JPH01233345A - 光学式分析計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は光を試料に入射し、その試料の透過光から試
料の吸光度を測定する吸光度分析計や、光を試料に入射
し、その試料から発生した螢光を測定する螢光分析計な
どの光学式分析計に関する。

「従来の技術」 従来のこの種の光学式分析計は第３図に示すように光源
１１からの光はバンドパスフィルタ１２により所望の波
長帯域の光が取出され、その光はハーフミラ−１３で参
照光１４と試料光１５とに分岐され、参照光１４はその
まま参照用受光素子１６に入射される。試料光１５は試
料１７に入射され、試料１７からの透過光は試料用受光
素子１８にて受光される。参照用受光素子１６の出力は
試料用受光素子１８の出力に対する参照信号として用い
られ、例えば試料用受光素子１８の出力と参照用受光素
子１６の出力に対する比が求められる。

この従来の光学式分析計においてはハーフミラ−１３を
用いるため、各部の配置の自由度が小さい、ハーフミラ
−１３を安定に保持しなければならない、ハーフミラ−
１３をその入射光に対して正しく４５度の関係に保持し
なければならず、そのための調整が厄介である。ハーフ
ミラ−を用いるため形状が大形になり、かつ高価なもの
となる。複数の試料光を用いる多チヤネルシステムには
適さない。

［課題を解決するための手段」 この発明によれば光源からの光は分岐光ファイバにより
？３（故のチャネルに分岐される。その分岐されたチャ
ネルの１つの光は参照光とされ、他のチャネルの光は試
料光とされる。つまり分岐された１つのチャネルの光は
試料に入射されることなく参照用受光素子に入射され、
分岐された他のチャネルの光は試料に入射され、その試
料からの光が試料用受光素子に入射される。参照用受光
素子の出力が試料用受光素子の出力に対する参照信号と
される。

このように、分岐光ファイバを用いるため光ファイバの
可撓性により光路を自由に設定でき機構上の自由度が大
きく、照射点を受光点の近くに設定することができ、不
要光の影響を少なくすることができ、分岐数を増加する
ことにより、多チヤネルシステムに容易に応用すること
ができる。

［実施例」 第１図にこの発明の実施例を示す、光源１１からの光は
必要に応してバントパスフィルタ１２に通され、そのバ
ンドパスフィルタ１２からの光は分岐光ファイバ２１の
収束端に入射される０分岐光ファイバ２１では入射され
た光を二つのチャネルに分岐し、分岐端２２゜、２２．
より参照光１４と試料光１５とが出射される。参照光１
４は試料に入射されることなく、そのまま参照用受光素
子１６に入射され、試料光１５は試料１７に入射され、
試料１７の透過光が試料用受光素子１８に入射される。

参照用受光素子１６の出力が試料用受光素子１８の出力
に対する参照信号として用いられる。

第２図はこの発明の他の実施例を示し、特開昭６３−８
５３７号明細書に示した多チヤネルシステムに適用した
場合である。光源１１としてハロゲンランプが用いられ
、ハロゲンランプ１１からの光は赤外カットフィルタ２
３で赤外領域が遮断され、バンドパスフィルタ２４によ
り特定の波長帯域が取出される。その特定波長の光はレ
ンズ２５により分岐光ファイバ２１の集束端に入射され
る。分岐光ファイバ２１は入射光を９チヤネルに分岐し
、その分岐端２２゜〜２２．に光を出射する。その分岐
端２２゜〜２２．よりの出射光はレンズ群２６の各レン
ズにより集光され、集光された光がスリ７）群２７の各
スリットを通され、不要光が除去され、そのスリットを
通過した光はレンズ群２８の各レンズにより集束されて
マイクロフレート２９の各ウェル３１＋〜３１．内の試
料に入射される。

ただし分岐端２２゜よりの光はウェル内の試料に入射さ
れることなくレンズ群３２のレンズに集束され、ウェル
３１＋　〜３１ｇの透過光もレンズ群３２のレンズで集
束され、分岐端２２ｏよりの光は参照用受光素子１６に
入射さ　れ、その他のウェルを透過した光は試料用受光
素子１８．〜１８ｍに入射される。

受光素子１６．１８．〜ｉ８ｍの各出力は前段増幅器群
３３の各増幅器で増幅され、データセレクタ３４に入力
され、データセレクタ３４ではその入力が順次切替えら
れて取出され、そのデータセレクタ３４の出力は主増幅
器３５で増幅された後、ＡＤ変換器３６でデジタル信号
に変換されて処理制御部３７に取込まれる。処理制御８
部３７はいわゆるマイクロコンピュータであり、参照用
受光素子１６の出力を参照信号として試料用受光素子１
８１〜１８．の各出力を処理し、またデータセレクタ３
４の切替制御、ＡＤ変換器３６の変換制御を行い、更に
、モータコントローラ３８を介してフィルタ切替モータ
３９を制御して、分岐光ファイバ２１に対し特定波長光
を入射したり、その遮断を行ったりし、またプレート駆
動モータ４１を駆動してマイクロプレート２９を紙面と
直角方向に１ウエルずつ移動させ制御を行う、その他の
構成は前記明細書に示した構成と同様である。

なお分岐光ファイバ２１の各分岐端２２゜〜２２、はそ
れぞれ例えば１４本の光ファイバの束となっているが、
これら各１４本が分岐光ファイバ２１の集束端では互に
なるべく均一に混り合って配置され、集束端への光の入
射分布が不均一であっても各分岐端に−様な光が出射さ
れるようにされている。その様子を簡略に示すと例えば
第４図に示す通りである。このようにしても各分岐端の
光が一様にならないため、試料を通さない光を受光して
光のばらつき分を補正するようにする。

上述において試料より発生する螢光を螢光の波長のみを
透過するバンドパスフィルタを通し試料用受光素子で受
光すれば螢光分析計となる。

「発明の効果」 以上述べたようにこの発明によれば分岐光ファイバ２１
が用いられ、分岐光ファイバ２１は可撓性があるため、
光路の設定が自由に行え、機構上の配置が容易となる。

光の照射点は分岐光ファイバ２１の分岐端２２゜〜２２
１となるため、照射点を受光点の近くに設定することが
でき、不要光の影響を少なくすることができる。分岐光
ファイバの分岐数を増加することにより、同一光源から
多くの光を分岐することができ多チヤネルシステムに容
易に適用することができる。ハーフミラ−を用いるもの
でなく、その角度調整を必要とせず、しかも小形にかつ
安価に構成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示す図、第２図はその他の
例を示す図、第３図は従来の光学式分析計を示す図、第
４図は分岐光ファイバ内の光ファイバの分布状態を示す
図である。 特許出願人　　株式会社　光電製作所 東ソー株式会社 代　　　理　　　人　　　草　　　野　　　　　　　卓
オ　１　Ｚ 才　３　図 臭た獅子。 才２　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源よりの光を試料に入射し、その試料からの光
   を分析する光学式分析計において、 上記光源よりの光を複数のチャネルに分岐し、その１つ
   のチャネルを除く他のチャネルの光を試料に入射する分
   岐光ファイバと、 上記試料からの光を受光する試料用受光素子と、上記１
   つのチャネルからの光を試料を介さないで受光する参照
   用受光素子とを備え、 上記参照用受光素子の出力を、上記試料用受光素子の出
   力に対する参照信号とすることを特徴とする光学式分析
   計。