JPH01233308A - 光ディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクの振れや反りなど、光ディスクの
特性を測定する光ディスク検査装置に関するものである
。

さらに詳しくは、クランプタイプの異なる光ディスクを
測定するために、ディスククランプ機構を含むスピンド
ルモータ部を逐次交換するようにした光ディスク検査装
置に関するものである。

〔従来の技術〕

光ディスクには、クランプ部にハブを有するものやそう
でないもの、あるいはハブの形状が異なるものなど、数
種類のクランプタイプのものが実用化されている。

このため、これらの光ディスクの特性を測定するために
は、ディスククランプ機構を測定しようとする光ディス
クにあったものに変更（交換）する必要がある０通常、
ディスククランプｎ横の交換は、スピンドルモータへの
着脱および取付状態の調整などが難しいので、ディスク
クランプｎ横を取り付けた状態でスピンドルモータごと
交換する方法がとられている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、光ディスク検査装置は高い測定精度が要
求されるものであるので、スピンドルモータを交換した
場合には、その都度軸の傾きなどを測定して、取付状態
に応じた校正データを取り、校正テーブルを作りなおさ
なければならない、このような校正データの収集には多
くの時間が必要となり、作業効率が良くない、このため
、スピンドルモータの交換はメーカ側の手によって行な
われることが多く、ユーザ側で手軽にスピンドルモータ
を交換することはできなかった。

本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、スピ
ンドルモータ交換時における校まデータの収集を短時間
で行ない、常に高い測定精度を維持することのできる光
ディスク検査装置を簡単な構成により実現することを目
的としたものである。

〔課題を解決するための手段〕 本発明の光ディスク検査装置は、光ディスクのクランプ
タイプに合わせてそれぞれに専用のディスククランプ機
構が取り付けられた複数のスピンドルモータを有しこれ
らのスピンドルモータを逐次交換して使用するようにし
た光ディスク検査装置において、各スピンドルモータに
ついて正常な取付状態を示す基準取付位置データおよび
この取付状態における校正テーブルを予め記憶しておく
とともに、スピンドルモータの交換時にその取付状態を
測定しこれをそのスピンドルモータに対応した前記基準
取付位置データと比較して所定の許容範囲に入っている
か否かを判別するチェック機能を有し、この判別結果に
応じてそのスピンドルモータに対応した前記校正テーブ
ルを使用して測定動作を行うようにしたものである。

〔作　用〕

このように、複数のスピンドルモータのそれぞれに対し
て、予め正常な取付状態における基準取付位置データと
校正テーブルとを記憶しておき、スピンドルモータ交換
時に、その取付位置を基準データと比較して、所定の許
容範囲に入っているか否かを判別すると、すでに作っで
ある校正テーブルをそのまま利用することができ、短時
間で校正データを得ることができるとともに、高い測定
精度を維持することができる。

〔実施例〕

以下、図面を使用して本発明の光ディスク検査装置を説
明する。

第１図は本発明の光ディスク検査装置におけるチェック
動作の−★施層側示ずフロー図である。

チェック動作はスピンドルモータが交換された際、測定
動作に入る前に行なわれるものである。

ここで、光ディスク検査装置においては、その校正時に
、光ディスクの各クランプタイプに応じた複数のスピン
ドルモータを順次検査装置本体に取り付け、各スピンド
ルモータごとに校正テーブルを作るとともに、これをス
ピンドルモータの種類（例えば、スピンドルＮｏ）に対
応させてメモリに記憶しておく、また、このときのスピ
ンドルモータの取付状態を、例えば、スピンドルの位置
（光ヘッドとの相対位置）、高さ、傾きといった項目で
測定し、これを基準取付位置データとして、前記した校
正テーブルとともにスピンドルＮｏに対応させてメモリ
に記憶しておく。

さて、スピンドルモータ交換時のチェック動作において
は、図中に示すような■〜■の５つのステップでチェッ
クが進められる。まず、■のステップでは、自動または
オペレータの入力操作により、取り付けられたスピンド
ルモータのｉｌ！ｉ（スピンドルＮｏ）を読み取る。

■のステップでは、そのスピンドルモータの取付状態を
測定する。

■のステップでは、■のステップで読み取ったスピンド
ルＮＯに応じて、メモリから対応する基準取付位置デー
タを読み出す。

■のステップでは、■のステップで測定した取付状態を
この基準取付位置データと比較して、これが基準データ
に対して所定の許容範囲に入っているか否かを判別する
。

■のステップでは、この判別結果に応じて“ａＯＯ口”
　、　　”Ｎｏ　　ＧＯＯＤ”を表示する。

“Ｇｏｏｏ“の場合には、そのまま測定を開始すること
ができ、測定値の補正にはスピンドルＮｏに対応した校
正テーブルが使用される。

また、’Ｎｏ　　ＧＯＯＤ″の場合には、スピンドルモ
ータの位置決めが不適当であったり、ネジの締め忘れに
より軸が傾いていることなどが考えられるので、スピン
ドルモータの取付けをやり直し、再度チェック動作を行
なう０通常は取付けを正確にやり直せば、“Ｇｏｏｏ”
の状態になるが、どうしても許容範囲に入らないときに
は、その取付状態を新たな基準として、校正データを収
り直し、校正テーブルを作り直す、また、このとき、基
準取付位置データも更新される。

このように、複数のスピンドルモータに対してそれぞれ
の基準取付位置データを記憶しておき、スピンドルモー
タの交換時に、測定した取付位置をその基準データと比
較して、所定の許容範囲に入っているか否かを判別する
と、スピンドルモータが正確に取り付けられているか否
かを容易に判別することができるとともに、スピンドル
モータを交換した後も、校正時に作成した校正テーブル
を利用することができ、校正動作をやり直すことなく、
高い測定精度を維持することができる。

次に、スピンドルモータにおける取付状態の測定項目に
ついて説明する。

第２図はスピンドルの位置を測定する測定手段の一例を
示す構成図である０図において、１は光ディスク、２は
光ディスク１を支持するディスククランプ機構、３は光
ディスク１を回転させるスピンドルモータ、４１は光デ
ィスク１の記録ｍｉ　４こレーザ光を照射する集光レン
ズ、４はフォーカスサーボおよびトラッキングサーボを
有し、レーザ光の照射位置（焦点位置）を制御するとと
もに、集光レンズ４１の変位量など、各種の測定に利用
する信号を出力する光ヘッド、５は光ヘッド４を光ディ
スク１の半径方向に移動させる送りＲＷ４である。

この場合、光ディスク１には一定の半径値ｉＬＳに信号
を書き込んでおき、この信号を読み出したときの光ヘッ
ド４の位’ＩＩ　Ｌ　Ｍからスピンドルの取付位置を算
出する。すなわち、光ヘッド４の位・置ＬＭから算出し
た値が信号の書込位置Ｌ　ｓと等しくなることが理想で
ある。なお、光ヘッド４の位置１、Ｈは送り機構５によ
る送り量とトラッキングサーボによる集光レンズ４１の
変位量とから求められるもので、光ディスク１の１回転
における平均値である。

第３図はスピンドルの高さを測定する場合を示したもの
である。１１は振れおよび反りが既知のガラス板である
。ここでは、ガラス板１１の表面にフォーカスサーボを
かけ、任意の半径（φ１２０ＩＩ、φ１９０ｎ＋ｉ　）
における振れのデータからスピンドル（カラス板１１）
の高さを算出する。

また、スピンドルの傾きについては、上記の振れのデー
タより２点間の反りを求め、傾きを算出する。

なお、上記の説明においては、チェック動作のお１定項
目として、スピンドルの位置、高さ、傾きを測定する場
合を例示したが、これは光ディスクにおける振れや反り
などの機械特性を測定する検査装置を想定したものであ
り、検査装置が光ディスクにおける傷の有無や反射率な
どの記録特性を測定するものであれば、測定項目はスピ
ンドルの位置のみで充分である。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の光ディスク検査装置では
、光ディスクのクランプタイプに合わせてそれぞれに専
用のディスククランプａ横が取り付けられた複数のスピ
ンドルモータを有しこれらのスピンドルモータを逐次交
換して曲用するようにした光ディスク検査装置において
、各スピンドルモータについて正常な取付状態を示す基
準取付位置データおよびこの取付状態における校正テー
ブルを予め記憶しておくとともに、スピンドルモータの
交換時にその取付状態を測定しこれをそのスピンドルモ
ータに対応した前記基準取付位置データと比較して所定
の許容範囲に入っているか否かを判別するチェック動作
を有し、この判別結果に応じてそのスピンドルモータに
対応した前記校正テーブルを使用して測定動作を行うよ
うにしているので、チェック動作の結果に応じて、すで
に作っである校正テーブルをそのまま利用することがで
き、短時間で校正データを得ることができるとともに、
高い測定精度を維持することができる光ディスク検査装
置を簡単な構成により実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光ディスク検査装置におけるチェック
動作の一実施例を示すフロー図、第２図および第３図は
チェック動作中の測定項目における測定手段の一例を示
す構成図である。 １・・・・・・光ディスク、１１・・・・・・ガラス板
、２・・・・・・ディスククランプａｉｍ、３・・・・
・・スピンドルモータ、４・・・・・・光ヘッド、４１
・・・・・・集光レンズ、５・・・・・・送りｍ構。 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光ディスクのクランプタイプに合わせてそれぞれに専用
   のディスククランプ機構が取り付けられた複数のスピン
   ドルモータを有しこれらのスピンドルモータを逐次交換
   して使用するようにした光ディスク検査装置において、
   各スピンドルモータについて正常な取付状態を示す基準
   取付位置データおよびこの取付状態における校正テーブ
   ルを予め記憶しておくとともに、スピンドルモータの交
   換時にその取付状態を測定しこれをそのスピンドルモー
   タに対応した前記基準取付位置データと比較して所定の
   許容範囲に入っているか否かを判別するチェック機能を
   有し、この判別結果に応じてそのスピンドルモータに対
   応した前記校正テーブルを使用して測定動作を行うよう
   にしてなる光ディスク検査装置。