JPH01191505A - Heat balance device for parallel transistor - Google Patents
Heat balance device for parallel transistorInfo
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- JPH01191505A JPH01191505A JP63016467A JP1646788A JPH01191505A JP H01191505 A JPH01191505 A JP H01191505A JP 63016467 A JP63016467 A JP 63016467A JP 1646788 A JP1646788 A JP 1646788A JP H01191505 A JPH01191505 A JP H01191505A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は並列トランジスタの熱バランス装置に関し、特
に中波放送装置の電力増幅器に使用される並列トランジ
スタの熱バランス装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a heat balance device for parallel transistors, and more particularly to a heat balance device for parallel transistors used in a power amplifier of a medium wave broadcasting device.
従来技術
従来、並列接続されたFET (Field Effe
ct Transistor ;電界効果トランジスタ
)や5IT(Static Induction Tr
ansistor ;静電誘導トランジスタ)等のトラ
ンジスタの熱バランスに関しては、トランジスタのオン
抵抗の温度係数が正であるために熱暴走せず、並列接続
された系全体としては熱平衡状態となることから何も為
されていなかった。Conventional technology Conventionally, parallel-connected FETs (Field Effe
ct Transistor; field effect transistor) and 5IT (Static Induction Tr)
Regarding the thermal balance of transistors such as static induction transistors, there is no thermal runaway because the temperature coefficient of the on-resistance of the transistor is positive, and the entire system connected in parallel is in a state of thermal equilibrium, so there is nothing to worry about. It had not been done.
しかしながら、並列接続された系全体が熱平衡状態とな
ったときの夫々のトランジスタの発熱量はバランスして
おらず、夫々のトランジスタの特性のバラツキに応じた
発熱量のバラツキがあった。However, when the entire system connected in parallel is in a thermal equilibrium state, the amount of heat generated by each transistor is not balanced, and the amount of heat generated varies depending on the variation in the characteristics of each transistor.
従って、並列接続された系全体の耐熱性が系の中で最も
発熱量の大きなトランジスタに支配されてしまい、系全
体としての削熱性が劣化してしまうという欠点があった
。Therefore, the heat resistance of the entire system connected in parallel is dominated by the transistor that generates the largest amount of heat in the system, resulting in a disadvantage that the heat reduction performance of the system as a whole deteriorates.
発明の目的
本発明の目的は、並列接続されたトランジスタの発熱量
を均一化させることができる並列トランジスタの熱バラ
ンス装置を提供することである。OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a heat balance device for parallel transistors that can equalize the amount of heat generated by transistors connected in parallel.
1肌五旦蔦
本発明の並列トランジスタの熱バランス装置は、並列接
続されたトランジスタ素子と、前記トランジスタ素子の
夫々の温度に応じて前記トランジス夕景子の夫々の励振
状態を制御する励振制御手段とを有することを特徴とす
る。1. A heat balance device for parallel transistors according to the present invention includes transistor elements connected in parallel, and excitation control means for controlling the excitation state of each of the transistors according to the temperature of each of the transistor elements. It is characterized by having the following.
実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。Example Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.
第1図は本発明による並列トランジスタの熱バランス装
置の一実施例の回路図である。図において本発明の一実
施例による並列トランジスタの熱バランス装置は、トラ
ンジスタ11.12及び13と、温度センサ21,22
及び23と、ゲート励振回路31.32及び33とを含
んで構成されている。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of a parallel transistor heat balance device according to the present invention. In the figure, a parallel transistor heat balance device according to an embodiment of the present invention includes transistors 11, 12 and 13, and temperature sensors 21, 22.
and 23, and gate excitation circuits 31, 32 and 33.
トランジスタ11.12及び13は並列接続されており
、夫々ドレインDと、ゲートGと、ソースSとを有する
ものである。Transistors 11, 12, and 13 are connected in parallel and have a drain D, a gate G, and a source S, respectively.
温度センサ21はトランジスタ11の温度を検出するも
のである。また、温度センサ22はトランジスタ12の
温度を検出するものである。さらにまた、温度センサ2
3はトランジスタ13の温度を検出するものである。The temperature sensor 21 detects the temperature of the transistor 11. Further, the temperature sensor 22 detects the temperature of the transistor 12. Furthermore, temperature sensor 2
3 detects the temperature of the transistor 13.
ゲート励振回路31.32及び33は、夫々対応する温
度センサ21,22及び23の温度検出結果に応じて夫
々対応するトランジスタ11,12及び13のゲー1−
Gに入力する励振レベルを変化させるものである。The gate excitation circuits 31, 32 and 33 activate the gates 1-1 of the corresponding transistors 11, 12 and 13, respectively, according to the temperature detection results of the corresponding temperature sensors 21, 22 and 23, respectively.
This changes the excitation level input to G.
かかる構成において、トランジスタの発熱量が大きくな
ると、そのトランジスタに対応する温度センサはそれを
検出する。ゲート励振回路は温度センサからの温度検出
結果である制御信号若しくは温度センサの状態に応じて
トランジスタのゲートGの励振レベルを小さくする。励
振レベルが小さくなるとトランジスタのオン抵抗が増大
し、トランジスタを流れる電流が減少する。これによっ
て、トランジスタでのオン抵抗損失が小さくなり、トラ
ンジスタの発熱量は小さくなる。In such a configuration, when the amount of heat generated by a transistor increases, the temperature sensor corresponding to the transistor detects it. The gate excitation circuit reduces the excitation level of the gate G of the transistor according to a control signal that is a temperature detection result from the temperature sensor or the state of the temperature sensor. As the excitation level decreases, the on-resistance of the transistor increases and the current flowing through the transistor decreases. This reduces on-resistance loss in the transistor and reduces the amount of heat generated by the transistor.
一方、トランジスタの発熱量が小さくなると、そのトラ
ンジスタに対応する温度センサはそれを検出する。ゲー
ト励振回路は温度センサからの温度検出結果である制御
信号若しくは温度センサの状態に応じてトランジスタの
ゲートGの励振レベルを大きくする。励振レベルが大き
くなるとトランジスタのオン抵抗が小さくなり、トラン
ジスタを流れる電流が増加する。これによってトランジ
スタの発熱量は大きくなる。On the other hand, when the amount of heat generated by a transistor decreases, the temperature sensor corresponding to that transistor detects this. The gate excitation circuit increases the excitation level of the gate G of the transistor in accordance with a control signal that is a temperature detection result from the temperature sensor or the state of the temperature sensor. As the excitation level increases, the on-resistance of the transistor decreases, and the current flowing through the transistor increases. This increases the amount of heat generated by the transistor.
次に第2図を用いて温度センサの具体例を説明する。第
2図は温度センサにサーミスタを用いた場合の回路であ
り、第1図と同等部分は同一符号により示されている0
図においては温度センサとしてサーミスタ41.42及
び43が夫々対応するトランジスタのゲートG・ソース
S間に接続されている。この場合サーミスタ41.42
及び43は、夫々対応するトランジスタのゲースに固定
されるものである。また、51.52及び53はゲート
直列抵抗である。Next, a specific example of the temperature sensor will be explained using FIG. Figure 2 shows a circuit when a thermistor is used as the temperature sensor, and parts equivalent to those in Figure 1 are indicated by the same symbols.
In the figure, thermistors 41, 42 and 43 are connected as temperature sensors between the gate G and source S of the corresponding transistor, respectively. In this case thermistor 41.42
and 43 are fixed to the gates of the respective transistors. Further, 51, 52 and 53 are gate series resistances.
サーミスタ41.42及び43はNTC(Negati
ve Ten+perature Coefficie
nt ;負特性)サーミスタであり、温度が上がると抵
抗値が低くなるものである。したがって、これらサーミ
スタ41゜42及び43とゲート直列抵抗51.52及
び53とによりゲート励振回路31.32及び33から
トランジスタ11.12および13の夫々のゲートGに
入力される励振レベルを変化させることによりトランジ
スタ11.12及び13の発熱量を均一化するのである
。Thermistors 41, 42 and 43 are NTC (Negati
ve Ten+perature Coefficie
nt (negative characteristic) A thermistor whose resistance value decreases as the temperature rises. Therefore, the excitation level input from the gate excitation circuits 31, 32 and 33 to the respective gates G of the transistors 11, 12 and 13 can be changed by the thermistors 41, 42 and 43 and the gate series resistors 51, 52 and 53. This makes the amount of heat generated by the transistors 11, 12 and 13 uniform.
かかる構成において、トランジスタの発熱量が大きくな
ると、サーミスタの抵抗値が低くなり、励振レベルが小
さくなる。すると、トランジスタのオン抵抗が増大し、
トランジスタを流れる電流が減少する。これによってト
ランジスタでのオン抵抗損失が小さくなり、トランジス
タの発熱量は小さくなる。In such a configuration, when the amount of heat generated by the transistor increases, the resistance value of the thermistor decreases, and the excitation level decreases. Then, the on-resistance of the transistor increases,
The current flowing through the transistor is reduced. This reduces the on-resistance loss in the transistor and reduces the amount of heat generated by the transistor.
一方、トランジスタの発熱量が小さくなると、サーミス
タの抵抗値が大きくなり、励振レベルが大きくなる。す
ると、トランジスタのオン抵抗か減少し、トランジスタ
を流れる電流が増大する。On the other hand, as the amount of heat generated by the transistor decreases, the resistance value of the thermistor increases and the excitation level increases. As a result, the on-resistance of the transistor decreases, and the current flowing through the transistor increases.
これによってトランジスタでのオン抵抗損失が大きくな
り、トランジスタの発熱量は大きくなる6つまり、本発
明においては、並列接続されたトランジスタの夫々に温
度センサを設け、この温度センサの温度検出結果に応じ
てトランジスタのゲートへの励振レベルを変化させてト
ランジスタの発熱量を均一化させているのである。As a result, the on-resistance loss in the transistor increases, and the amount of heat generated by the transistor increases.6 In other words, in the present invention, a temperature sensor is provided for each of the transistors connected in parallel, and the By changing the excitation level to the gate of the transistor, the amount of heat generated by the transistor is made uniform.
1肌血素ユ
以上説明したように本発明は、トランジスタのオン抵抗
がゲート・ソース間の電圧に依存することを利用し、並
列接続されたトランジスタの夫々のケースの温度をゲー
ト励振回路にフィードバックさせ、温度が高くなるとゲ
ート励振レベルを小さくすることにより、並列接続され
たトランジスタの発熱量を均一化させることができると
いう効果がある。As explained above, the present invention takes advantage of the fact that the on-resistance of a transistor depends on the voltage between the gate and source, and feeds back the temperature of each case of transistors connected in parallel to the gate excitation circuit. When the temperature rises, the gate excitation level is reduced, thereby making it possible to equalize the amount of heat generated by the transistors connected in parallel.
第1図は本発明の実施例による並列トランジスタの熱バ
ランス装置の回路図、第2図は第1図の温度センサにサ
ーミスタを用いた例を示す回路図である。
主要部分の符号の説明
11.12.13・・・・・・トランジスタ21.22
.23・・・・・・温度センサ31.32.33・・・
・・・ゲート励振回路第1図
第2図FIG. 1 is a circuit diagram of a parallel transistor heat balance device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram showing an example in which a thermistor is used as the temperature sensor of FIG. 1. Explanation of symbols of main parts 11.12.13...Transistor 21.22
.. 23...Temperature sensor 31.32.33...
...Gate excitation circuit Figure 1 Figure 2
Claims (1)
ジスタ素子の夫々の温度に応じて前記トランジスタ素子
の夫々の励振状態を制御する励振制御手段とを有するこ
とを特徴とする並列トランジスタの熱バランス装置。(1) A heat balance device for parallel transistors, comprising transistor elements connected in parallel, and excitation control means for controlling the excitation state of each of the transistor elements according to the temperature of each of the transistor elements.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016467A JPH01191505A (en) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | Heat balance device for parallel transistor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016467A JPH01191505A (en) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | Heat balance device for parallel transistor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01191505A true JPH01191505A (en) | 1989-08-01 |
Family
ID=11917062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63016467A Pending JPH01191505A (en) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | Heat balance device for parallel transistor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01191505A (en) |
-
1988
- 1988-01-27 JP JP63016467A patent/JPH01191505A/en active Pending
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