JPH01236596A - Manufacture of thin film el panel - Google Patents
Manufacture of thin film el panelInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産j41−の主1り1厨−
本発明は文字、図形等の情報をドツトマトリックス表示
する薄膜ELデイスプレィパネルの製造方法に関するも
のである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a thin film EL display panel that displays information such as characters and graphics in a dot matrix.
匡皮Δ皮断
例えば薄ff1ELマトリクス型デイスプレィパネルの
構造例を第2図を参照しながら説明する。尚、第2図の
右半分はX方向の断面図、左半分はX方向と直向するY
方向の断面図である。第2図において、1は透光性基板
であるガラス基板、2はこのガラス基板1上に形成され
たマトリクス型薄膜EL素子である。An example of the structure of a thin FF1EL matrix type display panel will be described with reference to FIG. 2. The right half of Figure 2 is a cross-sectional view in the X direction, and the left half is a cross-sectional view in the Y direction perpendicular to the X direction.
It is a sectional view of the direction. In FIG. 2, 1 is a glass substrate which is a transparent substrate, and 2 is a matrix type thin film EL element formed on this glass substrate 1. In FIG.
この薄膜EL素子2における3は上記ガラス基板1上に
lT、0.を蒸着法によりY方向を長手方向にX方向に
定ピツチで多数のストライプ状に形成した透明電極グ、
4は透明電極及4びガラス基板1上に、Alzo3やY
2O3等を蒸着又はスパッタ法で形成した透明な第1の
絶縁層、5はこの第1の絶縁層4上にZnS:Mn等を
蒸着法等で形成した発光層、6はこの発光層5上にAλ
z OsやY2O3等を蒸着又はスパッタ法により形成
した透明な第2の絶縁層、7は第2の絶縁層上にX方向
を長手方向にY方向に定ピツチで多数のストライプ4K
に形成したAl1蒸着膜による背面電極である。尚、こ
の背面電極7はフォトリソグラフィーのリフトオフ法、
又は酸ウェットエツチング法によりストライプ状に形成
される。8は前記ガラス基板1上に接着剤9を介して固
着して薄膜EL素子2を気密封止する逆皿状のカバーガ
ラスで、上記ガラス基板1とでもって外囲器10を構成
する。11は、薄膜EL素子2の耐湿性を向上させるた
め、外囲器10の内部に充填されたシリコンオイル等の
絶縁性保護流体で、カバーガラス8の一部に形成された
透孔12から注入され、この注入後、上記透孔12を蓋
板13で閉塞する(特開昭57−7088号公報)。3 in this thin film EL element 2 is placed on the glass substrate 1 at lT, 0. A transparent electrode group formed in a large number of stripes with a constant pitch in the Y direction in the longitudinal direction and in the X direction by a vapor deposition method,
4 has Alzo3 or Y on the transparent electrode 4 and the glass substrate 1.
A transparent first insulating layer made of 2O3 or the like by vapor deposition or sputtering; 5 is a light emitting layer made of ZnS:Mn or the like formed by vapor deposition on the first insulating layer 4; 6 is a light emitting layer on this light emitting layer 5; Aλ to
z A transparent second insulating layer formed of Os, Y2O3, etc. by vapor deposition or sputtering, 7 is a large number of stripes 4K formed on the second insulating layer with the X direction in the longitudinal direction and the Y direction at a constant pitch.
This is a back electrode made of an Al1 vapor-deposited film formed on the substrate. Note that this back electrode 7 is formed by photolithographic lift-off method,
Alternatively, it is formed into a stripe shape by acid wet etching. Reference numeral 8 denotes an inverted dish-shaped cover glass which is fixed onto the glass substrate 1 via an adhesive 9 to hermetically seal the thin film EL element 2, and together with the glass substrate 1 constitutes an envelope 10. Reference numeral 11 denotes an insulating protective fluid such as silicone oil filled inside the envelope 10 in order to improve the moisture resistance of the thin film EL element 2, and is injected through a through hole 12 formed in a part of the cover glass 8. After this injection, the through hole 12 is closed with a cover plate 13 (Japanese Patent Laid-Open No. 57-7088).
この薄膜ELマトリクス型デイスプレィパネルでは、透
明電極3と背面電極7が第3図に示すようにマトリクス
状に交差して多数のマトリクス状の画素mm・・・を形
成する。この透明電極3と背面3.7の延設端部3a、
7a間に駆動電圧を選択的に印加すると、画電極3,7
が交差した発光層5の画素部分が選択的に発光して所望
の情報のドツトマトリクス表示が行われる。In this thin film EL matrix type display panel, the transparent electrode 3 and the back electrode 7 intersect in a matrix as shown in FIG. 3 to form a large number of matrix pixels mm. This transparent electrode 3 and the extending end 3a of the back surface 3.7,
When a driving voltage is selectively applied between the picture electrodes 3 and 7a,
The pixel portions of the light emitting layer 5 where the dots intersect selectively emit light to display desired information in a dot matrix.
日の “ ′ ;
ところで、上記薄膜EL素子2の背面電極7を形成する
時、従来では、フォトリソグラフィーのりフトオフ法又
は酸ウェットエツチング法を用いていたが、フォトリソ
グラフィーのリフトオフ法の場合は、フォトリソグラフ
ィーの後、背面電極7である紅を蒸着法等により、積層
するため、AI膜形成時の温度範囲が狭<、AQ膜の付
着力が低下して絶縁破壊を起こしやすく、これにより表
示品質が低下するという問題点があった。フォトリソグ
ラフィーの酸ウェットエツチング法の場合、異物や第2
の絶縁層6と背面電極7であるA9膜にピンホールが発
生したとき、酸ウェットエツチング時に発光層5である
ZnS : Mn等が溶解してしまい、絶縁破壊をおこ
しやすく、これにより表示品質が低下するという問題点
があった。By the way, when forming the back electrode 7 of the thin film EL element 2, conventionally, a photolithography lift-off method or an acid wet etching method has been used. After lithography, the back electrode 7 is layered by vapor deposition, so the temperature range during AI film formation is narrow, the adhesion of the AQ film is reduced, and dielectric breakdown is likely to occur, resulting in poor display quality. In the case of photolithography's acid wet etching method, foreign matter and secondary
When pinholes occur in the A9 film that is the insulating layer 6 and the back electrode 7, the ZnS:Mn, etc. that are the light emitting layer 5 are dissolved during acid wet etching, easily causing dielectric breakdown, which deteriorates display quality. There was a problem with the decline.
そこで上記問題点を解決する手段として、前記背面電極
7であるAQをフォトリングラフイーのアルカリウェッ
トエツチング法によりストライプ上に形成する方法があ
る。これは、背面電極7である脛を蒸着法等により積層
して、フォトリソグラフィーをおこない、アルカリウェ
ットエツチングをするもので、これにより、Afl膜の
付着力を低下させずに、かつ発光層5であるZnS :
Mn等を溶解しにく(することにより、表示品質を向
上させることができる。Therefore, as a means to solve the above-mentioned problems, there is a method in which the back electrode 7, ie, AQ, is formed in stripes by an alkali wet etching method of photophosphorography. In this method, the back electrode 7 is laminated by a vapor deposition method, photolithography is performed, and alkali wet etching is performed.This allows the light-emitting layer 5 to be formed without reducing the adhesion of the Afl film. Some ZnS:
Display quality can be improved by making it difficult to dissolve Mn and the like.
ところが、背面電極7であるAflと透明電極3である
1、T、O,が直接積層されると、アルカリウェットエ
ツチングを行なう際に、その積層部分の全てにおいて1
.T、O,とA2が必ず黒色化して劣化し、ストライプ
状1.T、o、膜の断線が起こり、これにより表示品質
が大幅に低下するという問題点があった。However, when Afl, which is the back electrode 7, and 1, T, and O, which are the transparent electrodes 3, are directly laminated, when performing alkaline wet etching, all of the laminated parts are 1
.. T, O, and A2 always turn black and deteriorate, forming a striped pattern. There was a problem in that the T, O, film was disconnected, which significantly reduced the display quality.
二 −の
本発明は前記課題に鑑みて提案されたもので、上記課題
を解決するための技術的手段は、背面電極であるAQ、
をフォトリソグラフィーのアルカリウェットエツチング
法によりストライプ状に形成する際、蚊膜積層部の下地
が酸化物からなる透明電極を避けた構造とするものであ
る。The present invention (2) was proposed in view of the above-mentioned problems, and technical means for solving the above-mentioned problems are as follows:
When it is formed into a stripe shape using an alkali wet etching method of photolithography, the structure is such that the underlying layer of the mosquito membrane layer avoids a transparent electrode made of an oxide.
1皿
本発明に係る薄膜ELパネルによれば、背面電極である
A2をフォトリソグラフィーのアルカリウェットエツチ
ング法により形成し、かつ、その人2膜積層部の下地が
酸化物からなる透明電極を避けた構造とすることで、絶
縁破壊をおこりに<<シ、かつ、酸化物からなる透明電
極とA9.からなる背面電極との劣化を防止し、表示品
質が向上できる。According to the thin film EL panel according to the present invention, the back electrode A2 is formed by the alkaline wet etching method of photolithography, and the base of the two-layer laminated part avoids a transparent electrode made of an oxide. The structure prevents dielectric breakdown from occurring, and the transparent electrode made of oxide and A9. The display quality can be improved by preventing deterioration of the back electrode.
支五肚
本発明に係る薄膜ELパネルの製造方法の一実施例を第
1図を参照しながら、説明する。尚、第1図aは 平面
図、bはX方向の一部拡大断面図である。第1図におい
て、14は透光性基板であるガラス基板、15はこのガ
ラス基板14上に形成された薄膜EL素子である。この
薄膜EL素子15における16は上記ガラス基板14上
に1.7.0 、等を蒸着法等によりY方向を長手方向
X方向に定ピツチで多数のストライプ状に形成した透明
電極、17は透明電極16及びガラス基板14上にAc
2o3やY2O3等を蒸着又はスパッタ法で形成した透
明な第1の絶縁層、18はこの第1の絶縁層17上にZ
nS:Mn等を蒸着法等で形成した発光層、19はこの
発光層18上にkfLz OsやY2O3等を蒸着又は
スパッタ法により形成した透明な第2の絶縁層、20は
この第2の絶縁層19上にA9.を蒸着法等で積層し、
フォトリソグラフィーのアルカリウェットエツチング法
によりX方向を長平方向にX方向に定ピツチで多数のス
トライプ状に形成した背面電極である。尚、この背面電
極20はフォトリソグラフィーのアルカリウェットエツ
チング法で形成することにより、λσ膜の付着力を低下
させず、かつ、ZnS:Mn等を溶解しにく(すること
で表示品質が向上する。又、第1図aに示した背面電極
の積層部21の範囲にAllを積層することにより、透
明電極16である1、T、O,と紋とが直接積層される
ことを避ける構造となっており、これにより、透明電極
16であるI 、T 、0 、と背面電極20であるA
9の黒色劣化は全く生じず、1.T、O,からなる透明
電極16の断線が起こらず表示品質が向上した。An embodiment of the method for manufacturing a thin film EL panel according to the present invention will be described with reference to FIG. Note that FIG. 1a is a plan view, and FIG. 1b is a partially enlarged sectional view in the X direction. In FIG. 1, 14 is a glass substrate which is a light-transmitting substrate, and 15 is a thin film EL element formed on this glass substrate 14. In this thin film EL element 15, 16 is a transparent electrode formed on the glass substrate 14 in the form of a large number of stripes of 1.7. Ac on the electrode 16 and glass substrate 14
A transparent first insulating layer 18 formed of 2O3, Y2O3, etc. by vapor deposition or sputtering is formed on this first insulating layer 17.
nS: a light emitting layer formed of Mn or the like by vapor deposition, 19 a transparent second insulating layer formed of kfLzOs, Y2O3, etc. by vapor deposition or sputtering on this light emitting layer 18, 20 this second insulating layer A9 on layer 19. Laminated by vapor deposition method etc.
The back electrode is formed into a large number of stripes at regular pitches in the X direction, with the X direction being an elongated plane, using an alkali wet etching method of photolithography. This back electrode 20 is formed by photolithographic alkali wet etching method, so that it does not reduce the adhesion of the λσ film and does not dissolve ZnS:Mn etc. (this improves display quality). In addition, by laminating All in the range of the laminated portion 21 of the back electrode shown in FIG. As a result, I , T , 0 which is the transparent electrode 16 and A which is the back electrode 20
No black deterioration of 9 occurred at all, and 1. The display quality was improved without disconnection of the transparent electrode 16 made of T and O.
尚、背面電極20であるAtの延設端部は、第1図すに
示したように、X方向に沿って延設され、X方向に定ピ
ンチに配設された背面電極側の端子部22に跨がって重
畳きれ、従来と同様に、薄膜EL素子15の電極外部引
出し用のフレキシブルリードでプラスチックフィルムに
銅箔等の外部リードを多数被着形成した外部リードと前
記背面電極側の端子部22が半田にて電気的及び機械的
に接続される。この場合、端子部22は透光性基板であ
るガラス基板14上に下層部22aとしてT1を、中間
層部22bとしてAtを、上層部22cとしてN1を蒸
着等で順次積層形成したものであり、これにより、背面
電極20であるAl1は1.T、O,と直接積層される
ことなく外部リードに取り出せ、Aすの黒色劣化が起こ
らず、背面電極20の信頼性が向上した。Incidentally, as shown in FIG. 1, the extending end of At, which is the back electrode 20, extends along the X direction, and is a terminal portion on the back electrode side arranged at a certain pinch in the X direction. 22, and as in the conventional case, a flexible lead for leading out the electrodes of the thin film EL element 15 is formed by adhering a large number of external leads such as copper foil to a plastic film, and an external lead on the back electrode side. The terminal portion 22 is electrically and mechanically connected by solder. In this case, the terminal portion 22 is formed by sequentially laminating T1 as the lower layer 22a, At as the intermediate layer 22b, and N1 as the upper layer 22c by vapor deposition or the like on the glass substrate 14, which is a transparent substrate. As a result, Al1, which is the back electrode 20, is 1. It can be taken out to the external lead without being directly laminated with T, O, etc., and the black color of A is not deteriorated, and the reliability of the back electrode 20 is improved.
尚、上記実施例では、背面電極酉の端子部22は下層部
22aとしてTIを、中間層部22bとしてAQを、上
層部22cとしてN1蒸着法等で順次積層形成したもの
であるが、背面電極20であるAIと直接積層される端
子部22の上層部22cが■。In the above embodiment, the back electrode terminal portion 22 is formed by sequentially laminating TI as the lower layer 22a, AQ as the intermediate layer 22b, and N1 evaporation method as the upper layer 22c. The upper layer part 22c of the terminal part 22 which is directly laminated with AI 20 is .
T、0.を避ける構造であればよく、例えば、端子部2
2を2履構造として、まず、透光性基板であるガラス基
板14上にI 、T 、0 、を蒸着法等で形成し、こ
の上にN1をメツキ等で1.T、O,を覆うように形成
してもよい。T, 0. For example, the terminal part 2 may have a structure that avoids
2 is made into a two-socket structure, first, I , T , and 0 are formed on the glass substrate 14, which is a transparent substrate, by vapor deposition or the like, and then N1 is formed on this by plating or the like. It may be formed to cover T and O.
発lEと仇里−
本発明に係る薄膜ELパネルの製造方法によれば、背面
電極であるA&をフォトリソグラフィーのアルカリウェ
ットエツチング等で形成することで、All膜の付着力
を低下させず、かつZnS : Mn等を溶解しに<(
シ、これにより表示品質が向上し、背面電極であるAl
lと直接積層される下地が酸化物からなる透明電極を避
けた構造であることにより、Atと酸化物からなる透明
電極の劣化を防止し、表示品質が向上する。IE and Yuri - According to the method of manufacturing a thin film EL panel according to the present invention, the back electrode A& is formed by alkaline wet etching of photolithography, etc., so that the adhesion of the All film is not reduced, and ZnS: To dissolve Mn etc.
This improves the display quality and makes it possible to improve the display quality.
By avoiding the use of a transparent electrode made of an oxide as the base directly laminated with the oxide, deterioration of the transparent electrode made of At and oxide is prevented, and display quality is improved.
第1図aは本発明の製造方法について説明するための薄
膜ELパネルの一実施例を示す平面部、第1図すはX方
向の一部拡大断面図である。
第2図は従来の薄膜ELパネルの構造例を示す断面図で
、右半分はX方向の断面図、左半分はX方向の断面図で
ある。
第3図は薄1iELパネルでの画素部分を示す部分拡大
平面図である。
14・・・透光性基板(ガラス基板)、15・・・薄膜
EL素子、
16・・・透明電極、
17・・・第1絶縁層、
18・・・発光層、
19・・・第2の絶縁層、
20・・・背面電極、
21・・・背面電極の積層部、
22・・・背面電極側の端子部。
X−−一一−−−−−−−−−X
X X
m 2 図
第 3r51JFIG. 1A is a plan view showing an embodiment of a thin film EL panel for explaining the manufacturing method of the present invention, and FIG. 1 is a partially enlarged sectional view in the X direction. FIG. 2 is a sectional view showing an example of the structure of a conventional thin film EL panel, with the right half being a sectional view in the X direction, and the left half being a sectional view in the X direction. FIG. 3 is a partially enlarged plan view showing a pixel portion in a thin 1iEL panel. 14... Transparent substrate (glass substrate), 15... Thin film EL element, 16... Transparent electrode, 17... First insulating layer, 18... Light emitting layer, 19... Second 20... Back electrode, 21... Laminated portion of back electrode, 22... Terminal portion on the back electrode side. X--11-------X X X m 2 Figure 3r51J
Claims (1)
層、発光層、第2の絶縁層、及びストライプ状の背面電
極を順次積層形成してなる薄膜EL素子を有し、前記背
面電極を構成するアルミニウムをフォトリソグラフィー
のアルカリウェットエッチング法によりストライプ状に
形成する薄膜ELパネルの製造方法において、 前記背面電極を構成するアルミニウムと直接積層される
下地が酸化物からなる透明電極を避けた構造とすること
を特徴とする薄膜ELパネルの製造方法。[Claims] A thin film EL device comprising a striped transparent electrode, a first insulating layer, a light-emitting layer, a second insulating layer, and a striped back electrode stacked one after another on a light-transmitting substrate. In the method for manufacturing a thin film EL panel, the aluminum constituting the back electrode is formed into a stripe shape by an alkali wet etching method of photolithography, wherein the base layer directly laminated with the aluminum constituting the back electrode is made of an oxide. A method for manufacturing a thin film EL panel characterized by having a structure that avoids transparent electrodes.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63064204A JPH01236596A (en) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | Manufacture of thin film el panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63064204A JPH01236596A (en) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | Manufacture of thin film el panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01236596A true JPH01236596A (en) | 1989-09-21 |
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ID=13251305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63064204A Pending JPH01236596A (en) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | Manufacture of thin film el panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01236596A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7420325B2 (en) | 2004-05-31 | 2008-09-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device |
-
1988
- 1988-03-16 JP JP63064204A patent/JPH01236596A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7420325B2 (en) | 2004-05-31 | 2008-09-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device |
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