JPH0119103Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、伝導電磁波妨害に対する電気電子機
器の強さを試験する装置に関する。

電子工学や制御工学の発達した今日において
は、制御用の電気電子機器は自動車にも非常に多
く搭載されるようになつた。ところが、自動車
は、最近出力の増大した放送所の近くを通ること
があり、また、高出力の無線電話を備えているも
のもある。従つて、自動車に搭載した電気電子機
器は、電磁波妨害を受け、誤動作や不動作を起し
て不調になるおそれがある。電気電子機器に対す
る電磁波妨害は、電気電子機器内の素子や配線に
電気電子機器内に侵入した妨害電磁波によつて妨
害信号が誘起する輻射電磁波妨害よりも、電気電
子機器とその外に配置される電源、検出器、制御
対象機器等とを結ぶ線路にその近傍の妨害電磁波
によつて誘起した妨害信号が電気電子機器にその
入出力端子を経て入り込む伝導電磁波妨害の方が
被害が大きいようである。従つて、電気電子機器
の信頼性を高める観点からして、伝導電磁波妨害
に対する電気電子機器の強さを試験する装置が必
要となる。

従来のこの種の試験装置は、第１図に示すよう
に、被試験機器の電気電子機器１の入出力端子に
電気電子機器１を動作させるのに必要な電源、検
出器、制御対象機器等に相当する凝似負荷２を複
数本の電線３で接続し、電気電子機器１の入出力
端子のうち試験を行う必要のある２個の端子間に
直流阻止用コンデンサ４を介して高周波信号発生
器５を接続しており、高周波信号発生器５から電
気電子機器１の２個の入出力端子に印加される高
周波信号の凝似妨害信号の大きさに対する電気電
子機器１の動作状態を監視して試験を行うもので
ある。しかし、この試験装置は、被試験機器の電
気電子機器に試験を行う必要のある入出力端子が
３個以上ある場合、そのうちの２個の入出力端子
にのみ凝似妨害信号が印加され、他の入出力端子
には凝似妨害信号が印加されず、電気電子機器の
入出力端子の全部に同時に妨害信号が印加される
実際の伝導電磁波妨害とは異なる状態で試験が行
なわれる。また、被試験機器の電気電子機器の入
出力端子間の試験周波数でのインピーダンスは、
電気電子機器の種類やその入出力端子の種類によ
つてまちまちであるから、高周波信号発生器の出
力インピーダンスと常に整合するとは限らず、上
記の両インピーダンスが整合しない場合には、高
周波信号発生器から電気電子機器に注入される高
周波信号の割合が低く、伝導電磁波妨害試験装置
として充分に機能しないことがある。

本考案の目的は、上記のような従来の試験装置
の欠点を除去し、多数個の入出力端子がある電気
電子機器の全部の入出力端子に又は試験を行う必
要のある任意の数の入出力端子に同時に高周波信
号の凝似妨害信号をインピーダンスの整合した状
態で印加することのできる伝導電磁波妨害試験装
置を提供することである。

本考案者は、上記の目的を達成するため、内導
体と外導体からなる同軸線路に着眼したのであ
る。この同軸線路は、内導体と外導体の寸法又は
内外の両導体間の媒質の誘電率と透磁率を調整す
ることにより、その伝送特性インピーダンスを高
周波信号発生器の出力インピーダンスに適した所
望の値にすることができ、また、両導体間にその
間に印加した高周波信号の強度に比例した強さの
電磁場を発生させることができ、この電磁場に電
線を配置すると、その電線には両導体間に印加し
た高周波信号の強度に比例した大きさの誘導電流
が誘起するのである。従つて、同軸線路の内外の
両導体間に配置した複数本の電線を以つて又はこ
れらの電線と同軸線路の外に配置した電線を以つ
て、被試験機器の電気電子機器の入出力端子と、
この電気電子機器を動作させるのに必要な電源、
検出器、制御対象機器等に相当する凝似負荷とを
接続すれば、電気電子機器の全部又は任意の数の
入出力端子に同時に高周波信号の凝似妨害信号を
インピーダンスの整合した状態で印加することが
できる。

また、本考案者は、同軸線路を簡単な構造にし
かつ小型にするため、被試験機器の電気電子機器
とその凝似負荷の両方を同軸線路の外に配置する
ことに考え及んだのである。従つて、それらの一
方又は両方を同軸線路の内に配置する場合とは異
なり、同軸線路にそれらの出入口や設置空間を設
ける必要がなく、同軸線路が簡単な構造になり、
また、小型になる。

即ち、本考案は、内導体と外導体からなる同軸
線路の一端に高周波信号発生器を接続すると共に
他端にその凝似負荷を接続し、同軸線路の内導体
と外導体の間に複数本の電線を配置し、これらの
電線の一端に同軸線路の外に配置する被試験機器
の電気電子機器の入出力端子を接続可能にすると
共に他端に同軸線路の外に配置する被試験機器用
凝似負荷を接続可能にしたことを特徴とする伝導
電磁波妨害試験装置である。

本考案の伝導電磁波妨害試験装置においては、
同軸線路とこれに接続した高周波信号発生器用凝
似負荷のインピーダンスを高周波信号発生器の出
力インピーダンスに整合させ、同軸線路の内外の
両導体間に配置した複数本の電線又はこれらの電
線と同軸線路の外に配置した電線の両端に被試験
機器の電気電子機器の入出力端子と被試験機器用
凝似負荷を接続して、高周波信号発生器を作動す
ると、同軸線路の両導体間の全部の電線に高周波
信号の誘導電流が誘起し、その電線に接続した電
気電子機器の全部又は任意の数の入出力端子に同
時に高周波信号の凝似妨害信号が印加される。こ
の際、高周波信号発生器は、電気電子機器に直接
接続しておらず、同軸線路とこれに接続した凝似
負荷に接続しているので、高周波信号発生器の出
力インピーダンスが電気電子機器のインピーダン
スに整合していなくても同軸線路とこれに接続し
た凝似負荷のインピーダンスに整合しておれば、
高周波信号の凝似妨害信号はインピーダンスが整
合した状態と同様な状態で電気電子機器に印加さ
れる。

また、本考案の伝導電磁波妨害試験装置は、被
試験機器の電気電子機器とその凝似負荷の両方を
同軸線路の外に配置するので、同軸線路が簡単な
構造になり、また、小型になる。

次に、本考案の実施例について説明する。

第１実施例 （第２図参照） 本例の伝導電磁波妨害試験装置は、銅やアルミ
ニウム等の金属製の円筒状の小径の内導体７と大
径の外導体８を内外に同軸芯に遊嵌して同軸線路
６を構成し、同軸線路６の円錐状の両端にそれぞ
れ同軸コネクタ９，１０を取付け、一方の同軸コ
ネクタ９に同軸ケーブル１１を経て高周波信号発
生器１２を接続すると共に、他方の同軸コネクタ
１０に同軸ケーブル１３を経て高周波信号発生器
用の凝似負荷１４を接続し、同軸線路６とこれに
接続した凝似負荷１４のインピーダンスを高周波
信号発生器１２の出力インピーダンスに整合する
値に設定し、同軸線路の内導体７と外導体８間の
空間に、被試験機器の電気電子機器の入出力端子
の最大数に等しい本数のほぼ等長の電線１５を平
行にして配置し、これらの電線１５の両端をそれ
ぞれ外導体８に電気絶縁して取付けたコネクタ１
６，１７に接続している。なお、図示しないが、
同軸ケーブル１１には、同軸線路６に印加される
高周波信号の大きさを示す電圧計、電流計を接続
している。

この試験装置を使用する場合、先ず、被試験機
器の電気電子機器１を同軸線路６の外に一方のコ
ネクタ１７に近接して配置すると共に、この電気
電子機器１を動作させるのに必要な電源、検出
器、制御対象機器等に相当する凝似負荷２を同軸
線路６の外に他方のコネクタ１６に近接して配置
し、電気電子機器１の入出力端子のうち試験を行
う任意の数の試験端子又は全部の試験端子を短い
電線１８を経て一方のコネクタ１７に接続すると
共に、電気電子機器１の試験端子に対応する凝似
負荷２の端子を短い電線１９を経て他方のコネク
タ１６に接続し、電気電子機器１の入出力端子の
うちコネクタ１７に接続しない試験を行なわない
端子がある第２図に示す場合には、その非試験端
子とこれに対応する凝似負荷２の端子を同軸線路
６の外に配置した電線２０を経て接続し、電気電
子機器１を通常の動作状態にする。なお、図示し
ないが、電気電子機器１の試験端子には、その試
験端子に印加される高周波信号の凝似妨害信号の
大きさを示す電圧計、電流計を接続する。次に、
高周波信号発生器１２を作動して試験を行なおう
とする周波数の高周波信号を同軸線路６に印加
し、同軸線路内の複数本の電線１５にそれぞれほ
ぼ等しい大きさの高周波信号の誘導電流を誘起
し、その誘導電流の凝似妨害信号の大きさを高周
波信号発生器１２の出力の増加によつて増大しつ
つ電気電子機器１の動作状態を監視し、電気電子
機器１の動作が不調になるときの凝似妨害信号の
大きさを測定し、伝導電磁波妨害に対する電気電
子機器１の強さを試験する。

第２実施例 （第３図参照） 本例の伝導電磁波妨害試験装置は、同軸線路６
の内導体７と外導体８の間に配置する複数本の等
長の電線１５を螺旋状により合せて、これを内導
体７の回りに螺旋状に巻き付け、電線１５に誘起
する誘導電流が大きくなるようにしたものであ
る。その他の点は、上記して第２図に示した前例
の第１実施例におけるのと同様であるから、その
説明と図示を省略する。

なお、電線１５を内導体７に巻き付ける回数を
増加すると、電線１５に誘起する誘導電流が大き
くなるが、同軸線路６に印加する高周波信号の周
波数を変化させたときに誘導電流の変化が大きく
なるので、試験を行う周波数の範囲内で誘導電流
の大きさが適当な値になるように電線１５の巻き
数を調整する。

第３実施例 （第４図参照） 本例の伝導電磁波妨害試験装置は、被試験機器
用の凝似負荷２を接続するコネクタ１６とこのコ
ネクタに接続する同軸線路６内の電線１５の間に
フイルタ２１を介在し、そのフイルタ２１を、被
試験機器１とその凝似負荷２の間を電線１５を経
て伝達する低周波の信号を通過させるが、電線１
５に誘起する高周波の誘導電流の凝似妨害信号を
遮断するローパスフイルタとし、試験の対象では
ない凝似負荷２が凝似妨害信号の流入によつて不
調になるおそれをなくしたものである。その他の
点は、前記して第２図に示した第１実施例におけ
るのと同様であるから、その説明と図示を省略す
る。

上記の各実施例においては、同軸線路の内導体
７と外導体８の形状は共に円筒状であり、内導体
７と外導体８間の媒質は空気であつたが、同軸線
路の伝送特性インピーダンスが高周波信号発生器
の出力インピーダンスに適した所望の値になるも
のであれば、円筒状以外の形状又は空気以外の媒
質であつてもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の試験装置の回路図であり、第２
図は本考案の第１実施例の試験装置の斜視図であ
り、第３図は第２実施例の試験装置の一部斜視図
であり、第４図は第３実施例の試験装置の一部縦
断面図である。 １：被試験機器、電気電子機器、２：被試験機
器用凝似負荷、６：同軸線路、７：内導体、８：
外導体、１２：高周波信号発生器、１４：高周波
信号発生器用凝似負荷、１５：電線。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 内導体と外導体からなる同軸線路の一端に高周
   波信号発生器を接続すると共に他端にその凝似負
   荷を接続し、同軸線路の内導体と外導体の間に複
   数本の電線を配置し、これらの電線の一端に同軸
   線路の外に配置する被試験機器の電気電子機器の
   入出力端子を接続可能にすると共に他端に同軸線
   路の外に配置する被試験機器用凝似負荷を接続可
   能にしたことを特徴とする伝導電磁波妨害試験装
   置。