JPH01248289A - Abnormality detector for ic card - Google Patents

Abnormality detector for ic card

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JPH01248289A
JPH01248289A JP63074611A JP7461188A JPH01248289A JP H01248289 A JPH01248289 A JP H01248289A JP 63074611 A JP63074611 A JP 63074611A JP 7461188 A JP7461188 A JP 7461188A JP H01248289 A JPH01248289 A JP H01248289A
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JP
Japan
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card
chip
warning
abnormality
information
Prior art date
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Application number
JP63074611A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuo Saito
伸郎 斎藤
Tsumoru Kuwabara
桑原 積
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To previously detect abnormality such as cracks, etc., in the external form of an IC chip by providing a warning means which warns occurrence of abnormality in an IC chip in accordance with a discriminated result that the power feeding state of a power line exceeds a previously specified limit. CONSTITUTION:By paying attention that, when a crack is produced in an IC chip, the electric current feeding state, for example, the power feeding quantity from a power source to the IC card 100 using the IC chip is increased, the increase in the power feeding state is detected by means of a detecting means 300 and a warning is issued from a warning means 500 in accordance with the detected result of the means 300. By receiving the warning, the user or issuing company of the IC card instructs the readout process of the storing content of the IC card 100 before the card 100 is damaged. Therefore, the storing content of the IC card 100 can be protected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ホストコンピュータ等の電子機器と情報の授
受を行うICカードにおけるICチップのひび割れなど
のICチップ外形の異常を検出する、異常検出装置に関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention is an abnormality detection method for detecting an abnormality in the external shape of an IC chip such as a crack in an IC chip in an IC card that exchanges information with an electronic device such as a host computer. Regarding equipment.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種のICカードの回路構成の一例を第・6図
に示す。
An example of the circuit configuration of a conventional IC card of this type is shown in FIG.

第6図において、51は接続コネクタであり、カードリ
ーダライタと接続し、tCカード5oとカードリーダラ
イタとの間で授受する情報の転送を行う。52は中央演
算処理装置(cpu)であり、接続コネクタ51からデ
ータバスβlを介して受信した情報を後述のEEFRO
M53に対して書き込むと共に、EEFROM53から
読み出した情報を接続コネクタ51に転送する。
In FIG. 6, 51 is a connection connector, which is connected to a card reader/writer and transfers information between the TC card 5o and the card reader/writer. 52 is a central processing unit (CPU), which sends information received from the connector 51 via the data bus βl to EEFRO, which will be described later.
At the same time as writing to M53, information read from EEFROM 53 is transferred to connection connector 51.

53は電気的に記憶内容を消去可能なEEPROMと呼
ばれる不揮発性メモリであり、EEPROMに代りバッ
テリにバックアップされたランダムアクセスメモリ(I
IAM)が用いられることもある。
Reference numeral 53 is a non-volatile memory called EEPROM whose storage contents can be electrically erased.
IAM) is sometimes used.

EEPnOM53は、CPU52が指示するアドレスを
アドレスバス16を介して受信し、CI’U52がfl
lW線(不図示)により指示する書き込み指示もしくは
読み出し指示に応じてデータバスIllに情報を人出力
する。
The EEPnOM 53 receives the address specified by the CPU 52 via the address bus 16, and the CI'U 52
Information is output to the data bus Ill in response to a write instruction or a read instruction issued by an IW line (not shown).

CPt152と接続コネクタ51との間はCPU52を
動作させるための各種信号を伝送する制御信号線が設け
られている。これらの各種信号はよく知られているので
、簡単な説明に留める。チップセレクト(C/S)信号
線ft2は接続コネクタに対して一般情報の入出力を許
可する信号線である。
A control signal line for transmitting various signals for operating the CPU 52 is provided between the CPt 152 and the connection connector 51. Since these various signals are well known, a brief explanation will be provided. The chip select (C/S) signal line ft2 is a signal line that allows input/output of general information to/from the connector.

接地線λ3はCPU52を接地するための信号線である
。リセット信号線14は外部機器側からCPt152を
リセット状態にするリセット信号を伝送する信号線であ
る。クロック信号15はCPU52か同期して動作する
ための同期信号を伝送する信号線である。
The ground line λ3 is a signal line for grounding the CPU 52. The reset signal line 14 is a signal line that transmits a reset signal for setting the CPt 152 to a reset state from the external device side. The clock signal 15 is a signal line that transmits a synchronization signal for operating the CPU 52 in synchronization.

電源線16はCPU52に対して作動電圧を供給する信
号線である。
The power line 16 is a signal line that supplies operating voltage to the CPU 52.

このような信号又は電圧がカードリーダライタ側から供
給されICカード50側のIC回路が動作可能状態とな
る。 −fi&:CPu52 、およびEEPROM5
3、および接続信号線は集積回路(IC)としてチップ
形態に一体形成され、プラスチックなどの平板形態のカ
ードケースに内蔵されている。このようなICカード5
0は携帯可能な記憶装置として広く用いられているが、
外圧力によりICカードが変形を受けると、ICチップ
にひび割れを生じ極端な場合はIC回路が破損してしま
う場合がある。
Such a signal or voltage is supplied from the card reader/writer side, and the IC circuit on the IC card 50 side becomes operational. -fi&: CPU52, and EEPROM5
3 and the connection signal line are integrally formed in the form of a chip as an integrated circuit (IC) and housed in a flat card case made of plastic or the like. IC card like this5
0 is widely used as a portable storage device,
When an IC card is deformed by external pressure, the IC chip may crack and, in extreme cases, the IC circuit may be damaged.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

けれども、ICカードの外観からはICチップのひび割
れが検出できないので、従来では、カードリーダライタ
と接続するホストコンピュータ内に、ICカード50か
ら読み出した情報が正しいか否かを調べることによりI
Cカード50の異常を検出する異常検出装置を設けてい
る。読み出し情報の確認にはパリティ方式やCnC方式
がよく知られている。
However, cracks in the IC chip cannot be detected from the appearance of the IC card, so in the past, cracks in the IC chip could not be detected by checking whether the information read from the IC card 50 is correct in the host computer connected to the card reader writer.
An abnormality detection device for detecting an abnormality in the C card 50 is provided. The parity method and CnC method are well known for checking read information.

ところが、従来のICカードの異常検出装置はIC回路
が破損状態になったことを検出するが故に、異常検出装
置がICカードの上記異常を検出した時点では、ICカ
ード50のEEPROM53の記憶内容をバックアップ
できないという解決すべき課題があった。
However, since the conventional IC card abnormality detection device detects that the IC circuit has become damaged, at the time the abnormality detection device detects the above abnormality in the IC card, the memory contents of the EEPROM 53 of the IC card 50 cannot be read. There was an issue that needed to be resolved, namely that backups were not possible.

そこで、本発明の目的は、ICカード内のIC回路が作
動不能になる前に、ICチップに対するひび割れ等外形
の異常を予め検出することができる異常検出装置を提供
することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an abnormality detection device that can detect external abnormalities such as cracks in an IC chip before the IC circuit in the IC card becomes inoperable.

さらに、゛本発明の他の目的は、ICチップに対する外
形の異常を検出したときに、ICカードの内部メモリの
記憶内容をバックアップすることができる、異常検出装
置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide an abnormality detection device that can back up the contents of the internal memory of an IC card when an abnormality in the external shape of an IC chip is detected.

(課題を解決するための手段) このような目的を達成するために、本発明の第1形態は
、ICカード内のICチップに作動電圧を供給する電源
線と結合され、電源線における給電状態を検出する手段
と、その検出量が予め定められた大きさを越えたか否か
を判断する手段と、該手段の判断結果に応じてICチッ
プにひび割れが生じている旨の警告を行う警告手段とを
具えたことを特徴とする。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve such an object, a first embodiment of the present invention is configured to be connected to a power line that supplies an operating voltage to an IC chip in an IC card, and to change the power supply state of the power line. means for detecting, means for determining whether the detected amount exceeds a predetermined magnitude, and warning means for issuing a warning that a crack has occurred in the IC chip in accordance with the determination result of the means. It is characterized by having the following.

本発明の第2形態は、ICカード内のICチップに作動
電圧を供給する電源線と結合され、電源線における給電
状態を検出する手段と、その検出量が予め定められた大
きさを越えたか否かを判断する手段と、該手段の判断結
果に応じてICチップに異常がある旨の警告を行う警告
手段と、検出手段の検出結果に応じ、ICカードに記憶
された所定の情報を読み出し、読み出された情報につい
ての正誤の判断を行い、ICカードが正常に動作してい
るか否かを確認する動作確認手段と、動作確認手段の確
認結果に応じてICカードの全ての情報を読み出す読み
出し手段と、当該読み出された全ての情報を記憶する記
憶手段とを具えたことを特徴とする。
A second aspect of the present invention is a means for detecting a power supply state in the power line, which is connected to a power line that supplies an operating voltage to an IC chip in an IC card, and whether the detected amount exceeds a predetermined magnitude. means for determining whether the IC chip is abnormal; warning means for issuing a warning that there is an abnormality in the IC chip according to the determination result of the means; and reading predetermined information stored in the IC card according to the detection result of the detection means. , an operation checking means for determining whether the read information is correct or not and checking whether the IC card is operating normally; and reading out all information on the IC card according to the confirmation result of the operation checking means. It is characterized by comprising a reading means and a storage means for storing all the read information.

(作 用) 本発明の第1形態においてはICチップにひび割れが生
じるとICカードに対して電源から供給する供給電流の
給電状態、例えば給電量が増大することに岩目し、検出
手段により上記給電量の増大を検出し、その検出結果に
応じて警告手段により警告を行う。このため、ICカー
ド使用者またはICカード発行会社ではICカードが破
損する前にICカードの記憶内容の読み出し処理を指示
し、ICカードの記憶内容を保護することができる。
(Function) In the first embodiment of the present invention, when a crack occurs in the IC chip, the power supply status of the supply current supplied from the power supply to the IC card, for example, the power supply amount increases, and the detection means detects the above-mentioned An increase in the amount of power supplied is detected, and the warning means issues a warning according to the detection result. Therefore, the IC card user or the IC card issuing company can protect the stored contents of the IC card by instructing read processing of the stored contents of the IC card before the IC card is damaged.

本発明の第2形態においては第1形態に加えてICカー
ドが正常に作動することを動作確認手段により行った後
、ICカードの記憶内容を自動的に219手段にバック
アップする。このため、ICカードと1受受するホスト
コンピュータやICカードまたはこのホストコンピュー
タを管理するICカード発行会社゛の担当者がひび割れ
の生じたICカードの内容確認を行う必要がない。
In the second embodiment of the present invention, in addition to the first embodiment, after the operation confirmation means confirms that the IC card operates normally, the stored contents of the IC card are automatically backed up to the 219 means. Therefore, there is no need for the person in charge of the host computer that receives and receives the IC card, the IC card, or the IC card issuing company that manages the host computer to check the contents of the cracked IC card.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。 The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明実施例の基本構成を示す。FIG. 1 shows the basic configuration of an embodiment of the present invention.

第1図において300はICカード100内のICCク
ツブに作動電圧を供給する電源線200と結合され、電
源線200における給電状態を検出する手段である。
In FIG. 1, numeral 300 is a means connected to the power line 200 for supplying operating voltage to the ICC tube in the IC card 100, and detecting the power supply state in the power line 200.

400はその検出量が予め定められた大きさを越えたか
否かを判断する手段である。
400 is means for determining whether the detected amount exceeds a predetermined value.

500は判断手段400の判断結果に応じてICチップ
にひび割れが生じている旨の警告を行う警告手段である
Reference numeral 500 denotes a warning means for issuing a warning that a crack has occurred in the IC chip in accordance with the judgment result of the judgment means 400.

600は検出手段300の検出結果に応じ、ICカード
100に記憶された所定の情報を読み出し、読み出され
た情報についての正誤の判断を行い、ICカード100
が正常に動作しているか否かを確認する動作確認手段で
ある。
600 reads out predetermined information stored in the IC card 100 according to the detection result of the detection means 300, determines whether the read information is correct or not, and outputs the IC card 100.
This is an operation confirmation means for confirming whether or not it is operating normally.

700は動作確認手段600の確認結果に応じてICカ
ード100の全ての情報を読み出す読み出し手段である
Reference numeral 700 denotes a reading unit that reads out all information on the IC card 100 according to the confirmation result of the operation confirmation unit 600.

800は読み出し手段700により読み出された全ての
情報を記憶する記憶手段である。
800 is a storage means for storing all the information read out by the reading means 700.

、第2図は本発明実施例の回路構成を示す。, FIG. 2 shows a circuit configuration of an embodiment of the present invention.

第2図において、ICカード50と接続する接続コネク
タlOと接続コネクタから伝送される情報をホストコン
ピュータに転送するカードリーダライタとの間に、IC
カード50の異常を検出する異常検出装置20が設けら
れている。
In FIG. 2, the IC
An abnormality detection device 20 for detecting an abnormality in the card 50 is provided.

接続コネクタ10およびカードリーダライタ30は従来
より公知のものを使用すればよい。
As the connection connector 10 and the card reader/writer 30, conventionally known ones may be used.

次に、異常検出装置20の構成を次に説明する。Next, the configuration of the abnormality detection device 20 will be explained below.

異常検出装着20において、カードリーダライタ30の
電源からICカード50に対して電圧を供給する電源供
給線1にiM電流検出回路21が設けられている。検出
手段300としての′JIi電流検出回路21は第3図
に示すように、トランジスタ21−1のスイッチング機
能を用いて、電源供給線1に所定レベル以上の電流が流
れたときにオン(レベル”し”)する回路などが知られ
ており、過電流の検出レベルに応じた過電流検出回路を
用いればよい。
In the abnormality detection installation 20, an iM current detection circuit 21 is provided on the power supply line 1 that supplies voltage from the power supply of the card reader/writer 30 to the IC card 50. As shown in FIG. 3, the JIi current detection circuit 21 serving as the detection means 300 uses the switching function of the transistor 21-1 to turn on (level " There are known circuits that do this, and it is sufficient to use an overcurrent detection circuit that corresponds to the overcurrent detection level.

本発明の第1形態はICカード50内のICチップにひ
び割れが生じると、ICチップに対する供給電流が増大
するという性質に着目し、ICカード50に対する供給
電流を監視し、ICカード50内のICデツプのひび割
れを検出し、その警告を発することを可能とするもので
ある。
The first embodiment of the present invention focuses on the property that when the IC chip in the IC card 50 is cracked, the current supplied to the IC chip increases, and the current supplied to the IC card 50 is monitored, and the IC chip in the IC card 50 is This makes it possible to detect cracks in the depth and issue a warning.

本発明の第1形態においてはこの通電検出回路21をカ
ードリーダライタ30とICカード5oとの間に設けて
いるが、過電流検出回路21および、検出結果に応じて
警告を発するブザーなどをICカード5゜内に設けても
よい。
In the first embodiment of the present invention, this energization detection circuit 21 is provided between the card reader/writer 30 and the IC card 5o, but the overcurrent detection circuit 21 and a buzzer that issues a warning depending on the detection result are connected to the IC. It may be provided within 5 degrees of the card.

第2図に戻り、過電流検出回路21の過電流検出信号は
中央演算処理装置(CPtl)22の割り込み端子に人
力されている。CPt122が警告手段500、動作確
認手段600、読み出し手段700に相当する。このA
電流検出信号の割り込み入力に応じて、CPt122は
第5図に示す制御手順を実行し、ICカード50の記憶
情報が正常か異常かを確認し、この確認結果に応じて、
記憶情報のバックアップを行ったり、ICカード50の
異常をホストコンピュータに知らせる処理を行う。
Returning to FIG. 2, the overcurrent detection signal of the overcurrent detection circuit 21 is inputted to the interrupt terminal of the central processing unit (CPtl) 22. The CPt 122 corresponds to the warning means 500, the operation confirmation means 600, and the reading means 700. This A
In response to the interrupt input of the current detection signal, the CPt 122 executes the control procedure shown in FIG.
It performs processing such as backing up stored information and notifying the host computer of an abnormality in the IC card 50.

このため、に、CPU22にはカードリーダライタ30
およびICカード50の接続コネクタとの間で授受され
る信号が入力されている。
For this reason, the CPU 22 includes a card reader/writer 30.
A signal exchanged between the IC card 50 and the connector of the IC card 50 is input.

また、CPt122が実行する制御手順や、ICカード
50かうその記憶情報をバックアップした(読み出した
)情報をそれぞれ格納する、プログラムメモリ24およ
び記憶手段800としてのバックアップメモリ23をC
Pt122 と接続している。
In addition, a program memory 24 and a backup memory 23 as a storage means 800 are used to store control procedures executed by the CPt 122 and information obtained by backing up (reading) the storage information of the IC card 50.
Connected to Pt122.

本発明の第2形態においては、過電流検出回路21によ
りICカード50のICチップのひび割れを検出スルト
、次1.:cP1122がICカー)’50内(7) 
EEpH0M53ノ記憶内容を確認し、記憶内容が正常
のときはバックアップメモリ23に記憶内容を転送する
。また記憶内容が異常であるときはホストコンピュータ
に対してその旨の警告メツセージを送出する。
In the second embodiment of the present invention, the overcurrent detection circuit 21 detects a crack in the IC chip of the IC card 50; :cP1122 is an IC car) '50 (7)
The stored contents of the EEpH0M53 are confirmed, and if the stored contents are normal, the stored contents are transferred to the backup memory 23. Also, if the stored contents are abnormal, a warning message to that effect is sent to the host computer.

次に、 ICチップにひび割れが生じたときに供給電流
が増大する理由について第4図を参照して説明する。
Next, the reason why the supplied current increases when a crack occurs in the IC chip will be explained with reference to FIG.

第4図において、RIOはICチップが正常時のIC回
路の内部抵抗を示す、また120はICチップのひび割
れにより生じる漏洩電流120の外部抵抗を示す。
In FIG. 4, RIO indicates the internal resistance of the IC circuit when the IC chip is normal, and 120 indicates the external resistance of leakage current 120 caused by cracks in the IC chip.

VはICチップに対する電源である。ICチップが正常
時には、ICチップをシールしているシール剤の外部抵
抗が非常に大きいので、漏洩電流120も発生しない。
V is the power supply for the IC chip. When the IC chip is normal, the leakage current 120 does not occur because the external resistance of the sealant sealing the IC chip is very large.

けれどもICチップにひび割れが生じるとこのひび割れ
から供給電流゛の一部が洩れ出すし、IC回路が一種の
短路接地の状態となる。このときの外部抵抗の値は非常
に小さいので、一定の電圧下では漏洩電流120が、I
C回路内を流れる電流110よりも非常に大きくなる。
However, if a crack occurs in the IC chip, a portion of the supplied current will leak through the crack, and the IC circuit will become a kind of short-circuit ground. Since the value of the external resistance at this time is very small, under a constant voltage the leakage current 120 is
This is much larger than the current 110 flowing in the C circuit.

この結果、電源の供給電流が増大する。As a result, the supply current of the power supply increases.

次に、第5図に示すフローチャートを参照して異常検出
装置20の動作を説明する。
Next, the operation of the abnormality detection device 20 will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.

過電流検出回路21が電源31からの供給電流が正常状
態であると確認している間は、CPU22は48号バス
を介してカードリーダライタ3oとICカード5゜との
間で授受する情報を転送する。
While the overcurrent detection circuit 21 confirms that the current supplied from the power supply 31 is in a normal state, the CPU 22 transmits and receives information between the card reader/writer 3o and the IC card 5° via the No. 48 bus. Forward.

過電流検出回路2Iが電源供給源1に流れる過電流を検
出すると、その検出信号によりCPt122は第5図に
示す制御手順を実行する。第5図において、ICカード
50に対して、CPU22は読み出し命令を送信し、所
定の情報を読み出す(ステップ51) 、ICカード5
0にはパリティ符号を付加した一般情報が記憶されてい
るものとする。なお、符号ヂエックを行なわない方式の
ICカードでは予めビットの値を定め、このビット値を
ICカードの特定の領域に記憶しておけばよい。
When the overcurrent detection circuit 2I detects an overcurrent flowing through the power supply source 1, the detection signal causes the CPt 122 to execute the control procedure shown in FIG. In FIG. 5, the CPU 22 sends a read command to the IC card 50 and reads out predetermined information (step 51).
It is assumed that general information to which a parity code is added is stored in 0. In the case of an IC card that does not perform code checking, bit values may be determined in advance and stored in a specific area of the IC card.

CPt122はIcカード50が送信してきた読み出し
情報が正常であるか否かを判定する。パリティ方式のI
Cカード50においてはパリデイ符号を確認し、特定情
報を記憶しておくICカード50においては特定情報が
予め定めたコード形態であることを確認することで、読
み出し情報が正常であること、換言すればICカード5
0が正常に機能することを確認する・(ステップS2)
The CPt 122 determines whether the read information sent by the IC card 50 is normal. Parity method I
In the C card 50, the pariday code is confirmed, and in the IC card 50 that stores specific information, by confirming that the specific information is in a predetermined code format, it is possible to confirm that the read information is normal. IC card 5
Confirm that 0 functions normally (Step S2)
.

CPU22がICカード50は正常であると判定したと
きには、次に、ICカード50の全ての一般情報の読み
出しを実行する旨の指示をCPU22からICカード5
0に対して送信する。また、(:PU22はICカード
50が読み出す情報を受信し、バックアップメモリ23
に記憶する(ステップS3) 、 ICカード50から
全ての一般情報を読み出すと、CPU22はICカード
50の情報のバックアップ終了および、ICカード50
が異常である旨のメツセージをホストコンピュータに送
信して本制御手順を終了する。
When the CPU 22 determines that the IC card 50 is normal, the CPU 22 instructs the IC card 50 to read all general information from the IC card 50.
Send to 0. In addition, (:PU22 receives information read by IC card 50, and
(Step S3) After reading all the general information from the IC card 50, the CPU 22 finishes backing up the information on the IC card 50 and stores the information on the IC card 50.
A message indicating that there is an abnormality is sent to the host computer, and this control procedure ends.

また、ICカード50が動作不能状態となっていること
は、ステップS2の判定処理において検出されるので、
この場合はICカード50の記憶情報のバックアップ処
理を実行せず、ICカード50が異常である旨のメツセ
ージをホストコンピュータに送信して本制御手順を終了
する。
Furthermore, since it is detected in the determination process of step S2 that the IC card 50 is in an inoperable state,
In this case, a message indicating that the IC card 50 is abnormal is sent to the host computer without executing the backup process of the information stored in the IC card 50, and this control procedure ends.

次に、本発明の応用形態として、ICカードのひび割れ
の検出精度を高める方法について述べる。
Next, as an application of the present invention, a method for improving the accuracy of detecting cracks in IC cards will be described.

ICチップにCMO5型のICが使用している場合には
ICチップが作動している状態と、電源は供給されてい
るが非動作状態、例えばリセットおよびクロックをかけ
る以前の状態のときとでは、消費電流において数十倍か
ら数百倍の差が生じる。このことに着目して、カードリ
ーダライタ30がICカード50のCPt152に対し
て起動を指示するために送信するリセット信号のレベル
を異常検出装置20の(:Pt122において監視し、
このリセット信号およびクロック(3号が発生している
状態のときに電源供給線1に過電流が流れているか否か
を確認すると正常時は供給電流が少く、異常時の供給電
流は大きいので、ICチップのひび割れ検出精度が高ま
る。
When a CMO5 type IC is used as an IC chip, the IC chip is in an operating state and in a non-operating state although power is being supplied, for example, before a reset and a clock are applied. There is a difference of several tens to hundreds of times in current consumption. Focusing on this, the level of the reset signal that the card reader/writer 30 transmits to the CPt 152 of the IC card 50 to instruct activation is monitored at the (:Pt 122 of the abnormality detection device 20,
When this reset signal and clock (No. 3) are being generated, if you check whether overcurrent is flowing in the power supply line 1, the supplied current is small in normal conditions, and large in abnormal conditions. Improves the accuracy of detecting cracks in IC chips.

また、本実施例の利用形態としては次のことが考えられ
る。
Further, the following may be considered as a usage form of this embodiment.

ホストコンピュータにおいて受信した警告メツセージを
表示装置に表示させて、ICカード所有者およびICカ
ード発行会社の担当者に認知させ、ひび割れの生じたI
Cカードの回収処理を行う、さらに、°異常検出装置2
0のバックアップメモリ23からバックアップアップ情
報を読み出し、新規ICカードに転送して、仮ICカー
ドの発行を行って後日正規のICカードの発行を行なっ
てもよい、または客にひび割れの生じたカードが使えな
いことを通知し、カードを回収する等の処理を行なって
もよい、この時ICカードを、それ以上割れ等が大きく
ならないように保管し、読み出して問題のないデータに
ついては読み出せばよい。つまり暗証番号等は読み出す
必要はない、バックアップしである情報が公知の機密方
法により外部にもれないように設定されていることはい
うまでもない、またICカードの内容を読み出せない場
合にはそのことをICカードの所有者に伝える。このと
き、システム内にこのICカードのバックアップ情報を
記憶している場合はこのバックアップ情報を用いたIC
カードの再発行の手続きを行な〕てもらうことになる。
The warning message received by the host computer is displayed on the display device so that the IC card owner and the person in charge of the IC card issuing company are aware of it.
An abnormality detection device 2 that performs the collection process of the C card.
You can read the backup information from the backup memory 23 of 0, transfer it to a new IC card, issue a temporary IC card, and then issue a regular IC card at a later date, or if the customer has a cracked card. You may notify the IC card that it cannot be used and take other measures such as collecting the card. At this time, you can store the IC card to prevent further cracks and read out any data that does not cause any problems. . In other words, there is no need to read out the PIN number, etc., and it goes without saying that the information is backed up and set up using a publicly known confidential method to prevent it from leaking.Also, if the contents of the IC card cannot be read out, informs the IC card owner of this fact. At this time, if the system stores backup information for this IC card, the IC card using this backup information
You will have to go through the procedures to have your card reissued.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、説明したように、本発明の第1形態によれば、I
Cカードが動作不能となる前にICカードの異常の前兆
を検出することができるので、ICカードの記憶情報を
バックアップすることが可能となり、また、ICカード
の破損から生じる誤情報の伝送や、ホストコンピュータ
の停止などのトラブルを未然に固止することが可能とな
る。
As explained above, according to the first embodiment of the present invention, I
It is possible to detect signs of abnormality in the IC card before the C card becomes inoperable, making it possible to back up the information stored in the IC card, and to prevent the transmission of erroneous information caused by damage to the IC card. This makes it possible to prevent problems such as host computer shutdown.

本発明の第2形態においては、第1形態に加え、ICカ
ードのチップ割れを検出すると、但ちに、ICカードが
正常に機能することを確認し、ICカードの記憶情報を
一時記憶しておくので、異常が生じ始めているICカー
ドの記憶内容を確実にバックアップすることが可能とな
り、ICカードの記録保持に対する偏傾性を高めること
ができるという効果が得られる。
In the second embodiment of the present invention, in addition to the first embodiment, when a cracked chip of an IC card is detected, it is confirmed that the IC card functions normally, and the memory information of the IC card is temporarily stored. Therefore, it becomes possible to reliably back up the memory contents of an IC card where an abnormality has started to occur, and it is possible to obtain the effect that the inclination towards recording retention of the IC card can be increased.

なお、上述した実施例では、電源線における電源からの
給電状態を検出するのに、電源線を流れる電流を検出す
るようにしたが、本発明はこの例に限られず、たとえば
、電源線が一定の電流を流す場合には電圧を検出するよ
うにしてもよいこと勿論である。
In addition, in the above-mentioned embodiment, the current flowing through the power line is detected to detect the power supply state from the power source in the power line, but the present invention is not limited to this example. Of course, when a current of 1 is caused to flow, the voltage may be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明実施例の基本構成を示すプロッり図、 第2図は本発明実施例の具体的な構成を示す回路図、 第3図は第1図に示す過電流検出回路21の構成例を示
す回路図、 第4図は本発明実施例の動作原理を示す回路図、 第5図は第1図に示すCPt122が実行する制御手順
を示すフローチャート、 第6図は従来のICカードの構成を示すブロック図であ
る。 lO・・・接続コネクタ、 20・・・異常検出装置、 21・・・過電流検出回路、 22・CPU 。 30・・・カードリーダライタ、 50・・・ICカード。 、i−発明1aイウ1」のフローチで一ト第51コ 501Cカード りゑ粂のICカートのフロ・・77図 第6図
FIG. 1 is a plot diagram showing the basic configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific configuration of the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram of the overcurrent detection circuit 21 shown in FIG. A circuit diagram showing a configuration example, FIG. 4 is a circuit diagram showing the operating principle of the embodiment of the present invention, FIG. 5 is a flowchart showing the control procedure executed by the CPt122 shown in FIG. 1, and FIG. 6 is a conventional IC card. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of FIG. lO...connection connector, 20...abnormality detection device, 21...overcurrent detection circuit, 22.CPU. 30...Card reader/writer, 50...IC card. , i-Invention 1a Iu 1'' flowchart, 51st page, 501C card, IC cart flow chart...77 Figure 6

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1) ICカード内のICチップに作動電圧を供給す
る電源線と結合され、該電源線における給電状態を検出
する手段と、 その検出量が予め定められた大きさを越えたか否かを判
断する手段と、 該手段の判断結果に応じて前記ICチップに異常がある
旨の警告を行う警告手段と を具えたことを特徴とするICカードの異常検出装置。
(1) A means that is connected to a power line that supplies operating voltage to the IC chip in the IC card and detects the power supply state in the power line, and determines whether the detected amount exceeds a predetermined value. An abnormality detection device for an IC card, comprising: means for detecting an abnormality in the IC chip; and a warning means for issuing a warning that there is an abnormality in the IC chip in accordance with a determination result of the means.
(2) ICカード内のICチップに作動電圧を供給す
る電源線と結合され、該電源線における給電状態を検出
する手段と、 その検出量が予め定められた大きさを越えたか否かを判
断する手段と、 該手段の判断結果に応じて前記ICチップに異常がある
旨の警告を行う警告手段と、 前記検出手段の検出結果に応じ、前記ICカードに記憶
された所定の情報を読み出し、当該読み出された情報に
ついての正誤の判断を行い、前記ICカードが正常に動
作しているか否かを確認する動作確認手段と、 該動作確認手段の確認結果に応じて前記ICカードの全
ての情報を読み出す読み出し手段と、当該読み出された
前記全ての情報を記憶する記憶手段と を具えたことを特徴とするICカードの異常検出装置。
(2) means that is connected to a power line that supplies operating voltage to the IC chip in the IC card and detects the state of power supply in the power line; and determines whether the detected amount exceeds a predetermined value. a warning means for issuing a warning that there is an abnormality in the IC chip according to the determination result of the means; reading predetermined information stored in the IC card according to the detection result of the detection means; an operation confirmation means for determining whether the read information is correct or not and confirming whether or not the IC card is operating normally; An abnormality detection device for an IC card, comprising: reading means for reading out information; and storage means for storing all the read information.
JP63074611A 1988-03-30 1988-03-30 Abnormality detector for ic card Pending JPH01248289A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6686750B2 (en) * 1998-10-30 2004-02-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device and IC card

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6686750B2 (en) * 1998-10-30 2004-02-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device and IC card

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