JPH01216277A - Testing equipment for semiconductor integrated circuit - Google Patents

Testing equipment for semiconductor integrated circuit

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Publication number
JPH01216277A
JPH01216277A JP63042605A JP4260588A JPH01216277A JP H01216277 A JPH01216277 A JP H01216277A JP 63042605 A JP63042605 A JP 63042605A JP 4260588 A JP4260588 A JP 4260588A JP H01216277 A JPH01216277 A JP H01216277A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
rotation stop
circuit
alarm
fan unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63042605A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsunori Maeda
前田 哲典
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01216277A publication Critical patent/JPH01216277A/en
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Abstract

PURPOSE:To easily detect a fault fan unit by providing a switching circuit between a rotation stop sensor and an alarm control unit and selecting and connecting an output of each sensor to a sensor checking circuit. CONSTITUTION:An alarm circuit 4 is constituted by connecting the outputs of rotation stop sensors 3 of fan units 2 in series by a switching circuit 7 in case of a regular operating state and connected to an alarm control unit 6. If an alarm output of the rotation stop sensor 3 is generated due to abnormality of the fan unit 2, and in case of executing its diagnosis, the switching circuit 7 is operated so as to go to an opposite connection to the regular operating state, and the output of the sensor 3 of each fan unit 2 is allowed to come into contact with a sensor checking circuit 8. In such a way, even if plural fan units 2 are provided, the fan unit in which abnormality is generated can be detected easily by diagnosing the sensor checking circuit 8.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路の試験装置(以下試験装置と称
す)に関し、特に装置の冷却用に装備するファンユニッ
トの異常検出機構に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a testing device for semiconductor integrated circuits (hereinafter referred to as a testing device), and particularly to an abnormality detection mechanism for a fan unit installed for cooling the device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、この種の試験装置は、その性能を維持するため
に装置内の各種異常検出を行っており、異常を検出した
場合自動的に試験装置の電源を切断する機能を有するア
ラーム制御ユニットをもっている。一般に第2図に示す
ように、回転停止センサ3を有するファンユニット2は
試験装置内に複数個装備され、このセンサ3の出力はそ
の出力を直列又は並列にアラーム制御ユニット6の1ケ
所に配線されアラーム回路4が形成されており、複数の
ファンユニット2の一つでも異常を検出した場合、アラ
ーム制御ユニット6が動作し試験装置の電源を切断する
ことが行われている。1はアラーム検出ユニット、5は
アラーム回路切断スイッチである。
In general, this type of test equipment detects various abnormalities within the equipment to maintain its performance, and has an alarm control unit that automatically turns off the power to the test equipment when an abnormality is detected. . Generally, as shown in FIG. 2, a plurality of fan units 2 each having a rotation stop sensor 3 are installed in the test equipment, and the output of the sensor 3 is wired in series or in parallel to one location of the alarm control unit 6. An alarm circuit 4 is formed, and when an abnormality is detected in even one of the plurality of fan units 2, an alarm control unit 6 is operated to cut off the power to the test apparatus. 1 is an alarm detection unit, and 5 is an alarm circuit disconnection switch.

また、ファンユニット2の異常が発生することは、ファ
ンユニット2のプロペラの回転停止又は。
Furthermore, the occurrence of an abnormality in the fan unit 2 means that the propeller of the fan unit 2 stops rotating or.

ファンユニット2中の回転停止センサ3の故障等が考え
られるが、これを診断する場合、装置の電源切断が動作
しないように、前記アラーム回路4の切断を行い、装備
されたファンユニット2を−つずつ目視又は触手により
確認していた。
It is possible that the rotation stop sensor 3 in the fan unit 2 is malfunctioning, but when diagnosing this, the alarm circuit 4 is disconnected so that the power supply to the device does not operate, and the installed fan unit 2 is turned off. Each was confirmed visually or by touch.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の試験装置に装備されたファンユニット2
の異常検出機能は、複数使用するファンユニット2のセ
ンサ出力を直列又は並列に接続してアラーム制御ユニッ
ト6に配線しているため、万一、ファンユニット2の回
転停止又はファンユニットのセンサの故障等が発生した
場合、その故障箇所の特定作業は、アラーム回路4の切
断を行った後、ファンユニット2における異常診断を目
視又は触手により確認するため、アラームを発生してい
るファンユニットを見つけるために多大な時間を要する
場合があり、試験装置の停止時間が増大するという欠点
があった。特に、ファンユニット2のセンサ出力が故障
しアラームが出力される場合は、目視等では発見がほと
んど不可能であり、ファンユニット間の接続を外したり
して確認しなければならず、さらに診断時間が増大する
など問題が多かった。
Fan unit 2 installed in the conventional test equipment described above
The abnormality detection function is connected in series or parallel to the sensor outputs of multiple fan units 2 and wired to the alarm control unit 6, so in the unlikely event that the fan unit 2 stops rotating or the fan unit sensor malfunctions. etc. occurs, the work to identify the failure point is to disconnect the alarm circuit 4 and then visually or touch-check the abnormality diagnosis in the fan unit 2, or to find the fan unit that is generating the alarm. This has the disadvantage that it may take a considerable amount of time to perform the test, and the downtime of the test equipment increases. In particular, if the sensor output of fan unit 2 malfunctions and an alarm is output, it is almost impossible to detect visually, etc., and confirmation must be made by disconnecting the fan units, which further increases the diagnostic time. There were many problems such as an increase in

本発明の目的は前記課題を解決した試験装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a test device that solves the above problems.

〔発明の従来技術に対する相違点〕[Differences between the invention and the prior art]

上述した従来の試験装置に対し、本発明は各ファンユニ
ットのセンサ出力をスイッチにより切断し、装置の電源
を切断することなしに1ケ毎に単独に検査できるという
相違点を有する。
The present invention differs from the conventional testing apparatus described above in that the sensor output of each fan unit is cut off by a switch, and each fan unit can be tested individually without cutting off the power to the apparatus.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成するため、本発明の試験装置においては
、複数のファンユニットにそれぞれ装備した回転停止セ
ンサと、各回転停止センサの出力に基づいて該センサを
取付けたファンユニットの異常検出を行うアラーム制御
ユニットと、前記回転停止センサの出力状態をチェック
するセンサチェック回路と、前記アラーム制御ユニット
から前記回転停止センサを電気的に切り離し、該回転停
止センサを個別に前記センサチェック回路に電気的に接
続するスイッチ回路とを含むものである。
In order to achieve the above object, the test device of the present invention includes a rotation stop sensor installed in each of a plurality of fan units, and an alarm that detects an abnormality in the fan unit to which the sensor is attached based on the output of each rotation stop sensor. a control unit, a sensor check circuit that checks the output state of the rotation stop sensor, electrically disconnecting the rotation stop sensor from the alarm control unit, and electrically connecting the rotation stop sensor individually to the sensor check circuit; This includes a switch circuit that performs the following steps.

〔実施例〕〔Example〕

以下1本発明の一実施例を図により説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

第1図において、本発明は試験装置内に設置した複数の
ファンユニット2と、各ファンユニット2にそれぞれ装
備した回転停止センサ3と、該回転停止センサ3の出力
状態をチェックするセンサチェック回路8,8・・・と
、複数の回転停止センサ3を直列(又は並列)にアラー
ム制御ユニット6にアラーム回路4を介して接続し、−
右回転停止センサ3を個別にセンサチェック回路8に接
続するスイッチ回路7とを有する。1はアラーム検出ユ
ニットである。
In FIG. 1, the present invention includes a plurality of fan units 2 installed in a test apparatus, a rotation stop sensor 3 provided in each fan unit 2, and a sensor check circuit 8 for checking the output state of the rotation stop sensor 3. , 8... and a plurality of rotation stop sensors 3 are connected in series (or in parallel) to the alarm control unit 6 via the alarm circuit 4, -
It has a switch circuit 7 that individually connects the right rotation stop sensor 3 to a sensor check circuit 8. 1 is an alarm detection unit.

本発明によれば、ファンユニット2の回転停止センサ3
の出力を、スイッチ回路7により通常の稼動状態の場合
は直列に接続し、アラーム回路4を構成し、アラーム検
出ユニット1よりの出力として、アラーム制御ユニット
6へ接続される。万一、ファンユニット2の異常により
回転停止センサ3のアラーム出力が発生してその診断を
行う場合は、スイッチ回路7を通常の稼動状態と逆の接
続となるように操作し、各々のファンユニット2の回転
停止センサ3の出力を、センサチェック回路8に接続さ
れるようにする。これにより、複数のファンユニット2
が装備されていても、センサチェック回路8を診断する
ことにより容易に、かつ短時間で異常が発生しているフ
ァンユニットを見つけることが可能となる。
According to the present invention, the rotation stop sensor 3 of the fan unit 2
The outputs of the alarm circuit 4 are connected in series by the switch circuit 7 in the normal operating state to constitute the alarm circuit 4, and are connected to the alarm control unit 6 as the output from the alarm detection unit 1. In the unlikely event that an alarm output from the rotation stop sensor 3 occurs due to an abnormality in the fan unit 2, and you wish to diagnose it, operate the switch circuit 7 so that it is connected in the opposite way to the normal operating state, and connect each fan unit. The output of the second rotation stop sensor 3 is connected to a sensor check circuit 8. This allows multiple fan units 2
Even if the fan unit is equipped with a fan unit, by diagnosing the sensor check circuit 8, it is possible to easily and quickly find a fan unit in which an abnormality has occurred.

また、スイッチ回路7のセンサチェック回路8への出力
を各々アラーム検出ユニット1の外部へ出力できるよう
にし、センサチェック回路8を手動で前記外部へ出力し
た端子に、コネクタ等を用いて接続できるようにすれば
、センサチェック回路8は1つのみで済むようになり経
済化が図れる利点がある。
Further, the outputs of the switch circuits 7 to the sensor check circuits 8 can be outputted to the outside of the alarm detection unit 1, and the sensor check circuits 8 can be manually connected to the terminals outputted to the outside using connectors or the like. By doing so, only one sensor check circuit 8 is required, which has the advantage of being economical.

〔発明の効果〕 以上説明したように本発明はファンユニットにおけるア
ラームが出力され試験装置の稼動が停止した場合、直列
等により接続されたファンユニット中のセンサ出力を物
理的に別のセンサ出力と切り離し、さらに単体で診断が
容易となるようにセンサチェック回路を装備するため、
故障の発生したファンユニットの発見が従来より早くな
り、停正時間を短くできる効果がある。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention physically converts the sensor output in the fan units connected in series to another sensor output when an alarm in the fan unit is output and the test equipment stops operating. Equipped with a sensor check circuit for easy separation and diagnosis on its own.
This has the effect of making it possible to discover a failed fan unit more quickly than before, thereby shortening the outage time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は従来
例を示す構成図である。 ■・・・アラーム検出ユニット 2・・・ファンユニッ
ト3・・・回転停止センサ    4・・・アラーム回
路5・・・アラーム回路切断スイッチ 6・・・アラーム制御ユニット 7・・・スイッチ回路
8・・・センサチェック回路
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional example. ■...Alarm detection unit 2...Fan unit 3...Rotation stop sensor 4...Alarm circuit 5...Alarm circuit disconnection switch 6...Alarm control unit 7...Switch circuit 8...・Sensor check circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、複数のファンユニットにそれぞれ装備した回転停止
センサと、各回転停止センサの出力に基づいて該センサ
を取付けたファンユニットの異常検出を行うアラーム制
御ユニットと、前記回転停止センサの出力状態をチェッ
クするセンサチェック回路と、前記アラーム制御ユニッ
トから前記回転停止センサを電気的に切り離し、該回転
停止センサを個別に前記センサチェック回路に電気的に
接続するスイッチ回路とを含むことを特徴とする半導体
集積回路試験装置。
1. A rotation stop sensor installed in each of the plurality of fan units, an alarm control unit that detects an abnormality in the fan unit to which the sensor is attached based on the output of each rotation stop sensor, and checking the output status of the rotation stop sensor. and a switch circuit that electrically disconnects the rotation stop sensor from the alarm control unit and electrically connects the rotation stop sensor individually to the sensor check circuit. Circuit testing equipment.
JP63042605A 1988-02-25 1988-02-25 Testing equipment for semiconductor integrated circuit Pending JPH01216277A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003044142A (en) * 2001-08-02 2003-02-14 Taiheiyo Cement Corp Position shift detecting mechanism for position sensor of stage

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003044142A (en) * 2001-08-02 2003-02-14 Taiheiyo Cement Corp Position shift detecting mechanism for position sensor of stage
JP4547113B2 (en) * 2001-08-02 2010-09-22 太平洋セメント株式会社 Position shift detection mechanism of stage position sensor

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