JPH01202629A - アツハツエンダ型干渉計 - Google Patents

アツハツエンダ型干渉計

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JPH01202629A
JPH01202629A JP2817688A JP2817688A JPH01202629A JP H01202629 A JPH01202629 A JP H01202629A JP 2817688 A JP2817688 A JP 2817688A JP 2817688 A JP2817688 A JP 2817688A JP H01202629 A JPH01202629 A JP H01202629A
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JP
Japan
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light
optical fiber
coupling
signal
receiving element
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JP2817688A
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English (en)
Inventor
Yozo Nishiura
洋三 西浦
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (7)技術分野 この発明は、シングルモードファイバによってマツハツ
エンダ型干渉計を構成して、音波や圧力などを検出する
光フアイバセンサに関する。
光ファイバによってマツハツエンダ干渉計を構成すると
いうのは、センサコイルを含む信号用光ファイバと、セ
ンサコイルのない参照用光ファイバとを設け、同一光源
の光を分けて両ファイバに通し、ファイバを透過した光
を合体させて干渉させることである。
信号用光ファイバと参照用光ファイバの長さはほぼ等し
くしておく。
音波や圧力を測定するために、信号用光ファイバのセン
サコイルを音波や圧力の存在する場に置く。すると、セ
ンサコイルは音波や圧力をうけて実効的な光路長が変化
する。
すると、信号用光ファイバを伝搬した光の位相が変化す
る。
信号光と参照光の位相の差をΦとすると、干渉光の強度
は(1+cosΦ)で変化する。それで、干渉光の強度
を受光素子で測定する事によって、音波や圧力の強さを
知ることができる。
(イ)従来技術 光フアイバハイドロ7オンを例にして、シングルモード
光ファイバを用いたマツハツエンダ干渉計型の計測原理
をまず説明する。
第2図は原理図である。
信号用光ファイバ2には、センサコイル4がある。音圧
が加わったとき、センサコイル4の実効的な光路長nL
が変化する。このためセンサコイルを光が通り抜けると
きの位相増加分を φsinΩt(1) とする。φは音圧の大きさに比例する。これを求めるの
が目的である。Ωは音波の角振動数である。
参照用光ファイバ3を通過して受光素子5に入射した時
の参照光の電界強度E(t)は、Gを振幅、ωを光の角
振動数として E(t) = G51n(cyt+Φ)(2)と書くこ
とができる。φは信号光と参照光の位相のズレを示して
いる。
信号光はセンサコイルを通る。信号光の電界強度F (
t)は F(t) = Hsin (砒+φsinΩt)   
 (3)である。
受光素子5はこれらの和の2乗にあたる出力I (t)
を与える。
I(t) = t E(t)+ F(t) I”   
   (4)であるが、受光素子は光の角振動数ωの速
さには追随しないので、 ■(t) =−!(G” + H”) + HGcos
 (Φ−φsinΩt)  (5)となる。この内、直
流分を除いたものをγ(1)と書く。これについて考え
る。
1’(t)= G H(cosφcos (φ5inQ
t) +sinΦ5in(φsinΩt))  (6)
cos(φsin信)とS□n(φsinΩt)はベッ
セル函数Jn(φ)によって展開する事ができる。
cos (φsinΩt) = Jo(φ)+2!’J
(φ)cos (2mΩt)  (7)m−12m 5in (φsinΩt)=2m:IJ2mJφ)si
n (’(2m −t)Ωt’)   (8)である。
これを(6)に代入すると、I(t)をΩの基本波と高
調波成分の和として表現する事ができる。
フィルタ回路を通す事によって任意の次数の周波数成分
をとりだすことができる。
基本波成分をII(t)と書くと、 ” r(t) = 2 G Hsin LpJl(φ)
Sln(Ωt )        (91となる。水圧
、圧力による変調位相の振幅は十分に小さいので、φ〈
1という近似をすることができ、この範囲でJl(φ)
=φ/2であるから、基本波成分は 11;GHφsin LI’ sin (Ωt>   
         (10)となる。
ここから、φが分る。これが光フアイバハイドロ7オン
の原理である。
ところが、実際には、これほど単純ではない。
両光ファイバの位相差φが温度によって著しく変動する
からである。
Q(6式から分るのは、φsinΦの大きさである。φ
が一定でなければ、φの値が正確に分らない。
信号用光ファイバ、参照用光ファイバともに同じ長さで
あっても、温度が異なると、Φが温度ともに変動する。
本出願人は、そこで、温度による位相差を検出して、こ
れをキャンセルするように位相補償するようにした光フ
ァイバハイドロフオンを発明した。
特願昭61−237405号(S 61.10.6出願
)である。
第3図に構成図を示す。
位相変調器7と位相補償器6とを参照用光ファイパ3の
中に加える。
位相変調器7で、参照信号に esin(Ωmt )          Ql)の位
相変調を加える。位相補償器6は直流分の位相補償Φを
与える。
これを同期検波器8で検波すると、 rI = 2GHJ1@sin (φsinΩを一Φ+
Φ)    Qlを得る。この直流分■0は no = 2GHJt@sin (Φ−φ)     
  (13)となる。G、 H,eは定数である。直流
分子Toからsin (←φ)を求める事ができる。そ
こでこれを一定にするためのΦが分る。それをフィード
バックして、Φを更新するようにしている。
つまり、温度変動によってΦが増加すると、位相補償Φ
も同じ速さで増加させる事になる。
このようにすると、実効的な位相差ΦかΦ′=Φ−Φ=
σml     αa という事になり、αω式から、音波の強さφを求める事
ができる。
(ロ) 発明が解決しようとする問題点第3図に示すも
のは、誤差信号を検出するために、極めて複雑な構成と
なっている。
位相変調を行い、受光素子の出力を変調させている。こ
れを同期検波している。
位相変調器、変調信号発生器、同期検波器などが必要で
ある。
このため、装置が大型で、し−かも高価となる。
に)構 成 マツハツエンダ型の干渉計を光ファイバによって構成し
た場合、第2図、第3図のいずれの例に於ても、入射側
、出射側のハーフミラ−の一方の側にのみ発光素子、受
光素子が置かれている。他方の側は利用されていなかっ
た。
従来法のように、ひとつの光源(発光素子)、ひとつの
受光素子ではなく、2つの波長の異なる光源と、ふたつ
の受光素子を用いて、2組の干渉系を構成したのが本発
明のマツハツエンダ型干渉計の原理である。
波長の異なる光を、反対方向に、参照用光ファイバ、信
号用光ファイバに通す。参照用、信号用光ファイバの温
度による実効的な光路長の差Δ(=δ(nL))は、2
つの光に対して同一である。
行路が同一だからである。
ところが、位相は異なる。位相は、光路長の差を波長で
割って、2πを乗じたものだからである。
マツハツエンダ型干渉計では、受光素子によって位相差
の余弦を知る事ができる。
そこで、2つの波長の光に対して、位相差の余弦が常に
等しくなるように制御する。そうすると、温度による位
相差のゆらぎを補償する事ができるのである。
第1図によって本発明のマツハツエンダ型干渉計の構成
を説明する。
シングルモード光ファイバである信号用光ファイバ2と
、参照用光ファイバ3とを両端に於て結合する。第1カ
ップリングにと、第2カップリングMという。
従来は、カップリングの先は一方しか用いられなかった
が、本発明では、両方を用いる。
第1カップリングにの先端をに1%に2とする。
第2カップリングMの先端をMl、M2とする。
ここでカップリングに、Mは、2本のファイバを、たと
えば、ねじり合わせて融着し、エバネツセント結合する
事によって形成することができる。
また、従来例として示したように、ハーフミラ−と、レ
ンズ系によって構成することもできる。
つまり、カップリングに、Mはハーフミラ−と、これに
関して面対称な位置にレンズを置き、レンズによって光
を集光してファイバ端に入射するようにしてもよいので
ある。
第1カップリングにの先端に1には第1の光源Aを置く
。この光の波長をA1とする。
第2カップリングMの一方の先端M1には、第1の受光
素子Cを置(。これは波長A1の光源Aからの光を受け
る。
第1カップリングに1第2カップリングMの先端に、対
になった光源A1受光素子Cを置くのは通常のマツハツ
エンダ型干渉計と同じである。
本発明に於ては、これまで利用されなかった他の端に2
、M2に他の光源と受光素子を置く。
第2カップリングMの他端M2には、第2の光源Bを置
く。この波長をA2とする。
第1カップリングにの他端に2には、第2の受光素子り
を置く。
こうして、2組のマツハツエンダ型干渉計ができる。
信号用光ファイバ2は、途中にセンサコイル4を持つ。
これは音波や圧力を感じるためのコイルである。音波の
強さをφとし、角周波数をΩとして、(1)と同じよう
に、φsinΩtの位相変化を受ける。
参照用光ファイバ3は、参照用コイル9を持つ。
これは、ファイバ長をほぼ等しくして、温度変化をバラ
ンスさせるためである。このコイルは圧力、音波などを
感じないようにする。
参照用光ファイバ3の途中には、位相補償器6が設けら
れている。これは、たとえば圧電素子に光ファイバを巻
きつけコイル状にしたものによって構成できる。加えた
電圧によって、圧電素子が膨縮する。これによりファイ
バが伸縮するので光路長がわかる。このため位相補償器
6を通り抜ける時の位相が変わる。位相補償できるわけ
である。
位相補償器をΦで表わす。制御回路17が、位相補償器
Φを指定する。
第1受光素子Cの出力は、増幅回路10で増幅され、検
波回路11で検波される。
第2受光素子りの出力は、増幅回路12で増幅され、検
波回路13で検波される。
ふたつの信号系の検波出力の差をとって誤差信号を与え
るのが、誤差信号抽出回路14である。
この回路14が制御回路17に制御信号を与え、適切な
位相補償Φを与える。
本発明に於ては、同じ信号用光ファイバ2、参照用光フ
ァイバ3に対し、波長の異なる2つのマツハツエンダ干
渉計が構成されている。
温度によって、2つのファイバの実効的な光路長が変化
する。光路長変化により、受光素子の振幅が変化する。
しかし、波長が異なるから、受光素子信号の振幅の変化
は同一ではない。位相変化は、波長によって光路長変化
を割ったものだからである。
そこで、2つの干渉計の受光素子信号の振幅が常に同一
であるように位相補償をすれば、これは正しく位相補償
をしたという事になるのである。
(2)作 用 第1光源Aから出た単色光は、端点に1から第1カップ
リングKに入る。ここで信号光と参照光に分かれる。
信号用光ファイバ2を伝搬する光は、センサコイル4を
通るので、音波又は圧力による位相変化φsin (Ω
t)を受ける。参照用光ファイバ3を伝搬する光は位相
補償器6を通るので、位相補償Φを受ける。
ふたつの光ファイバの温度変化による位相変化をφ1と
する。
すると、両光ファイバを通った光の位相差はφ1 si
nΩt−Φ1+Φ1(19 という事になる。
信号光と参照光とは第2カップリングMで合体し、干渉
する。干渉光の強度は、Mlに設けた第1受光素子Cに
よって検出される。
この出力は、(6)式に示したような交流成分を持つ0 検波回路10で、音波又は圧力信号の基本波成分のみを
とり出す。すると(9)或はaoに対応するような出力
を得る。
これをCと書くと、 C−; GIH1φ1 sin (φ1−Φ1 ) s
in (Ωt>   (16)となる。Hlは信号光の
振幅、G1は参照光の振幅である。φ1は圧力、音波の
強さに比例する変数である。
同じように、光源Bから出た光は%M2から第2カップ
リングMに入る。ここで信号光と参照光に分かれる。2
つの光は第1カップリングにで合一し干渉する。
干渉光の強度は第2受光素子りで検出される。
これを増幅して検波し、基本波のみをとり出す。
この信号をDと書くと、 DンG2H2φ2sin(φ2−Φ2)sin(Ωt)
  (17)となる。G2は参照光の振幅、H2は信号
光の振幅である。φ2は圧力、音波の強さに比例する変
数である。
G1、G2、Hl、H2は、光源A、Bの発光強度やカ
ップリングに、Mの結合度による。波長AI、A2によ
って直ちに決まるというものではない。
ところがφ1、φ2、Φ1、Φ2、Φ1、Φ2は波長A
1%A2と相関がある。φ1、φ2は、センサコイル4
の光路長が変化する事によって生じた位相変化分である
。センサコイル4の光路長の変化を8とすると、 と書くことができる。
同様に、位相補償器6による、実効的ファイバ長さの変
化分をqとすると、 と書くことができる。さらに、温度変化による両ファイ
バの長さの相違をpとすると となる。
いずれも、分子は共通であって、分母がA1、A2とい
うように異なっている。
検波回路11.13で(1fE1%(17)のような基
本波成分の強さを求めるが、誤差信号抽出回路14は、
αe1αηに一定数をそれぞれ乗じ、その値を等しくす
るように位相補償するのである。
一定数をC1、C2とする。また振動項を除いて、で、
でと書くと C−D            (ハ)となるように制
御するのである。C4、(ハ)でsinに絶対値符号が
つくのは、振動部分を除いた時に現われる振幅について
は、正負が分らないからである。
(イ)のようにするということは l5in(2yrn(P Q)/AI)I= II”’
sin (2πn(P−q)/A2)+とすることであ
る。ただし、 この場合、温度変動と、位相補償による光路長の変化を
Δとすると Δ= n(p−q)           四である。
Δを変数として、グラフI:5in(2πΔ/Al)と
グラフII : r’ sin (2πΔ/A2)を描
いてみると、第4図〜第6図のようになる。
いずれも0点で(5)の等式が成立する。0点よりΔが
増えた点をP1Δが減った点をQとする。
誤差信号抽出回路14は、Δを調整して0点にグラフ1
1■の値を保とうとするものである。
第4図の例では、Δが0より増えた時に11■の値P1
、P2がPi > P2となる。ΔがOより減った時に
、I、nの値Q1、C2がQl<C2となる。
この場合、検波回路11の出力■、13の出力■を比較
して、I>IIであればΔを減するように、つまり、位
相補償qを増す。
I<nであれば、Δを増すように、つまり、位相補償q
を減する。
第4図の例では、グラフ■については位相が0〜π/2
の間で、グラフ■については位相がπ/2〜πの間で交
叉している。このため、Δの変動に対して■とHの差が
顕著に現われる。この場合、ネガティブフィードバック
制御は簡単である。
第5図の例では、平衡点0よりΔが増えるとII>I 
(P2>PI)  となる。さきほどの例とは、フィー
ドバックの係数が反対になる。
I>nであればΔを増し、I〈■であればΔを減するよ
うに制御するのである。同じようにネガティブフィード
バックである。しかし、Δの差異に対して、■と■の差
異が小さい。このためフィードバック系が有効に働きに
くい。
さて、(5)のように絶対値をとったものを等置するの
であるから、第4図のようになる場合もあるし、第5図
のようになる場合もある。予めこれを指定する事はでき
ない。
しかし、Δの値を0点に固定するようなネガティブフィ
ードバック制御は常に可能である。検波回路からの出力
を等置したものに安定させるのであるから、I、nの差
を求めて、差に比例するように位相補償qを増減する。
そして、出力としては、■と■の平均値をとる。
すなわち、 出力0=−L(I+II)      (7)とするの
である。第4図、第5図いずれであっても、平衡点0か
ら、■、■がずれていても、平均値は殆んど0からずれ
ない。
である。フィードバックが多少遅くれても、測定値自体
の誤差が小さい。
これが、本発明の測定系の利点のひとつである。
さて、第4図のようになるか、第5図のようになるかは
最初の温度による。確率は50%、50%である。とこ
ろが、Δの増減の方向と、■、■の大小関係とを、2つ
の場合に於て、切換える事ができない事もある。
しかし、それは差支えのない事である。
第4図のようにI>nならΔを減じ、II>IならΔを
増加するという制御を行う系では、第5図のような状態
ではポジティブフィードバックがかかつてしまう。する
と、平衡点0からよけいずれる。
ところが、sin函数の絶対値が等しいことを要求する
のであるから、半波長、又は1波長内には隣接の交点が
必ず存在する。この交点は第4図のような交点である。
すると、平衡点のまわりでネガティブフィードバックを
かける事になり、ここで0点のまわりに微少変位すると
いう事になる。
つまり、sin函数の絶対値が等しくなるような交点は
長い方の波長の函数についてみれば1周期の中に4回あ
られれるはずである。このうち、2つは第4図のような
交点で、のこりの2つは第5図のような交点である。
いずれの状態を保つようなフィードバックをかけてもよ
い。フィードバック運動自身によって、安定な平衡点を
捜し出す事ができるわけである。
(至)で定義されるFが未知数である事が多い。未知数
であっても、そのようなネガティブフィードバック制御
により、第4図、第5図のように等式罰を保つようにす
る事ができる。
これは−膜性に富んだ制御である。しかし、sin函数
のピークで交点が存在するのではない。感度が幾分悪い
という欠点がある。
「=1である事が分っている場合は、特殊であるが、第
6図のような制御をする事ができる。曲線11■の振幅
が同一で最大振幅の0点でI=I[となるようにする。
すると、これは微分も等しいから、■と■の違いがΔの
2乗で表われる。つまりs PlとP2、QlとQ2の
差が極めて小さく検出しにくい。
しかし、いずれにしてもn<Iとなるのであるから、第
6図のようにピーク点で平衡しているという事は分る。
この場合、■=Iとなる0点を中心とし、n<Iとなる
と、その差分だけを補償するという単純な話ではすまな
い。Δを増せばよいのか、減らせばよいのか分らないか
らである。
この場合は、試みに位相補償qをたとえば増やし、■と
Iの差が増えるか減るかを見る。そして、差が減る方向
に位相補償を与える事にする。
第6図の制御は感度がよいが、制御方法は複雑である。
またr=1とならなければならず、カップリングに、M
などをよほど巧みに作らなければならない。
光源として半導体レーザ、スーパールミネッセントダイ
オードなどを用いる事ができる。たとえば、A1、A2
として780 nm 、 830 nmの光を用いる事
ができる。波長の違いがかなり大きいので、ネガティブ
フィードバック制御は容易である。
(2)効 果 音波、圧力などを測定する光ファイバを用いた高精度の
マツハツエンダ型測定器を提供することができる。
第3図に示すもののように、位相変調器や同期検波器が
不要である。
第1図で検波回路11.13としであるのは同期検波で
はなく、音波φsinΩtの基本波sinΩtをとりだ
すという意味である。フィルタのようなものである。
このため、装置が小型になり安価になるという長所があ
る。
さらに、第3図に示すものは、より根本的な問題がある
。音波の信号がsinΩtであり、変調信号がsinΩ
mtである。ΩとΩmが全くオーダの違う値であればよ
いが、両者が近接してくると、同期検波や基本波を通す
バンドパスフィルタの動作が誤動作をひきおこしやすく
なる。
実際ベッセル函数で展開したものをさらにベッセル函数
で展開する形になる。基本波といっても、その意味が不
明瞭になる。
本発明では2つの角周波数が混在しないので、そのよう
な数学的な困難から免れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマツハツエンダ型干渉計の基本構成図
。 第2図は光ファイバを用いたマツハツエンダ型干渉計の
原理図。 第3図は本出願人による特願昭61−237405の構
成図。 第4図は波長の異なる2つの干渉計の受光素子出力が同
一になる点を示すグラフ。 第5図は波長の異なる2つの干渉計の受光素子出力が同
一になる他の点を示すグラフ。 第6図は波長の異なる2つの干渉計の受光素子出力の振
幅が同一であってピークに於て出力が一致するような制
御法を説明するグラフ。 A・・・・・・第1光源 B・・・・・・第2光源 C・・・・・・第1受光素子 D・・・・・・第2受光素子 K・・・・・・第1カップリング M・・・・・・第2カップリング 2・・・・・・信号用光ファイバ 3・・・・・・参照用光ファイバ 4・・・・・・センサコイル 6・・・・・・位相補償器 9・・・・・・参照用コイル 14・・・・・・誤差信号抽出回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  音波や圧力を感受して実効的な光路長を変化させるセ
    ンサコイル4を持つたシングルモード光ファイバである
    信号用光ファイバ2と、参照用コイル9を持つたシング
    ルモード光ファイバである参照用光ファイバ3との両端
    を結合して第1カップリングK、第2カップリングMを
    形成し、信号用光ファイバ2又は参照用光ファイバ3の
    途中には位相補償器6を設け、第1カップリングの端点
    K_1には波長Λ_1の第1光源A、端点K_2には第
    2受光素子Dを設け、第2カップリングMの端点M_2
    には波長Λ_2の第2光源B、端点M_1には第1受光
    素子Cを設け、信号用光ファイバ2、参照用光ファイバ
    3を共通にする2組のマツハツエンダ型の干渉計を構成
    し、第1受光素子の出力の基本波成分の強さCと第2受
    光素子の出力の基本波成分の強さDとを測定し、両者の
    誤差に比例して位相補償器6による光路長変化qを増減
    してCとDが等しくなるように制御し、出力信号として
    両者の平均値(C+D)/2を採用する事を特徴とする
    マツハツエンダ型干渉計。
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