JPH01182973A - Slicing circuit - Google Patents

Slicing circuit

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JPH01182973A
JPH01182973A JP581188A JP581188A JPH01182973A JP H01182973 A JPH01182973 A JP H01182973A JP 581188 A JP581188 A JP 581188A JP 581188 A JP581188 A JP 581188A JP H01182973 A JPH01182973 A JP H01182973A
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signal
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Misao Kato
三三男 加藤
Yoshinori Amano
天野 善則
Shigeo Sakagami
茂生 阪上
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Abstract

PURPOSE:To equalize the time interval of the signal of a high and a low by controlling the comparison value of a comparator by the output of a phase comparator when the time interval of the binarized digital signal of a high and a low is different. CONSTITUTION:An input analog signal from a record medium is inputted from a signal input terminal 101 to a comparison circuit 102, this signal is compared by the value of a comparison level terminal 112 and converted into a binary digital signal. The output of the comparator 102 obtains a repeating pulse equivalent to the duty ratio of the frequency of double the output of a toggle flip flop 103, namely the ratio of the time interval of a high and the time interval of a low, by the toggle flip flop 103, a delay circuit 104 and an exclusive 'or' circuit 105. The output of the pulse and the comparator 102 of the equal duty ratio thus prepared is inputted into a phase comparator 106 and phase-compared. The deviation of the duty ratio is compensated by controlling the value of the comparison level terminal 112.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はアナログ信号をハイとロウの二値のデジタル信
号に変換するためのスライス回路に関し、特に入力され
るアナログ信号をハイとロウの時間間隔の等しい二値の
デジタル信号に変換するためのスライス回路に関する。
Detailed Description of the Invention Field of the Invention The present invention relates to a slicing circuit for converting an analog signal into a binary digital signal of high and low values, and in particular, it relates to a slice circuit for converting an analog signal into a binary digital signal of high and low values. The present invention relates to a slicing circuit for converting into equal binary digital signals.

従来の技術 情報をレーザー光を用いて高密度に記録することのでき
る、光ディスクが各所で勢力的に開発されてきている。
2. Description of the Related Art Optical discs, which can record conventional technical information at high density using laser light, are being actively developed in various places.

この光ディスクーヒに信号は一例としてパルス幅変調(
以下PWMと称す)で記録される。このPWM記録にお
いては信号はパルスの幅により記録されるため信号再生
においてはいかに正確にパルス幅を検出するかが大きな
課題となる。
For example, the signal on this optical disk is pulse width modulated (
(hereinafter referred to as PWM). In this PWM recording, signals are recorded using pulse widths, so how to accurately detect pulse widths becomes a major issue in signal reproduction.

パルス幅を検出するために一般にはスライス回路が用い
られるがこのスライス回路の比較レベルを固定にしてお
くと記録レーザーパワーの変動や、媒体の感度変動によ
る記録変動により正確にパルス幅が検出できず、信号が
再生できなくなるという問題点がある。
Generally, a slice circuit is used to detect the pulse width, but if the comparison level of this slice circuit is fixed, the pulse width cannot be detected accurately due to fluctuations in the recording laser power or recording fluctuations due to changes in the sensitivity of the medium. , there is a problem that the signal cannot be reproduced.

この問題点を解決するための従来のスライス回路として
は、例えば特開昭62−85513号公報に示されてい
る。第5図はこの従来のスライス回路のブロック図であ
る。501は入力アナログ信号、502はスライス回路
、503は立ち上がりエツジ検出回路、504は立ち下
がりエツジ検出回路、505はクロック再生回路、50
7は直流電圧発生回路、508はデータ、509はクロ
ック出力、510は比較レベル入力である。
A conventional slice circuit for solving this problem is disclosed in, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 85513/1983. FIG. 5 is a block diagram of this conventional slice circuit. 501 is an input analog signal, 502 is a slice circuit, 503 is a rising edge detection circuit, 504 is a falling edge detection circuit, 505 is a clock recovery circuit, 50
7 is a DC voltage generation circuit, 508 is data, 509 is a clock output, and 510 is a comparison level input.

以上のように構成された、従来のスライス回路の動作を
以下に説明する。
The operation of the conventional slice circuit configured as described above will be explained below.

入力アナログ信号501は比較回路502により510
の比較レベルと比較され、2値のデジタル信号として出
力される。スライス回路502の出力信号は立ち上がり
検出回路503により、信号の立ち上がりエツジが検出
される。クロック再生回路505は立ち上がりエツジを
取り込み、データ508とこれに同期したクロック50
9を出力する。一方、比較回路502の出力は、立ち下
がりエツジ検出回路504により立ち下がりエツジが検
出され、この立ち下がりエツジと、再生クロック出力5
09どの位相比較が位相比較回路506で行われる。位
相比較回路の出力は直流電圧発生回路507で直流に変
換され、スライス回路502の比較レベル510となる
The input analog signal 501 is converted to 510 by the comparison circuit 502.
It is compared with the comparison level of , and output as a binary digital signal. A rising edge of the output signal of the slice circuit 502 is detected by a rising edge detection circuit 503. A clock regeneration circuit 505 takes in the rising edge and generates data 508 and a clock 50 synchronized therewith.
Outputs 9. On the other hand, the falling edge of the output of the comparison circuit 502 is detected by the falling edge detection circuit 504, and this falling edge and the recovered clock output 5
09 Which phase comparison is performed in the phase comparison circuit 506. The output of the phase comparator circuit is converted into a DC voltage by a DC voltage generation circuit 507, and becomes a comparison level 510 of the slice circuit 502.

このような構成により入力アナログ信号501に応じて
スライス回路502の比較レベル510を変化させるこ
とることにより、入力アナログ信号501がPWM(パ
ルス幅変調)された信号のパルス幅を正しく再生するた
めの比較レベル51Oを得る。
With this configuration, by changing the comparison level 510 of the slice circuit 502 according to the input analog signal 501, it is possible to correctly reproduce the pulse width of a signal obtained by PWM (pulse width modulation) on the input analog signal 501. A comparison level of 51O is obtained.

発明が解決しようとする課題 しかしながら以上の様な構成ではスライス回路の立ちト
がりエツジよりクロック再生をするために、ループフィ
ルター、VCO<電圧制御発掘器)等でPLL (PH
ASE  LOCK  LOOP)を構成せねばならず
、クロック再生が行われなくては比較レベルが決まらな
く、また比較レベルを決定するための構成が複雑になる
という問題点を有していた。
Problems to be Solved by the Invention However, in the above configuration, in order to recover the clock from the rising edge of the slice circuit, a PLL (PHL) using a loop filter, VCO (voltage control excavator), etc.
ASE LOCK LOOP) must be configured, the comparison level cannot be determined unless clock recovery is performed, and the configuration for determining the comparison level becomes complicated.

本発明はかかる点に鑑み、簡単な構成によりパルス幅変
調された信号のパルス幅を正しく再生するための比較レ
ベルを得ることができるスライス回路の提供を目的とす
る。
In view of this, an object of the present invention is to provide a slice circuit that can obtain a comparison level for correctly reproducing the pulse width of a pulse width modulated signal with a simple configuration.

課題を解決するための手段 本発明は入力アナログ信号をある比較値より大きいか小
さいかを比較することにより、前記入力アナログ信号を
二値のデジタル信号に変換するための比較回路において
、前記比較回路の出力の立ち上がりまたは立ち下がりで
反転するフリップフロップと、前記のフリップフロップ
の出力を前記のフリップフロップの出力の反転間隔の半
分だけ遅延する手段と、前記の遅延する手段の出力と前
記フリップフロップの出力との排他的論理和を取る回路
と、前記比較回路の出力と前記排他的論理和の出力の位
相を比較する手段と、前記位相比較する手段の出力によ
り前記比較器の比較値を制御する手段とを有することを
特徴とするスライス回路である。
Means for Solving the Problems The present invention provides a comparison circuit for converting an input analog signal into a binary digital signal by comparing whether the input analog signal is larger or smaller than a certain comparison value. a flip-flop that inverts at the rising or falling edge of the output of the flip-flop; means for delaying the output of the flip-flop by half the inversion interval of the output of the flip-flop; a circuit for taking an exclusive OR with the output; a means for comparing the phase of the output of the comparison circuit with the output of the exclusive OR; and controlling a comparison value of the comparator by the output of the phase comparison means. 1 is a slicing circuit characterized in that it has means.

作用 本発明は前記した構成により、二値化されたデジタル信
号のハイとロウの時間間隔がが異なるときには位相比較
器の出力により比較器の比較値を制御することにより信
号のハイとロウの時間間隔が等しくなる。
According to the above-described configuration, the present invention controls the comparison value of the comparator using the output of the phase comparator when the time intervals between the high and low levels of the binarized digital signal differ. The spacing will be equal.

実施例 第1図は本発明の一実施例におけるスライス回路のブロ
ック図を示すものである。第1図において101は信号
入力端子、102は比較器、103は立ち上がりで反転
するトグルフリップフロップ、104は遅延回路でトグ
ルフリップフロップの出力の反転間隔の0. 5倍の遅
延量を持つ。105は排他的論理和回路でトグルフリッ
プフロップ103と遅延回路104、排他的論理和回路
105でトグルフリップフロップの2倍の周波数を得る
。106は位相比較器、107はチャージポンプ回路、
108は差動回路、109は演算回路、110は演算回
路109の出力をサンプルホールド回路制御信号111
によりサンプルまたはホールドするためのサンプルホー
ルド回路、111はサンプルホールド回路制御信号、1
12は比較回路102の比較レベル端子、113は出力
端子である。
Embodiment FIG. 1 shows a block diagram of a slice circuit in an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 101 is a signal input terminal, 102 is a comparator, 103 is a toggle flip-flop that inverts at the rising edge, and 104 is a delay circuit, which has an inversion interval of 0. It has 5 times the amount of delay. 105 is an exclusive OR circuit which uses a toggle flip-flop 103, a delay circuit 104, and an exclusive OR circuit 105 to obtain twice the frequency of the toggle flip-flop. 106 is a phase comparator, 107 is a charge pump circuit,
108 is a differential circuit, 109 is an arithmetic circuit, and 110 is a sample and hold circuit control signal 111 for the output of the arithmetic circuit 109.
a sample-and-hold circuit for sampling or holding; 111 is a sample-and-hold circuit control signal;
12 is a comparison level terminal of the comparison circuit 102, and 113 is an output terminal.

以上のように構成された本実施例のスライス回路につい
て以下その動作を説明する。
The operation of the slice circuit of this embodiment configured as described above will be described below.

入力アナログ信号が単一周波数の場合を考える。Consider the case where the input analog signal has a single frequency.

光ディスク等からの記録媒体からの入力アナログ信号は
信号入力端子101より比較回路102に入力される。
An input analog signal from a recording medium such as an optical disk is input to a comparison circuit 102 from a signal input terminal 101.

この信号は比較レベル端子112の値により比較され二
値のデジタル信号に変換される。比較器102の出力は
トグルフリップフロップ103に入力され、さらにその
出力は遅延@路104に入力され遅延させられる。遅延
回路104はトグルフリップフロップの出力の反転時間
間隔の0. 5倍の遅延量を持つ。遅延回路104の出
力は排他的論理和回路105に入力されトグルフリップ
フロップの出力と排他的論理和がとられる。トグルフリ
ップフロップ103、遅延回路104、排他的論理和回
路105によりトグルフリップフロップの出力の2倍の
周波数のデユーティ比(ハイの時間間隔とロウの時間間
隔の比)の等しい繰り返しパルスを得る。このパルスの
繰り返し周波数は入力アナログ信号の周波数に等しい。
This signal is compared with the value of the comparison level terminal 112 and converted into a binary digital signal. The output of comparator 102 is input to toggle flip-flop 103, and its output is further input to delay line 104 and delayed. The delay circuit 104 has a delay time of 0.00000000000000 though the inversion time interval of the output of the toggle flip-flop. It has 5 times the amount of delay. The output of the delay circuit 104 is input to an exclusive OR circuit 105 and exclusive ORed with the output of the toggle flip-flop. A toggle flip-flop 103, a delay circuit 104, and an exclusive OR circuit 105 obtain repetitive pulses with an equal duty ratio (ratio of high time interval to low time interval) and a frequency twice that of the output of the toggle flip-flop. The repetition frequency of this pulse is equal to the frequency of the input analog signal.

このようにして作られたデユーティ比の等しいパルスと
比較器102の出力は位相比較器106に入力され位相
比較される。
The thus produced pulses having the same duty ratio and the output of the comparator 102 are input to a phase comparator 106 and their phases are compared.

第2図に比較器102の比較レベル端子112の値によ
り比較器102の出力のデユーティがどの様に変わるか
を示した。第2図において201は入力アナログ信号を
示している。比較レベル端子112の値がLOのときは
第2図(b)に示したようにデユーティ比は等しく再生
されるが比較本発明ではこのデユーティ比のずれを以下
のように比較レベル端子112の値を制御することによ
り補償している。
FIG. 2 shows how the duty of the output of the comparator 102 changes depending on the value of the comparison level terminal 112 of the comparator 102. In FIG. 2, 201 indicates an input analog signal. When the value of the comparison level terminal 112 is LO, the duty ratio is reproduced equally as shown in FIG. This is compensated by controlling the

第3図を参照しながら説明する。This will be explained with reference to FIG.

第3図(a)、(bL  (c)  は比較レベル端子
112の値が第2図に示したLl、  LO,L2の時
の比較器102の出力を示している。第3図(d)は第
3図(a)〜(c)がトグルフリップフロップ103に
入力されたときの出力を示している。このようにトグル
フリップフロップ103の出力は第3図(d)に示すよ
うに比較回路102の出力のデユーティに関わらず比較
器102の出力の2倍の反転間隔を持つデユーティ比の
等しいパルスとなる。このトグルフリップフロップ10
3の出力は遅延回路104に入力され第3図(e)に示
したように遅延される。この遅延回路104の遅延量(
第3図(d)のDL)を入力アナログ信号の繰り返し時
間(第3図にTで示す)の半分にすることにより排他的
論理和105の出力は第3図(f)に示すようにデユー
ティ比の等しい繰り返しパルスを得る。この排他的論理
和回路105の出力と比較器102の出力は位相比較回
路106に入力され位相比較される。この位相比較器1
06出力を第3図(g)〜(1)に示した。位相比較器
106は第1図に示したようにUとDの2出力を持ち、
それぞれは排他的論理和回路105の出力と比較回路1
02の出力の位相関係により(g)〜(1)の様に変化
する。
3(a) and (bL(c)) show the output of the comparator 102 when the values of the comparison level terminal 112 are Ll, LO, and L2 shown in FIG. 2. FIG. 3(d) 3(a) to 3(c) are input to the toggle flip-flop 103. In this way, the output of the toggle flip-flop 103 is output to the comparison circuit as shown in FIG. 3(d). Regardless of the duty of the output of the comparator 102, the pulse has an equal duty ratio and has an inversion interval twice that of the output of the comparator 102.
The output of No. 3 is input to the delay circuit 104 and delayed as shown in FIG. 3(e). The amount of delay of this delay circuit 104 (
By making DL) in FIG. 3(d) half the repetition time of the input analog signal (indicated by T in FIG. 3), the output of the exclusive OR 105 has a duty ratio as shown in FIG. 3(f). Obtain repeating pulses with equal ratio. The output of the exclusive OR circuit 105 and the output of the comparator 102 are inputted to a phase comparison circuit 106 and their phases are compared. This phase comparator 1
06 outputs are shown in FIGS. 3(g) to (1). The phase comparator 106 has two outputs, U and D, as shown in FIG.
The output of the exclusive OR circuit 105 and the comparison circuit 1 are respectively
It changes as shown in (g) to (1) depending on the phase relationship of the output of 02.

すなわち比較回路102の出力の立ち下がりが第3図(
a)に示したように排他的論理和回路105の出力の立
ち下がりよりも遅れたときには第3図(g)に示したよ
うにUに出力が生じるがDはハイのままである。
In other words, the fall of the output of the comparator circuit 102 is as shown in FIG.
As shown in a), when the falling edge of the output of the exclusive OR circuit 105 is delayed, an output is generated on U as shown in FIG. 3(g), but D remains high.

一方比較回路102の出力の立ち下がりが第3図(b)
に示したように排他的論理和回路105の出力の立ち下
がりが等しいときには第3図(h)に示したようにDも
Uもハイのままである。
On the other hand, the fall of the output of the comparator circuit 102 is shown in FIG. 3(b).
When the falling edges of the outputs of the exclusive OR circuit 105 are equal as shown in FIG. 3(h), both D and U remain high as shown in FIG. 3(h).

さらに比較回路102の出力の立ち下がりが第3図(c
)に示したように排他的論理和回路105の出力(f)
の立ち下がりよりも速かったときには第3図(i)に示
したようにDに出力が生じるがUはハイのままである。
Furthermore, the fall of the output of the comparator circuit 102 is shown in FIG.
), the output (f) of the exclusive OR circuit 105
When the falling edge is faster than the falling edge of , an output is generated at D as shown in FIG. 3(i), but U remains high.

この位相比較器106の出力U及びDは位相差を電圧値
に変換するために第1図107のチャージポンプ回路に
入力される。このチャージポンプ回路107は第4図に
示したような位相差電圧変換特性を持つ。すなわち位相
差がOの時にはチャージポンプ回路107の出力はvO
であるが位相差が増えるにしたがいその出力は直線的に
増加、または減少する。−例として第3図(a)のよう
にハイの区間が長いときにはチャージポンプ回路107
の出力はV3となり、逆に第3図(b)のようにハイの
区間が短いときにはチャージポンプ回路107の出力は
v4のように変化する。
The outputs U and D of the phase comparator 106 are input to the charge pump circuit 107 in FIG. 1 for converting the phase difference into a voltage value. This charge pump circuit 107 has phase difference voltage conversion characteristics as shown in FIG. That is, when the phase difference is O, the output of the charge pump circuit 107 is vO.
However, as the phase difference increases, the output increases or decreases linearly. -For example, when the high section is long as shown in FIG. 3(a), the charge pump circuit 107
The output of the charge pump circuit 107 becomes V3, and conversely, when the high period is short as shown in FIG. 3(b), the output of the charge pump circuit 107 changes to V4.

以上の位相比較器106とチャージポンプ回路107の
動作は例えば、モトローラ社のICMC4044により
実現できる(MOTOROLA MECL DATA 
BOOK)。
The operations of the phase comparator 106 and charge pump circuit 107 described above can be realized, for example, by Motorola's ICMC4044 (MOTOROLA MECL DATA).
BOOK).

従ってこのチャージポンプ回路107の出力と、位相差
がOの時のチャージポンプ回路107の出力VOとを差
動回路108により比較し、その誤差電圧値により比較
器102の比較レベル端子112の値を演算回路109
により制御することにより出力のデユーティ比が等しい
ように比較回路102の比較レベル端子112の値を設
定、制御することができる。
Therefore, the output of this charge pump circuit 107 and the output VO of the charge pump circuit 107 when the phase difference is O are compared by the differential circuit 108, and the value of the comparison level terminal 112 of the comparator 102 is determined based on the error voltage value. Arithmetic circuit 109
By controlling this, the value of the comparison level terminal 112 of the comparison circuit 102 can be set and controlled so that the output duty ratios are equal.

以上の説明では入力アナログ信号としては一定周周波数
のアナログ信号を考えてきたが、実際の信号は様々の時
間間隔の信号が比較回路102には入力される。しかし
、そのようなときにも様々の時間間隔のデータに先駆け
て通常は一定周期のプリアンプルとよばれる同期引き込
み用の信号が入力される。従ってこのプリアンプルが入
力されている期間に比較回路102の比較レベル端子l
12の値を決定し、本来のデータが入力されているとき
には、この予め決定されている比較レベル端子の値を用
いることができる。
In the above description, an analog signal with a constant frequency has been considered as an input analog signal, but in reality, signals with various time intervals are input to the comparator circuit 102. However, even in such a case, a synchronization pull-in signal called a preamble of a constant period is usually input prior to data at various time intervals. Therefore, during the period when this preamble is being input, the comparison level terminal l of the comparison circuit 102
When the value of 12 is determined and the original data is input, this predetermined value of the comparison level terminal can be used.

サンプルホールド回″1IiIIOを演算回路109の
出力に設け、プリアンプル入力時には以上に述べてきた
、比較回路102の比較レベル端子の値の制御を行い、
本来のデータ入力されているときにはサンプルホールド
回路110でホールドしている比較レベル端子112の
値を用いる。このサンプルホールド回路の制御を外部か
らのサンプルホールド制御信号111で行っている。こ
のようなサンプルホールド回路110はサンプルホール
ド回路は単一周波数が入力されるときには必ずしも必要
はない。
A sample and hold circuit "1IiIIO is provided at the output of the arithmetic circuit 109 to control the value of the comparison level terminal of the comparison circuit 102 as described above at the time of inputting the preamble,
When the original data is being input, the value of the comparison level terminal 112 held by the sample and hold circuit 110 is used. This sample and hold circuit is controlled by an external sample and hold control signal 111. Such a sample and hold circuit 110 is not necessarily required when a single frequency is input.

以上のように、トグルフリップフロップ103、遅延回
路104、排他的論理和回路105によりデユーティ比
の等しい基準パルス幅を作りそれと比較回路102の出
力のデユーティ比を位相比較器106、チャージポンプ
107により比較検出、することにより比較回路102
の比較レベル端子112の値を制御することにより、入
力アナログ信号の振幅等が変化したときにでもデユーテ
ィ比の等しいパルス幅の再生を行うことができる。
As described above, the toggle flip-flop 103, the delay circuit 104, and the exclusive OR circuit 105 create a reference pulse width with an equal duty ratio, and the duty ratio of the output of the comparison circuit 102 is compared with the reference pulse width using the phase comparator 106 and the charge pump 107. By detecting, the comparison circuit 102
By controlling the value of the comparison level terminal 112, it is possible to reproduce pulse widths with the same duty ratio even when the amplitude of the input analog signal changes.

発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、PLL等の複雑な
構成を用いることなく、比較回路の比較レベル端子を制
御することができ、その実用的価値は大きい。
As described in detail, according to the present invention, the comparison level terminal of the comparison circuit can be controlled without using a complicated configuration such as a PLL, and the practical value thereof is great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例のスライス回路のブロック構
成図、第2図は同スライス回路の構成要素である比較回
路の比較レベル端子の値の影響を説明するための波形図
、第3図は同スライス回路の動作説明図、第4図はチャ
ージポンプ回路の動作説明図、第5図は従来のスライス
回路の構成を示すブロック図である。 lot・・・信号入力端子、102・・・比較回路、1
03・・・トグルブリップフロップ、104・・・遅延
回路、105・・・排他的論理和回路、106・・・位
相比較器、107・・・チャージポンプ回路、108・
・・差動回路、109・・・演算回路、110・・・サ
ンプルホールド回路、111・・・サンプルホールド回
路制御信号、112・・・比較回路102の比較レベル
端子、113・・・出力端子、501・・・再生アナロ
グ信号、502・・・比較回路、503・・・立ち上が
り検出回路、504・・・立ち下がり検出回路、505
・・・クロック再生回路、606・・・位相比較器、5
07・・・直流電圧再生回路、508・・・データ、5
09・・・クロック、510・・・比較レベル。 101−−4IC5人ズ7j16モト 102−m−毘il: 回路 103−一立上り反転トグルフゾッフリロップl0A−
−一遅延回路 tOS−m−排他tIy論理和回路 106− 位鞠建較器 107−=+7−ジホンプli]g JO&−−差動回路 113−−一出方脇子 第1図 207一−−人カアナロジ信予 LO,Ll、L’l −比較レベル 第2図 第3図 1”I −−−L 1ノ 第4図 値稽差
FIG. 1 is a block configuration diagram of a slice circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the influence of the value of a comparison level terminal of a comparison circuit that is a component of the slice circuit, and FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation of the same slice circuit, FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation of the charge pump circuit, and FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the conventional slice circuit. lot...signal input terminal, 102...comparison circuit, 1
03... Toggle flip-flop, 104... Delay circuit, 105... Exclusive OR circuit, 106... Phase comparator, 107... Charge pump circuit, 108...
... Differential circuit, 109 ... Arithmetic circuit, 110 ... Sample and hold circuit, 111 ... Sample and hold circuit control signal, 112 ... Comparison level terminal of comparison circuit 102, 113 ... Output terminal, 501... Regenerated analog signal, 502... Comparison circuit, 503... Rise detection circuit, 504... Fall detection circuit, 505
... Clock regeneration circuit, 606 ... Phase comparator, 5
07... DC voltage regeneration circuit, 508... Data, 5
09...Clock, 510...Comparison level. 101--4IC5 people 7j16moto102-m-biil: circuit 103-1 rise inversion toggle flip flop l0A-
-1 delay circuit tOS-m-exclusive tIy OR circuit 106-Imari comparator 107-=+7-jihonpuli]g JO&--Differential circuit 113--Idekata Wakiko Figure 1 207-- Human Analogy LO, Ll, L'l - Comparison Level Figure 2 Figure 3 1"I ---L 1 Figure 4 Value Difference

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力アナログ信号をある比較値より大きいか小さ
いかを比較することにより、前記アナログ信号を二値の
デジタル信号に変換するための比較回路と、前記比較回
路の出力の立ち上がりまたは立ち下がりで反転するフリ
ップフロップと、前記のフリップフロップの出力を前記
のフリップフロップの出力の反転間隔の半分だけ遅延す
る手段と、前記の遅延する手段の出力と前記フリップフ
ロップの出力との排他的論理和を取る回路と、前記比較
回路の出力と前記排他的論理和の出力の位相を比較する
手段と、前記位相比較する手段の出力により前記比較器
の比較値を制御する手段とを有することを特徴とするス
ライス回路。
(1) A comparison circuit for converting the analog signal into a binary digital signal by comparing whether the input analog signal is larger or smaller than a certain comparison value; an inverting flip-flop, means for delaying the output of the flip-flop by half the inversion interval of the output of the flip-flop, and an exclusive OR of the output of the delaying means and the output of the flip-flop. a circuit for determining the phase of the comparator, means for comparing the phase of the output of the comparison circuit and the output of the exclusive OR, and means for controlling the comparison value of the comparator by the output of the phase comparison means. slice circuit.
(2)比較器回路の比較値をサンプルまたはホールドす
る手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載のスライス回路。
(2) The slice circuit according to claim 1, further comprising means for sampling or holding the comparison value of the comparator circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5883317A (en) * 1981-11-09 1983-05-19 Sanyo Electric Co Ltd Reference level setting circuit for digital signal detection

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5883317A (en) * 1981-11-09 1983-05-19 Sanyo Electric Co Ltd Reference level setting circuit for digital signal detection

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