time L0 is set as an allowable range of laser beam diameter that can be recognized as normal (i.e., a normal beam diameter range),
The signal B11 is latched by the latch circuit 23 at the rising edge of the signal TM. In Figure 4,
Since ti<to<h, the error signal ERR is generated from the latch circuit 23 in the case of (B) in FIG.

また、上述の実施例では、レーザビーム径が広がった場
合のみエラー信号ERRを発生するようにしたが、最低
限必要なビーム径を考えて、タイミング信号TMのモノ
マルチバイブレータ動作時間t゛。をt゛。<tiと設
定することにより、レーザビーム径の異常細りを検出す
るようにしてもよく、また上述の2つの検出手段を並列
接続する事によリ、レーザビーム径の太りあるいは細り
を同時に検出するように構成してもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the error signal ERR is generated only when the laser beam diameter widens, but the mono-multivibrator operating time t' of the timing signal TM is adjusted in consideration of the minimum required beam diameter. t゛. By setting <ti, abnormal narrowing of the laser beam diameter may be detected, and by connecting the two detection means described above in parallel, thickening or thinning of the laser beam diameter can be detected simultaneously. It may be configured as follows.

上述の第1実施例では、レーザビームのスリット13の
通過時間を計時することにより、レーザビーム径の異常
を検出したが、レーザビームのスリット通過時における
入射光量の変化を検出することにより、同様にレーザビ
ーム径の異常を検出することができる。
In the first embodiment described above, an abnormality in the laser beam diameter was detected by measuring the time taken for the laser beam to pass through the slit 13. It is possible to detect abnormalities in the laser beam diameter.

第7図は本発明の第2実施例の回路構成を示し、第2図
と同様の箇所には同一の符号を付しである。
FIG. 7 shows a circuit configuration of a second embodiment of the present invention, and the same parts as in FIG. 2 are given the same reference numerals.

第7図に示すように光電変換素子であるフォトダイオー
ド15に入射したレーザビームはフォトダイオード15
で光電変換され、さらに演算増幅器16および帰還抵抗
器17により電流−電圧変換される。演算増幅器16の
出力信号(検出信号)は、コンパレータ18に入力する
と同時に、コンデンサC824および抵抗器R125で
構成される微分回路に入力する。レーザビームの入射光
量の変化を示すこの微分回路の出力信号のレベルはコン
パレータ27により26で示す基準電位E1と比較され
5.US電位E。
As shown in FIG. 7, the laser beam incident on the photodiode 15, which is a photoelectric conversion element,
The signal is photoelectrically converted by the operational amplifier 16 and the feedback resistor 17, and then current-to-voltage converted by the operational amplifier 16 and the feedback resistor 17. The output signal (detection signal) of the operational amplifier 16 is input to the comparator 18, and at the same time, is input to the differentiating circuit composed of a capacitor C824 and a resistor R125. The level of the output signal of this differentiating circuit, which indicates a change in the amount of incident laser beam light, is compared with a reference potential E1 indicated by 26 by a comparator 27,5. US potential E.

より高い電位の場合は、コンパレータ27がら信号DC
Tが出力される。出力された48号DC,Tは前段のラ
ッチ回路30によりラッチされ、信号LCTがラッチ回
路30から出力される。
In the case of a higher potential, the signal DC from the comparator 27
T is output. The output No. 48 DC,T is latched by the latch circuit 30 at the previous stage, and the signal LCT is output from the latch circuit 30.

演算増幅器I6からコンパレータJ8の非反転入力端子
(プラス端子)に入力した検出信号はコンパレータ18
により基準電位Eでスライスされ波形整形されて信号B
Dとして出力される。信号nDの立ち下りエツジで後段
のラッチ回路31は上記化4tcrのラッチ動作を行な
い、さらに遅延回路(デイレイエレメント)2gを通し
て多少遅れて、信号BDがラッチ回路30のクリア端子
に人力し、ラッチ回路30のクリア動作が行なわれる。
The detection signal input from the operational amplifier I6 to the non-inverting input terminal (positive terminal) of the comparator J8 is sent to the comparator 18.
The signal B is sliced and waveform-shaped by the reference potential E.
It is output as D. At the falling edge of the signal nD, the latch circuit 31 at the subsequent stage performs the above-mentioned 4tcr latch operation, and after a slight delay through the delay circuit (delay element) 2g, the signal BD is applied to the clear terminal of the latch circuit 30, and the latch circuit 30 clear operations are performed.

第8図は上記第2実施例での出力信号のタイミングを示
し、(A) は正常なレーザビームがフォトダイオード
15に入射された場合を示し、(B)はビーム径の広が
ったレーザビームがフォトダイオード15に入射された
場合を示している。第8図の(A)の正常状態の場合で
は、演算増幅器16の検出信号の波形(検出波形)の立
上りが速いので、微分回路のコンデンサC824と抵抗
器R325により出力される微分波形の電位レベルがコ
ンパレータ27の基準電位E1より大きくなるので、信
号OCTがコンパ1ノータ27から発生し、ラッチ回路
30がこの43号DCTをトリ力として動作し、(S号
LCTを発生する。また、上述したように、信号B[l
の立下りでラッチ回路31が信号LCTをラッチ動作す
るので、後段のラッチ回路31からエラー信号ERRは
発生しない。
FIG. 8 shows the timing of the output signal in the second embodiment, where (A) shows a case where a normal laser beam is incident on the photodiode 15, and (B) shows a case where a laser beam with a wide beam diameter is applied. The case where the light is incident on the photodiode 15 is shown. In the normal state shown in FIG. 8A, the rise of the detection signal waveform (detection waveform) of the operational amplifier 16 is fast, so the potential level of the differential waveform output by the capacitor C824 and resistor R325 of the differential circuit becomes larger than the reference potential E1 of the comparator 27, the signal OCT is generated from the comparator 1 notor 27, and the latch circuit 30 operates using this No. 43 DCT as a trigger force (to generate the S No. LCT. so that the signal B[l
Since the latch circuit 31 latches the signal LCT at the falling edge of , the error signal ERR is not generated from the latch circuit 31 at the subsequent stage.

他方、第8図の(B)の異常状態の場合には、演算増幅
器16の検出信号の波形(検出波形)の立上りが遅いの
で、微分回路24.25の微分波形が基準電位E1に達
しない。そのため、コンパレータ27カ)らは信号OC
Tが発生せず、前段のラッチ回路30のラッチ動作が行
なわれず、ラッチ回路30から信号LCTが発生しない
。したがって、後段のラッチ回路31は信号BDの立下
りでエラー信号ERRを発生ずることとなる。
On the other hand, in the case of the abnormal state shown in FIG. 8(B), the rise of the detection signal waveform (detected waveform) of the operational amplifier 16 is slow, so the differential waveform of the differentiating circuits 24 and 25 does not reach the reference potential E1. . Therefore, the comparators 27)
T is not generated, the latch operation of the latch circuit 30 at the previous stage is not performed, and the signal LCT is not generated from the latch circuit 30. Therefore, the latch circuit 31 at the subsequent stage generates the error signal ERR at the falling edge of the signal BD.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、水平走査される
光ビームを検知する光ビーム検知手段から出力する信号
の有効出力時間を計時し・て、その有効出力時間を基準
の所定時間と比較することにより、またはその光ビーム
検知手段から出力する信号の光量の変化量を微分回路で
検出して基準値と比較することにより、エラー侶−号を
出力するようにしたので、レーザビーム等のビ・−ムの
ビーム径の異常を容易に判断でき、ひいては出力画像の
劣化を防止することができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the effective output time of a signal output from the light beam detection means for detecting a horizontally scanned light beam is measured, and the effective output time is set as a reference. The error code is output by comparing it with a predetermined time, or by detecting the amount of change in the light intensity of the signal output from the light beam detection means using a differential circuit and comparing it with a reference value. It is possible to easily determine an abnormality in the beam diameter of a beam such as a laser beam, and furthermore, it is possible to prevent deterioration of an output image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(A) 、 (B)はそれぞれ本発明実施例の基
本構成を示すブロック図、 第2図は本発明の第1実施例の回路構成を示す回路図、 第3図は第2図の実施例におけるレーザビームと検出信
号の波形(検出波形)の関係を示す説明図、 第4図は第2図の実施例における各信号のタイミングを
示すタイミングチャート、 第5図は従来例の構成を示す斜視図、 第6図は従来例の信号のタイミングを示すタイミングチ
ャート、 第7図は本発明の第2実施例の回路構成を示す回路図、 第8図は第7図の実力伍例における各信号のタイミング
を示すタイミングチャートである。 2・・・レーザユニット、 5・・・回転多面鏡、 6・・・結像レンズ、 13・・・スリット、 14・・・光ファイバ、 15・・・フォトダイオード、 16・・・演算増幅器、 17・・・帰還抵抗器、 18.27・・・コンパレータ、 20・・・タイマー回路、 23JO,31・・・ラッチ回路、 24.25・・・微分回路。 第1欠プ旭イ列θ回詳1膏べを示ず圓yト区第2図 a:l   −ム」 (A) 第1 −に−J邑イ列0し〜ヂビ 〃関48鼾″′f説明巨 第3目 (B) 一ムのど−ハイ社どキ妃出劣りし コ イブと]呆fフ1りの 1−シL鰺\くをカ々コブー刺
−2七rもLlコ、fX 米 イゲリ 0 タイSンク
゛ナヤート第6図 手続補正書 昭和63年7月11日
1(A) and (B) are block diagrams showing the basic configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing the circuit configuration of the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram showing the circuit configuration of the first embodiment of the present invention. An explanatory diagram showing the relationship between the laser beam and the waveform of the detection signal (detection waveform) in the embodiment of FIG. 4 is a timing chart showing the timing of each signal in the embodiment of FIG. 2, and FIG. 5 is the configuration of the conventional example. FIG. 6 is a timing chart showing the signal timing of the conventional example, FIG. 7 is a circuit diagram showing the circuit configuration of the second embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a practical example of FIG. 7. 3 is a timing chart showing the timing of each signal in FIG. 2... Laser unit, 5... Rotating polygon mirror, 6... Imaging lens, 13... Slit, 14... Optical fiber, 15... Photodiode, 16... Operational amplifier, 17... Feedback resistor, 18.27... Comparator, 20... Timer circuit, 23JO, 31... Latch circuit, 24.25... Differential circuit. 1st missing column θ times details 1 without page 2nd figure a: l -m''``'f Explanation Giant 3rd Eye (B) Ichimu Nodo - High Shadoki Princess with the inferior Koivu] 1 - ShiL Salmon \ku wo kakakobu stab - 27r also Ll Ko, fX U.S. Igeri 0 Thailand S Nkhunayat Diagram 6 Procedural Amendment July 11, 1986

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)光ビームを走査して感光体に照射することにより画
像形成をさせる光ビーム走査手段を有する光ビーム走査
装置において、 前記光ビームを検知する光ビーム検知手段 と、 該光ビーム検知手段の検知信号と基準電圧のレベル比較
を行う比較手段と、 該比較手段の出力信号の出力時間を計時して該出力時間
が所定の許容時間の範囲外である場合はエラー信号を出
力する計時手段と を具備したことを特徴とする光ビーム走査装置。 2)光ビームを走査して感光体に照射することにより画
像形成をさせる光ビーム走査手段を有する光ビーム走査
装置において、 前記光ビームを検知する光ビーム検知手段 と、 該光ビーム検知手段の検知信号を微分する微分回路と、 該微分回路の出力信号と基準電圧のレベル比較を行い、
該出力信号が該基準電圧に達しない場合はエラー信号を
出力する比較手段と を具備したことを特徴とする光ビーム走査装置。
[Scope of Claims] 1) A light beam scanning device having a light beam scanning means for forming an image by scanning a light beam and irradiating the photoreceptor with the light beam, comprising: a light beam detection means for detecting the light beam; Comparing means for comparing the level of the detection signal of the light beam detecting means and the reference voltage, and measuring the output time of the output signal of the comparing means and generating an error signal if the output time is outside a predetermined allowable time range. 1. A light beam scanning device comprising: a timekeeping means for outputting a time. 2) A light beam scanning device having a light beam scanning means for forming an image by scanning a light beam and irradiating it onto a photoreceptor, comprising: a light beam detection means for detecting the light beam; and a detection means for the light beam detection means. A differentiating circuit that differentiates the signal, and a level comparison between the output signal of the differentiating circuit and a reference voltage,
A light beam scanning device comprising: comparison means for outputting an error signal when the output signal does not reach the reference voltage.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6775040B2 (en) 2000-07-19 2004-08-10 Pentax Corporation Scanning sync-signal detecting circuit for laser scanner

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