JPH01216569A - Trimming method for electrostatic capacity - Google Patents
Trimming method for electrostatic capacityInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
1丘且1
本発明は静電容量のトリミング方法に関し、特に半導体
tCC基土上設けられたコンデンサを所定の静電容量値
になるようにトリミングを行う静電容■のトリミング方
法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a capacitance trimming method, and in particular to a capacitance trimming method for trimming a capacitor provided on a semiconductor TCC substrate to a predetermined capacitance value. Regarding trimming methods.
」l且I
従来、半導体tC基板の構成要素の1つであるコンデン
サを所定の静電容量値になるようにトリミングする方法
としては、レーザトリミングallのレーザ光によりコ
ンデンサ電極の一部を切離して調整する方法であった。Conventionally, a method for trimming a capacitor, which is one of the components of a semiconductor tC substrate, to a predetermined capacitance value is to cut off a part of the capacitor electrode using a laser beam for laser trimming. It was a method of adjustment.
その従来例について第2図、第3図及び第4図を用いて
説明する。The conventional example will be explained using FIG. 2, FIG. 3, and FIG. 4.
第2図はトリミング前のコンデンサの外観図である。図
においてコンデンサは電極1及び2と、その間にはさま
れた誘電体3とにより構成され、IC基板上の他の素子
と結合されることによりIC基板全体として1つの回路
を構成するものである。このIC基板を量産する際、夫
々のIcI板の特性を均一なものにするため、レーザト
リミング装置によって、レーザ光をコンデンサの電極に
あてて、電極の一部を切離すことによってトリミングを
行っていた。そのトリミングの原理について第3図及び
第4図を用いて説明する。FIG. 2 is an external view of the capacitor before trimming. In the figure, the capacitor is composed of electrodes 1 and 2 and a dielectric 3 sandwiched between them, and when combined with other elements on the IC board, the entire IC board forms one circuit. . When mass producing these IC boards, in order to make the characteristics of each IcI board uniform, trimming is performed by shining a laser beam onto the electrodes of the capacitor and cutting off part of the electrodes using a laser trimming device. Ta. The principle of trimming will be explained using FIGS. 3 and 4.
第3図において、10及び20は電極、3は誘電体であ
る。この場合のコンデンサの静電容aCは平行平板で考
えるため電極10及び20の各辺の長さを夫々X及びY
1電極間の距離をTとすると
C−klXY/T ・・−・−・ (1)となる。In FIG. 3, 10 and 20 are electrodes, and 3 is a dielectric. Since the capacitance aC of the capacitor in this case is considered as a parallel plate, the lengths of each side of electrodes 10 and 20 are determined by X and Y, respectively.
When the distance between one electrode is T, it becomes C-klXY/T (1).
ここで、klは定数である。Here, kl is a constant.
この場合において、第4図のトリミング線4のようにレ
ーザ光をあてて電極を切離せば、式(1)におけるXが
小さくなり、静電容量Cを小さくすることができる。こ
こで重要なことは、トリミングを行う前のコンデンサの
静電容量Cは予め必要な値より大きな値で作っておくこ
とである。In this case, if the electrodes are separated by applying a laser beam as indicated by the trimming line 4 in FIG. 4, X in equation (1) becomes smaller, and the capacitance C can be reduced. What is important here is that the capacitance C of the capacitor before trimming is made in advance to a value larger than the required value.
また、上述した従来のトリミングの方法において、電極
の長さXがΔXだけ変化したときの静電容量Cの変化量
ΔCはに2を定数とすると、AC/C−に2 ΔX/X
となるから、
AC=に2 CAX/X ・・−・−(2)となる。In addition, in the conventional trimming method described above, when the length X of the electrode changes by ΔX, the amount of change ΔC in the capacitance C becomes AC/C-2 ΔX/X, assuming that 2 is a constant. Therefore, AC=to 2 CAX/X...-(2).
ここで、式(2)に式(1)を代入すると
ΔC−にΔXY/T ・−−−−−(3)となるため
、変化lΔCは長さYに比例する。Here, when formula (1) is substituted into formula (2), ΔC- becomes ΔXY/T·---(3), so the change lΔC is proportional to the length Y.
ここでに−に1 k2である。Here, - is 1 k2.
式(3)において、電極間の距離Tは一定であり、トリ
ミングによって切離す電極の長さΔXはレーザ光の位置
ぎめ精度及びレーザ光のスポット径によっである程度以
下にすることができないため、上述した従来のトリミン
グ方法ではトリミング精度が悪いという欠点があった。In formula (3), the distance T between the electrodes is constant, and the length ΔX of the electrodes separated by trimming cannot be made below a certain level depending on the positioning accuracy of the laser beam and the spot diameter of the laser beam. The conventional trimming method described above has a drawback of poor trimming accuracy.
したがって、トリミング精度を向上させるには電極の長
さY(つまり幅)を小さくするということも考えられる
が、その場合、必要な静電容量Cを実現するためには長
さXを大きくしなければならない。すると、非常に細長
い電極となってしまい、IC基板上の寸法的な制限から
長さXをあまり大きくできないという欠点がある。Therefore, in order to improve the trimming accuracy, it is possible to reduce the length Y (that is, the width) of the electrode, but in that case, in order to achieve the required capacitance C, the length X must be increased. Must be. This results in a very elongated electrode, which has the disadvantage that the length X cannot be made very large due to dimensional limitations on the IC substrate.
1且立亘j
本発明の目的は、静電容量のトリミング精度を向上させ
ることができる静電容量のトリミング方法を提供するこ
とである。1. An object of the present invention is to provide a capacitance trimming method that can improve capacitance trimming accuracy.
1■立11
本発明の静電容量のトリミング方法は、基板上に設けら
れ、かつ互いに対向する電極を有するコンデンサを所定
の静電容最値になるようにトリミングを行う静電容量の
トリミング方法であって、前記電極には予め複数の切込
みが設けられており、トリミングを行う際、前記切込み
に対して交わるように切込みを入れてトリミングを行う
ことを特徴とする。1 ■ Standing 11 The capacitance trimming method of the present invention is a capacitance trimming method in which a capacitor provided on a substrate and having electrodes facing each other is trimmed to a predetermined maximum capacitance value. The electrode is provided with a plurality of cuts in advance, and when trimming, cuts are made so as to intersect with the cuts.
K皇3 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。K-Kou 3 Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.
第1図は本発明による静電容量のトリミング方法の一実
施例の原理を示す斜視図である。藺において、1及び2
は電極、3は誘電体である。FIG. 1 is a perspective view showing the principle of an embodiment of the capacitance trimming method according to the present invention. In Ii, 1 and 2
is an electrode, and 3 is a dielectric.
本実施例においては、まず最初に6のような切込み線を
レーザ光によって電極1の一端から複数本人れる。この
とき、切込み116の幅は非常に小さいため、電極1の
面積はあまり変化せず、静電容量はほとんど変化しない
。In this embodiment, first, a plurality of score lines such as 6 are made from one end of the electrode 1 using a laser beam. At this time, since the width of the notch 116 is very small, the area of the electrode 1 does not change much and the capacitance hardly changes.
次に、トリミング線4に沿ってトリミングを行って電極
を切離すと、予め入れておいた複数本の切込み816を
横ぎる毎に静電容量が減少する。Next, when trimming is performed along the trimming line 4 to separate the electrodes, the capacitance decreases each time it crosses the plurality of cuts 816 made in advance.
さらにトリミング[15,に沿ってトリミングを行った
とする。このときトリミング線4と5との間隔をΔX1
予めN本の切込み線6を等間隔に入れておいたとすると
、切込み116を横ぎる毎に減少する静電容−ΔC1は
、電極の長さYがY/ (N+1)になったのと同じで
あるから、
ΔC1−ΔG/(N+1)
となる。したがって、トリミングを行う際、切込み16
を横ぎる毎に停止させれば、トリミングによる静電容量
の変化は従来の1/(N+1)となる。つまり、トリミ
ング精度を(N+1)倍に向上することができるのであ
る。Further, it is assumed that trimming is performed along trimming [15,]. At this time, the interval between trimming lines 4 and 5 is ΔX1
Assuming that N cut lines 6 are placed at equal intervals in advance, the capacitance -ΔC1 that decreases each time it crosses the cut 116 is the same as when the length Y of the electrode becomes Y/(N+1). Therefore, ΔC1-ΔG/(N+1). Therefore, when trimming, the cut 16
If the capacitance is stopped every time the capacitance is crossed, the change in capacitance due to trimming will be 1/(N+1) compared to the conventional method. In other words, the trimming accuracy can be improved by (N+1) times.
なお、本実施例においては予め入れておく切込み線とそ
の後入れるトリミング線とが垂直に交わるようにトリミ
ングを行っているが、垂直に交わらせずに他の角度、例
えば、45度に交わるようにトリミングを行っても良い
ことは明らかである。In this example, trimming is performed so that the cut line drawn in advance and the trimming line drawn afterwards intersect perpendicularly; It is clear that trimming may be performed.
また、予め入れておく切込み線の本数を増加すれば、よ
りトリミング精度が向上することは明らかである。Furthermore, it is clear that the trimming accuracy can be further improved by increasing the number of score lines made in advance.
1g
以上説明したように本発明は、予めトリミングを行う方
向に対して垂直に複数本の切込み線をレーザ光によって
入れておき、その後トリミングを行うことにより、トリ
ミング精度を向上させることができるという効果がある
。1g As explained above, the present invention has the effect that trimming accuracy can be improved by making a plurality of score lines perpendicular to the trimming direction in advance using a laser beam and then performing trimming. There is.
第′1は本発明の実施例による静電容量のトリミング方
法の原理を示す斜視図、第2図はトリミング前のコンデ
ンサの外観図、第3図はコンデンサの寸法を示す外観図
、第4図は従来の静電容量のトリミング方法を示す外観
図である。
主要部分の符号の説明
1.2・・・・・・電極
3・・・・・・誘電体
4.5・・・・・・トリミング線
6・・・・・・切込み線Figure '1 is a perspective view showing the principle of the capacitance trimming method according to the embodiment of the present invention, Figure 2 is an external view of the capacitor before trimming, Figure 3 is an external view showing the dimensions of the capacitor, and Figure 4. is an external view showing a conventional capacitance trimming method. Explanation of symbols of main parts 1.2... Electrode 3... Dielectric 4.5... Trimming line 6... Cutting line
Claims (1)
するコンデンサを所定の静電容量値になるようにトリミ
ングを行う静電容量のトリミング方法であって、前記電
極には予め複数の切込みが設けられており、トリミング
を行う際、前記切込みに対して交わるように切込みを入
れてトリミングを行うことを特徴とする静電容量のトリ
ミング方法。(1) A capacitance trimming method in which a capacitor provided on a substrate and having electrodes facing each other is trimmed to a predetermined capacitance value, the electrodes having a plurality of cuts in advance. A method for trimming capacitance, characterized in that when trimming, a cut is made so as to intersect with the cut.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63043207A JPH01216569A (en) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | Trimming method for electrostatic capacity |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63043207A JPH01216569A (en) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | Trimming method for electrostatic capacity |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01216569A true JPH01216569A (en) | 1989-08-30 |
Family
ID=12657475
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63043207A Pending JPH01216569A (en) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | Trimming method for electrostatic capacity |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01216569A (en) |
-
1988
- 1988-02-25 JP JP63043207A patent/JPH01216569A/en active Pending
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