JPH01206209A - Checking apparatus of optical information storage medium - Google Patents

Checking apparatus of optical information storage medium

Info

Publication number
JPH01206209A
JPH01206209A JP3078788A JP3078788A JPH01206209A JP H01206209 A JPH01206209 A JP H01206209A JP 3078788 A JP3078788 A JP 3078788A JP 3078788 A JP3078788 A JP 3078788A JP H01206209 A JPH01206209 A JP H01206209A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
displacement
amount
frequency
information storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3078788A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kouichi Tabe
多部 光一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3078788A priority Critical patent/JPH01206209A/en
Publication of JPH01206209A publication Critical patent/JPH01206209A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable the continuous checking of an acceleration of an optical information storage medium, by a method wherein an information on the amount of displacement of the optical information storage medium is subjected to an analytical processing at a high speed by using an algorithm of Fourier transform. CONSTITUTION:A measuring device 49 has a control circuit element for moving an optical head 9 in a proper amount so that a laser light be focused exactly on a prescribed spot of an optical disk in relation to the plane vibration, warp and others of the optical disk 1, and a displacement amount detecting circuit element. The measuring device 49 transmits various informations on the amount of displacement of the optical disk 1 to an arithmetic processing device 51. A frequency analyzer 57 determines, for each frequency, a value of the maximum acceleration out of values of accelerations for each frequency of the amount of displacement of the optical disk 1, and delivers this information to a comparator 59. The comparator 59 compares a reference value of accelerations for each frequency set beforehand with said value corresponding to each frequency, and delivers the result of this comparison to a computation display element 55. In the computation display element 55, the result of the comparison is displayed in a graph.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は光ディスク等の光学的情報記憶媒体を検査する
検査装置に関し、特にフーリエ変換のアルゴリズムを用
いることにより光学的情報記憶媒体の変位量を高速に解
析処理するようにした光学的情報記憶媒体の検査装置に
関するものである。
Detailed Description of the Invention [Object of the Invention] (Industrial Field of Application) The present invention relates to an inspection device for inspecting optical information storage media such as optical disks, and in particular, to an inspection device for inspecting optical information storage media such as optical disks, and in particular to an inspection device for inspecting optical information storage media by using a Fourier transform algorithm. The present invention relates to an optical information storage medium inspection device that analyzes the amount of displacement of the medium at high speed.

(従来の技術) 近年においては、光ディスク等の光学的情報記憶媒体が
画像情報記憶検索装置や音楽あるいは映像再生装置等で
広く用いられている。この光ディスクは光学的情報記憶
媒体検査装置等を用いて製造工程の最終段階等において
各種の品質検査、例えば面振れや反り等の物理的特性に
係る検査を受ける。
(Prior Art) In recent years, optical information storage media such as optical disks have been widely used in image information storage and retrieval devices, music or video playback devices, and the like. This optical disk is subjected to various quality inspections at the final stage of the manufacturing process using an optical information storage medium inspection device or the like, for example, inspection regarding physical characteristics such as surface runout and warpage.

従来のこのような光学的情報記憶媒体検査装置において
は、光学的情報記憶媒体である光ディスクを定速度回転
させるスピンドルモータを備え、更に、トラッキングサ
ーボ制御、フォーカシングサーボ制御を行なってこの光
ディスクの回転に伴なう面撮れ等の変位に追従して変位
すると共に、送りモータ等の移動手段により光ディスク
の半径方向に移動可能状態に設けられる光学ヘッド部を
備えている。
Such a conventional optical information storage medium inspection device is equipped with a spindle motor that rotates an optical disk, which is an optical information storage medium, at a constant speed, and further performs tracking servo control and focusing servo control to control the rotation of this optical disk. The optical head section is provided with an optical head section that is displaceable to follow accompanying displacements such as surface blurring, and is movable in the radial direction of the optical disk by a moving means such as a feed motor.

光ディスクの面撮れや反り等の物理的特性を測定する場
合には、移動手段を駆動して光学ヘッド部を光ディスク
の半径方向の特定の測定地点に位置させると共に、この
特定の測定地点に光学ヘツド部を位置させた状態で光デ
ィスクを回転させ、この光ディスクの回転に伴なう変位
量を測定するようにしている。この特定の測定地点にお
ける変位量の測定が終了すると、移動手段を駆動して次
の測定地点へ光学ヘッド部を移動させると共に、この次
の測定地点へ光学ヘッド部を位置させた状態で光ディス
クの回転に伴なう変位量を測定する。
When measuring the physical characteristics of an optical disk, such as surface blur or warping, the moving means is driven to position the optical head section at a specific measurement point in the radial direction of the optical disk, and the optical head is moved to this specific measurement point. The optical disc is rotated with the part positioned in the position, and the amount of displacement accompanying the rotation of the optical disc is measured. When the measurement of the amount of displacement at this specific measurement point is completed, the moving means is driven to move the optical head to the next measurement point, and the optical disk is moved with the optical head positioned at the next measurement point. Measure the amount of displacement associated with rotation.

以下同様に順次光ディスクの半径方向に設定した特定の
測定地点へ光学ヘッド部を移動させると共に、この特定
の測定地点へ光学ヘッド部を位置させた状態で回転する
光ディスクの変位量を測定して、物理的特性を検査して
いた。
Similarly, the optical head section is sequentially moved to specific measurement points set in the radial direction of the optical disk, and the amount of displacement of the rotating optical disk is measured with the optical head section positioned at this specific measurement point. Physical properties were being examined.

(発明が解決しようとする課題) 従来の光学的情報記憶媒体の検査においては、たとえば
2048個の測定地点を設定すると共に、この2048
個の測定地点に対応したそれぞれの変位量に関する情報
をマイクロコンピュータ等を用いて演算処理を実行して
いたため、光学的情報記憶媒体の面振れ等の変位量及び
これらの変位量の加速度を求める場合に例えば5分から
10分程度の時間を要してしまい、生産工程の中で上記
検査を行なう場合には検査時間が長く実際的ではなかっ
た。
(Problem to be Solved by the Invention) In the conventional inspection of optical information storage media, for example, 2048 measurement points are set, and the 2048
Because information on the amount of displacement corresponding to each measurement point was processed using a microcomputer, etc., when calculating the amount of displacement such as surface runout of an optical information storage medium and the acceleration of these displacements. For example, it takes about 5 to 10 minutes to perform the inspection, and when the above inspection is performed during the production process, the inspection time is long and it is not practical.

本発明は上記に鑑みてなされたもので、光学的情報記憶
媒体の面振れ等の変位量及びこの変位量の加速度等の物
理的特性を迅速に解析処理して光学的情報記憶媒体の検
査時間を短縮することのできる光学的情報記憶媒体の検
査装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above, and it is possible to quickly analyze and process the amount of displacement such as surface runout of an optical information storage medium and the physical characteristics such as the acceleration of this amount of displacement, thereby reducing the inspection time of the optical information storage medium. An object of the present invention is to provide an optical information storage medium inspection device that can shorten the time required.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明は光学的情報記憶媒体
から検出される変位をもとにして当該光学的情報記憶媒
体の物理的特性を検査する装置に、前記物理的特性を検
査する際に、フーリエ変換のアルゴリズムに基づく検査
処理を行なう解析処理手段を具備したことを特徴とする
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention measures the physical characteristics of an optical information storage medium based on the displacement detected from the optical information storage medium. The present invention is characterized in that the testing device is equipped with an analysis processing means that performs testing processing based on a Fourier transform algorithm when testing the physical characteristics.

(作用) 本発明の光学的情報記憶媒体の検査装置は、まず光学的
情報記憶媒体の変位を検出する。この光学的情報記憶媒
体の変位量から、各種物理的特性を求める際に、フーリ
エ変換のアルゴリズムに基づく解析処理手段を用いるこ
とにより、光学的情報記憶媒体の面撮れ等の変位量及び
この変位量の加速度等を迅速に演算処理して、光学的情
報記憶媒体の物理的特性に関する検査を迅速に行なう。
(Operation) The optical information storage medium inspection device of the present invention first detects displacement of the optical information storage medium. When calculating various physical characteristics from the amount of displacement of the optical information storage medium, by using an analysis processing means based on the Fourier transform algorithm, the amount of displacement such as surface blur of the optical information storage medium and the amount of this displacement are calculated. The acceleration and the like of the optical information storage medium are quickly processed to quickly test the physical characteristics of the optical information storage medium.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明に係る実施例を詳細に説明
する。
(Example) Hereinafter, an example according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

まず、第2図を参照して本発明が適用される光学的情報
記憶媒体検査装置の概略的な構成について説明する。
First, a schematic configuration of an optical information storage medium inspection apparatus to which the present invention is applied will be described with reference to FIG.

被検査体としての光学的情報記憶媒体である光ディスク
1は、スピンドルモータ3の上に載置され、このスピン
ドルモータ3を一定速度、例えば600 rpmで回転
駆動することにより光ディスク1を定速度回転させる。
An optical disk 1, which is an optical information storage medium to be inspected, is placed on a spindle motor 3, and the spindle motor 3 is driven to rotate at a constant speed, for example, 600 rpm, thereby rotating the optical disk 1 at a constant speed. .

一方、送りモータ5により移動可能に設けられたベース
7の上には、光学ヘッド9と各種の光学系が配置されて
いる。レーザヘッド11は変位量測定用のレーザ光、例
えばHe−Neレーザ光の平行光を出力する。ビームス
プリッタ13はレーザヘッド11からのレーザ光を入射
すると、二方向に均等に分配して出力する。このビーム
スプリッタ13により分配された一方のレーザ光は干渉
計15.レンズ17.全反射プリズム19a、19bを
介して光学ヘッド9へ与えられる。このようにして光学
ヘッド9へ入射した入射光P1は第3図に示すように、
光学ヘッド9の所定の位置に貼設した全反射ミラー23
で反射される。
On the other hand, an optical head 9 and various optical systems are arranged on a base 7 that is movable by a feed motor 5. The laser head 11 outputs a laser beam for displacement measurement, for example, a parallel beam of He-Ne laser beam. When the beam splitter 13 receives the laser beam from the laser head 11, it equally distributes it in two directions and outputs it. One of the laser beams split by this beam splitter 13 is sent to an interferometer 15. Lens 17. The light is applied to the optical head 9 via total reflection prisms 19a and 19b. The incident light P1 that has entered the optical head 9 in this way is as shown in FIG.
A total reflection mirror 23 attached to a predetermined position of the optical head 9
reflected.

この全反射ミラー23で反射された反射光は、再び全反
射プリズム19b、19aルンズ17を通って干渉計1
5へ進行する。干渉計15では全反射ミラー23で反射
された反射光とビームスプリッタ13を介して入射する
レーザヘッド11からのレーザ光とを干渉せしめる。受
光器25は干渉計15からの干渉光を受光して光学ヘッ
ド9の変位量信号、即ち光ディスク1の半径方向に偏心
した変位量に相当する信号を出力する。
The reflected light reflected by this total reflection mirror 23 passes through the total reflection prisms 19b and 19a lenses 17 again to the interferometer 1.
Proceed to step 5. In the interferometer 15, the reflected light reflected by the total reflection mirror 23 and the laser light from the laser head 11 which is incident via the beam splitter 13 are caused to interfere with each other. The light receiver 25 receives the interference light from the interferometer 15 and outputs a displacement signal of the optical head 9, that is, a signal corresponding to the eccentric displacement of the optical disk 1 in the radial direction.

ビームスプリッタ13により分配された他方のレーザ光
は全反射ミラー33.干渉計35.レンズ37及び全反
射プリズム19Cを介して光学ヘッド9へ与えられる。
The other laser beam distributed by the beam splitter 13 passes through a total reflection mirror 33. Interferometer 35. The light is applied to the optical head 9 via the lens 37 and the total reflection prism 19C.

このようにして光学ヘッド9へ入射した入射光P2は第
3図に示すように、光学ヘッド9の所定の位置に配設さ
れた全反射ブリブム41で垂直に立ち上げられ、更に全
反射ミラー43で反射される。この全反射ミラー43で
反射された反射光は再び全反射プリズム41,19C及
びレンズ37を通って干渉計35へ進行する。干渉計3
5では全反射ミラー43で反射された反射光と全反射ミ
ラー33及びビームスプリッタ13を介して入射するレ
ーザヘッド11からのレーザ光とを干渉せしめる。受光
器45は干渉計35からの干渉光を受光して光学ヘッド
9の変位量信号、即ち光ディスク1の回転軸方向の面振
れの変位間に相当する信号を出力する。また、この干渉
計35及び干渉計15の分解能は、例えばそれぞれ光の
波長の1/64若しくは1/128程度に設定される。
As shown in FIG. 3, the incident light P2 that has entered the optical head 9 in this manner is vertically raised by a total reflection blob 41 disposed at a predetermined position of the optical head 9, and then further reflected by a total reflection mirror 43. reflected. The reflected light reflected by the total reflection mirror 43 passes through the total reflection prisms 41 and 19C and the lens 37 again and travels to the interferometer 35. Interferometer 3
5, the reflected light reflected by the total reflection mirror 43 and the laser light from the laser head 11 which is incident via the total reflection mirror 33 and the beam splitter 13 are caused to interfere with each other. The light receiver 45 receives the interference light from the interferometer 35 and outputs a displacement signal of the optical head 9, that is, a signal corresponding to the displacement of the surface runout in the direction of the rotation axis of the optical disk 1. Further, the resolution of the interferometer 35 and the interferometer 15 is set to, for example, about 1/64 or 1/128 of the wavelength of light, respectively.

次に第1図を参照して本発明に係る検査方法を光学的情
報記憶媒体検査装置と共に説明する。
Next, referring to FIG. 1, an inspection method according to the present invention will be explained together with an optical information storage medium inspection apparatus.

第1図に示すようにスピンドルモータ3の上に載置され
る光ディスク1は直径130mmの円板状に形成される
。又この光ディスク1は渦巻状の溝が光ディスク1の表
面側及び裏面側の双方の面に形成されている。この溝の
深さは測定しようとする光ディスク1の画成れ又は反り
等の変位量の値よりも充分小さい値である。またスピン
ドルモータ3は回転速度300〜3600 rpmの範
囲内の一定の回転速度で回転することにより、光ディス
ク1を一定速度で回転させる。又送りモータ5は1秒間
光りに例えばo、oi〜101RIlの範囲内の一定の
速度でベース7を移動させることにより、光学ヘッド9
を光ディスク1の半径方向に一定の速度で移動させる。
As shown in FIG. 1, an optical disk 1 placed on a spindle motor 3 is formed into a disk shape with a diameter of 130 mm. Further, this optical disc 1 has spiral grooves formed on both the front and back sides of the optical disc 1. The depth of this groove is a value that is sufficiently smaller than the amount of displacement such as deformation or warpage of the optical disc 1 to be measured. Further, the spindle motor 3 rotates at a constant rotation speed within the range of 300 to 3600 rpm, thereby rotating the optical disc 1 at a constant speed. Further, the feed motor 5 moves the optical head 9 by moving the base 7 at a constant speed within the range of, for example, o, oi to 101RIl for one second.
is moved in the radial direction of the optical disc 1 at a constant speed.

この送りモータ5による光学ヘッド9の移動量は、光デ
ィスク1の情報エリアをカバーするために例えば最大2
00+1111の値に設定される。
The amount of movement of the optical head 9 by this feed motor 5 is, for example, up to 2 to cover the information area of the optical disc 1.
It is set to a value of 00+1111.

測定装置49には光ディスク1の面撮れや反り等に対し
てレーザ光が光ディスク1の所定の場所へ正確に合焦す
るように光学ヘッド9を適宜量移動させるための制御回
路部及び光ディスク1の変位量に関する測定を行なうた
めの種々の回路部を内蔵している。具体的に説明すると
、光学ヘッド9の対物レンズと光ディスク1のトラック
面との距離を一定に保つように制御するフォーカスサー
ボ制御回路と、前述したトラックの偏心に対して対物レ
ンズを光ディスク1の半径方向に移動して追従制御する
ためのトラッキングサーボ制御回路と、第2図に示した
受光器25及び45からのそれぞれの変位量信号に基づ
いて光ディスク1の半径方向の変位間及び光ディスク1
の回転軸方向の面振れ等の変位量1等の光ディスク1の
変位量に関する情報を出力するための種々の回路部を内
蔵している。この測定装置49は演算処理V4@51と
接続されており、測定装置49は光ディスク1の変位量
に関する各種の情報を演算処理装置51へ伝送する。
The measuring device 49 includes a control circuit unit for moving the optical head 9 by an appropriate amount so that the laser beam is accurately focused on a predetermined location on the optical disc 1 in the event of surface blurring or warping of the optical disc 1, It has various built-in circuit sections for making measurements related to the amount of displacement. Specifically, there is a focus servo control circuit that controls the distance between the objective lens of the optical head 9 and the track surface of the optical disc 1 to be kept constant, and a focus servo control circuit that controls the distance between the objective lens of the optical head 9 and the track surface of the optical disc 1, and a focus servo control circuit that controls the distance between the objective lens of the optical head 9 and the track surface of the optical disc 1, and a focus servo control circuit that controls the distance between the objective lens of the optical head 9 and the track surface of the optical disc 1. A tracking servo control circuit for controlling movement in the radial direction and tracking control of the optical disc 1 based on displacement signals from the optical receivers 25 and 45 shown in FIG.
It incorporates various circuit sections for outputting information regarding the amount of displacement of the optical disk 1, such as the amount of displacement 1 such as surface runout in the direction of the rotation axis. This measuring device 49 is connected to the arithmetic processing unit V4@51, and the measuring device 49 transmits various information regarding the amount of displacement of the optical disc 1 to the arithmetic processing unit 51.

次に演算処理装置51の内部構成を詳細に説明する。Next, the internal configuration of the arithmetic processing unit 51 will be explained in detail.

メモリ53は測定装置49から伝送される各種の情報、
例えば光ディスク1の半径方向の変位量に関する情報、
光ディスク1の回転軸方向の面振れ等の変位間に関する
情報、光学ヘッド9が存在する位置即ち光ディスク1の
中心点からの光学ヘッド9までの距離に関する情報、光
ディスク1の回転角度に関する情報等の各種の情報が格
納される。
The memory 53 stores various information transmitted from the measuring device 49,
For example, information regarding the amount of radial displacement of the optical disc 1,
Various types of information such as information regarding displacement such as surface runout in the direction of the rotational axis of the optical disc 1, information regarding the distance from the position where the optical head 9 exists, that is, the center point of the optical disc 1 to the optical head 9, information regarding the rotation angle of the optical disc 1, etc. information is stored.

演算表示部55はメモリ53に格納された種々の情報に
基づいて光ディスク1の半径方向の変位量及び光ディス
ク1の回転軸方向の面撮れ等の変位間を演算処理し、こ
の演算処理した変位域をグラフ表示する。
The calculation display unit 55 calculates the amount of displacement of the optical disc 1 in the radial direction and the displacement in the direction of the rotation axis of the optical disc 1 based on various information stored in the memory 53, and displays the calculated displacement range. Display it as a graph.

高速フーリエ変換(以下、FFTと略す)解析装@57
はメモリ53に格納された複数の情報、例えば2048
個のデータに基づいて光ディスク1の物理的特性に係る
値、例えば変位量の周波数に対する加速度を高速に演算
する。例えば1024個のデータに基づいて加速度を計
算する場合には110l11秒以下の短時間で高速に演
算処理を実行する。この周波数分析器57としては例え
ば高速FFTアナライザーである東芝製のDSPP−9
506等のFFT演算を専用に行ない得るハードウェア
が使用される。又FFT解析装置57は演算結果の複数
の加速度の値、即ち光ディスク1の変位量の各周波数毎
の加速度の値の中から最大の加速度の値を各周波数毎に
求めると共に、この各周波数毎の加速度の最大値に関す
る情報を比較器59へ送出する。比較器59には予め各
周波数毎の加速度の基準値が設定されており、これらの
基準値とFFT解析装置157から得られる各周波数毎
の加速度の最大値とを各周波数毎に対応して比較し、こ
の比較の結果を演算表示部55へ送出する。演算表示部
55では比較器59からの比較結果の情報に基づいてグ
ラフ表示する。
Fast Fourier transform (hereinafter abbreviated as FFT) analysis equipment @57
is a plurality of pieces of information stored in the memory 53, for example 2048
A value related to the physical characteristics of the optical disc 1, for example, the acceleration of the displacement amount with respect to the frequency, is calculated at high speed based on the data. For example, when calculating acceleration based on 1024 pieces of data, the calculation process is performed at high speed in a short time of 110111 seconds or less. The frequency analyzer 57 is, for example, a high-speed FFT analyzer, DSPP-9 manufactured by Toshiba.
Hardware such as 506 that can perform FFT operations exclusively is used. Further, the FFT analyzer 57 obtains the maximum acceleration value for each frequency from among the plurality of acceleration values of the calculation results, that is, the acceleration values for each frequency of the displacement amount of the optical disk 1, and also calculates the maximum acceleration value for each frequency. Information regarding the maximum value of acceleration is sent to comparator 59. Reference values of acceleration for each frequency are set in advance in the comparator 59, and these reference values and the maximum value of acceleration for each frequency obtained from the FFT analyzer 157 are compared for each frequency. Then, the result of this comparison is sent to the calculation display section 55. The calculation display unit 55 displays a graph based on the comparison result information from the comparator 59.

次に作用を説明する。Next, the effect will be explained.

まず、光デイスク10半径方向の変位量の加速度を演算
する場合について説明する。
First, a case will be described in which the acceleration of the displacement amount of the optical disk 10 in the radial direction is calculated.

スピンドルモータ3を一定の速度で回転駆動することに
より、光ディスク1を一定の速度、例えば60 Orp
mで回転させる。次に送りモータ5を駆動して光学ヘッ
ド9を予め設定された測定地点へ位置させる。このよう
に回転する光ディスク1に対して所定の測定地点へ光学
ヘッド9を位置させることにより、この測定地点での光
ディスク1の半径方向の変位量に関する情報をサンプリ
ングする。このようにしてサンプリングされた光ディス
ク1の半径方向の変位量に関する情報はメモリ53へ格
納される。FFT解析装置57はメモリ53に格納され
た光デイ°スク1の半径方向の変位量に関する複数の情
報に基づいて解析処理を実行する。
By rotating the spindle motor 3 at a constant speed, the optical disc 1 is rotated at a constant speed, for example, 60 Orp.
Rotate with m. Next, the feed motor 5 is driven to position the optical head 9 at a preset measurement point. By positioning the optical head 9 at a predetermined measurement point with respect to the rotating optical disk 1 in this manner, information regarding the amount of radial displacement of the optical disk 1 at this measurement point is sampled. Information regarding the amount of radial displacement of the optical disc 1 sampled in this way is stored in the memory 53. The FFT analysis device 57 executes analysis processing based on a plurality of pieces of information regarding the amount of radial displacement of the optical disk 1 stored in the memory 53.

このFFT解析装置57における解析処理を具体的に説
明すると、光ディスク1の半径方向の変位量の周波数を
横軸に設定すると共に、この光ディスク1の半径方向の
変位量の各周波数に対するパワースペクトラムを縦軸に
設定し解析する。このように光ディスク1の半径方向の
変位量の各周波数に対するスペクトラムが求まると、こ
のスペクトラムに基づいて各周波数に対する光ディスク
1の半径方向の変位量の加速度を演算する。更に周波数
分析器57は演算した複数の加速度の値の中からこの加
速度の最大値を各周波数毎に求める。
To specifically explain the analysis processing in this FFT analyzer 57, the frequency of the radial displacement of the optical disc 1 is set on the horizontal axis, and the power spectrum for each frequency of the radial displacement of the optical disc 1 is set vertically. Set it on the axis and analyze it. Once the spectrum of the radial displacement of the optical disc 1 for each frequency is determined in this manner, the acceleration of the radial displacement of the optical disc 1 for each frequency is calculated based on this spectrum. Furthermore, the frequency analyzer 57 determines the maximum value of acceleration for each frequency from among the plurality of calculated acceleration values.

このようにして得られた各周波数ごとの加速度の最大値
の情報は比較器59へ送出される。比較器59では予め
設定した各周波数毎の基準値とFFT解析装M57から
送出された加速度の最大値等を各周波数毎に対応して比
較し、この比較の結果の情報を演算処理部55へ送出す
る。演算表示部55では比較器59からの情報に基づい
て比較の結果を表示する。
Information on the maximum value of acceleration for each frequency thus obtained is sent to the comparator 59. The comparator 59 compares the preset reference value for each frequency with the maximum value of acceleration sent out from the FFT analyzer M57 for each frequency, and sends information on the results of this comparison to the arithmetic processing section 55. Send. The calculation display section 55 displays the comparison result based on the information from the comparator 59.

次に送りモータ5を駆動して光学ヘッド9を次の測定地
点へ移動させると共に、この新たな測定地点における光
ディスク1の半径方向の変位量に関する情報をサンプリ
ングする。以下同様に新な測定地点でのサンプリングに
よる情報に基づいて光ディスク1の半径方向の変位量の
加速度を演算処理する。
Next, the feed motor 5 is driven to move the optical head 9 to the next measurement point, and information regarding the amount of radial displacement of the optical disk 1 at this new measurement point is sampled. Thereafter, similarly, the acceleration of the radial displacement amount of the optical disc 1 is calculated based on the information obtained by sampling at the new measurement point.

次に光ディスク1の回転軸方向の面振れ等の変位加速度
を演算する場合について説明する。
Next, a case will be described in which the displacement acceleration such as surface runout in the direction of the rotation axis of the optical disc 1 is calculated.

前述したと同様にスピンドルモータ3を回転駆動するこ
とにより光ディスク1を一定の速度で回転させる。又送
りモータ5を駆動して光学ヘッド9を所定の測定地点へ
位置させる。このように光学ヘッド9を所定の測定地点
へ位置させた状態で光ディスク1の回転軸方向の面振れ
等の変位量に関する情報をサンプリングする。このよう
にしてサンプリングされた光ディスク1の回転軸方向の
面振れ等の変位量に関する情報はメモリ53へ格納され
る。FFT解析装置57はメモリ53に格納された光デ
ィスク1の回転軸方向の面撮れ等の変位量に関する複数
の情報に基づいて加速度を迅速に演算処理する。即ち、
FFT解析装置57では光ディスク1の回転軸方向の面
振れ等の変位間の周波数を横軸に設定すると共に、これ
らの各周波数に対するパワースペクトラムを縦軸に設定
する。このようなパワースペクトラムが求まると、この
パワースペクトラムに基づいて各周波数に対する光ディ
スク1の回転軸方向の面振れ等の変位加速度を各周波数
毎に演算する。又、FFT解析装置57は複数の加速度
の値の中から最大の加速度を各周波数毎に求めると共に
、この求めた各周波数毎の加速度の最大値に関する情報
を比較器59へ送出する。比較器59では予め設定した
各周波数毎の加速度の基準値とFFT解析装置57から
伝送された加速度の最大値とを各周波数毎に対応して比
較し、この比較の結果の情報を演算表示部55へ送出す
る。演算表示部55は比較器59からの情報に基づいて
比較の結果を表示する。
As described above, by rotating the spindle motor 3, the optical disc 1 is rotated at a constant speed. Further, the optical head 9 is positioned at a predetermined measurement point by driving the feed motor 5. With the optical head 9 positioned at a predetermined measurement point in this manner, information regarding the amount of displacement such as surface runout in the direction of the rotation axis of the optical disk 1 is sampled. Information regarding the amount of displacement such as surface runout in the direction of the rotation axis of the optical disc 1 sampled in this way is stored in the memory 53. The FFT analysis device 57 quickly calculates the acceleration based on a plurality of pieces of information stored in the memory 53 regarding the amount of displacement such as surface blur in the direction of the rotation axis of the optical disc 1. That is,
In the FFT analysis device 57, the frequency between displacements such as surface runout in the direction of the rotation axis of the optical disk 1 is set on the horizontal axis, and the power spectrum for each of these frequencies is set on the vertical axis. Once such a power spectrum is determined, the displacement acceleration of the optical disc 1 in the direction of the rotational axis for each frequency is calculated for each frequency based on this power spectrum. Further, the FFT analyzer 57 determines the maximum acceleration for each frequency from among the plurality of acceleration values, and sends information regarding the determined maximum acceleration value for each frequency to the comparator 59. The comparator 59 compares the preset acceleration reference value for each frequency with the maximum acceleration value transmitted from the FFT analyzer 57 for each frequency, and displays information on the results of this comparison on the calculation display section. 55. The calculation display section 55 displays the comparison result based on the information from the comparator 59.

上述したように本実施例においては、物理的特性に係る
解析処理をFFT演算を専用に行なうハードウェアを用
いて行なうようにしたので、解析処理が高速且つ安定化
され、従来製造工程で行なうことが困難であった検査項
目、例えば加速度等を工程内でリアルタイムで行なうこ
とができ、更に周波数解析によるモーダル解析等の多様
な検査をも可能とするものである。
As mentioned above, in this example, the analysis process related to physical characteristics is performed using hardware dedicated to FFT calculation, so the analysis process is fast and stable, and can be performed in the conventional manufacturing process. It is possible to perform inspection items that are difficult to perform, such as acceleration, in real time during the process, and also enables various inspections such as modal analysis using frequency analysis.

なお前述した実施例ではレーザ光を用いて光ディスクの
変位量を光学的に測定する場合を例に取って示したが、
本発明はこれに限定されることな(適宜のセンサーによ
り光ディスクの変位量を測定することができる。例えば
フォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を実
行することにより、これらのそれぞれのフォーカスコイ
ル及びトラックコイルに流れる電流値に応じて光ディス
クの変位量を測定するように構成することができる。
In addition, in the above-mentioned embodiment, the case where the amount of displacement of an optical disk is optically measured using a laser beam is shown as an example.
The present invention is not limited to this. (The amount of displacement of the optical disk can be measured using an appropriate sensor. For example, by executing focus servo control and tracking servo control, the respective focus coils and track coils can be measured.) It can be configured to measure the amount of displacement of the optical disc according to the value of the flowing current.

[発明の効果] 以上説明してきたように本発明によれば光学的情報記憶
媒体の変位量に関する情報をフーリエ変換のアルゴリズ
ムを用いて高速に解析処理するようにしたことから、光
学的情報記憶媒体の変位量の、例えば加速度を迅速に演
算処理することができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, information regarding the amount of displacement of an optical information storage medium is analyzed and processed at high speed using a Fourier transform algorithm. The amount of displacement, for example acceleration, can be quickly calculated.

また光学的情報記憶媒体の変位量の加速度等の物理的特
性を迅速に短時間で演算処理できることから、光学的情
報記憶媒体の加速度の検査を製造工程に連続して行なう
ことがモきる等の効果を奏する。
In addition, since physical characteristics such as acceleration of displacement of optical information storage media can be processed quickly and in a short time, it is no longer necessary to continuously test the acceleration of optical information storage media during the manufacturing process. be effective.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明が適用される一実施例を示した説明図、
第2図(A)は第1図で示した実施例が適用される光学
的情報記憶媒体検査装置の平面図、第2図(B)は第2
図(A)の側面図、第3図は第2図の要部を示した説明
図である。 1・・・光ディスク 9・・・光学ヘッド 57・・・FFT解析装冒
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an embodiment to which the present invention is applied;
FIG. 2(A) is a plan view of an optical information storage medium inspection apparatus to which the embodiment shown in FIG. 1 is applied, and FIG.
FIG. 3 is an explanatory view showing the main part of FIG. 2. 1... Optical disk 9... Optical head 57... FFT analysis equipment

Claims (1)

【特許請求の範囲】 光学的情報記憶媒体から検出される変位をもとにして当
該光学的情報記憶媒体の物理的特性を検査する装置にお
いて、 前記物理的特性を検査する際に、フーリエ変換のアルゴ
リズムに基づく検査処理を行なう解析処理手段を具備し
たことを特徴とする光学的情報記憶媒体の検査装置。
[Scope of Claims] An apparatus for inspecting physical characteristics of an optical information storage medium based on displacement detected from the optical information storage medium, wherein when inspecting the physical characteristics, Fourier transform is performed. 1. An inspection device for an optical information storage medium, comprising an analysis processing means that performs inspection processing based on an algorithm.
JP3078788A 1988-02-15 1988-02-15 Checking apparatus of optical information storage medium Pending JPH01206209A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3078788A JPH01206209A (en) 1988-02-15 1988-02-15 Checking apparatus of optical information storage medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3078788A JPH01206209A (en) 1988-02-15 1988-02-15 Checking apparatus of optical information storage medium

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01206209A true JPH01206209A (en) 1989-08-18

Family

ID=12313383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3078788A Pending JPH01206209A (en) 1988-02-15 1988-02-15 Checking apparatus of optical information storage medium

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01206209A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100234506B1 (en) Laser texturing apparatus
US5818592A (en) Non-contact optical glide tester
US5699160A (en) Optical apparatus for inspecting laser texture
US3734626A (en) Light apparatus for testing surfaces
EP0081786B1 (en) Storage medium track pitch detector
WO1997034124A1 (en) Optical surface detection for magnetic disks
US7435941B2 (en) Methods for measuring optical characteristics by differential diffractive scanning
US5898499A (en) Method and apparatus for detecting surface discontinuities based on changes in an optical path length during beam scanning
JP2635608B2 (en) Optical information storage medium inspection device
JPS6347606A (en) Apparatus for measuring shape of non-spherical surface
JP3730831B2 (en) Aberration measuring device and adjusting device
KR100503007B1 (en) Apparatus for detecting sub-resonance of actuator for optical pickup
JP3988859B2 (en) Optical disk inspection device
JPH01206209A (en) Checking apparatus of optical information storage medium
US20100128282A1 (en) Phase difference comparison to measure very small spacing between bodies
US5703684A (en) Apparatus for optical differential measurement of glide height above a magnetic disk
JP2002054987A (en) Three-dimensional laser doppler vibrograph
JPS61277006A (en) Apparatus for inspecting recording disc
JPH01206208A (en) Checking apparatus of optical information storage medium
JP3372224B2 (en) Surface inspection apparatus, surface inspection method, and recording medium recording surface inspection program
KR101300250B1 (en) Test apparatus
JPH06221809A (en) Apparatus for measuring mechanical characteristics of plate-shaped medium
JPH02218906A (en) Apparatus for checking optical disc stamper
JPH03277932A (en) Stress measuring method
JPH1083580A (en) Optical disk measuring instrument