JPH01250718A - トンネルの内空形状測定方法 - Google Patents
トンネルの内空形状測定方法Info
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- JPH01250718A JPH01250718A JP63076352A JP7635288A JPH01250718A JP H01250718 A JPH01250718 A JP H01250718A JP 63076352 A JP63076352 A JP 63076352A JP 7635288 A JP7635288 A JP 7635288A JP H01250718 A JPH01250718 A JP H01250718A
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- Japan
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- distance
- tunnel
- targets
- measurement
- angle
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000011796 hollow space material Substances 0.000 title abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 42
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、トンネルの内空を計測する方法に関するもの
である。
である。
（従来の技術）
従来のこの種の計測は、コンバージェンスメジャーと呼
ばれる方法により行なわれていた。
ばれる方法により行なわれていた。
この方法は、簡単に言えば、トンネル壁面の同一断面上
複数位置に設置された測定用ピン間を、巻尺により計測
するものであった。
複数位置に設置された測定用ピン間を、巻尺により計測
するものであった。
しかしながら従来の方法は、トンネル断面が小口径の場
合には有効であったが、断面が大きくなった場合、巻尺
がたるんでしまい精度良い計測が出来ないという問題点
があった。
合には有効であったが、断面が大きくなった場合、巻尺
がたるんでしまい精度良い計測が出来ないという問題点
があった。
又この種の方法では測定の都度測定ピンに作業者が行か
なければならず、測定ポイントが多い場合、作業に多大
な時間を必要とする上、危険も増える。
なければならず、測定ポイントが多い場合、作業に多大
な時間を必要とする上、危険も増える。
本発明はこの様な従来の問題点に鑑みてなされたもので
断面形状に左右されずに測定精度が確保でき、かつ測定
時間を短縮できるトンネルの内空測定方法を提供するこ
とを目的とする。
断面形状に左右されずに測定精度が確保でき、かつ測定
時間を短縮できるトンネルの内空測定方法を提供するこ
とを目的とする。
（問題点を解決する為の手段）
−Ｆ記問題点の解決の為、本発明では、トンネル壁面の
同一断面上複数位置に反射鏡２を有するターゲットを所
定の向きに固設し、前記反射鏡を用いた光波測距機能を
有する測距ｆｌｌ１１角儀３により前記ターゲットを視
準し、前記反射鏡を用いて測距、前記ターゲットを用い
て測角を行ない、得られた距離、角度データによって前
記ターゲットの座標値を求め、前記複数のターゲットの
少くとも隣接したもの同志の間の距離を演算し、該演算
距離を表示する。
同一断面上複数位置に反射鏡２を有するターゲットを所
定の向きに固設し、前記反射鏡を用いた光波測距機能を
有する測距ｆｌｌ１１角儀３により前記ターゲットを視
準し、前記反射鏡を用いて測距、前記ターゲットを用い
て測角を行ない、得られた距離、角度データによって前
記ターゲットの座標値を求め、前記複数のターゲットの
少くとも隣接したもの同志の間の距離を演算し、該演算
距離を表示する。
また、前記演算距離を記憶し、次回測定時に得られた演
算距離との差を求め、トンネルの内空変位量を表示する
。
算距離との差を求め、トンネルの内空変位量を表示する
。
（作用）
本発明は、」−述のような方法であるから、測距測角儀
によりＰｌの位置に固定したターゲットを視準し、測距
、測角を行なう。得られるデータは、距離（ＳＤＩ）、
水平角（ＨＡ、）、高角度（■ＡＩ）の３つである。次
に、Ｐ２の位置に固定したターゲットを視阜し、測距、
測角を行ない、距離（ＳＤ２）、水平角（ＨＡ、）、高
角度（ＶＡ、）を得る。
によりＰｌの位置に固定したターゲットを視準し、測距
、測角を行なう。得られるデータは、距離（ＳＤＩ）、
水平角（ＨＡ、）、高角度（■ＡＩ）の３つである。次
に、Ｐ２の位置に固定したターゲットを視阜し、測距、
測角を行ない、距離（ＳＤ２）、水平角（ＨＡ、）、高
角度（ＶＡ、）を得る。
位置Ｐ、、Ｐ、の座標は、測距測角儀のある点を０（０
，０，０）とすると、 ｆ’＋ ＝ （Ｘ＋ ％ ｙｌ ｓ Ｚｉ ） ％Ｐ
２ ＝ （Ｘｚ−３’ｚｂ Ｚ２） で示される。
，０，０）とすると、 ｆ’＋ ＝ （Ｘ＋ ％ ｙｌ ｓ Ｚｉ ） ％Ｐ
２ ＝ （Ｘｚ−３’ｚｂ Ｚ２） で示される。
座標Ｘｉ 、ｙｉ 、Ｚｉは
Ｘ ｉ ＝ ５ＤｉＸｓｉｎ（ＶＡｉ）Ｘｃｏｓ（
ＩＩ八へ）Ｙ ｆ ＝ ＳＤｉ Ｘ５ｉｎ（ＶＡｉ
）Ｘｓｉｎ（ＨＡｉ）Ｚｉ ＝ ＳＤｉ Ｘ ｃｏｓ（
ＶＡｉ）なる代より導かれるので、位置Ｐ１、Ｐ２の２
点間距離り、は Ｌｌ−≠１；二書７３〒了じ＋ｙｚ’）”〒−１７．−
二−；−２−）−１−とｔ７て求めることができる。
ＩＩ八へ）Ｙ ｆ ＝ ＳＤｉ Ｘ５ｉｎ（ＶＡｉ
）Ｘｓｉｎ（ＨＡｉ）Ｚｉ ＝ ＳＤｉ Ｘ ｃｏｓ（
ＶＡｉ）なる代より導かれるので、位置Ｐ１、Ｐ２の２
点間距離り、は Ｌｌ−≠１；二書７３〒了じ＋ｙｚ’）”〒−１７．−
二−；−２−）−１−とｔ７て求めることができる。
このようにして求めた２点間距離を記憶しておけば、次
回の測定の２点間距離と比較することができ、両者の差
をとることにより前回の測定との間の内空変位を知るこ
とができる。
回の測定の２点間距離と比較することができ、両者の差
をとることにより前回の測定との間の内空変位を知るこ
とができる。
、二のような本発明の方法によれば、トンネルの断面形
状には全く関係なく （２点間に障害物がある場合でも
）精度の安定した測定が可能となる。
状には全く関係なく （２点間に障害物がある場合でも
）精度の安定した測定が可能となる。
又、−度、測距測角儀を設置すれば、数断面の測定も可
能である。
能である。
（実施例）
第１図はトンネル内に測距測角儀をセソＬ した様子を
示す図、第２図は第１図で示したトンネルの矢印Ａの位
置での横断面を示す図、第３図は、第１図で測定される
位置ＰＩ、Ｐ２と空間座標系との関係を示す図、第４図
は第１図で示した測定用ビン２に取付ける反射鏡を有す
るターゲソ１−の正面図、第５図（ａ）、（ｂｌ、ｔｃ
＋はそれぞれ、ターゲットの上面図、縦断面図、測定用
ビンの固定部材の部分断面図、である。
示す図、第２図は第１図で示したトンネルの矢印Ａの位
置での横断面を示す図、第３図は、第１図で測定される
位置ＰＩ、Ｐ２と空間座標系との関係を示す図、第４図
は第１図で示した測定用ビン２に取付ける反射鏡を有す
るターゲソ１−の正面図、第５図（ａ）、（ｂｌ、ｔｃ
＋はそれぞれ、ターゲットの上面図、縦断面図、測定用
ビンの固定部材の部分断面図、である。
第１図及び第２図に示したように、トンネル１内には、
トンネルの掘進に伴ない、その壁面の同一断面り複数位
置に、測定用ビン２が埋込まれ、また、測定用ビン２は
トンネル１の深さ方向にも同様に順次埋込まれていく。
トンネルの掘進に伴ない、その壁面の同一断面り複数位
置に、測定用ビン２が埋込まれ、また、測定用ビン２は
トンネル１の深さ方向にも同様に順次埋込まれていく。
第１図、第２図には示していないが、このビン２には、
第４図、第５図で示したターゲットが所定の向きになる
ように、順次取り付けられていく。
第４図、第５図で示したターゲットが所定の向きになる
ように、順次取り付けられていく。
第４図に示したように、ターゲット１１は、反射鏡とし
てのプリズム（コーナーキエーブ）７とプリズム７の中
心を中心とするように星形マークの描かれたターゲラ１
−板〔ｊとを有する。ターゲット板６は、ターゲット本
体（第５図（ａｌ、（ｂ））１０にビス５ａ、５ｂ、５
Ｃによって固定される。また、プリズム７は固定部材（
第５図（ａｌ、（ｂ））の先端に固定され、ブリズＪ、
７のためのフード８と固定部材９との間に形成された円
周溝にはターゲ。
てのプリズム（コーナーキエーブ）７とプリズム７の中
心を中心とするように星形マークの描かれたターゲラ１
−板〔ｊとを有する。ターゲット板６は、ターゲット本
体（第５図（ａｌ、（ｂ））１０にビス５ａ、５ｂ、５
Ｃによって固定される。また、プリズム７は固定部材（
第５図（ａｌ、（ｂ））の先端に固定され、ブリズＪ、
７のためのフード８と固定部材９との間に形成された円
周溝にはターゲ。
ト本体ＩＯが嵌入し、ターゲット本体１０は、プリズム
７の中心を回転中心として回転しうるよう構成されてい
ると共に、クランプネジ１２により固定部材９に固定す
ることができるようにもなっている。
７の中心を回転中心として回転しうるよう構成されてい
ると共に、クランプネジ１２により固定部材９に固定す
ることができるようにもなっている。
固定部材９のプリズム７の取付部と反対側には、一端を
トンネル壁面にｌ！！設される支持棒２′の先端に設け
られた測定ビン２を挿入する開口が形成されると共に、
測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂまで導入するための支
持棒２′の案内溝９ｃが形成されている。
トンネル壁面にｌ！！設される支持棒２′の先端に設け
られた測定ビン２を挿入する開口が形成されると共に、
測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂまで導入するための支
持棒２′の案内溝９ｃが形成されている。
固定部材９の回転軸１４のまわりには締付部材１３が回
転するように結合しており、締付部材１３には案内溝９
ｃに嵌入して測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに押し付
ける凸部１３ａが一体に形成されている。締付部材の凸
部１３ａが案内溝９ｃに嵌入した状態において、締付部
材１３の端部から形成した嵌入溝１３ｂに嵌入しうるよ
う、固定部材９にはネジ１５が回転軸１７によって回転
自在に設けられ、ネジ１５に螺合したナツト１６が締付
部材１３を固定部材９に押し付は固定するように構成さ
れている（第５図（ａ））。
転するように結合しており、締付部材１３には案内溝９
ｃに嵌入して測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに押し付
ける凸部１３ａが一体に形成されている。締付部材の凸
部１３ａが案内溝９ｃに嵌入した状態において、締付部
材１３の端部から形成した嵌入溝１３ｂに嵌入しうるよ
う、固定部材９にはネジ１５が回転軸１７によって回転
自在に設けられ、ネジ１５に螺合したナツト１６が締付
部材１３を固定部材９に押し付は固定するように構成さ
れている（第５図（ａ））。
このような構造であるから、第５図（Ｃ１のように、締
付部材１３とネジ１５とを開いた状態で、溝９ｃ内に支
持棒２′・を通して測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに
当接させ、締付部材１３を閉じ（第５図（Ｃ）の矢印（
イ））、ついで、ネジエ５を閉じ（第５図（Ｃ）の矢印
（［１） ） 、その後ナツト１６を締めて、凸部１３
ａにより測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに押圧固定す
ればよい。このとき、測定ビン２のまわりの水平方向の
回転１８（第５図（ａｌ）、鉛直方向の回転（第５図（
ｂ））も併せて行なって、ターゲソｌ−１１の向きを調
整する。また、ターゲツト板６の星形マークが水平方向
もしくは鉛直方向から傾いている場合には、クランプネ
ジ１２を緩めて、固定部材９に対してターゲット本体１
０を回転させて、星形マークの位置を調整する。
付部材１３とネジ１５とを開いた状態で、溝９ｃ内に支
持棒２′・を通して測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに
当接させ、締付部材１３を閉じ（第５図（Ｃ）の矢印（
イ））、ついで、ネジエ５を閉じ（第５図（Ｃ）の矢印
（［１） ） 、その後ナツト１６を締めて、凸部１３
ａにより測定ビン２をテーパ面９ａ、９ｂに押圧固定す
ればよい。このとき、測定ビン２のまわりの水平方向の
回転１８（第５図（ａｌ）、鉛直方向の回転（第５図（
ｂ））も併せて行なって、ターゲソｌ−１１の向きを調
整する。また、ターゲツト板６の星形マークが水平方向
もしくは鉛直方向から傾いている場合には、クランプネ
ジ１２を緩めて、固定部材９に対してターゲット本体１
０を回転させて、星形マークの位置を調整する。
このようにして測定ビン２に取り付けられたターゲット
１１は、トンネル内に設置された測距測角儀３ （第１
図では三脚４上に載置しである）の望遠鏡で視準され、
プリズム７を用いて測距が、及び望遠鏡の水平、鉛直面
内での回転角により測角が、それぞれ行なわれる。
１１は、トンネル内に設置された測距測角儀３ （第１
図では三脚４上に載置しである）の望遠鏡で視準され、
プリズム７を用いて測距が、及び望遠鏡の水平、鉛直面
内での回転角により測角が、それぞれ行なわれる。
測距は例えば変調光をプリズム７ （第１図では不図示
）に送光し、プリズム７での反射光と送信光との位相差
に基づいて距離を測定する方法が好ましく、また測角は
望遠鏡の回転角度を電気信号に変換するロータリーエン
コーダを用いて行なうことが好ましい。
）に送光し、プリズム７での反射光と送信光との位相差
に基づいて距離を測定する方法が好ましく、また測角は
望遠鏡の回転角度を電気信号に変換するロータリーエン
コーダを用いて行なうことが好ましい。
位置Ｐ、、Ｐ、に係る測距、測角データは、第３図に示
したように、測距測角儀３に定められた空間座標系に対
して測定される。すなわち、位置Ｐ１のデータとしては
、測距データＳＤ、、測角データＨＡ、（水平角）、Ｖ
ＡＩ（高度角）であり、位置Ｐ２のデータとしては、測
距データＳＤ、、測角データＨＡ！ （水平角）、Ｖ
Ａｉ（高度角）である。
したように、測距測角儀３に定められた空間座標系に対
して測定される。すなわち、位置Ｐ１のデータとしては
、測距データＳＤ、、測角データＨＡ、（水平角）、Ｖ
ＡＩ（高度角）であり、位置Ｐ２のデータとしては、測
距データＳＤ、、測角データＨＡ！ （水平角）、Ｖ
Ａｉ（高度角）である。
これらの測距、測角データから位置Ｐ、 、Ｐ。
の座標値Ｐ＋＝（Ｘｔ、３’＋、Ｚ＋）、Ｐｚ＝（ｘｚ
、Ｙｚ 、Ｚｚ ）を演算によって求める。
、Ｙｚ 、Ｚｚ ）を演算によって求める。
具体的には、Ｘ座標、Ｘ座標、２座標はそれぞれ、
Ｘｉ ＝ ５ＤｉＸｓｉｎ（ＶＡｉ）Ｘｃｏｓ（ＩＩＡ
ｉ）３” ＝ ＳＤｉ Ｘ５ｉｎ（ＶＡｉ）Ｘｓｉ
ｎ（ＩＩＡｉ）ｚ’ ＝ ＳＤｉ Ｘｃｏｓ（ＶＡｉ）
である、ただし、添え字ｉは、任意の位置を示す。
ｉ）３” ＝ ＳＤｉ Ｘ５ｉｎ（ＶＡｉ）Ｘｓｉ
ｎ（ＩＩＡｉ）ｚ’ ＝ ＳＤｉ Ｘｃｏｓ（ＶＡｉ）
である、ただし、添え字ｉは、任意の位置を示す。
すなわち、位置Ｐ、はｉ＝１、位置Ｐｔはｉ＝２である
。
。
従って、位置Ｐ１と位置Ｐ２の距離りは、として求める
。
。
このようにして求めた位置Ｐ１と位置Ｐ２の２点間距離
を記憶し、再び同位置間の距離を測定して前回の測定と
の差を取り、前回の測定との間の内空変位を求める。
を記憶し、再び同位置間の距離を測定して前回の測定と
の差を取り、前回の測定との間の内空変位を求める。
このような測定は、各測定用ビン間で必要なだけ行なえ
ば良い。
ば良い。
（発明の効果）
以上のように本発明によれば、トンネルの断面形状に左
右されずにトンネルの内空を測定できるばかりでなく、
測定位置間に障害物（配管等）があっても、測定位置の
座標から演算によって測定位置間の距離を求めるので、
測定が可能である。
右されずにトンネルの内空を測定できるばかりでなく、
測定位置間に障害物（配管等）があっても、測定位置の
座標から演算によって測定位置間の距離を求めるので、
測定が可能である。
第１図はトンネル内に測距測角儀をセントした様子を示
す図、第２図は第１図で示したトンネルの矢印への位置
での横断面を示す図、第３図は第１図で測定される位置
と空間座標系との関係を示す図、第４図は測定用ピンに
取付けるターゲットの正面図、第５図（ａｌ、ｆｂ）、
（Ｃ１はそれぞれターゲットの上面図、縦断面図、測定
用ピンの固定部材の部分断面図、である。 （主要部分の符号の説明） ３−測距測角儀、 ７−プリズム、 １ ｌ−ターゲット。 第５図
す図、第２図は第１図で示したトンネルの矢印への位置
での横断面を示す図、第３図は第１図で測定される位置
と空間座標系との関係を示す図、第４図は測定用ピンに
取付けるターゲットの正面図、第５図（ａｌ、ｆｂ）、
（Ｃ１はそれぞれターゲットの上面図、縦断面図、測定
用ピンの固定部材の部分断面図、である。 （主要部分の符号の説明） ３−測距測角儀、 ７−プリズム、 １ ｌ−ターゲット。 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、トンネル壁面の同一断面上複数位置に、反射鏡を有
するターゲットを所定の向きに固設し、前記反射鏡を用
いた光波測距機能を有する測距角儀により前記ターゲッ
トを視準し、前記反射鏡を用いて測距、前記視準方向に
よって測角を行ない、得られた距離、角度データによっ
て前記ターゲットの座標値を求め、前記複数のターゲッ
トの少くとも隣接したもの同志の間の距離を演算し、該
演算距離を表示することを特徴とするトンネルの内空測
定方法。 ２、前記演算距離を記憶し、該記憶した距離と次回測定
時に得られた演算距離との差を求め、トンネルの内空変
位量を表示する請求項１記載の内空測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63076352A JPH01250718A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | トンネルの内空形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63076352A JPH01250718A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | トンネルの内空形状測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01250718A true JPH01250718A (ja) | 1989-10-05 |
Family
ID=13602965
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63076352A Pending JPH01250718A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | トンネルの内空形状測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01250718A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5198868A (en) * | 1990-11-16 | 1993-03-30 | Sato Kogyo Co., Ltd. | Laser surveying system having a function of marking reference points |
| KR100457244B1 (ko) * | 2002-04-11 | 2004-11-16 | 에스케이건설 주식회사 | 터널 막장 전방의 이상지반 예측방법 |
| CN102278970A (zh) * | 2011-06-14 | 2011-12-14 | 北京林业大学 | 一种基于全站仪角距差分的定位变形监测技术 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58148909A (ja) * | 1982-03-01 | 1983-09-05 | Taisei Corp | 光波測距儀による測定方法 |
| JPS62153706A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Shimizu Constr Co Ltd | 高周波変調光波を使つた内空変位測定方法 |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP63076352A patent/JPH01250718A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58148909A (ja) * | 1982-03-01 | 1983-09-05 | Taisei Corp | 光波測距儀による測定方法 |
| JPS62153706A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Shimizu Constr Co Ltd | 高周波変調光波を使つた内空変位測定方法 |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| US5198868A (en) * | 1990-11-16 | 1993-03-30 | Sato Kogyo Co., Ltd. | Laser surveying system having a function of marking reference points |
| KR100457244B1 (ko) * | 2002-04-11 | 2004-11-16 | 에스케이건설 주식회사 | 터널 막장 전방의 이상지반 예측방법 |
| CN102278970A (zh) * | 2011-06-14 | 2011-12-14 | 北京林业大学 | 一种基于全站仪角距差分的定位变形监测技术 |
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