JPH01255214A - 液体原料供給装置 - Google Patents

液体原料供給装置

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Publication number
JPH01255214A
JPH01255214A JP8383788A JP8383788A JPH01255214A JP H01255214 A JPH01255214 A JP H01255214A JP 8383788 A JP8383788 A JP 8383788A JP 8383788 A JP8383788 A JP 8383788A JP H01255214 A JPH01255214 A JP H01255214A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
orifice
bubbler
flow path
raw material
liquid raw
Prior art date
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Pending
Application number
JP8383788A
Other languages
English (en)
Inventor
Takuya Fujii
卓也 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP8383788A priority Critical patent/JPH01255214A/ja
Publication of JPH01255214A publication Critical patent/JPH01255214A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 MOCVD (有機金属化学気相成長)装置等の液体原
料バブラ内の圧力制御手段を備えた液体原料供給装置に
関し。
バブラ内圧力を高精度に制御して、有機金属原料等の液
体原料を精度高く供給し、混晶組成の制御性と再現性の
向上を目的とし。
液体原料を収容したバブラ(1)と、バブリングガスを
該液体原料内に導入するバブリングガス導入流路(2)
と、希釈ガス導入流路(3)と、該希釈ガス導入流路(
3)より分岐し且つ合流する第1の分流流路(4)と第
2の分流流路(5)と、該第1の分流流路(4)に上流
より順に直列に接続された第1の分流オリフィス(9)
及び差圧発生オリフィス(7)と、該第2の分流流路(
5)内に接続された第2の分流オリフィス(10)と、
該バブラ(1)内の液体原料の上部より導出され且つ該
第1の分流オリフィス(9)と該差圧発生オリフィス(
7)の中間に接続されるバブリングガス導出流路(6)
と、該バブリングガス導出流路(6)に設けられた圧力
計(8)とを有し、該圧力計(8)の指示により、該第
1の分流オリフィス(9)又は第2の分流オリフィス(
10)の開口度を調節して該バブラ(1)内の圧力を制
御可能な構成にする。
〔産業上の利用分野〕
本発明はMOCVD (有機金属化学気相成長)装置等
の液体原料バブラ内の圧力制御手段を備えた液体原料供
給装置に関する。
MOCVD法による9例えばInGaAs等の混晶の作
製においては正確な混晶組成の制御が要求される。
このため、有機金属原料の供給量を高精度に制御する必
要があり、バブラ内の圧力を正確に一定に保つことが重
要である。
〔従来の技術〕
第3図は従来例による液体原料供給装置の構成図である
図において、lは液体原料を入れるバブラ、2はバブリ
ング用ガスの流路、3は希釈ガスの流路。
6はバブリングされたガスの流路97はバブラ内の圧力
を例えば1気圧にするための差圧発生オリフィス、8は
バブラ内の圧力を測る圧力計(P)、11は流路2に流
す流量を決めるためのマスフローコントローラ(NFC
)、 12は流路3に流す流量を決めるためのマスフロ
ーコントローラである。
液体原料(1A)はバブラ1内に中空部を残して入れら
れ、流路2の先端は液体原料内に挿入されてバブリング
が行われる。又1流路3はバブラl内の中空部より導出
される。
従来例においては、バブラ1内の圧力を制御するために
、バブラ1の下流に設けられた差圧発生オリフィス7の
開口度を、バブラ1の出口近傍の流路6にに設けられた
圧力計8からの信号により変化させていた。
ところが1通常のMOCVD法では、バブラl内の圧力
を1気圧、オリフィス7の下流の圧力を0.1気圧程度
に設定するため、オリフィス7で生ずる差圧は〜0.9
気圧と大きく、オリフィス7の開口度をわずかに変化さ
せるだけで、バブラ1内の圧力は数Torr以上変化し
、精度高(バブラ1内の圧力を制御することはできない
更に、オリフィス7を高速開閉する場合は、ガス流は脈
流となってしまう。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来例では、バブラ内圧力の制御が難しく、有機金属原
料等の液体原料を精度高く供給することができず、混晶
組成の制御と再現性が十分でなかった。
本発明は、バブラ内圧力を経時変化無く一定に保って、
高精度に制御できる装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的の解決は、液体原料を収容したバブラ(1)と
、バブリングガスを該液体原料内に導入するバブリング
ガス導入流路(2)と、希釈ガス導入流路(3)と、該
希釈ガス導入流路(3)より分岐し且つ合流する第1の
分流流路(4)と第2の分流流路(5)と、該第1の分
流流路(4)に上流より順に直列に接続された第1の分
流オリフィス(9)及び差圧発生オリフィス(7)と、
該第2の分流流路(5)内に接続された第2の分流オリ
フィス(10)と。
該バブラ(1)内の液体原料の上部より導出され。
且つ該第1の分流オリフィス(9)と該差圧発生オリフ
ィス(7)の中間に接続されるバブリングガス導出流路
(6)と、該バブリングガス導出流路(6)に設けられ
た圧力計(8)とを有し、該圧力計(8)の指示により
、該第1の分流オリフィス(9)又は第2の分流オリフ
ィス(10)の開口度を調節して該バブラ(1)内の圧
力を制御可能な構成にした液体原料供給装置により達成
される。
〔作用〕
第1図は本発明の原理説明の構成図である。
図において、1は液体原料(1A)を入れるバブラ。
2はバブリングガス流人流路、3.4.5は希釈ガスの
流路で、3は希釈ガス導入流路、4,5はそれぞれ第1
及び第2の分流流路、6はバブリングガス導出流路、7
はバブラ内の圧力を例えば1気圧にするための差圧発生
オリフィス、8はバブラ内の圧力を測る圧力計、9.1
0はそれぞれ分流流路4.5に流れる希釈ガスの流量比
を変化させるための第1及び第2の分流オリフィス、1
1はバブリングガス流人流路2に流す流量を決めるため
のマスフローコントローラ、12は希釈ガス導入流路3
に流す流量を決めるためのマスフローコントローラであ
る。
分流オリフィス9.10のどちらか一方は適当な開口度
に固定し、他方は圧力計8からの信号によって開口度を
変化させる。
即ち、圧力計8でバブラ1内の圧力を測定し。
測定圧力の設定圧力からのズレに応じて分流オリフィス
9又は10の開口度を調節して差圧発生オリフィス7に
入力されるガス流量を制御し、バブラ1内の圧力を一定
に保つようにしている。
又、系全体から出てゆくガス流量は一定であるため、こ
の圧力制御によって系の出力側、即ち反応室の圧力は変
動することはない。
従って、バブラ1内に圧力変動があった場合は。
高精度に応答して分流流路4を流れるガスの流量が変化
し、バブラl内の圧力を安定して一定に保つことができ
る。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例を説明する構成図である。
図は1例えば液体原料として有機金属原料を用いたバブ
ラ圧力の制御系を示している。
図において、13は圧力計8からの信号によって流量設
定値が変化するマスフローコントローラで。
これは第1図のオリフィス9に相当するものである。
本発明を実施するに際し、流量や圧力を例えば次のよう
に割り振る。
系の出力側、即ち反応室内の圧力を50 Torr。
バブリング流量を100 cco+ 、バブラ内圧力を
760Torr程度とする場合、マスフローコントロー
ラ12に流す希釈ガスの総流量はバブリング流量の10
倍程度の1000 ccmとし、その内の大部分の90
0 ccm程度をマスフローコントローラ13に流し。
残りはオリフィスの開口度を固定した分流オリフィス1
0に流す。
この場合、マスフローコントローラ13に流れ込むガス
流量を数%変化させることによって、バブラ1内の圧力
は数Torr変化し、 l Torr以下の精度で圧力
制御が可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、系よりの流出流量
(反応室へ流入するガス流量)を一定に保ちながら、液
体原料バブラ内の圧力を精度よく制御することができ、
 MOCVD装置に適用して混晶化合物半導体の組成の
制御性と再現性を向上する。
従って、半導体素子の性能向上に寄与することができる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明の構成図。 第2図は本発明の一実施例を説明する構成図。 第3図は従来例による液体原料供給装置の構成図である
。 図において。 1は液体原料を入れるバブラ。 2はバブリングガス導入流路。 3は希釈ガス導入流路。 4は希釈ガスの第1の分流流路。 5は希釈ガスの第2の分流流路。 6はバブリングガス導出流路。 7は差圧発生オリフィス。 8はバプラ内の圧力を測る圧力計。 9.10はそれぞれ 第1.第2の分流オリフィス。 11、12.13はマスフローコントローラ原理 コ 第1 @ 実施イ列の+、1坂図 算2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  液体原料(1A)を収容したバブラ(1)と、バブリ
    ングガスを該液体原料内に導入するバブリングガス導入
    流路(2)と、 希釈ガス導入流路(3)と、 該希釈ガス導入流路(3)より分岐し、且つ合流して導
    出される第1の分流流路(4)と第2の分流流路(5)
    と、 該第1の分流流路(4)に上流より順に直列に接続され
    た第1の分流オリフィス(9)及び差圧発生オリフィス
    (7)と、 該第2の分流流路(5)内に接続された第2の分流オリ
    フィス(10)と、 該バブラ(1)内の液体原料の上部より導出され、且つ
    該第1の分流オリフィス(9)と該差圧発生オリフィス
    (7)の中間に接続されるバブリングガス導出流路(6
    )と、 該バブリングガス導出流路(6)に設けられた圧力計(
    8)とを有し、 該圧力計(8)の指示により、該第1の分流オリフィス
    (9)又は第2の分流オリフィス(10)の開口度を調
    節して該バブラ(1)内の圧力を制御可能な構成にした
    ことを特徴とする液体原料供給装置。
JP8383788A 1988-04-05 1988-04-05 液体原料供給装置 Pending JPH01255214A (ja)

Priority Applications (1)

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JP8383788A JPH01255214A (ja) 1988-04-05 1988-04-05 液体原料供給装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP8383788A JPH01255214A (ja) 1988-04-05 1988-04-05 液体原料供給装置

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Publication Number Publication Date
JPH01255214A true JPH01255214A (ja) 1989-10-12

Family

ID=13813817

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8383788A Pending JPH01255214A (ja) 1988-04-05 1988-04-05 液体原料供給装置

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JP (1) JPH01255214A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012244168A (ja) * 2011-05-24 2012-12-10 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 蒸気送達装置、その製造方法およびその使用方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012244168A (ja) * 2011-05-24 2012-12-10 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 蒸気送達装置、その製造方法およびその使用方法

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