JPH01202023A - Logical level control circuit - Google Patents

Logical level control circuit

Info

Publication number
JPH01202023A
JPH01202023A JP63025580A JP2558088A JPH01202023A JP H01202023 A JPH01202023 A JP H01202023A JP 63025580 A JP63025580 A JP 63025580A JP 2558088 A JP2558088 A JP 2558088A JP H01202023 A JPH01202023 A JP H01202023A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
output
fet
control circuit
level control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63025580A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yu Watanabe
祐 渡邊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP63025580A priority Critical patent/JPH01202023A/en
Publication of JPH01202023A publication Critical patent/JPH01202023A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00369Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
    • H03K19/00384Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits

Abstract

PURPOSE:To remove the dispersion of a level shift quantity especially on the low level side and to obtain an optionally level-shifted low level output by connecting resistor elements between an output part of a logical gate and a power supply and extracting a level shifted output from a node between the resistor elements. CONSTITUTION:Serial resistors R1, R2 are connected in parallel with an FET Q1 having constant current characteristics as a load element and an output voltage VOUT is extracted from a node between the resistors R1, R2. Thereby, the low level output can be optionally controlled by controlling the resistance values of the resistors R1, R2. When a depression type FET shorted between the drain and gate is used as the resistor element, the resistor element stabilized against the dispersion of the threshold voltage or the like of the FET can be obtained and the resistor element excellent in uniformity and controllability can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 例えばDCFL (デイレクトカップルドFETロジッ
ク)回路からECL回路への論理レベル変換に用いられ
る論理レベル制御回路に関し、特にロウレベル側のレベ
ルシフト量のばらつきをなくすとともに、任意にレベル
シフトされたロウレベル出力をうろことを目的とし、 論理ゲートの出力部と電源間に抵抗素子を接続し、その
途中からレベルシフトした出力をとり出すように構成さ
れる。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] This invention relates to a logic level control circuit used for logic level conversion from a DCFL (directly coupled FET logic) circuit to an ECL circuit, for example, to eliminate variations in level shift amount, especially on the low level side. At the same time, the resistor element is connected between the output part of the logic gate and the power supply, and the level-shifted output is taken out from the middle of the connection for the purpose of measuring the low-level output that has been arbitrarily level-shifted.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は論理レベル制御回路に関し、特にGaAs・M
ES −F8TやHEMTなどの化合物半導体のFET
を用いたDCFL回路から、例えばECL回路への論理
レベル変換に用いられる、論理レベル制御回路に関する
The present invention relates to logic level control circuits, particularly GaAs/M
Compound semiconductor FETs such as ES-F8T and HEMT
The present invention relates to a logic level control circuit used for logic level conversion from a DCFL circuit using, for example, an ECL circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に論理回路の内部あるいは人出力部で、他の回路と
整合性を持たせるためには、論理レベルを調整する必要
があり、このためにはレベルシフト回路が不可欠である
。すなわち、例えばGaAs・MBS −FETあるい
はHEMTなどの化合物半導体FETに用いられている
DCFL回路からECL回路の論理レベルに変換する場
合には、電源電圧を一2Vとした場合、DCFL回路の
論理レベルは例えば−1,2V(ハイレベル側)および
−1,9V(ロウ・レベル側)であるのに対し、ECL
回路の論理レベルは例え1−r−o、sv(ハイレベル
側)および−1,8V(ロウレベル側)であり、したが
ってかかる論理レベル電圧の変換回路(レベル制御回路
)が必要となる。
In general, it is necessary to adjust the logic level within a logic circuit or in the human output section to ensure consistency with other circuits, and a level shift circuit is essential for this purpose. That is, when converting the logic level of a DCFL circuit used in a compound semiconductor FET such as GaAs/MBS-FET or HEMT to the logic level of an ECL circuit, when the power supply voltage is -2V, the logic level of the DCFL circuit is For example, -1,2V (high level side) and -1,9V (low level side), while ECL
The logic levels of the circuit are, for example, 1-r-o, sv (high level side) and -1.8V (low level side), and therefore a conversion circuit (level control circuit) for such logic level voltages is required.

第5図は、従来技術としてのレベル制御回路を例示する
もので、Q6はスイッチング素子としてのエンハンスメ
ント型FET5Qlは負荷素子としてのゲート−ソース
間を短絡した(定電流特性を有する)デイブリーシコン
型FET、Diはレベルシフト用のダイオード、Qlは
該ディプリーション型FET Qlとレベルシフト用の
ダイオードD1との接続点(すなわち該レベル制御回路
の出力側)にそのゲートが接続された電流駆動用のエン
ハンスメント型FETである。
FIG. 5 shows an example of a level control circuit as a conventional technology, in which Q6 is an enhancement type FET as a switching element. FET, Di is a diode for level shifting, Ql is the depletion type FET, and a current driving type FET whose gate is connected to the connection point between Ql and the level shifting diode D1 (that is, the output side of the level control circuit) This is an enhancement type FET.

このように従来回路では、レベルシフト用の素子として
、ダイオードやFETなどの整流素子を用い、これに定
電流回路を組合せてレベルシフトを行っていたが、この
場合には該整流素子および該定電流回路の特性によりシ
フト量が決ってしまい、かつそれらの特性のばらつきに
より該シフト量が変動し、細かなシフト量の調整が困難
であった。すなわち上記MES −FBTやHEMTな
どを用いた回路ではショットキーダイオードを用いてレ
ベルシフトを行うが、該ダイオードが該FETと同じ程
度のサイズではそのシフト量は0.6〜0.8Vであり
、より小さいシフト量の調整は困難である。
In this way, in conventional circuits, a rectifying element such as a diode or FET is used as a level shifting element, and a constant current circuit is combined with this to perform level shifting. The amount of shift is determined by the characteristics of the current circuit, and the amount of shift fluctuates due to variations in those characteristics, making it difficult to finely adjust the amount of shift. That is, in the circuit using the above-mentioned MES-FBT or HEMT, level shifting is performed using a Schottky diode, but if the diode is about the same size as the FET, the amount of shift is 0.6 to 0.8 V, Adjustment of smaller shift amounts is difficult.

特に、上記第5図に示されるようなレベルシフト用の整
流素子を用いたDCFLでは、そのハイレベル側の電圧
シフト量(すなわち、入力電圧Vlhに応じてスイッチ
ング素子としてのFBT 06がオフとなり、エンハン
スメント型FET Qlのゲートにほぼ正側の電源電圧
(この場合グラウンド電位)が印加されたときの出力電
圧V OUTのシフト量)は、その出力側端子に接続さ
れる次段のゲートあるいは出力負荷抵抗とそこへ流れる
出力電流とにより比較的容易に決定することができるが
、ロウレベル側の電圧シフト量(すなわち、入力電圧V
1に応じてスイッチング素子としてのFET Q5がオ
ンとなり、エンハンスメント型FBT Qlのゲートに
は負側の電源電圧VEEより僅かにレベルシフトされた
(例えば0.3〜0.4V程度レベルシフトされた)電
圧が印加されて、該エンハンスメント型FIET Ql
に僅かな電流を流すことによりえられるロウレベル側の
出力電圧V。LITのシフト量)を所定の値に設定する
のが困難であり、かかるロウレベル側の電圧シフトを正
確に調整しうることが重要な課題となる。
In particular, in a DCFL using a rectifying element for level shifting as shown in FIG. When a substantially positive power supply voltage (ground potential in this case) is applied to the gate of the enhancement type FET Ql, the amount of shift in the output voltage V Although it can be determined relatively easily by the resistance and the output current flowing there, the amount of voltage shift on the low level side (i.e., the input voltage V
1, the FET Q5 as a switching element is turned on, and the gate of the enhancement type FBT Ql has a level slightly shifted from the negative side power supply voltage VEE (for example, level shifted by about 0.3 to 0.4 V). A voltage is applied to the enhancement type FIET Ql
Low-level output voltage V obtained by passing a small amount of current through. It is difficult to set the LIT shift amount to a predetermined value, and it is an important issue to be able to accurately adjust such a voltage shift on the low level side.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

本発明はかかる課題を解決するためになされたもので、
上述したようなレベルシフト素子の代りに負荷素子とし
て分圧抵抗を使うことにより、特にロウレベル側のレベ
ルシフト量のばらつきをなくすとともに、任意にレベル
シフトされたロウレベル出力かえられるようにしたもの
である。
The present invention was made to solve such problems,
By using a voltage dividing resistor as a load element instead of the level shift element described above, it is possible to eliminate variations in the amount of level shift, especially on the low level side, and to change the level-shifted low level output arbitrarily. .

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

かかる課題を解決するために本発明においては、論理ゲ
ートの出力部と電源間に抵抗素子を接続し、その途中か
らレベルシフトした出力をとり出すようにした論理レベ
ル制御回路が提供される。
In order to solve this problem, the present invention provides a logic level control circuit in which a resistance element is connected between the output part of a logic gate and a power supply, and a level-shifted output is taken out from the middle of the resistance element.

なお該抵抗素子としては、ドレイン−ゲート間を短絡し
たディプリーション型FETを、電源電圧に応じて複数
個直列に接続したものを使用するのが好適である。
As the resistance element, it is preferable to use a plurality of depletion type FETs whose drains and gates are short-circuited and connected in series depending on the power supply voltage.

〔作 用〕[For production]

上記構成によれば、該抵抗素子の途中から任意に調整さ
れた(すなわち任意にレベルシフトされた)出力レベル
をうろことができ、特にそのロウレベル側の出力をも任
意に制御することができる。
According to the above configuration, it is possible to arbitrarily adjust (that is, arbitrarily level shift) the output level from the middle of the resistance element, and in particular, it is possible to arbitrarily control the output on the low level side.

なお上述したように該抵抗素子としてドレイン−ゲート
間を短絡したディプリーション型FETを用いることに
より、該FETのしきい値電圧などのばらつきに対して
も安定した抵抗素子をうろことができ、均一性および制
御性にすぐれた抵抗素子とすることができる。
As mentioned above, by using a depletion type FET with the drain and gate shorted as the resistance element, it is possible to provide a stable resistance element even with variations in the threshold voltage of the FET, etc. A resistance element with excellent uniformity and controllability can be obtained.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の1実施例としてのレベル制御回路を示
すもので、該負荷素子としての定電流特性を有するFE
T Qlと並列に、直列抵抗R1およびR2が接続され
、その途中の接続点から出力電圧VOUTがとり出され
る。したがって該抵抗R1およびR2の抵抗値を調整す
ることにより、そのロウレベル出力を任意に制御するこ
とができる。なおこの場合ハイレベル出力はほぼグラウ
ンド電位となる。
FIG. 1 shows a level control circuit as an embodiment of the present invention, in which an FE having constant current characteristics is used as the load element.
Series resistors R1 and R2 are connected in parallel with TQl, and the output voltage VOUT is taken out from a connection point in the middle. Therefore, by adjusting the resistance values of the resistors R1 and R2, the low level output can be arbitrarily controlled. Note that in this case, the high level output is approximately at ground potential.

第2図は、本発明の他の実施例としてのレベル制御回路
を示すもので、該抵抗R1,R2の代りに、ドレイン−
ゲート間を短絡したディプリーション型FET O2乃
至O5が用いられる。
FIG. 2 shows a level control circuit as another embodiment of the present invention, in which the resistors R1 and R2 are replaced by drain
Depletion type FETs O2 to O5 whose gates are short-circuited are used.

第6図は、かかるドレイン−ゲート間を短絡したディプ
リーション型FETの電流電圧特性を示すもので、かか
るFETは該第6図に示されるように線型領域(抵抗に
近い特性)で動作するようになり、この場合、そのしき
い値電圧Vthの変動に対しその電流値が安定し殆んど
変動しなくなる。
FIG. 6 shows the current-voltage characteristics of a depletion type FET with its drain and gate shorted.As shown in FIG. 6, this FET operates in a linear region (characteristics close to resistance). In this case, the current value is stable and hardly fluctuates with respect to fluctuations in the threshold voltage Vth.

(なお第6図には、該Vthが一300mVから一80
0mVまで変化した場合の特性変化が示されている。)
(In addition, in Fig. 6, the Vth ranges from -300 mV to -80 mV.
The characteristic change when the voltage is changed to 0 mV is shown. )
.

この点、例えば0.1V程度のレベルシフト量を実現す
るには、該抵抗素子に高い均一性・制御性が必要とされ
るが、上述したようなFETの線型領域を動作領域とし
て用いると、該FETのしきい値電圧などのばらつきに
対しても安定した電流特性をうることができるため、か
かるドレイン−ゲート間を短絡したFETを安定な抵抗
として用いることができる。
In this respect, for example, in order to realize a level shift amount of about 0.1V, the resistance element needs to have high uniformity and controllability, but if the linear region of the FET as described above is used as the operating region, Since stable current characteristics can be obtained even with variations in the threshold voltage of the FET, the FET with its drain and gate short-circuited can be used as a stable resistor.

また上述したように、負荷素子としてのFETにGaA
s −MES  −FETやHEMTなどを用いた場合
、そのゲートにショットキー接合が用いられているため
、ゲート−ソース間の電圧が例えば0.8Vを超えるよ
うになると、ゲート−ソース電流(ショットキーゲート
を流れる電流)が過大になるため、上記第2図に示され
る回路(正側の電源電圧OV1負側の電源電圧VEEを
一2Vとする)では、該ショットキーゲートを流れる電
流が過大にならないよう、各FET(抵抗素子)の両端
にかかる電圧が例えば0.6V程度となるように4個の
FIET O2乃至O5が直列接続される。
Furthermore, as mentioned above, GaA is used in the FET as a load element.
When using an s-MES-FET or HEMT, a Schottky junction is used for the gate, so if the voltage between the gate and source exceeds, for example, 0.8V, the gate-source current (Schottky The current flowing through the Schottky gate becomes excessive, so in the circuit shown in FIG. To prevent this, the four FIETs O2 to O5 are connected in series so that the voltage applied across each FET (resistance element) is, for example, about 0.6V.

すなわち本発明では第6図に示される電流電圧特性のう
ち、Vns (各抵抗素子のドレイン−ソース間電圧)
が約0.8V以下となる領域が使用されることになる。
That is, in the present invention, among the current-voltage characteristics shown in FIG. 6, Vns (the drain-source voltage of each resistance element)
A region where the voltage is approximately 0.8V or less will be used.

このようにして、該第2図に示される実施例では、ロウ
レベル側の出力電圧V。U、は’6W++W2 乃至Q4の抵抗値、W2は該FBT O5の抵抗値であ
って、該抵抗値はFET0サイズなどにより調整される
In this way, in the embodiment shown in FIG. 2, the output voltage V on the low level side. U is the resistance value of '6W++W2 to Q4, W2 is the resistance value of the FBT O5, and the resistance value is adjusted by the FET0 size and the like.

第3図は、本発明の更に他の実施例としてのレベル制御
回路を示すもので、上記第2図の実施例では、上記した
定電流特性を有する(ゲート−ソース間を短絡した)デ
ィプリーション型Fll:T Qlと並列に、上記抵抗
素子としての(ドレイン−ゲート間を短絡した)ディプ
リーション型FET O2乃至O5が接続されているが
、該第3図に示される実施例のように、論理ゲートすな
わちFBT O5の負荷素子として該FET Qlを用
いずに、抵抗素子としてのFET O2乃至O5のみを
用いてもよい。なお第2図に示される実施例のように、
上記定電流特性(飽和特性)を有するFET Qlを設
けることにより、電流の切れをよくし、論理レベルの切
換えをよりシャープに行うことができる。
FIG. 3 shows a level control circuit as still another embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. Depletion type FETs O2 to O5 (with their drains and gates short-circuited) are connected in parallel with the depletion type FLL:T Ql as the resistance elements, as in the embodiment shown in FIG. Alternatively, only the FETs O2 to O5 may be used as resistance elements without using the FET Ql as a load element of the logic gate, that is, the FBT O5. In addition, as in the embodiment shown in FIG.
By providing the FET Ql having the above-mentioned constant current characteristics (saturation characteristics), it is possible to improve current cutoff and to more sharply switch logic levels.

第4図は、第2図の回路をECLレベルへの制御回路に
使用した例(すなわちDCFL回路からECLレベルの
出力を出すためのIC用出力回路)を示すもので、該第
2図に示される出力端子(FET Q4とQ5との接続
点)には、電流駆動用のエンハンスメント型FET Q
7のゲートが接続され、その出力側(ソース側)にはタ
ーミネーション抵抗R0とECL回路が接続される。こ
の場合、該エンハンスメント型FBTロアのゲートに印
加される電圧(上記FBT Q4およびQ5の接続点か
らとり出される電圧)は、ハイレベル側(FBT O,
6がオフ状態)がほぼグラウンド電圧であり、ロウレベ
ル側(FET Q6がオン状態)は例えば−1,6V(
VEEより0.4Vだけレベルシフト)に設定される。
FIG. 4 shows an example in which the circuit shown in FIG. 2 is used as a control circuit for controlling the ECL level (i.e., an output circuit for an IC to output an ECL level output from a DCFL circuit). Enhancement type FET Q for current drive is connected to the output terminal (connection point between FET Q4 and Q5).
The gate of No. 7 is connected, and the termination resistor R0 and the ECL circuit are connected to the output side (source side). In this case, the voltage applied to the gate of the enhancement type FBT lower (the voltage taken out from the connection point of the FBT Q4 and Q5) is on the high level side (FBT O,
6 is off state) is almost the ground voltage, and the low level side (FET Q6 is on state) is -1.6V (
(level shift by 0.4V from VEE).

これにより該エンハンスメント型FET Q7の導通状
態が制御され、該FET Q7の出力側(ソース側)か
らターミネーション抵抗R1を通して流れる電流により
、該ECL回路に供給されるハイレベル側の電圧V。1
.は約−0,8V、ロウレベル側の電圧V。U7は約−
L 8 Vとされ、所定のレベル変換が行われる。
As a result, the conduction state of the enhancement type FET Q7 is controlled, and a high-level voltage V is supplied to the ECL circuit by a current flowing from the output side (source side) of the FET Q7 through the termination resistor R1. 1
.. is approximately -0.8V, the voltage V on the low level side. U7 is about -
The voltage is set to L 8 V, and a predetermined level conversion is performed.

第7図は、上記第5図に示される従来回路の伝達特性(
VInに対するV。u7の特性)を示し、−方策8図は
、上記第4図に示される本発明によるレベル制御回路(
DCFL回路からECL回路へのレベル変換回路)の伝
達特性を示している。該第7図に示されるように、上記
第5図に示される従来のインバータ回路においては、そ
の論理しきい値が、該負荷素子としてのディプリーショ
ン型FETのしきい値電圧Vthの変動(例えば−30
0mVから一800mVまでの変動)に応じて大きくば
らつくのに対し、第4図に示されるような本発明の回路
においては、上記第8図に示されるようにその論理シキ
いt(Vaurがハイレベルからロウレベルに切換る際
のVlnの値)が、該Vthの変動に拘らずほぼ一定と
なり、安定した動作を行うことができる。
Figure 7 shows the transfer characteristics (
V to VIn. Figure 8 shows the level control circuit according to the present invention shown in Figure 4 above.
3 shows the transfer characteristics of a level conversion circuit (from a DCFL circuit to an ECL circuit). As shown in FIG. 7, in the conventional inverter circuit shown in FIG. For example -30
On the other hand, in the circuit of the present invention as shown in FIG. 4, as shown in FIG. The value of Vln (at the time of switching from level to low level) is approximately constant regardless of fluctuations in Vth, and stable operation can be performed.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、特にロウレベル側のレベルシフト量の
ばらつきをなくすことができ、所定量だけレベルシフト
された安定したロウレベル出力をうろことができる。
According to the present invention, it is possible to eliminate variations in the amount of level shift, especially on the low level side, and it is possible to obtain a stable low level output that has been level shifted by a predetermined amount.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の1実施例としてのレベル制御回路を
示す図、 第2図は、本発明の他の実施例としてのレベル制御回路
を示す図、 第3図は、本発明の更に他の実施例としてのレベル制御
回路を示す図、 第4図は、第2図の回路をECLレベルへの制御回路に
使用した例を示す図、 第5図は、従来技術としてのレベル制御回路を例示する
図、 第6図は、第2図乃至第4図の回路に用いられる負荷素
子としてのディプリーション型FETの電流電圧特性を
示す図、 第7図は、第5図の回路の伝達特性が負荷素子のしきい
値電圧に依存する状態を示す図、第8図は、第4図の回
路の伝達特性が負荷素子のしきい値電圧に依存する状態
を示す図である。 (符号の説明) Q1〜Q5・・・ディプリーション型FET。 Q6〜Q7・・・エンハンスメント型F E T 。
FIG. 1 is a diagram showing a level control circuit as one embodiment of the invention, FIG. 2 is a diagram showing a level control circuit as another embodiment of the invention, and FIG. 3 is a diagram showing a level control circuit as another embodiment of the invention. Figure 4 is a diagram showing a level control circuit as another embodiment; Figure 4 is a diagram showing an example in which the circuit in Figure 2 is used as a control circuit for controlling the ECL level; Figure 5 is a level control circuit as a prior art. FIG. 6 is a diagram showing the current-voltage characteristics of a depletion type FET as a load element used in the circuits of FIGS. 2 to 4, and FIG. FIG. 8 is a diagram showing a state in which the transfer characteristic depends on the threshold voltage of the load element. FIG. 8 is a diagram showing a state in which the transfer characteristic of the circuit of FIG. 4 depends on the threshold voltage of the load element. (Explanation of symbols) Q1 to Q5... Depletion type FET. Q6-Q7...Enhancement type FET.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、論理ゲートの出力部と電源間に抵抗素子を接続し、
その途中からレベルシフトした出力をとり出すことを特
徴とする論理レベル制御回路。 2、該抵抗素子として、ドレイン−ゲート間を短絡した
ディプリーション型FETを電源電圧に応じて複数個直
列に接続し、その所定の接続点からレベルシフトした出
力をとり出すようにした、請求項1に記載の論理レベル
制御回路。 3、該抵抗素子と並列にゲート−ソース間を短絡したデ
ィプリーション型FETを接続した、請求項1に記載の
論理レベル制御回路。 4、該複数個直列に接続されたディプリーション型FE
Tと並列にゲート−ソース間を短絡したディプリーショ
ン型FETを接続した、請求項2に記載の論理レベル制
御回路。
[Claims] 1. A resistive element is connected between the output part of the logic gate and the power supply,
A logic level control circuit characterized in that a level-shifted output is taken out from the middle of the output. 2. As the resistance element, a plurality of depletion type FETs whose drains and gates are short-circuited are connected in series according to the power supply voltage, and a level-shifted output is taken out from a predetermined connection point. Logic level control circuit according to item 1. 3. The logic level control circuit according to claim 1, wherein a depletion type FET whose gate and source are short-circuited is connected in parallel with the resistive element. 4. Depletion type FEs connected in series
3. The logic level control circuit according to claim 2, wherein a depletion type FET whose gate and source are short-circuited is connected in parallel with T.
JP63025580A 1988-02-08 1988-02-08 Logical level control circuit Pending JPH01202023A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63025580A JPH01202023A (en) 1988-02-08 1988-02-08 Logical level control circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63025580A JPH01202023A (en) 1988-02-08 1988-02-08 Logical level control circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01202023A true JPH01202023A (en) 1989-08-15

Family

ID=12169858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63025580A Pending JPH01202023A (en) 1988-02-08 1988-02-08 Logical level control circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01202023A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012023912A (en) * 2010-07-16 2012-02-02 Ricoh Co Ltd Voltage clamp circuit and integrated circuit using the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5151251A (en) * 1974-10-31 1976-05-06 Fujitsu Ltd
JPS5467363A (en) * 1977-11-08 1979-05-30 Sharp Corp C-mos circuit of high voltage operation
JPS58150330A (en) * 1982-03-02 1983-09-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor integrated circuit device
JPS58188935A (en) * 1982-04-28 1983-11-04 Hitachi Ltd Semiconductor logical circuit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5151251A (en) * 1974-10-31 1976-05-06 Fujitsu Ltd
JPS5467363A (en) * 1977-11-08 1979-05-30 Sharp Corp C-mos circuit of high voltage operation
JPS58150330A (en) * 1982-03-02 1983-09-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor integrated circuit device
JPS58188935A (en) * 1982-04-28 1983-11-04 Hitachi Ltd Semiconductor logical circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012023912A (en) * 2010-07-16 2012-02-02 Ricoh Co Ltd Voltage clamp circuit and integrated circuit using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4958089A (en) High output drive FET buffer for providing high initial current to a subsequent stage
US4274014A (en) Switched current source for current limiting complementary symmetry inverter
US4752703A (en) Current source polarity switching circuit
CA1201179A (en) Input buffer
KR900009192B1 (en) Differential circuit
US5212440A (en) Quick response CMOS voltage reference circuit
US4883985A (en) Mesfet latch circuit
US4937474A (en) Low power, high noise margin logic gates employing enhancement mode switching FETs
GB2024550A (en) Integrated driver circuits
US5420527A (en) Temperature and supply insensitive TTL or CMOS to 0/-5 V translator
EP0356986B1 (en) Buffer circuit for logic level conversion
US5517152A (en) Current source circuit and operating method thereof
JP2585067B2 (en) ECL signal converter
US5065111A (en) Differential amplifying circuit operable at high speed
JPH01202023A (en) Logical level control circuit
KR100588612B1 (en) Tunneling diode logic ic using monostable bistable transition logic element with a cml input gate
KR940002771B1 (en) Semiconductor circuit device
JP2562831B2 (en) Level conversion circuit
US5087836A (en) Electronic circuit including a parallel combination of an E-FET and a D-FET
JPS63158904A (en) Integrated circuit device
JP3249293B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH01147916A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0311129B2 (en)
US5343091A (en) Semiconductor logic integrated circuit having improved noise margin over DCFL circuits
JP2706392B2 (en) Level shift circuit